CN218546934U - 测试治具 - Google Patents

Abstract

该实用新型公开了一种测试治具，包括：底座；用于承载测试器件的测试平台，所述测试平台至少沿第一方向可移动地设在所述底座上；测试装置，所述测试装置设在所述底座上，所述测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件，每组所述探针组件具有至少一个测试探针，所述测试平台位于多组所述探针组件下方且沿所述第一方向可移动，所述测试平台移动以使得多组所述探针组件能够对所述测试器件在所述第一方向上不同位置的焊点进行测试。根据本实用新型实施例的测试治具，能够实现对不同型号的测试器件进行测试，降低测试周期。

Description

测试治具

技术领域

本实用新型涉及探针测试技术领域，具体涉及一种测试治具。

背景技术

现有技术的测试治具，在对测试器件例如PCB板进行测试时，不同的PCB型号和拼版尺寸需要进行定制，而单独定制不仅需要全新布线，而且制作周期长，导致验证的周期时间也较长。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试治具，能够实现对不同型号的测试器件进行测试，降低测试周期。

根据本实用新型实施例的测试治具，包括：底座；用于承载测试器件的测试平台，所述测试平台至少沿第一方向可移动地设在所述底座上；测试装置，所述测试装置设在所述底座上，所述测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件，每组所述探针组件具有至少一个测试探针，所述测试平台位于多组所述探针组件下方且沿所述第一方向可移动，所述测试平台移动以使得多组所述探针组件能够对所述测试器件在所述第一方向上不同位置的焊点进行测试。

根据本实用新型的一些实施例，所述测试装置包括：固定支架，所述固定支架固定在所述底座上；调整装置，所述调整装置沿上下方向可移动地设在所述固定支架上，多组所述探针组件沿所述第二方向可移动地设在所述调整装置上。

根据本实用新型的一些实施例，所述固定支架包括至少两个固定柱和固定横梁，所述固定柱的下端固定在底座上，所述固定横梁连接在至少两个所述固定柱之间上，所述测试平台位于所述固定横梁的下方。

根据本实用新型的一些实施例，所述调整装置包括：可调节横梁，所述可调节横梁沿上下方向可移动地套设在所述固定柱上，多组所述探针组件沿所述第二方向间隔开地设在所述可调节横梁上；驱动机构，所述驱动机构设在所述固定横梁上且与所述可调节横梁连接，以用于驱动所述可调节横梁沿上下方向移动。

根据本实用新型的一些实施例，所述驱动机构包括：第一驱动连杆，所述第一驱动连杆的一端与所述可调节横梁铰接；第二驱动连杆，所述第二驱动连杆上设有固定部，所述固定部与所述固定横梁铰接，所述第二驱动连杆的一端与所述第一驱动连杆可活动连接，所述第二驱动连杆的另一端形成有驱动柄，所述驱动柄活动以驱动所述第一驱动连杆带动所述可调节横梁上下移动。

根据本实用新型的一些实施例，所述可调节横梁内设有沿第二方向延伸的调节通道，多组所述探针组件可移动地设在所述调节通道内。

根据本实用新型的一些实施例，每组所述探针组件包括绝缘柱和多个所述测试探针，多个所述测试探针套设在所述绝缘柱上且通过绝缘件间隔开。

根据本实用新型的一些实施例，所述测试探针包括连接部和测试部，所述连接部套设在所述绝缘柱上，所述测试部与所述连接部相连以用于测试所述焊点。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述测试探针沿上下方向间隔开设在所述绝缘柱上且绕所述安装柱的周向可转动。

根据本实用新型的一些实施例，所述测试探针还包括固定件，所述测试部设有固定孔，所述固定件穿过所述固定孔与所述连接部固定连接且在所述固定孔内沿所述第一方向可移动，以使所述测试部在所述第一方向上位置可调。

由此根据本实用新型实施例的测试治具，测试平台可移动地设在底座上且可用于承载测试器件，测试装置设有多组测试探针组件，能够实现对整个测试器件的测试，可用于对不同类型的测试器件例如不同排布的PCB板进行测试，而不需要针对不同型号的PCB板设计不同的版型和拼版尺寸进行定制和重新布线，可减少定制测试拼版的时间，降低测试验证周期，提高测试效率。

附图说明

图1为根据本实用新型实施例的一个角度的测试治具的结构示意图；

图2为根据本实用新型实施例的另一个角度的结构示意图；

图3为图1中部分结构的放大示意图。

附图标记：

100：测试治具；

11：底座，12：测试平台，13：测试器件，14：焊点；

21：固定支架，22：固定柱，23：固定横梁；

3：调整装置，31：可调节横梁，311：调节通道，32：驱动机构，321：第一驱动连杆，322：第二驱动连杆，323：固定部，324：驱动手柄；

4：探针组件，41：绝缘柱，42：绝缘件，43：测试探针，44：连接部，45：测试部，451：固定孔，46：固定件。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式对本实用新型提出的一种测试治具100作进一步详细说明。

结合图1-图3所示，根据本实用新型实施例的测试治具100可以包括底座11、测试平台12和测试装置(即如图1和图2所示的固定支架21和调整装置3)，测试平台12和测试装置均设在底座11上，底座11用于支撑测试平台12和测试装置，测试平台12用于承载测试器件13，所述测试器件13即需要进行测试的器件，例如需要进行测试的PCB板等，测试装置用于对测试器件13进行测试。

具体地，测试平台12可至少沿第一方向可移动地设在底座11上，即测试平台12可沿第一方向移动，或者测试平台12沿第一方向可移动的同时也可沿其它方向移动，具体可根据实际情况设置，只要测试平台12在底座11上可以动即可，在本实用新型的下面阐述的实施例中以测试平台12沿第一方向移动为例进行说明。测试器件13设在测试平台12上，也就是说，测试器件13在底座11上可至少沿第一方向移动。

测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件4，探针组件4用于对测试器件13测试，这样多组探针组件4可在第二方向上对测试器件13的多组焊点14进行对准测试。每组所述探针组件4具有至少一个测试探针43，即每组探针组件4可以设有一个测试探针43，或者每组探针组件4可以设有多个测试探针43，需要说明的是，这里的多个指的是两个或者两个以上，例如如图1所示，每组探针组件4可以包括三个测试探针43。

测试平台12位于多组所述探针组件4下方且沿所述第一方向可移动，测试平台12移动以使得多组所述探针组件4能够对所述测试器件13在所述第一方向上不同位置的焊点14进行测试。具体地，测试平台12设在探针组件4的下方，这样测试平台12可相对探针组件4在探针组件4的下方沿第一方向移动，测试器件13上的焊点14一般呈阵列分布，例如，测试器件13的焊点14可按照沿第一方向和第二方向上成行成列分布划分，由此，多组探针组件4可对测试器件13在第二方向的多个焊点14进行测试，当测试平台12移动时，测试器件13随着测试平台12沿第一方向移动，从而使得多组探针组件4可对第一方向上的下一排的焊点14进行测试，随着测试平台12的移动，多组测试探针43可对第一方向上的多排焊点14进行测试，以实现对测试器件13在第一方向和第二方向上对不同位置的焊点14进行测试，进而能够实现对整个测试器件13的测试，可用于对不同类型的测试器件13例如不同排布的PCB板进行测试，而不需要针对不同型号的PCB板设计不同的版型和拼版尺寸进行定制和重新布线，可减少定制测试拼版的时间，降低测试验证周期，提高测试效率。

在本实用新型的一些实施例中，测试装置可以包括固定支架21和调整装置3，固定支架21固定在底座11上，固定支架21可以用于支撑固定调整装置3，调整装置3沿上下方向可移动地设在固定支架21上，多组探针组件4沿第二方向可移动地设在调整装置3上，也就是说，调整装置3在固定支架21上可上下移动，多组探针组件4设在调整装置3上，调整装置3也可带动多组探针组件4上下移动，这样在测试平台12移动时，调整装置3可向上移动以带动多组探针组件4向上运动，以与测试器件13分离，当测试器件13移动到对应位置后，调整装置3带动多组探针组件4向下移动以与测试器件13接触以进行测试，同时多组探针组件4可在调整组件上沿第二方向移动，这样可在第二方向上调整多组探针组件4的位置以与测试器件13上的不同位置的焊点14对应，便于对第二方向上不同位置的焊点14进行对应测试。

在本实用新型的一些示例中，固定支架21可以包括至少两个固定柱22和固定横梁23，固定柱22的下端固定在底座11上，固定横梁23连接在至少两个固定柱22之间上，测试平台12位于固定横梁23的下方，这样固定支架21通过固定柱22与底座11固定连接，固定横梁23连接在固定柱22之间以将至少两个固定柱22固定，从而使得固定支架21的结构更加稳固。可选地，如图1所示，固定支架21可以包括两个固定柱22，两个固定柱22在第二方向上间隔开设置，两个固定柱22之间的宽度允许测试平台12通过，固定横梁23连接在两个固定柱22之间，在如图1所示的示例中，固定横梁23套设在固定柱22上部且可通过螺母等与固定横梁23连接，测试平台12位于固定横梁23下方，从而方便测试平台12沿第一方向移动。

在本实用新型的一些示例中，结合图1和图2所示，调整装置3可以包括可调节横梁31和驱动机构32，可调节横梁31沿上下方向可移动地套设在固定柱22上，多组探针组件4沿第二方向间隔开地设在可调节横梁31上；驱动机构32设在固定横梁23上且与可调节横梁31连接，以用于驱动可调节横梁31沿上下方向移动。

具体地，可调节横梁31可用于支撑多组探针组件4，可调节横梁31设有沿上下方向贯穿的通孔，可调节横梁31通过通孔套设在固定柱22上且相对固定柱22沿上下方向可移动，可调节横梁31移动以带动多组探针组件4在上下方向上移动，其中多组探针组件4沿第二方向间隔开设在可调节横梁31上，可选地，多组探针组件4在可调节横梁31上沿第二方向位置可调节，这样多组探针组件4能够与第二方向上不同位置移动活动，其中驱动机构32可固定在固定横梁23上，固定横梁23可支撑固定驱动机构32，可选地，驱动机构32与固定横梁23和可调节横梁31之间可通过铰链连接，以方便驱动机构32活动带动可调节横梁31移动。

需要说明的是，本实用新型中第一方向和第二方向指的是在测试平台12表面的水平面上的两个方向，其中，第一方向和第二方向不平行且具有一定角度，测试器件13上的焊点14可以第一方向和第二方向成行成列分布，第一方向和第二方向可具体根据实际需要设置，可选地，第一方向可与第二方向垂直；所述上下方向指的是垂直测试平台12表面的竖直方向。

在一些示例中，驱动机构32可以包括第一驱动连杆321和第二驱动连杆322，第一驱动连杆321的一端与可调节横梁31铰接，第二驱动连杆322上设有固定部323，固定部323与固定横梁23铰接，第二驱动连杆322的一端与第一驱动连杆321可活动连接，第二驱动连杆322的另一端形成有驱动柄324，驱动柄324活动以驱动第一驱动连杆321带动可调节横梁31上下移动。具体来说，第一驱动连杆321的两端分别与可调节横梁31和第二驱动连杆322铰接，第二驱动连杆322设有固定部323和驱动柄324，第二驱动连杆322通过固定部323与固定横梁23铰接，第二驱动连杆322的下端与第一驱动连杆321铰接，驱动柄324形成在第二驱动连杆322的上部，通过按压和提拉驱动柄324可使得第二驱动连杆322活动以驱动第一驱动连杆321活动，进而带动可调节横梁31移动。

在本实用新型的一些实施例中，可调节横梁31内可设有沿第二方向延伸的调节通道311，多组探针组件4可移动地设在调节通道311内，这样每组探针组件4在可调节通道311内沿第二方向可移动，从而可在第二方向上调节每组探针组件4的位置，以便于与测试器件13上不同位置的焊点14对应。

在本实用新型的一些实施例中，每组探针组件4可以包括绝缘柱41和多个测试探针43，多个测试探针43套设在绝缘柱41上且通过绝缘件42间隔开，这样测试探针43之间彼此绝缘，多个测试探针43可分别对不同焊点14进行测试。在一些具体示例中，多个测试探针43套设在绝缘柱41上且多个测试探针43可对第二方向上的多个焊点14进行对应测试，在如图1所示的示例中，多个测试探针43沿上下方向上间隔开套设在绝缘柱41上，绝缘件42设在绝缘柱41上且位于相邻测试探针43之间，测试探针43之间可通过绝缘件42绝缘间隔开且能够用于固定多个测试探针43，可选地，所述绝缘件42可以形成为绝缘螺母。

在如图1所示的示例中，绝缘柱41可穿过调节通道311且在调节通道311内可移动，绝缘柱41的上端可设有固定螺母，或者在绝缘柱41的上端可形成有固定台阶，绝缘柱41的下端穿过调节通道311，以通过绝缘柱41上端的固定螺母或固定台阶支撑在可调节横梁31上，测试探针43设在可调节横梁31的下方且通过绝缘件42固定。

在一些示例中，多个测试探针43可相对绝缘柱41的周向可活动，也就是说，测试探针43可相对绝缘柱41转动，这样多个测试探针43之间可具有一定的夹角以在第二方向上可间隔开，而且测试探针43可转动，也能够调节测试探针43在第二方向上的位置，以对应第二方向上不同位置的焊点14。

在本实用新型的一些实施例中，测试探针43可以包括连接部44和测试部45，连接部44套设在绝缘柱41上，测试部45与连接部44相连以用于测试焊点14，具体地，连接部44与绝缘柱41连接，测试部45的一端与连接部44固定连接，测试部45的另一端可向下弯折，以便于测试焊点14，每组探针组件4的多个测试探针43可在绝缘柱41的周向上偏移开，以使得多个测试部45能够在第二方向上间隔开，其中，多个测试部45的下端可位于同一平面上以使得多个测试探针43能够与多个焊点14一一对应测试。

在一些示例中，结合图1和图3所示，测试探针43还包括固定件46，测试部45设有固定孔451，固定件46穿过固定孔451与连接部44固定连接且在固定孔451内沿第一方向可移动，以使测试部45在第一方向上位置可调。具体地，测试部45和连接部44可通过固定件46连接，所述固定件46可以为螺栓结构，螺栓穿过测试部45的固定孔451与连接部44固定连接，其中固定孔451的尺寸可大于固定件46的尺寸，例如固定孔451在第一方向的长度大于固定件46的直径，这样测试部45套设在固定件46上且可移动，以使得测试部45通过固定孔451在第一方向上可实现微调，从而使得测试部45能够与测试器件13的焊点14对应。

例如，可转动测试探针43，以使测试部45在第二方向上的位置进行调整，同时也会使得测试探针43的测试部45在第一方向上的位置发生变动，此时通过固定孔451可对测试部45进行微调，从而可弥补由于测试探针43转动导致的在第一方向上的位置变化，以使得测试探针43能够与其它探针对齐以与测试器件13的焊点14一一对应。或者，在对多组探针组件4的测试探针43进行调整时，可通过转动测试探针43以及通过固定孔451对测试部45进行微调，以使得多组测试探针43能够对齐对准。

以上仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，包括：

底座；

用于承载测试器件的测试平台，所述测试平台至少沿第一方向可移动地设在所述底座上；

测试装置，所述测试装置设在所述底座上，所述测试装置设有沿第二方向间隔开设置的多组探针组件，每组所述探针组件具有至少一个测试探针，所述测试平台位于多组所述探针组件下方且沿所述第一方向可移动，所述测试平台移动以使得多组所述探针组件能够对所述测试器件在所述第一方向上不同位置的焊点进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试装置包括：

固定支架，所述固定支架固定在所述底座上；

调整装置，所述调整装置沿上下方向可移动地设在所述固定支架上，多组所述探针组件沿所述第二方向可移动地设在所述调整装置上。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述固定支架包括至少两个固定柱和固定横梁，所述固定柱的下端固定在底座上，所述固定横梁连接在至少两个所述固定柱之间上，所述测试平台位于所述固定横梁的下方。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述调整装置包括：

可调节横梁，所述可调节横梁沿上下方向可移动地套设在所述固定柱上，多组所述探针组件沿所述第二方向间隔开地设在所述可调节横梁上；

驱动机构，所述驱动机构设在所述固定横梁上且与所述可调节横梁连接，以用于驱动所述可调节横梁沿上下方向移动。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述驱动机构包括：

第一驱动连杆，所述第一驱动连杆的一端与所述可调节横梁铰接；

第二驱动连杆，所述第二驱动连杆上设有固定部，所述固定部与所述固定横梁铰接，所述第二驱动连杆的一端与所述第一驱动连杆可活动连接，所述第二驱动连杆的另一端形成有驱动柄，所述驱动柄活动以驱动所述第一驱动连杆带动所述可调节横梁上下移动。

6.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述可调节横梁内设有沿第二方向延伸的调节通道，多组所述探针组件可移动地设在所述调节通道内。

7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，每组所述探针组件包括绝缘柱和多个所述测试探针，多个所述测试探针套设在所述绝缘柱上且通过绝缘件间隔开。

8.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，所述测试探针包括连接部和测试部，所述连接部套设在所述绝缘柱上，所述测试部与所述连接部相连以用于测试所述焊点。

9.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，多个所述测试探针沿上下方向间隔开设在所述绝缘柱上且绕所述绝缘柱的周向可转动。

10.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，所述测试探针还包括固定件，所述测试部设有固定孔，所述固定件穿过所述固定孔与所述连接部固定连接且在所述固定孔内沿所述第一方向可移动，以使所述测试部在所述第一方向上位置可调。

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