CN219891359U - 一种pcb板的测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种PCB板的测试机构，涉及PCB板测试技术领域。该测试机构包括探针组件及支撑板，所述探针组件包括固定基板，所述固定基板开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针，且所述测试探针的两端均伸出所述固定基板，所述固定基板由弹性材料制成；所述支撑板与所述固定基板固定连接。该PCB板的测试机构能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。

Description

一种PCB板的测试机构

技术领域

本实用新型涉及PCB板测试技术领域，尤其涉及一种PCB板的测试机构。

背景技术

随着电子技术的迅猛发展，其功能也日益强大，这就要求其具有稳定的性能。PCB板是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，其电性能的好坏直接影响到电子产品功能的稳定性。因此，在PCB板的生产过程中，需要对其进行电性能方面的测试。

现有技术中，通常在基板上设置探针，利用探针抵接PCB板的电子元件以测试电子元件的电性能。然而，当PCB板的电子元件较小较密时，对应的进行测试的基板上的探针之间的间隙也会很小，导致基板在探针与探针之间的部位强度不足而容易开裂。而若要防止基板开裂，则需要选择小尺寸的探针，从而增大探针与探针之间的间隙，而小尺寸的探针在测试时，又会因接触面积小而导致接触性差和导通电阻增高等问题，影响测试的准确性。

针对上述问题，需要开发一种PCB板的测试机构，以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种PCB板的测试机构，能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种PCB板的测试机构，包括：

探针组件，所述探针组件包括固定基板，所述固定基板开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针，且所述测试探针的两端均伸出所述固定基板，所述固定基板由弹性材料制成；

支撑板，所述支撑板与所述固定基板固定连接。

优选地，所述固定孔的孔径小于所述测试探针的外径。

优选地，多个所述固定孔呈阵列排布。

优选地，所述支撑板朝向所述固定基板的一侧设置有金属走线，所述金属走线与若干个所述测试探针抵接以对所述测试探针供电。

优选地，所述支撑板设置有多条所述金属走线，每条所述金属走线均抵接部分所述测试探针。

优选地，所述固定基板与所述支撑板通过胶粘接固定。

优选地，所述测试机构还包括底座与定位组件，所述支撑板沿竖直方向滑动设置于所述底座，所述定位组件设置于所述底座上，所述定位组件被配置为对PCB板进行定位。

优选地，所述定位组件包括两个滑动设置于所述底座上的定位件，两个所述定位件能够相互靠近或远离。

优选地，所述支撑板设置有导向柱，所述底座开设有导向孔，所述导向柱插入所述导向孔内。

优选地，所述支撑板设置有限位柱，所述限位柱被配置为与所述底座抵接。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提供了一种PCB板的测试机构。该测试机构中，测试探针贯穿固定基板，使测试探针能够抵接PCB板的电子元件以对电子元件进行测试，由于固定基板是由弹性材料制成的，故能够开设间隔很小的孔来固定测试探针，既能够保持固定基板不开裂，又能够匹配尺寸较大的测试探针以保证测试探针与电子元件接触稳定且接触面积充足。

该测试机构能够在保证固定基板不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针，使用寿命长。

附图说明

图1是本实用新型提供的PCB板的测试机构的结构示意图；

图2是本实用新型提供的探针组件的结构示意图；

图3是本实用新型提供的支撑板与金属走线的结构示意图。

图中：

100、PCB板；101、电子元件；

1、探针组件；2、支撑板；3、金属走线；4、底座；5、定位组件；

11、固定基板；12、测试探针；21、导向柱；22、限位柱；41、导向孔；51、定位件；52、锁定螺钉。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。

除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

现有技术中，通常在基板上设置探针，利用探针抵接PCB板的电子元件以测试电子元件的电性能。然而，当PCB板的电子元件较小较密时，对应的进行测试的基板上的探针之间的间隙也会很小，导致基板在探针与探针之间的部位强度不足而容易开裂。而若要防止基板开裂，则需要选择小尺寸的探针来增大探针与探针之间的间隙，而小尺寸的探针在测试时，又会因接触面积小而导致接触性差和导通电阻增高等问题，影响测试的准确性。而且小尺寸的探针在使用时也较容易断裂，影响使用寿命。

本实施例提供了一种PCB板的测试机构，如图1和图2所示，该测试机构包括探针组件1及支撑板2，探针组件1包括固定基板11，固定基板11开设有多个固定孔，每个固定孔内均设置有一个测试探针12，且测试探针12的两端均伸出固定基板11，固定基板11由弹性材料制成，支撑板2与固定基板11固定连接。

该测试机构中，测试探针12贯穿固定基板11，使测试探针12能够抵接PCB板100的电子元件101以对电子元件101进行测试，由于固定基板11是由弹性材料制成的，故能够开设间隔很小的孔来固定测试探针12，既能够保持固定基板11不开裂，又能够匹配尺寸较大的测试探针12以保证测试探针12与电子元件101接触稳定且接触面积充足。而支撑板2则能够对固定基板11形成支撑，防止固定基板11因自身弹性而变形，从而保证了测试探针12能够抵接电子元件101。

该测试机构能够在保证固定基板11不开裂的前提下，匹配尺寸较大的测试探针12，以保证测试性能稳定，且不容易损坏测试探针12，使用寿命长。具体地，固定基板11由硅胶制成。

优选地，固定孔的孔径小于测试探针12的外径。测试探针12插入固定孔后，能够被固定基板11固定以保证测试探针12的稳定，防止测试探针12在抵接电子元件101后缩回固定基板11导致的接触不良，从而为测试的准确性与稳定性提供了保障。

优选地，多个固定孔呈阵列排布。当测试探针12穿过对应的固定孔固定于固定基板11上时，多个测试探针12也呈阵列排布，由于固定基板11在每一个测试探针12处的形变均相同，则呈阵列排布的测试探针12使得固定基板11整体的形变量较为均匀，不会出现局部形变过大的现象，使固定基板11整体处于稳定的状态，也能够保证测试探针12相互之间位置的相对稳定。具体地，多个固定孔呈行列排布。

如图3所示，支撑板2朝向固定基板11的一侧设置有金属走线3，金属走线3与若干个测试探针12抵接以对测试探针12供电。测试探针12能够直接与金属走线3抵接，并通过金属走线3与外部电路连接，从而能够对电子元件101进行测试。金属走线3结构简单，且为扁平状，节省空间。由于测试探针12的两端均伸出固定基板11，故能够保证测试探针12与金属走线3之间连接的可靠性。

进一步地，支撑板2设置有多条金属走线3，每条金属走线3均抵接部分测试探针12。可以理解的是，PCB板100上一般设置有多个电子元件101，每一条金属走线3对应的部分测试探针12用于测试其中一个电子元件101，故多条金属走线3通过各自连接的测试探针12同时对多个电子元件101进行测试，极大地提高了测试效率。

优选地，固定基板11与支撑板2通过胶粘接固定。由于固定基板11由弹性材料制成，其不适宜用螺钉等固定方式与支撑板2进行固定，否则容易导致固定基板11变形而影响测试的准确度。而利用胶粘接固定则没有这个问题，且能够提高将固定基板11固定于支撑板2的效率，降低成本。

可以理解的是，由于探针与电子元件101的尺寸均较小，故在探针组件1靠近PCB板100的过程中，探针组件1与PCB板100之间的相对位置需要比较精准，防止测试探针12无法抵接对应的电子元件101的情况发生。如图1所示，为达到这个目的，测试机构还包括底座4与定位组件5，支撑板2沿竖直方向滑动设置于底座4，定位组件5设置于底座4上，定位组件5被配置为对PCB板100进行定位。

底座4的定位组件5能够对PCB板100进行定位，以将PCB板100固定于底座4上，故此时当探针组件1随着支撑板2向下移动时，能够保证探针组件1与PCB板100之间相对位置的准确性。

如图1所示，定位组件5包括两个滑动设置于底座4上的定位件51，两个定位件51能够相互靠近或远离。两个定位件51能够在需要对PCB板100进行定位时相互靠近并卡接PCB板100完成定位。而且，在测试完一个PCB板100后，更换相同型号的PCB板100时，不需要重新进行定位，只需要将新的PCB板100放入两个定位件51之间即可，大大提高了测试效率。

进一步地，定位组件5还包括与定位件51一一对应的锁定螺钉52，锁定螺钉52穿过对应的定位件51并与底座4螺纹连接。锁定螺钉52能够将定位件51固定于底座4上，使定位件51的位置不会发生变化，从而保证在更换相同型号的PCB板100时，PCB板100的位置不会发生变动，确保PCB板100与探针组件1之间相对位置的准确性。

如图1所示，该测试机构包括两组定位组件5，且其中一组定位组件5的定位件51沿第一方向滑动，另一组定位组件5的定位件51沿第二方向滑动，第一方向垂直于第二方向。两组定位组件5的定位件51能够从两个不同的方向卡接PCB板100，进一步提高了PCB板100位置的准确性。

然而，虽然PCB板100的位置被定位组件5固定，但支撑板2与底座4之间的位置精度并不高，容易导致探针组件1与PCB板100之间依然存在一定的偏差。如图1和图3所示，为解决这个问题，支撑板2设置有导向柱21，底座4开设有导向孔41，导向柱21插入导向孔41内。在支撑板2向下移动时，当探针组件1抵接PCB板100的电子元件101之前，导向柱21优先插入导向孔41，从而对支撑件进行精定位，则此时支撑件、底座4以及PCB板100之间的相对位置均被固定，从而提高了探针组件1与PCB板100之间的相对位置的精度。

如图3所示，支撑板2设置有限位柱22，限位柱22被配置为与底座4抵接。当探针组件1的测试探针12与对应的电子元件101抵接后，限位柱22与底座4抵接，以对支撑板2的行程进行限位，防止支撑板2继续下压而导致测试探针12或PCB板100损坏。

以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种PCB板的测试机构，其特征在于，包括：

探针组件(1)，所述探针组件(1)包括固定基板(11)，所述固定基板(11)开设有多个固定孔，每个所述固定孔内均设置有一个测试探针(12)，且所述测试探针(12)的两端均伸出所述固定基板(11)，所述固定基板(11)由弹性材料制成；

支撑板(2)，所述支撑板(2)与所述固定基板(11)固定连接。

2.根据权利要求1所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述固定孔的孔径小于所述测试探针(12)的外径。

3.根据权利要求1所述的PCB板的测试机构，其特征在于，多个所述固定孔呈阵列排布。

4.根据权利要求1所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)朝向所述固定基板(11)的一侧设置有金属走线(3)，所述金属走线(3)与若干个所述测试探针(12)抵接以对所述测试探针(12)供电。

5.根据权利要求4所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有多条所述金属走线(3)，每条所述金属走线(3)均抵接部分所述测试探针(12)。

6.根据权利要求4所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述固定基板(11)与所述支撑板(2)通过胶粘接固定。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述测试机构还包括底座(4)与定位组件(5)，所述支撑板(2)沿竖直方向滑动设置于所述底座(4)，所述定位组件(5)设置于所述底座(4)上，所述定位组件(5)被配置为对PCB板进行定位。

8.根据权利要求7所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述定位组件(5)包括两个滑动设置于所述底座(4)上的定位件(51)，两个所述定位件(51)能够相互靠近或远离。

9.根据权利要求7所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有导向柱(21)，所述底座(4)开设有导向孔(41)，所述导向柱(21)插入所述导向孔(41)内。

10.根据权利要求7所述的PCB板的测试机构，其特征在于，所述支撑板(2)设置有限位柱(22)，所述限位柱(22)被配置为与所述底座(4)抵接。