CN218298296U

CN218298296U - 一种芯片测试机旋转机构

Info

Publication number: CN218298296U
Application number: CN202221977951.0U
Authority: CN
Inventors: 李维繁星
Original assignee: Hongrun Semiconductor Suzhou Co ltd
Current assignee: Hongrun Semiconductor Suzhou Co ltd
Priority date: 2022-07-28
Filing date: 2022-07-28
Publication date: 2023-01-13
Anticipated expiration: 2032-07-28

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试机旋转机构，包括测试装置主体、支撑架与检测探头，所述测试装置主体的两侧安装有支撑架，且支撑架的顶端安装有检测探头，所述支撑架的侧面设置有旋转机构，所述旋转机构包括固定条，所述支撑架的侧面底端固定连接有固定条，所述支撑架的侧面顶端固定连接有挤压块，所述测试装置主体的表面固定连接有支撑杆。本实用新型通过设置有带动齿轮与限位框，通过测试装置主体可以带动支撑杆进行移动，当带动齿轮与固定条的表面相啮合时，可以使带动齿轮带动固定转轴转动，这时限位框会在两组支撑杆之间进行旋转，从而可以有效的方便将芯片进行翻面，方便检测探头对芯片的正反两面进行测试。

Description

一种芯片测试机旋转机构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试机旋转机构。

背景技术

芯片也称集成电路，集成电路无处不在，计算机、手机和其他数字电器成为社会结构不可缺少的一部分，这是因为现代计算、交流、制造和交通系统，包括互联网，全都依赖于集成电路的存在。

当芯片在生产完成后，需要对芯片进行测试，现有的一般通过检测探头对芯片的表面进行测试，但测试装置在使用时，只能测试芯片的一面，当需要测试另一面时，需要单独翻面再进行测试，从而会将降低芯片测试的效率。

为此，我们提出一种芯片测试机旋转机构来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片测试机旋转机构。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种芯片测试机旋转机构，包括测试装置主体、支撑架与检测探头，所述测试装置主体的两侧安装有支撑架，且支撑架的顶端安装有检测探头，所述支撑架的侧面设置有旋转机构，所述旋转机构包括固定条，所述支撑架的侧面底端固定连接有固定条，所述支撑架的侧面顶端固定连接有挤压块，所述测试装置主体的表面固定连接有支撑杆，且支撑杆的内部通过轴承安装有固定转轴，所述固定转轴靠近固定条的一端套接有带动齿轮，所述固定转轴的表面通过皮带轮连接有限位框，且限位框的内壁焊接有复位弹簧，所述复位弹簧远离限位框内壁的一端焊接有限位杆，所述限位框的内部设置有限位机构。

优选的，所述固定条设置为矩形，且固定条的表面设置有齿牙。

优选的，所述挤压块设置为矩形，所述带动齿轮的内部开设有凹槽，所述挤压块的表面尺寸大小与带动齿轮内部开设的凹槽内壁尺寸相适配。

优选的，所述限位框的内部开设有矩形凹槽，所述限位杆设置为矩形，且限位杆的表面设置有斜面，所述限位框内部开设的凹槽内壁尺寸大小与限位杆的表面尺寸相适配。

优选的，所述限位机构包括推动杆，所述限位框的内部插设有推动杆，且推动杆通过轴承安装在夹板的内部，所述夹板远离推动杆的一侧胶合有缓冲垫，所述夹板的两端固定连接有限位块。

优选的，所述缓冲垫设置为矩形，且缓冲垫的表面设置有凸起块。

优选的，所述限位块在夹板的表面对称设置有两组，且两组限位块皆设置为矩形，所述限位框的内部开设有滑槽，所述测试装置主体内部开设的滑槽内壁尺寸大小与两组限位块的表面尺寸相适配。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该装置通过设置有带动齿轮与限位框，通过测试装置主体可以带动支撑杆进行移动，当带动齿轮与固定条的表面相啮合时，可以使带动齿轮带动固定转轴转动，这时限位框会在两组支撑杆之间进行旋转，从而可以有效的方便将芯片进行翻面，方便检测探头对芯片的正反两面进行测试；

该装置通过设置有推动杆与夹板，通过转动推动杆，可以使夹板在限位框的内部移动，并通过两组缓冲垫相互靠近，可以在将芯片放置在限位框的内部时，通过两组缓冲垫可以对芯片进行夹持限位，方便芯片的测试。

附图说明：

图1为本实用新型提出的一种高效柱式超滤设备的立体结构示意图；

图2为图1中的旋转机构与限位机构结构立体示意图；

图3为图1中的旋转机构结构立体剖面示意图；

图4为图1中的限位机构结构立体剖面示意图。

图中：1、测试装置主体；2、支撑架；3、检测探头；4、旋转机构；41、固定条；42、挤压块；43、支撑杆；44、固定转轴；45、带动齿轮；46、皮带轮；47、限位框；48、复位弹簧；49、限位杆；5、限位机构；51、推动杆；52、夹板；53、缓冲垫；54、限位块。

具体实施方式：

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，一种芯片测试机旋转机构，包括测试装置主体1、支撑架2与检测探头3，测试装置主体1的两侧安装有支撑架2，且支撑架2的顶端安装有检测探头3，支撑架2的侧面设置有旋转机构4，旋转机构4包括固定条41，支撑架2的侧面底端固定连接有固定条41，支撑架2的侧面顶端固定连接有挤压块42，测试装置主体1的表面固定连接有支撑杆43，且支撑杆43的内部通过轴承安装有固定转轴44，固定转轴44靠近固定条41的一端套接有带动齿轮45，固定转轴44的表面通过皮带轮46连接有限位框47，且限位框47的内壁焊接有复位弹簧48，复位弹簧48远离限位框47内壁的一端焊接有限位杆49，限位框47的内部设置有限位机构5，通过对称设置的两组支撑杆43，可以方便限位框47在两组支撑杆43之间旋转；

进一步的，固定条41设置为矩形，且固定条41的表面设置有齿牙，通过固定条41表面设置的齿牙，可以在带动齿轮45表面设置的齿牙与固定条41表面设置的齿牙相啮合时，可以使带动齿轮45带动固定转轴44转动，起到方便带动限位框47旋转的作用。

进一步的，挤压块42设置为矩形，带动齿轮45的内部开设有凹槽，挤压块42的表面尺寸大小与带动齿轮45内部开设的凹槽内壁尺寸相适配，通过带动齿轮45内部开设的凹槽，可以在支撑杆43移动时，使带动齿轮45在凹槽中移动，从而可以起到方便对限位杆49移动的作用。

进一步的，限位框47的内部开设有矩形凹槽，限位杆49设置为矩形，且限位杆49的表面设置有斜面，限位框47内部开设的凹槽内壁尺寸大小与限位杆49的表面尺寸相适配，通过限位框47内部开设的矩形凹槽，可以方便限位杆49收缩进凹槽内部，并通过限位杆49表面设置的斜面，可以在限位杆49受到挤压块42挤压时，会收缩进限位框47的内部，从而通过限位杆49，可以在限位框47不旋转时，起到限位限位框47的作用。

进一步的，限位机构5包括推动杆51，限位框47的内部插设有推动杆51，且推动杆51通过轴承安装在夹板52的内部，夹板52远离推动杆51的一侧胶合有缓冲垫53，夹板52的两端固定连接有限位块54，通过设置有两组夹板52，可以起到方便夹持不同大小的芯片。

进一步的，缓冲垫53设置为矩形，且缓冲垫53的表面设置有凸起块，通过缓冲垫53可以起到保护芯片表面的作用，并通过缓冲垫53表面设置的凸起块，可以起到防滑作用。

进一步的，限位块54在夹板52的表面对称设置有两组，且两组限位块54皆设置为矩形，限位框47的内部开设有滑槽，测试装置主体1内部开设的滑槽内壁尺寸大小与两组限位块54的表面尺寸相适配，通过限位框47内部开设的滑槽，可以在推动杆51推动夹板52移动时，使限位块54在滑槽中滑动，从而可以起到限位夹板52的作用。

工作原理：使用时，当芯片需要测试时，根据附图1、附图2、和附图4，通过将芯片放置在限位框47的内部，并转动推动杆51，可以使推动杆51推动夹板52移动，当夹板52在移动时，可以使两组缓冲垫53相互靠近，通过缓冲垫53与芯片的表面相抵触，可以起到限位芯片的作用，当芯片在测试中需要翻面时，根据附图1、附图2和附图3，通过测试装置主体1带动支撑杆43移动，可以使挤压块42插设在支撑杆43的内部，同时可以使带动齿轮45与固定条41的表面相啮合，这时挤压块42会与限位杆49的表面相抵触，当限位杆49受到挤压时，会收缩进限位框47的内壁，并通过带动齿轮45的转动，可以使固定转轴44通过皮带轮46带动限位框47整体旋转，当带动齿轮45远离固定条41的表面时，通过复位弹簧48自身的弹力，可以使限位杆49复位插设在支撑杆43的内部，从而可以实现对芯片进行旋转翻面；

以上为本实用新型的全部工作原理。

本实用新型中，以上所述所有部件的安装方式、连接方式或设置方式均为常见机械方式，并且其所有部件的具体结构、型号和系数指标均为其自带技术，只要能够达成其有益效果的均可进行实施，故不在多加赘述。

上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。

本实用新型中，在未作相反说明的情况下，“上下左右、前后内外以及垂直水平”等包含在术语中的方位词仅代表该术语在常规使用状态下的方位，或为本领域技术人员理解的俗称，而不应视为对该术语的限制，与此同时，“第一”、“第二”和“第三”等数列名词不代表具体的数量及顺序，仅仅是用于名称的区分，而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

Claims

1.一种芯片测试机旋转机构，包括测试装置主体（1）、支撑架（2）与检测探头（3），其特征在于，所述测试装置主体（1）的两侧安装有支撑架（2），且支撑架（2）的顶端安装有检测探头（3），所述支撑架（2）的侧面设置有旋转机构（4），所述旋转机构（4）包括固定条（41），所述支撑架（2）的侧面底端固定连接有固定条（41），所述支撑架（2）的侧面顶端固定连接有挤压块（42），所述测试装置主体（1）的表面固定连接有支撑杆（43），且支撑杆（43）的内部通过轴承安装有固定转轴（44），所述固定转轴（44）靠近固定条（41）的一端套接有带动齿轮（45），所述固定转轴（44）的表面通过皮带轮（46）连接有限位框（47），且限位框（47）的内壁焊接有复位弹簧（48），所述复位弹簧（48）远离限位框（47）内壁的一端焊接有限位杆（49），所述限位框（47）的内部设置有限位机构（5）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机旋转机构，其特征在于，所述固定条（41）设置为矩形，且固定条（41）的表面设置有齿牙。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试机旋转机构，其特征在于，所述挤压块（42）设置为矩形，所述带动齿轮（45）的内部开设有凹槽，所述挤压块（42）的表面尺寸大小与带动齿轮（45）内部开设的凹槽内壁尺寸相适配。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试机旋转机构，其特征在于，所述限位框（47）的内部开设有矩形凹槽，所述限位杆（49）设置为矩形，且限位杆（49）的表面设置有斜面，所述限位框（47）内部开设的凹槽内壁尺寸大小与限位杆（49）的表面尺寸相适配。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试机旋转机构，其特征在于，所述限位机构（5）包括推动杆（51），所述限位框（47）的内部插设有推动杆（51），且推动杆（51）通过轴承安装在夹板（52）的内部，所述夹板（52）远离推动杆（51）的一侧胶合有缓冲垫（53），所述夹板（52）的两端固定连接有限位块（54）。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试机旋转机构，其特征在于，所述缓冲垫（53）设置为矩形，且缓冲垫（53）的表面设置有凸起块。

7.根据权利要求5所述的一种芯片测试机旋转机构，其特征在于，所述限位块（54）在夹板（52）的表面对称设置有两组，且两组限位块（54）皆设置为矩形，所述限位框（47）的内部开设有滑槽，所述测试装置主体（1）内部开设的滑槽内壁尺寸大小与两组限位块（54）的表面尺寸相适配。