CN218158216U - 一种用于芯片测试装置的支架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种用于芯片测试装置的支架，包括底座、浮动平台、浮动台固定座、以及芯片放置台，底座上设置有浮动台固定座，浮动平台通过多个连接座与所述的浮动台固定座活动连接，且浮动平台还通过调节螺栓与浮动台固定座连接，芯片放置台设置在浮动平台下端的底座上，且调节螺栓两侧的浮动平台上还设置有多个探针，浮动平台下移过程中，探针可与芯片放置台上的芯片接触。本实用新型结构简单，通过调节螺栓可调节浮动平台与芯片放置台之间的间距，从而使得探针与待检测的芯片接触；本实用新型通过可调节浮动平台放置用于测试芯片的装置，同时通过限位框架限定其位置；本实用新型利用压位拨片压住要测试的芯片，保证测试的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片加工设备技术领域，尤其是一种用于芯片测试装置的支架。
背景技术
TSOT(thin-small-outline-transistor package，薄型小尺寸晶体封装)芯片制造好后，需要在测试设备上进行检测。现有的TSOT芯片测试装置，包括测试转接板(DUTboard)、金手指固定插座(socket)及吹气装置，金手指固定插座固定在测试转接板上表面，金手指固定插座中部设置有芯片测试位；吹气装置安装于测试转接板的端部，并且是垂直运作的外部吹气方式，由上而下向金手指固定插座吹气。
另外，现有的测试装置结构复杂，而且使用极其不方便。
发明内容
针对现有技术的不足，本实用新型提供一种用于芯片测试装置的支架。
本实用新型的技术方案为：一种用于芯片测试装置的支架，包括底座、浮动平台、浮动台固定座、以及芯片放置台，所述的底座上设置有浮动台固定座，所述的浮动平台通过多个连接座与所述的浮动台固定座活动连接，且所述的浮动平台还通过调节螺栓与浮动台固定座连接，所述的芯片放置台设置在浮动平台下端的底座上，且所述的调节螺栓两侧的浮动平台上还设置有多个探针，所述的浮动平台下移过程中，所述的探针可与芯片放置台上的芯片接触。
作为优选的，所述的浮动平台外侧还设置有限位框架，所述的限位框架与底座可拆卸连接。
作为优选的，所述的限位框架两侧设置有相应的L型支撑脚，所述的L型支撑脚与底座通过固定螺栓连接。
作为优选的，所述的限位框架为中空结构，且所述的限位框架上端还设置有限位板，所述的浮动平台可在中空的限位框架内上下移动。
作为优选的，所述浮动台固定座包括两支撑座，两所述的支撑座之间通过一横板连接，且所述的横板上开设有一螺孔。
作为优选的，两个所述的支撑座通过螺栓与底座可拆卸连接。
作为优选的，所述的连接座的横截面为T型结构。
作为优选的，所述的连接座包括连接杆和设置在连接杆上的导套，所述的连接杆上还套设有弹簧。
作为优选的，所述的支撑座上设置有供连接杆连接的通孔。
作为优选的，所述的芯片放置台上还设置有压位拨片，所述的压位拨片通过螺栓固定在芯片放置台上。
作为优选的，所述的压位拨片为V型结构。
本实用新型的有益效果为：
1、本实用新型结构简单，实用性强，通过调节螺栓可调节浮动平台与芯片放置台之间的间距，从而使得探针与待检测的芯片接触；
2、本实用新型通过可调节浮动平台放置用于测试芯片的装置，同时通过限位框架限定其位置；
3、本实用新型利用压位拨片压住要测试的芯片，保证测试的准确性。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型浮动平台的结构示意图；
图3为本实用新型限位框架的结构示意图；
图4为本实用新型限位框架的另一结构示意图；
图5为本实用新型浮动台固定座的结构示意图；
图中，1-底座，2-浮动平台，3-浮动台固定座，4-芯片放置台，5-连接座，6-调节螺栓，7-探针，8-限位框架，9-L型支撑脚，10-限位板，11-压位拨片
31-支撑座，32-横板，33-螺孔；
51-连接杆，52-导套，53-弹簧；
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明：
如图1-2所示，本实用新型提供一种用于芯片测试装置的支架，包括底座1、浮动平台2、浮动台固定座3、以及芯片放置台4，所述的底座1上设置有浮动台固定座3，所述的浮动平台2通过多个连接座5与所述的浮动台固定座3活动连接，且所述的浮动平台2还通过调节螺栓6与浮动台固定座3连接，所述的芯片放置台4设置在浮动平台2下端的底座1上，且所述的调节螺栓6两侧的浮动平台2上还设置有多个探针7，所述的浮动平台2下移过程中，所述的探针7可与芯片放置台4上的芯片接触。
作为本实施例优选的，如图1所示，所述的芯片放置台4上还设置有压位拨片11，所述的压位拨片11通过螺栓固定在芯片放置台4上。
作为本实施例优选的，如图1所示，所述的压位拨片11为V型结构。
作为本实施例优选的，如图3-4所示，所述的浮动平台2外侧还设置有限位框架8，所述的限位框架8与底座1可拆卸连接。
作为本实施例优选的，如图3-4所示，所述的限位框架8两侧设置有相应的L型支撑脚9，所述的L型支撑脚9与底座1通过固定螺栓连接。
作为本实施例优选的，如图3-4所示，所述的限位框架8为中空结构，且所述的限位框架8上端还设置有限位板10，所述的浮动平台2可在中空的限位框架8内上下移动。
作为本实施例优选的，如图5所示，所述浮动台固定座3包括两支撑座31，两所述的支撑座31之间通过一横板32连接，且所述的横板32上开设有一螺孔33。
作为本实施例优选的，如图4所示，两个所述的支撑座31通过螺栓与底座1可拆卸连接。
作为本实施例优选的，如图2所示，所述的连接座5的横截面为T型结构。
作为本实施例优选的，如图2所示，所述的连接座5包括连接杆51和设置在连接杆51上的导套52，所述的连接杆51上还套设有弹簧53。
作为本实施例优选的，如图2所示，所述的支撑座31上设置有供连接杆51连接的通孔。
上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理和最佳实施例，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。
Claims (10)
1.一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：包括底座(1)、浮动平台(2)、浮动台固定座(3)、以及芯片放置台(4)，所述的底座(1)上设置有浮动台固定座(3)，所述的浮动平台(2)通过多个连接座(5)与所述的浮动台固定座(3)活动连接，且所述的浮动平台(2)还通过调节螺栓(6)与浮动台固定座(3)连接，所述的芯片放置台(4)设置在浮动平台(2)下端的底座(1)上，且所述的调节螺栓(6)两侧的浮动平台(2)上还设置有多个探针(7)，所述的浮动平台(2)下移过程中，所述的探针(7)可与芯片放置台(4)上的芯片接触。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的浮动平台(2)外侧还设置有限位框架(8)，所述的限位框架(8)与底座(1)可拆卸连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的限位框架(8)两侧设置有相应的L型支撑脚(9)，所述的L型支撑脚(9)与底座(1)通过固定螺栓连接。
4.根据权利要求3所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的限位框架(8)为中空结构，且所述的限位框架(8)上端还设置有限位板(10)，所述的浮动平台(2)可在中空的限位框架(8)内上下移动。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述浮动台固定座(3)包括两支撑座(31)，两所述的支撑座(31)之间通过一横板(32)连接，且所述的横板(32)上开设有一螺孔(33)。
6.根据权利要求5所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：两个所述的支撑座(31)通过螺栓与底座(1)可拆卸连接；所述的支撑座(31)上设置有供连接杆(51)连接的通孔。
7.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的连接座(5)的横截面为T型结构。
8.根据权利要求7所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的连接座(5)包括连接杆(51)和设置在连接杆(51)上的导套(52)，所述的连接杆(51)上还套设有弹簧(53)。
9.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的芯片放置台(4)上还设置有压位拨片(11)，所述的压位拨片(11)通过螺栓固定在芯片放置台(4)上。
10.根据权利要求9所述的一种用于芯片测试装置的支架，其特征在于：所述的压位拨片(11)为V型结构。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202221437743.1U CN218158216U (zh) | 2022-06-09 | 2022-06-09 | 一种用于芯片测试装置的支架 |
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Publications (1)
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| CN218158216U true CN218158216U (zh) | 2022-12-27 |
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| CN202221437743.1U Active CN218158216U (zh) | 2022-06-09 | 2022-06-09 | 一种用于芯片测试装置的支架 |
Country Status (1)
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2022
- 2022-06-09 CN CN202221437743.1U patent/CN218158216U/zh active Active
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