CN218296933U - 一种校准装置支架及校准机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于塑料面差尺校准技术领域，公开了一种校准装置支架及校准机构，该校准装置支架被配置为固定测微仪，包括横梁组件、支腿组件以及卡块；横梁组件包括测量面梁，测量面梁的上端面被配置为放置待测物，测量面梁开设探测孔，探测孔被配置为供测微仪的探头通过；支腿组件连接于横梁组件，与横梁组件围设形成测微仪容置空间，测微仪容置于测微仪容置空间；卡块连接于横梁组件的一部分，被配置为固定测微仪的测杆，探头位于测杆的头部。该校准装置支架既能满足测微仪的安装和塑料面差尺校准的精度要求，又能方便携带，实现检测现场进行塑料面差尺校准的功能，提高校准效率。

Description

一种校准装置支架及校准机构

技术领域

本实用新型涉及塑料面差尺校准技术领域，尤其涉及一种校准装置支架及校准机构。

背景技术

塑料面差尺是一种用特殊材料制作成的标准段差(台阶)。主要应用于汽车行业，用于汽车车门台阶、雷达和灯具的油漆面面差和间隙的测量。本产品是塑料制作，轻薄小巧，具有标准固定的台阶，测量时仅需要直接放在产品表面，每一片的标称值都刻在相应的台阶上，直接读数，便于快速测量，具有操作简单和读数方便的优势，且测量精密度较高，同时校准过程中不损伤产品漆面，不破坏产品自身的结构，被广泛应用。

现有的塑料面差尺的校准主要通过万能工具显微镜进行，但万能工具显微镜的体积较大，质量较重，携带不方便，因此塑料面差尺的校准只能在实验室进行，无法在检测现场进行校准，导致校准效率不高。

因此，亟需一种校准装置支架及校准机构，以解决以上问题。

实用新型内容

根据本实用新型的一个方面，目的在于提供一种校准装置支架，该校准装置支架既能满足测微仪的安装，保证塑料面差尺校准的精度要求，又能方便携带，实现检测现场进行塑料面差尺校准的功能，提高校准效率。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种校准装置支架，用于固定测微仪，所述校准装置支架包括：横梁组件、支腿组件以及卡块；所述横梁组件包括测量面梁，所述测量面梁的上端面被配置为放置待测物，所述测量面梁开设探测孔，所述探测孔被配置为供所述测微仪的探头通过；所述支腿组件连接于所述横梁组件，与所述横梁组件围设形成测微仪容置空间，所述测微仪容置于所述测微仪容置空间；所述卡块连接于所述横梁组件的一部分，被配置为固定所述测微仪的装夹套筒，所述探头位于测杆的头部。

可选地，所述探测孔包括连通的测杆孔和探头孔，所述探头孔贯穿所述测量面梁的上端面，被配置为容置所述探头，所述测杆孔贯穿所述测量面梁的下端面，被配置为容置部分所述测杆，所述探头孔的孔径小于所述测杆孔的孔径。

可选地，所述横梁组件还包括中间连接梁，所述中间连接梁固连于所述测量面梁的下端面，所述中间连接梁开设凹槽，所述卡块安装于所述凹槽，所述凹槽的槽底开设第一通孔，所述第一通孔正对所述探测孔，被配置为穿设所述测杆，所述支腿组件固连于所述中间连接梁的下端面。

可选地，所述卡块开设第二通孔，所述第二通孔正对所述第一通孔，被配置为穿设所述测杆。

可选地，沿所述卡块的长度方向开设通槽，所述通槽连通所述第二通孔，所述卡块的侧部开设第一螺孔，所述第一螺孔沿宽度方向贯穿所述卡块，与所述通槽交叉连通，利用第一螺栓螺接于所述第一螺孔，实现所述通槽的宽度的固定。

可选地，所述凹槽的槽底开设第一连接孔，所述第一连接孔与所述第一通孔间隔开设，所述卡块开设第二连接孔，所述第一连接孔正对所述第二连接孔，利用第一连接栓安装于所述第一连接孔和第二连接孔，实现中间连接梁和卡块的连接。

可选地，自所述测量面梁的下端面沿其厚度方向开设第三连接孔，所述第三连接孔的深度小于所述测量面梁的厚度，与所述探测孔间隔开设；所述中间连接梁开设第四连接孔，所述第四连接孔与所述凹槽间隔开设，正对所述第三连接孔，利用第二连接栓安装于所述第三连接孔和第四连接孔，实现所述测量面梁和所述中间连接梁的连接。

可选地，所述支腿组件包括两个支腿，两个所述支腿分别连接于所述中间连接梁的下端面的两侧，所述测微仪位于两个所述支腿之间。

可选地，所述支腿呈倒置T形，被配置为增大所述支腿组件与放置位的接触面积。

根据本实用新型的另一个方面，目的在于提供一种校准机构，该校准机构能够实现检测现场进行塑料面差尺校准的功能，便于携带，校准精度高。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种校准机构，包括测微仪和上述方案任一所述的校准装置支架，所述测微仪包括数显指示表主体、装夹套筒和探头，所述探头选用平头，可根据需要选择不同长度的所述探头，所述探头一端连接于所述数显指示表主体的测杆上，所述数显指示表主体位于所述测微仪容置空间，所述测杆通过所述装夹套筒贯穿所述卡块，伸入所述探测孔，所述探头被配置为检测待测物的平整度。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提供的校准装置支架设置横梁组件，该横梁组件的测量面梁被配置为放置待测物，该测量面梁开设有探测孔，测微仪的探头位于该探测孔中，能够对放置在测量面梁上端部的待测物进行平整度测量。支腿组件连接于横梁组件，用于支撑该横梁组件，且与该横梁组件围设形成测微仪容置空间，用于容纳测微仪。卡块连接于横梁组件的一部分，能够固定测微仪的测杆，保证测微仪校准过程的稳定，提升测量精度。该校准装置支架既能满足测微仪的安装，保证塑料面差尺校准的精度要求，又能方便携带，实现检测现场进行塑料面差尺校准的功能，提高校准效率。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的校准装置支架的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的校准装置支架的爆炸示意图；

图3是本实用新型实施例提供的测量面梁的结构示意图；

图4是本实用新型实施例提供的测量面梁的内部结构示意图；

图6是本实用新型实施例提供的卡块的结构示意图；

图5是本实用新型实施例提供的支腿的结构示意图；

图7是本实用新型实施例提供的中间连接梁的结构示意图。

图中：

100、测量面梁；110、探测孔；111、测杆孔；112、探头孔；120、第三连接孔；

200、支腿组件；210、支腿；211、支腿连接孔；

300、卡块；310、第二通孔；320、通槽；330、第一螺孔；340、第二连接孔；

400、中间连接梁；410、凹槽；420、第一通孔；430、第一连接孔；440、第四连接孔；450、第五连接孔。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“右”、“左”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

本实施例提供了一种校准装置支架及校准机构，该校准机构包括测微仪和本实施例提供的校准装置支架。该测微仪包括数显指示表主体、装夹套筒和探头，该探头选用平头，可根据需要选择不同长度的探头，该探头一端连接于该数显指示表主体的测杆上，该探头被配置为检测待测物的平整度。

具体地，本实施例中的待测物是塑料面差尺，其示值误差的允许范围为±0.03mm，该测微仪为现有技术中的准确度级别为5μm的光栅式测微仪。该光栅式测微仪能够在满足塑料面差尺示值测量要求的前提下，达到校准塑料面差尺的目的，该光栅式测微仪的结构和原理本实施例在此不再赘述。

图1示出本实用新型实施例提供的校准装置支架的结构示意图；图2示出本实用新型实施例提供的校准装置支架的爆炸示意图。参照图1和图2，本实施例提供的校准装置支架被配置为固定测微仪。该校准装置支架包括横梁组件、支腿组件200以及卡块300。

具体地，该横梁组件包括测量面梁100，该测量面梁100的上端面被配置为放置待测物，该测量面梁100的几何中心开设探测孔110，该探测孔110被配置为供该测微仪的探头通过；该支腿组件200连接于该横梁组件，与该横梁组件围设形成测微仪容置空间，该数显指示表主体容置于该测微仪容置空间；该卡块300连接于该横梁组件的一部分，被配置为固定该测微仪的测杆，保证校准过程中测微仪的稳定性，确保校准的准确性。该测杆的一部分伸入探测孔110中，该探头位于该测杆的头部，同样位于探测孔110中，能够对放置于测量面梁100上端面的塑料面差尺进行平整度探测。

图3示出本实用新型实施例提供的测量面梁的结构示意图；图4示出本实用新型实施例提供的测量面梁的内部结构示意图。参照图3和图4，该探测孔110包括连通的测杆孔111和探头孔112，该探头孔112贯穿该测量面梁100的上端面，被配置为容置该探头，该测杆孔111贯穿该测量面梁100的下端面，被配置为容置部分测杆，该探头孔112的孔径小于该测杆孔111的孔径。在本实施例中，该探头孔112的孔径为3mm，可以选用直径范围为1.2mm～3mm的探头进行测量，便于根据实际塑料面差尺的厚度来选择探头，并进行校准。

图5示出本实用新型实施例提供的支腿的结构示意图，图6示出本实用新型实施例提供的卡块的结构示意图，图7示出本实用新型实施例提供的中间连接梁的结构示意图。参照图1-图7，本实施例提供的横梁组件还包括中间连接梁400，该中间连接梁400固连于该测量面梁100的下端面，该中间连接梁400开设凹槽410，该卡块300安装于该凹槽410，该凹槽410的槽底开设第一通孔420，该第一通孔420正对该探测孔110，被配置为穿设该测杆，该支腿组件200固连于该中间连接梁400的下端面。该中间连接梁400能够实现卡块300和测量面梁100的可靠连接。

再为具体地，参照图7，该凹槽410的槽底开设第一连接孔430，该第一连接孔430与该第一通孔420间隔开设，该卡块300开设第二连接孔340，该第一连接孔430正对该第二连接孔340，利用第一连接栓安装于该第一连接孔430和第二连接孔340，实现中间连接梁400和卡块300的连接。该第一连接孔430为两个，其孔径小于第一通孔420，同样地，第二连接孔340也为两个，两个第二连接孔340与两个第一连接孔430一一对应，利用两个第一连接栓进行连接，能够增强该中间连接梁400和卡块300的连接强度。

更为具体地，自该测量面梁100的下端面沿其厚度方向开设第三连接孔120，该第三连接孔120的深度小于该测量面梁100的厚度，与该探测孔110间隔开设；该中间连接梁400开设第四连接孔440，该第四连接孔440与该凹槽410间隔开设，正对该第三连接孔120，利用第二连接栓安装于该第三连接孔120和第四连接孔440，实现测量面梁100和中间连接梁400的连接。在本实施例中，为了加强测量面梁100和中间连接梁400的连接强度，该第三连接孔120为两个，两个第三连接孔120分别对称开设于探测孔110的两侧；同样地，该第四连接孔440为两个，两个第四连接孔440分别对称开设于凹槽410的两侧。两个第三连接孔120和第四连接孔440一一对应，利用两个第二连接栓进行连接，能够增强测量面梁100和中间连接梁400的连接强度。

参照图5，该支腿组件200包括两个支腿210，两个该支腿210相互平行间隔设置，分别连接于该中间连接梁400的下端面的两侧，该测微仪位于两个该支腿210之间。该中间连接梁400的下端面开设两组第五连接孔450，两组第五连接孔450对称开设于凹槽410的两侧，一个第四连接孔440位于凹槽410和一组第五连接孔450之间。支腿210上开设支腿连接孔211，该支腿连接孔211对应于第五连接孔450，将安装螺栓依次螺接于第五连接孔450和支腿连接孔211，能够实现支腿210在中间连接梁400底部的安装。同时，设置两个支腿210能够提高该校准装置支架的稳固性。

具体地，该支腿210呈倒置T形，其底部尺寸较大，被配置为增大该支腿组件200与放置位的接触面积，进一步提高了该校准装置支架在放置位上的稳固性。

参照图6，该卡块300开设第二通孔310，该第二通孔310正对该第一通孔420，被配置为穿设该测杆。该第二通孔310能够将测杆紧固，保证其在校准过程中的稳定性，提高校准精度。

具体地，如图6所示，沿该卡块300的长度方向开设通槽320，该通槽320连通该第二通孔310，该卡块300的侧部开设第一螺孔330，该第一螺孔330沿宽度方向贯穿该卡块300，与该通槽320交叉连通，利用第一螺栓螺接于该第一螺孔330，实现该通槽320的宽度的固定，实现第二通孔310中的测杆的夹紧固定。该第二通孔310由于连通于通槽320，能够在一定范围内供多种直径的测杆插设，因此适应性更高，可用范围更广。该第一螺孔330为变径孔，包括相互连通的贯穿孔和沉孔，该贯穿孔贯穿通槽320两侧，沉孔连通外部空间，第一螺栓可以选用现有技术中的杯头内六角螺丝，其杆部螺接于贯穿孔，其头部能够容置于沉孔中，保证卡块300侧部的平整。

作为优选地，本实施例中的测量面梁100、支腿组件200、卡块300以及中间连接梁400均可以选择不锈钢材质制成，在保证该校准装置支架的支撑性能的前提下提高使用寿命，同时能够有效减少整个校准装置支架的重量，便于携带。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种校准装置支架，用于固定测微仪，其特征在于，包括：

横梁组件，所述横梁组件包括测量面梁(100)，所述测量面梁(100)的上端面被配置为放置待测物，所述测量面梁(100)开设探测孔(110)，所述探测孔(110)被配置为供所述测微仪的探头通过；

支腿组件(200)，所述支腿组件(200)连接于所述横梁组件，与所述横梁组件围设形成测微仪容置空间，所述测微仪容置于所述测微仪容置空间；

卡块(300)，所述卡块(300)连接于所述横梁组件的一部分，被配置为固定所述测微仪的装夹套筒，所述探头位于测杆的头部。

2.根据权利要求1所述的校准装置支架，其特征在于，所述探测孔(110)包括连通的测杆孔(111)和探头孔(112)，所述探头孔(112)贯穿所述测量面梁(100)的上端面，被配置为容置所述探头，所述测杆孔(111)贯穿所述测量面梁(100)的下端面，被配置为容置部分所述测杆，所述探头孔(112)的孔径小于所述测杆孔(111)的孔径。

3.根据权利要求1所述的校准装置支架，其特征在于，所述横梁组件还包括中间连接梁(400)，所述中间连接梁(400)固连于所述测量面梁(100)的下端面，所述中间连接梁(400)开设凹槽(410)，所述卡块(300)安装于所述凹槽(410)，所述凹槽(410)的槽底开设第一通孔(420)，所述第一通孔(420)正对所述探测孔(110)，被配置为穿设所述测杆，所述支腿组件(200)固连于所述中间连接梁(400)的下端面。

4.根据权利要求3所述的校准装置支架，其特征在于，所述卡块(300)开设第二通孔(310)，所述第二通孔(310)正对所述第一通孔(420)，被配置为穿设所述测杆。

5.根据权利要求4所述的校准装置支架，其特征在于，沿所述卡块(300)的长度方向开设通槽(320)，所述通槽(320)连通所述第二通孔(310)，所述卡块(300)的侧部开设第一螺孔(330)，所述第一螺孔(330)沿宽度方向贯穿所述卡块(300)，与所述通槽(320)交叉连通，利用第一螺栓螺接于所述第一螺孔(330)，实现所述通槽(320)的宽度的固定。

6.根据权利要求3所述的校准装置支架，其特征在于，所述凹槽(410)的槽底开设第一连接孔(430)，所述第一连接孔(430)与所述第一通孔(420)间隔开设，所述卡块(300)开设第二连接孔(340)，所述第一连接孔(430)正对所述第二连接孔(340)，利用第一连接栓安装于所述第一连接孔(430)和所述第二连接孔(340)，实现所述中间连接梁(400)和所述卡块(300)的连接。

7.根据权利要求3所述的校准装置支架，其特征在于，自所述测量面梁(100)的下端面沿其厚度方向开设第三连接孔(120)，所述第三连接孔(120)的深度小于所述测量面梁(100)的厚度，与所述探测孔(110)间隔开设；所述中间连接梁(400)开设第四连接孔(440)，所述第四连接孔(440)与所述凹槽(410)间隔开设，正对所述第三连接孔(120)，利用第二连接栓安装于所述第三连接孔(120)和所述第四连接孔(440)，实现所述测量面梁(100)和所述中间连接梁(400)的连接。

8.根据权利要求3-7任一所述的校准装置支架，其特征在于，所述支腿组件(200)包括两个支腿(210)，两个所述支腿(210)分别连接于所述中间连接梁(400)的下端面的两侧，所述测微仪位于两个所述支腿(210)之间。

9.根据权利要求8所述的校准装置支架，其特征在于，所述支腿(210)呈倒置T形，被配置为增大所述支腿组件(200)与放置位的接触面积。

10.一种校准机构，其特征在于，包括测微仪和权利要求1-9任一所述的校准装置支架，所述测微仪包括数显指示表主体、装夹套筒和探头，所述探头选用平头，可根据需要选择不同长度的所述探头，所述探头一端连接于所述数显指示表主体的测杆上，所述数显指示表主体位于所述测微仪容置空间，所述测杆通过所述装夹套筒贯穿所述卡块(300)，伸入所述探测孔(110)，所述探头被配置为检测待测物的平整度。

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