CN218360762U - 一种具有芯片调正功能的测试器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种具有芯片调正功能的测试器，包括输送带、转移机构、测试机构和调正机构，转移机构和测试机构均设于输送带一侧，测试机构和输送带呈90°位于转移机构的两侧，调正机构位于测试机构的下方，调正机构包括支撑底板、支撑竖杆、定位壳、调正电机和测试盘，支撑竖杆设于支撑底板上，定位壳设于支撑竖杆上，定位壳内设有调正测试槽，调正电机设于支撑底板上，测试盘设于调正电机的输出轴上，测试盘转动设于调正测试槽内，测试盘内设有电磁铁一，定位壳的相对两侧壁上对应设有多组距离传感器。本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体提供了一种可以对芯片进行高效自动测试的具有芯片调正功能的测试器。

Description

一种具有芯片调正功能的测试器

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种具有芯片调正功能的测试器。

背景技术

芯片在封装厂封装完成后，要进行成品的最终测试。目前，常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中，通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片，然后再将芯片放至测试模块中进行测试。然而，随着半导体制程工艺的进步，芯片的体积越来越小，重量也越来越轻，芯片的放置难度也是越来越大，送料机构上的芯片很容易出现放歪的问题，从而影响芯片测试的顺利进行。

实用新型内容

针对上述情况，为弥补上述现有缺陷，本实用新型提供了一种可以对芯片进行高效自动测试的具有芯片调正功能的测试器。

本实用新型提供如下的技术方案：本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器，包括输送带、转移机构、测试机构和调正机构，所述转移机构和测试机构均设于输送带一侧，所述测试机构和输送带呈90°位于转移机构的两侧，所述调正机构位于测试机构的下方，所述调正机构包括支撑底板、支撑竖杆、定位壳、调正电机和测试盘，所述支撑竖杆设于支撑底板上，所述定位壳设于支撑竖杆上，所述定位壳内设有调正测试槽，所述调正电机设于支撑底板上，所述测试盘设于调正电机的输出轴上，所述测试盘转动设于调正测试槽内，所述测试盘内设有电磁铁一，所述定位壳的相对两侧壁上对应设有多组距离传感器，所述距离传感器与调正电机均与控制器电连接。

为实现芯片的自动转移，所述转移机构包括防护箱、转移电机、主动齿轮、从动齿轮、转移轴、槽轮、安装板和转移吸附板，所述转移电机设于防护箱的底壁上，所述主动齿轮设于转移电机的输出轴上，所述从动齿轮上设有转轴，所述从动齿轮通过转轴转动设于防护箱内，所述从动齿轮与主动齿轮啮合，所述转移轴转动设于防护箱的顶壁上，所述槽轮设于转移轴的下端，所述主动齿轮上设有拨动柱一，所述从动齿轮上设有拨动柱二，所述主动齿轮和从动齿轮的中心处设有限位凸起，所述槽轮上间隔均匀设有四组限位弧形槽，所述槽轮上设有两组拨动槽，两组所述拨动槽分别为拨动槽一和拨动槽二，所述拨动槽一和拨动槽二呈180°夹角设置，所述拨动柱一、拨动柱二分别与拨动槽一、拨动槽二卡合适配，所述安装板设于转移轴的上端，所述转移吸附板设于安装板的下表面，所述转移吸附板内设有电磁铁二。

为实现芯片的测试，所述测试机构包括电动伸缩杆、测试板和测试模块，所述测试板设于电动伸缩杆的自由端，所述测试模块设于测试板的下表面，所述转移轴的高度小于电动伸缩杆伸展状态下的高度。

为实现良品芯片和次品芯片的分类收集，沿着所述输送带的运输方向设置有两组芯片收集机构，两组所述芯片收集机构分别为良品芯片收集机构和次品芯片收集机构，所述芯片收集机构包括固定板、推动气缸、推动板和收集盒，所述固定板位于输送带的一侧，所述推动气缸设于固定板上，所述推动板设于推动气缸的自由端，所述收集盒位于输送带的另一侧，所述收集盒与推动板对应设置。

采用上述结构本实用新型取得的有益效果如下：本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器，通过转移机构的设置实现了芯片于输送带和测试盘之间的转移，并通过调正机构对芯片进行调整，为测试机构的侧视提供了条件；本测试器可以对芯片进行高效自动测试，提高了芯片的测试效率。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器的整体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器的转移机构和测试机构的结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种具有芯片调正功能的测试器的主动齿轮、从动齿轮以及槽轮的俯视结构示意图。

其中，1、输送带，2、转移机构，3、测试机构，4、调正机构，5、支撑底板，6、支撑竖杆，7、定位壳，8、调正电机，9、测试盘，10、调正测试槽，11、距离传感器，12、防护箱，13、转移电机，14、主动齿轮，15、从动齿轮，16、收集盒，17、转移轴，18、槽轮，19、安装板，20、转移吸附板，21、拨动柱一，22、拨动柱二，23、限位凸起，24、限位弧形槽，25、拨动槽一，26、拨动槽二，27、电动伸缩杆，28、测试板，29、测试模块，30、固定板，31、推动气缸，32、推动板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

如图1～3所示，本实施例提供了一种具有芯片调正功能的测试器，包括输送带1、转移机构2、测试机构3和调正机构4，转移机构2和测试机构3均设于输送带1一侧，测试机构3和输送带1呈90°位于转移机构2的两侧，调正机构4位于测试机构3的下方，调正机构4包括支撑底板5、支撑竖杆6、定位壳7、调正电机8和测试盘9，支撑竖杆6设于支撑底板5上，定位壳7设于支撑竖杆6上，定位壳7内设有调正测试槽10，调正电机8设于支撑底板5上，测试盘9设于调正电机8的输出轴上，测试盘9转动设于调正测试槽10内，测试盘9内设有电磁铁一，由于芯片本身具备一定的磁性，通过电磁铁一的磁性吸附，芯片可以稳定的吸附在测试盘9上，并在调正电机8的作用下实现芯片的调正动作，定位壳7的相对两侧壁上对应设有多组距离传感器11，距离传感器11与调正电机8均与控制器电连接，通过距离传感器11的设置判断芯片的位置，并通过调正电机8的转动动作带动芯片进行角度调节。

如图2和图3所示，在本实施例中，转移机构2包括防护箱12、转移电机13、主动齿轮14、从动齿轮15、驱动轴、转移轴17、槽轮18、安装板19和转移吸附板20，转移电机13设于防护箱12的底壁上，主动齿轮14设于转移电机13的输出轴上，从动齿轮15上设有转轴，从动齿轮15通过转轴转动设于防护箱12内，从动齿轮15与主动齿轮14啮合，转移轴17转动设于防护箱12的顶壁上，槽轮18设于转移轴17的下端，主动齿轮14上设有拨动柱一21，从动齿轮15上设有拨动柱二22，主动齿轮14和从动齿轮15的中心处设有限位凸起23，槽轮18上间隔均匀设有四组限位弧形槽24，槽轮18上设有两组拨动槽，两组拨动槽分别为拨动槽一25和拨动槽二26，拨动槽一25和拨动槽二26呈180°夹角设置，拨动柱一21、拨动柱二22分别与拨动槽一25、拨动槽二26卡合适配，随着转移电机13的驱动作用，当拨动柱一21卡合在拨动槽一25内时，槽轮18转动90°，随着转移电机13的继续转动驱动，当拨动柱二22卡合在拨动槽二26内时，槽轮18反向转动90°，槽轮18复位，从而满足芯片在输送带1和测试盘9上的转移输送需求，安装板19设于转移轴17的上端，转移吸附板20设于安装板19的下表面，转移吸附板20内设有电磁铁二，在电磁铁二的作用下可以将芯片从输送带1上吸附转移至测试盘9上。

通过转移机构2的设置实现了芯片在输送带1以及测试盘9之间为转移。

如图2所示，在本实施例中，测试机构3包括电动伸缩杆27、测试板28和测试模块29，电动伸缩杆27设于支撑底板5上，测试板28设于电动伸缩杆27的自由端，测试模块29设于测试板28的下表面，转移轴17的高度小于电动伸缩杆27伸展状态下的高度，转移轴17带动安装板19和转移吸附板20在测试模块29的下方移动。

如图1所示，在本实施例中，沿着输送带1的运输方向设置有两组芯片收集机构，两组芯片收集机构分别为良品芯片收集机构和次品芯片收集机构，芯片收集机构包括固定板30、推动气缸31、推动板32和收集盒16，固定板30位于输送带1的一侧，推动气缸31设于固定板30上，推动板32设于推动气缸31的自由端，收集盒16位于输送带1的另一侧，收集盒16与推动板32对应设置。

具体使用时，芯片通过输送带1输送至转移机构2下方，通过电磁铁二吸附芯片，在转移电机13的作用下带动主动齿轮14转动，主动齿轮14带动从动齿轮15转动，主动齿轮14和从动齿轮15分别带动拨动柱一21、拨动柱二22以及限位凸起23转动，在限位凸起23的限位作用以及拨动柱一21的作用下带动转移吸附板20至测试盘9上方，电磁铁二断电，电磁铁一通电，芯片下落至测试盘9上，之后随着转移电机13的驱动，安装板19和转移吸附板20从测试盘9上移开，转移至输送带1上方，距离传感器11测定芯片的位置，在控制器的作用下控制调正电机8转动一定的角度对芯片进行调正，电动伸缩杆27带动测试板28和测试模块29下降，测试模块29完成芯片测试，测试完毕之后在电动伸缩杆27的作用下，测试板28和测试模块29复位，之后转移电机13带动转移吸附板20重新移动至测试盘9上方，电磁铁二通电，电磁铁一断电，芯片被重新吸附在转移吸附板20上，并随着转移电机13的动作重新转移至输送带1上，通过推动气缸31的动作，将芯片推动至对应的收集盒16内，实现良品芯片或者次品芯片的区分收集。

要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物料或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物料或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种具有芯片调正功能的测试器，包括输送带、转移机构、测试机构，其特征在于：还包括调正机构，所述转移机构和测试机构均设于输送带一侧，所述测试机构和输送带呈90°位于转移机构的两侧，所述调正机构位于测试机构的下方，所述调正机构包括支撑底板、支撑竖杆、定位壳、调正电机和测试盘，所述支撑竖杆设于支撑底板上，所述定位壳设于支撑竖杆上，所述定位壳内设有调正测试槽，所述调正电机设于支撑底板上，所述测试盘设于调正电机的输出轴上，所述测试盘转动设于调正测试槽内，所述测试盘内设有电磁铁一，所述定位壳的相对两侧壁上对应设有多组距离传感器，所述距离传感器与调正电机均与控制器电连接。

2.根据权利要求1所述的一种具有芯片调正功能的测试器，其特征在于：所述转移机构包括防护箱、转移电机、主动齿轮、从动齿轮、转移轴、槽轮、安装板和转移吸附板，所述转移电机设于防护箱的底壁上，所述主动齿轮设于转移电机的输出轴上，所述从动齿轮上设有转轴，所述从动齿轮通过转轴转动设于防护箱内，所述从动齿轮与主动齿轮啮合，所述转移轴转动设于防护箱的顶壁上，所述槽轮设于转移轴的下端，所述主动齿轮上设有拨动柱一，所述从动齿轮上设有拨动柱二，所述主动齿轮和从动齿轮的中心处设有限位凸起，所述槽轮上间隔均匀设有四组限位弧形槽，所述槽轮上设有两组拨动槽，两组所述拨动槽分别为拨动槽一和拨动槽二，所述拨动槽一和拨动槽二呈180°夹角设置，所述拨动柱一、拨动柱二分别与拨动槽一、拨动槽二卡合适配，所述安装板设于转移轴的上端，所述转移吸附板设于安装板的下表面，所述转移吸附板内设有电磁铁二。

3.根据权利要求2所述的一种具有芯片调正功能的测试器，其特征在于：所述测试机构包括电动伸缩杆、测试板和测试模块，所述测试板设于电动伸缩杆的自由端，所述测试模块设于测试板的下表面，所述转移轴的高度小于电动伸缩杆伸展状态下的高度。

4.根据权利要求3所述的一种具有芯片调正功能的测试器，其特征在于：两组芯片收集机构分别为良品芯片收集机构和次品芯片收集机构，所述芯片收集机构包括固定板、推动气缸、推动板和收集盒，所述固定板位于输送带的一侧，所述推动气缸设于固定板上，所述推动板设于推动气缸的自由端，所述收集盒位于输送带的另一侧，所述收集盒与推动板对应设置。

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