CN218037182U - 一种测试治具及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测试治具及测试设备，该测试治具包括底板以及可拆卸设置于底板上的测试组件，在测试组件的一端设有调节组件，测试组件包括测试座及两测试部件，调节组件包括调节导轨及两调节块，测试部件设于调节块上，调节块在调节导轨上滑动，进而带动测试部件在测试座上相对运动，在测试部件上设有吸附结构，吸附结构用于吸附待测物件的测试点。本实用新型通过设置调节组件，使得测试组件能够通过调节组件来调节测试位置，使得测试部件能够适配各类尺寸的待测物件；同时在测试座上设置吸附结构，能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。

Description

一种测试治具及测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，特别涉及一种测试治具及测试设备。

背景技术

随着电子产品的普及和人们生活水平的提高，越来越多的人们开始使用各类电子产品，例如：手机、手表以及数码相机等。

柔性电路板(FPC)作为电子产品中常见的零部件之一，其作用通常是用于电子产品中两个零部件的电性连接，因此也需要对柔性电路板的连通性进行测量，在对柔性电路板进行连通性测量时，需要工作人员人工将设置在柔性电路板两端的连接器与测试治具进行对齐，这也耗费工作人员大量的工作时间，增加作业困难，导致工作效率降低，同时，在连接器与测试治具未对齐的情况下，工作人员很容易误判成不良品，进而降低产品的良率。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的是提供一种测试治具及测试设备，以至少解决上述相关技术中的不足。

本实用新型提出一种测试治具，包括底板以及可拆卸设置于所述底板上的测试组件，在所述测试组件的一端设有调节组件，所述调节组件用于调节所述测试组件的位置，所述测试组件包括测试座以及设于所述测试座上的两测试部件，所述调节组件包括调节导轨以及设于所述调节导轨上的两调节块，所述测试部件设于所述调节块上，所述调节块在所述调节导轨上滑动，进而带动所述测试部件在所述测试座上相对运动，在所述测试部件上设有吸附结构，所述吸附结构用于吸附待测物件的测试点。

进一步的，在所述测试座的一侧设有压紧结构，所述压紧结构包括压紧底座以及与所述压紧底座活动连接的压紧件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述压紧件朝向所述测试座移动，以压紧所述待测物件。

进一步的，在所述压紧底座的边角位置设有限位块，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述待测物件的侧边抵靠所述限位块。

进一步的，在所述测试座上设有多个放置槽，所述放置槽内设有缓冲件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述缓冲件位于所述待测物件与所述测试座之间。

进一步的，在所述底板上凹陷形成放置位，所述放置位用于容纳所述待测物件。

进一步的，所述吸附结构包括磁吸件，所述待测物件上对应设有连接件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述磁吸件与所述连接件相连接。

进一步的，所述吸附结构包括真空吸附件以及设于所述真空吸附件底部的真空发生器，在所述真空吸附件上设有多个真空孔，所述真空发生器通过所述真空孔吸附所述待测物件。

进一步的，所述缓冲件的高度大于所述放置槽的深度。

本实用新型还提出一种测试设备，包括上述的测试治具。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过在测试组件的一端设置调节组件，使得测试组件能够通过调节组件来调节测试位置；具体的，调节块在调节导轨上滑动，进而保证测试部件在测试座上相对运动，使得测试部件能够适配各类尺寸的待测物件；同时在测试座上设置吸附结构，能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。

附图说明

图1为本实用新型第一实施例中的测试治具的整体结构示意图；

图2为图1中局部A的放大示意图；

图3为本实用新型第一实施例中的测试组件的结构示意图；

图4为图3中局部B的放大示意图；

图5为本实用新型第二实施例中的测试组件的结构示意图；

图6为图5中局部C的放大示意图。

主要元件符号说明：

底板	100	吸附结构	240
				测试组件	200	真空吸附件	250
调节组件	300	调节导轨	310
				压紧结构	400	真空孔	251
放置位	110	压紧底座	410
				测试座	210	压紧件	420
测试部件	220	限位块	411
				缓冲件	230

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1至图4，所示为本实用新型第一实施例中的测试治具，包括底板 100以及可拆卸设置于所述底板100上的测试组件200，在所述测试组件200的一端设有调节组件300，所述调节组件300用于调节所述测试组件200的位置，所述测试组件200包括测试座210以及设于所述测试座210上的两测试部件220，所述调节组件300包括调节导轨310以及设于所述调节导轨310上的两调节块，所述测试部件220设于所述调节块上，所述调节块在所述调节导轨310上滑动，进而带动所述测试部件220在所述测试座210上相对运动，在所述测试部件220 上设有吸附结构240，所述吸附结构240用于吸附待测物件的测试点。

需要说明的是，在本实施例中，测试组件200通过螺栓可拆卸的设置在底板100上，使得测试组件200损坏时，能够直接对该测试组件200进行更换，进一步提升测试治具的实用性；通过设置调节组件300，能够将两测试部件220 在所述测试座210上相对运动，两测试部件220之间电性连接，且均能够与待测物件的测试点相适配，并且两测试部件220能够根据测试物件的测试点的分布情况来调节；同时，设置在测试座210上的吸附结构240能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座210上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。

具体的，在所述测试座210的一侧设有压紧结构400，所述压紧结构400包括压紧底座410以及与所述压紧底座410活动连接的压紧件420，当所述待测物件放置于所述测试座210上时，所述压紧件420朝向所述测试座210移动，以压紧所述待测物件。

可以理解的，当测试物件的测试点放置在测试部件220上时，压紧结构400 会将待测物件的测试点压紧，进而避免测试物件从测试部件220上松脱或出现热拔插的现象。

进一步的，在所述压紧底座410的边角位置设有限位块411，当所述待测物件放置于所述测试座210上时，所述待测物件的侧边抵靠所述限位块411。

可以理解的，为了避免因待测物件的测试点距离压紧底座410较近而导致压紧件420下压造成测试点损坏的现象，在压紧底座410的边角位置设有限位块411，能够有效的限位待测物件。

在本实施例中，在所述测试座210上设有多个放置槽，所述放置槽内设有缓冲件230，当所述待测物件放置于所述测试座210上时，所述缓冲件230位于所述待测物件与所述测试座210之间；需要说明的是，在本实施例中，所述缓冲件230的高度大于所述放置槽的深度，在所述底板100上凹陷形成放置位110，所述放置位110用于容纳所述待测物件。

可以理解的，缓冲件230能够为待测物件和所述测试座210提供有效的缓冲作用，进而避免压紧件420下压过多而造成待测物件折弯或损坏的现象，而放置位110能够有效的容纳待测物件，避免待测物件在底板100上滑动造成测试点偏移的问题，同样能够提升对测试点的对齐精度，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。

所述吸附结构240包括磁吸件，所述待测物件上对应设有连接件，当所述待测物件放置于所述测试座210上时，所述磁吸件与所述连接件相连接。

可以理解的，磁吸件能够跟随测试部件220的移动而移动，并且能够将待测物件上的连接件吸附住，进而达到准确定位的效果。

请参阅图5至图6，所示为本发明第二实施例中的测试治具，本实施例中的测试治具与第一实施例的不同之处在于：

所述吸附结构240包括真空吸附件250以及设于所述真空吸附件250底部的真空发生器，在所述真空吸附件250上设有多个真空孔251，所述真空发生器通过所述真空孔251吸附所述待测物件。

可以理解的，通过真空孔251的设计，能够减少磁吸件以及连接件的生产成本，进而节省材料损耗，同时，能够通过真空孔251来控制待测物件的吸附与分离，进一步达到自动化标准，减少人工取出待测物件的时间，提升工作效率。

本实用新型还提出一种测试设备，包括上述的测试治具。

综上，本实用新型上述实施例当中的测试治具及测试设备，通过在测试组件的一端设置调节组件，使得测试组件能够通过调节组件来调节测试位置；具体的，调节块在调节导轨上滑动，进而保证测试部件在测试座上相对运动，使得测试部件能够适配各类尺寸的待测物件；同时在测试座上设置吸附结构，能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种测试治具，其特征在于，包括底板以及可拆卸设置于所述底板上的测试组件，在所述测试组件的一端设有调节组件，所述调节组件用于调节所述测试组件的位置，所述测试组件包括测试座以及设于所述测试座上的两测试部件，所述调节组件包括调节导轨以及设于所述调节导轨上的两调节块，所述测试部件设于所述调节块上，所述调节块在所述调节导轨上滑动，进而带动所述测试部件在所述测试座上相对运动，在所述测试部件上设有吸附结构，所述吸附结构用于吸附待测物件的测试点。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，在所述测试座的一侧设有压紧结构，所述压紧结构包括压紧底座以及与所述压紧底座活动连接的压紧件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述压紧件朝向所述测试座移动，以压紧所述待测物件。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，在所述压紧底座的边角位置设有限位块，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述待测物件的侧边抵靠所述限位块。

4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，在所述测试座上设有多个放置槽，所述放置槽内设有缓冲件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述缓冲件位于所述待测物件与所述测试座之间。

5.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，在所述底板上凹陷形成放置位，所述放置位用于容纳所述待测物件。

6.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述吸附结构包括磁吸件，所述待测物件上对应设有连接件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述磁吸件与所述连接件相连接。

7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述吸附结构包括真空吸附件以及设于所述真空吸附件底部的真空发生器，在所述真空吸附件上设有多个真空孔，所述真空发生器通过所述真空孔吸附所述待测物件。

8.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述缓冲件的高度大于所述放置槽的深度。

9.一种测试设备，其特征在于，包括权利要求1至8任一项所述的测试治具。

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