CN218298312U - 一种水平下压测试Socket结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型旨在提供了一种水平下压测试Socket结构。本实用新型包括底板模组和压板模组，底板模组包括测试底板和测试载板，测试载板浮动设置在测试底板上，压板模组包括测试压板和测试针板，测试底板设置有轴承，测试压板设置有转动限位扣，转动限位扣设置有限位槽，测试底板还设置有浮升限位槽，浮升限位槽内设置有浮升孔，浮升孔内设置有第一弹簧，第一弹簧上设置有与浮升限位槽滑动配合的浮升块，测试底板四角位置均设置有弹簧孔，弹簧孔内设置有第二弹簧，第二弹簧上设置有浮升销，测试载板上设置有第一导向孔和测试工位，测试针板上设置有第一导向销和若干仿形针块。本实用新型涉及一种压合测试结构。

Description

一种水平下压测试Socket结构

技术领域

本实用新型涉及一种压合测试结构，具体地涉及一种水平下压测试Socket结构。

背景技术

目前在压合测试领域，常用的测试结构是通过测试上盖对测试产品进行压合，使测试结构上的信号触点与测试产品相接触，常规的测试上盖对测试产品进行压合测试时，常会发生与与待测品接触时呈一定角度，测试结构接触测试产品时是会首先接触测试产品一个点或一条线，再接触测试产品的整体，因此不能保证水平状态下压合产品，而且在压合测试的过程中相对产品会产生一定的位移，会影响压合测试的准确性及会划伤产品。

如公开号为CN205157727U的一项中国实用新型专利，其公开了一种SOCKET测试模组，该方案中的手动旋转盖通过翻转组件与翻转固定座连接实现翻转，但该方案在压合过程中设置在手动旋转盖上的卡勾与待测产品接触时会先呈一定角度，因此在与产品接触的先是与产品的一条边相接触，这样容易损伤产品，并且该方案中的不同探针在接触产品时会出现接触时间不同的情况，从而也会影响测试效果。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种便捷翻转、接触不均匀、稳定可靠以及避免损伤产品的水平下压测试Socket结构，来解决现有下压测试装置结构不稳定、接触不均匀、下压测试时接触面积小易损伤产品等问题。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底板模组和压板模组，所述底板模组包括测试底板和测试载板，所述测试载板浮动设置在所述测试底板上，所述压板模组包括测试压板和测试针板，所述测试针板浮动设置在所述测试压板上，所述测试底板后侧两端分别设置有轴承，所述测试压板后侧两端分别设置有转动限位扣，所述转动限位扣设置有与所述轴承相配合的限位槽，所述测试底板还设置有浮升限位槽，所述浮升限位槽内设置有浮升孔，所述浮升孔内设置有第一弹簧，所述第一弹簧上设置有与所述浮升限位槽滑动配合的浮升块，所述浮升块上端边缘呈弧面结构，所述弧面结构与所述转动限位扣相配合，所述测试底板四角位置均设置有弹簧孔，所述弹簧孔内设置有第二弹簧，所述第二弹簧上设置有浮升销，所述测试载板上设置有第一导向孔和测试工位，所述测试针板上设置有第一导向销和若干仿形针块，所述第一导向销与所述第一导向孔相配合，所述测试工位和若干所述仿形针块分别与测试产品的下表面和上表面相配合。

一个优选方案是，所述测试压板两侧设置有卡扣组件，所述卡扣组件包括固定块、第三弹簧和卡扣，所述第三弹簧设置在所述固定块上，所述卡扣转动设置在所述固定块上，所述卡扣设置有与所述第三弹簧相配合的弹簧槽，所述测试底板设置有与所述卡扣相配合的止开扣。

一个优选方案是，所述测试底板设置有安装片，所述安装片限位覆盖设置在所述浮升限位槽外侧，所述安装片通过螺丝与所述测试底板相连接。

一个优选方案是，所述测试底板与所述测试载板之间设置有若干第一等高螺丝和若干第四弹簧。

一个优选方案是，所述测试底板设置有若干第二导向销，所述测试载板上设置有与所述第二导向销相配合的第二导向孔。

一个优选方案是，所述测试底板与所述测试载板之间设置有若干第一等高螺丝和若干第五弹簧。

本实用新型在使用过程中，需要先将本实用新型打开，通过按压所述卡扣，可以使所述压板模组弹起，然后将所述压板模组翻开，再将待测产品放置到所述测试载板内的所述测试工位上，然后将所述压板模组进行压合，使得所述仿形针块覆盖在测试产品之上，但由于所述浮升块受到所述第一弹簧的弹力使所述转动限位扣被顶起，加之所述浮升销受到所述第二弹簧的弹力顶起所述测试压板，因此此时所述仿形针块还未与测试产品相接触，接着向下按压所述测试压板，所述轴承沿着所述限位槽向上移动且所述浮升销同时受到挤压，所述测试压板相对所述测试底板向下移动，所述仿形针块与测试产品表面相接触，从而完成测试。

本实用新型的有益效果：

由上述使用方法可知，本实用新型在使用时能使测试结构与测试产品接触面保持水平，从而不易对测试产品造成损伤，并且若干浮动结构提供了很高的安全性，使本实用新型稳定可靠。

附图说明

图1是本实用新型的立体结构示意图；

图2是所述底板模组的立体结构示意图；

图3是所述底板模组的安装结构示意图；

图4是所述底板模组的立体结构爆炸图；

图5是所述压板模组的立体结构示意图；

图6是所述压板模组的立体结构爆炸图。

具体实施方式

为了更清楚的理解本实用新型的特征和优点，下面通过实例并结合附图1至附图6对本实用新型进行进一步的说明。在本实施例中，本实用新型包括底板模组1和压板模组2，所述底板模组1包括测试底板3和测试载板4，所述测试载板4浮动设置在所述测试底板3上，所述压板模组2包括测试压板5和测试针板6，所述测试针板6浮动设置在所述测试压板5上，所述测试底板3后侧两端设置有轴承31，所述测试压板后侧两端设置有转动限位扣51，所述转动限位扣51设置有与所述轴承31相配合的限位槽511，所述测试底板3还设置有浮升限位槽32，所述浮升限位槽32内设置有浮升孔33，所述浮升孔33内设置有第一弹簧34，所述第一弹簧34上设置有与所述浮升限位槽32滑动配合的浮升块35，所述浮升块35上端边缘呈弧面结构，所述弧面结构与所述转动限位扣51相配合，所述测试底板3四角位置均设置有弹簧孔36，所述弹簧孔36内设置有第二弹簧37，所述第二弹簧37上设置有浮升销38，所述测试载板4上设置有第一导向孔41和测试工位42，所述测试针板6上设置有第一导向销61和若干仿形针块62，所述第一导向销61与所述第一导向孔41相配合，所述测试工位42和若干所述仿形针块62分别与测试产品的下表面和上表面相配合。

在本实施例中，所述测试压板5两侧设置有卡扣组件52，所述卡扣组件52包括固定块521、第三弹簧522和卡扣523，所述第三弹簧522设置在所述固定块521上，所述卡扣523转动设置在所述固定块521上，所述卡扣523设置有与所述第三弹簧522相配合的弹簧槽，所述测试底板3设置有与所述卡扣523相配合的止开扣39。

在本实施例中，所述测试底板3设置有安装片310，所述安装片310限位覆盖设置在所述浮升限位槽32外侧，所述安装片310通过螺丝与所述测试底板3相连接。

在本实施例中，所述测试底板3与所述测试载板4之间设置有若干第一等高螺丝311和若干第四弹簧312。

在本实施例中，所述测试底板3设置有若干第二导向销313，所述测试载板4上设置有与所述第二导向销313相配合的第二导向孔43。

在本实施例中，所述测试压板5与所述测试针板6之间设置有若干第一等高螺丝53和若干第五弹簧54。

本实用新型的工作原理：

本实用新型在使用过程中，需要先将本实用新型打开，通过按压所述卡扣523，可以使所述压板模组2弹起，然后将所述压板模组2翻开，再将待测产品放置到所述测试载板4内的所述测试工位42上，然后将所述压板模组2进行压合，使得所述仿形针块62覆盖在测试产品之上，但由于所述浮升块35受到所述第一弹簧34的弹力使所述转动限位扣51被顶起，加之所述浮升销38受到所述第二弹簧37的弹力顶起所述测试压板5，因此此时所述仿形针块62还未与测试产品相接触，接着向下按压所述测试压板5，所述轴承31沿着所述限位槽511向上移动且所述浮升销38同时受到挤压，所述测试压板5相对所述测试底板3向下移动，所述仿形针块62与测试产品表面相接触，从而完成测试。

虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (6)

1.一种水平下压测试Socket结构，其特征在于，它包括底板模组（1）和压板模组（2），所述底板模组（1）包括测试底板（3）和测试载板（4），所述测试载板（4）浮动设置在所述测试底板（3）上，所述压板模组（2）包括测试压板（5）和测试针板（6），所述测试针板（6）浮动设置在所述测试压板（5）上，所述测试底板（3）后侧两端设置有轴承（31），所述测试压板后侧两端设置有转动限位扣（51），所述转动限位扣（51）设置有与所述轴承（31）相配合的限位槽（511），所述测试底板（3）还设置有浮升限位槽（32），所述浮升限位槽（32）内设置有浮升孔（33），所述浮升孔（33）内设置有第一弹簧（34），所述第一弹簧（34）上设置有与所述浮升限位槽（32）滑动配合的浮升块（35），所述浮升块（35）上端边缘呈弧面结构，所述弧面结构与所述转动限位扣（51）相配合，所述测试底板（3）四角位置均设置有弹簧孔（36），所述弹簧孔（36）内设置有第二弹簧（37），所述第二弹簧（37）上设置有浮升销（38），所述测试载板（4）上设置有第一导向孔（41）和测试工位（42），所述测试针板（6）上设置有第一导向销（61）和若干仿形针块（62），所述第一导向销（61）与所述第一导向孔（41）相配合，所述测试工位（42）和若干所述仿形针块（62）分别与测试产品的下表面和上表面相配合。

2.根据权利要求1所述的一种水平下压测试Socket结构，其特征在于，所述测试压板（5）两侧设置有卡扣组件（52），所述卡扣组件（52）包括固定块（521）、第三弹簧（522）和卡扣（523），所述第三弹簧（522）设置在所述固定块（521）上，所述卡扣（523）转动设置在所述固定块（521）上，所述卡扣（523）设置有与所述第三弹簧（522）相配合的弹簧槽，所述测试底板（3）设置有与所述卡扣（523）相配合的止开扣（39）。

3.根据权利要求1所述的一种水平下压测试Socket结构，其特征在于，所述测试底板（3）设置有安装片（310），所述安装片（310）限位覆盖设置在所述浮升限位槽（32）外侧，所述安装片（310）通过螺丝与所述测试底板（3）相连接。

4.根据权利要求1所述的一种水平下压测试Socket结构，其特征在于，所述测试底板（3）与所述测试载板（4）之间设置有若干第一等高螺丝（311）和若干第四弹簧（312）。

5.根据权利要求1所述的一种水平下压测试Socket结构，其特征在于，所述测试底板（3）设置有若干第二导向销（313），所述测试载板（4）上设置有与所述第二导向销（313）相配合的第二导向孔（43）。

6.根据权利要求1所述的一种水平下压测试Socket结构，其特征在于，所述测试压板（5）与所述测试针板（6）之间设置有若干第二等高螺丝（53）和若干第五弹簧（54）。

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