CN218003642U - 一种集成运放特性参数测试分析设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及运放测试设备技术领域，提供一种集成运放特性参数测试分析设备，包括晶振模块、MCU、UART转USB模块、复位模块以及至少一种集成运放特性参数测试模块；所述晶振模块与所述MCU相连接，所述晶振模块用于产生振荡，并提供振荡信号给MCU；所述MCU连接复位模块，所述复位模块用于复位信号给MCU。本实用新型能够实时获取测试数据，自动生成集成运放特性参数曲线，统计测试结果；使用户全面了解集成运算放大器的基本特性参数；具有测量集成运放所有特性参数的功能，配套的集成运放特性参数测试分析系统能采集测试过程中的数据，生成特性参数曲线，更为直观的呈现给用户。
Description
技术领域
本实用新型涉及运放测试设备技术领域，尤其涉及一种集成运放特性参数测试分析设备。
背景技术
随着现代电子信息技术发展，技术越来越先进，高精密集成运算放大器的非线性度精度越来越高，通用的测试方法和仪器仪表日益暴露出一些缺陷和不足，因此对高精密运算放大器的非线性度测试系统和测试方法提出了更高的要求。
集成运放作为一种基础元器件，在实际电路中有着广泛的应用。
目前集成运放的测试大多使用高度集成化的测量仪器测试，价格昂贵，没有采集测试过程中的数据，生成相应的曲线。
实用新型内容
为了解决上述现有技术中存在的技术问题,本实用新型的主要目的在于提供一种集成运放特性参数测试分析设备，具有测量集成运放所有特性参数的功能，配套的集成运放特性参数测试分析系统能采集测试过程中的数据，生成特性参数曲线，更为直观的呈现给用户。
为实现上述目的，本实用新型实施例提供了如下的技术方案：
第一方面，本实用新型提供了一种集成运放特性参数测试分析设备，包括晶振模块、MCU(微控制单元)、UART转USB模块、复位模块以及至少一种集成运放特性参数测试模块；
所述晶振模块与所述MCU相连接，所述晶振模块用于产生振荡，并提供振荡信号给MCU；所述MCU连接复位模块，所述复位模块用于复位信号给MCU；
所述MCU与所述至少一种集成运放特性参数测试模块相连接，所述MCU还连接UART转USB模块，所述MCU通过UART转USB模块连接上位机。
作为本实用新型的进一步方案，所述MCU通过UART转USB模块与上位机的数据交互，所述上位机用于接收所述MCU发送的数据，自动绘制集成运放特性参数曲线，汇总测试结果。
作为本实用新型的进一步方案，所述集成运放特性参数测试分析设备还连接有测量仪器，所述测量仪器包含示波器和信号源；其中，所述信号源用于提供激励信号，所述示波器用于观测。
作为本实用新型的进一步方案，所述集成运放特性参数测试分析设备还连接有电源模块，所述电源模块为各需电模块提供电源。
作为本实用新型的进一步方案，所述集成运放特性参数测试模块包括输入失调电压测试模块、输入失调电流测试模块、共模抑制比测试模块、最大不失真输出电压测试模块、转移速率测试模块以及开环差模电压增益测试模块。
作为本实用新型的进一步方案，所述MCU通过方口USB线连接到上位机，在所述集成运放特性参数测试分析设备连接测量仪器且电源正常供电的条件下，通过上位机下发开始测试指令，所述集成运放特性参数测试模块自动开始测试，所述MCU用于采集测试过程中的数据，返回给上位机，以自动生成集成运放特性参数曲线。
相对于现有技术而言，本实用新型具有以下有益效果：
本实用新型提供一种集成运放特性参数测试分析设备，能够实时获取测试数据，自动生成集成运放特性参数曲线，统计测试结果；使用户全面了解集成运算放大器的基本特性参数。
而且，本实用新型提供的集成运放特性参数测试分析设备，具有测量集成运放所有特性参数的功能，配套的集成运放特性参数测试分析系统能采集测试过程中的数据，生成特性参数曲线，更为直观的呈现给用户。
本实用新型的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本实用新型。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例。在附图中：
图1为本实用新型实施例中一种集成运放特性参数测试分析设备的结构示意图。
本实用新型目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
本部分将详细描述本实用新型的具体实施例，本实用新型之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
在本实用新型的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。
在本实用新型的描述中，对方法步骤的连续标号是为了方便审查和理解，结合本实用新型的整体技术方案以及各个步骤之间的逻辑关系，调整步骤之间的实施顺序并不会影响本实用新型技术方案所达到的技术效果。
本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
由于目前集成运放的测试大多使用高度集成化的测量仪器测试，价格昂贵，没有采集测试过程中的数据，生成相应的曲线。
本实用新型提供了一种集成运放特性参数测试分析设备，具有测量集成运放所有特性参数的功能，配套的集成运放特性参数测试分析系统能采集测试过程中的数据，生成特性参数曲线，更为直观的呈现给用户。
参见图1所示，本实用新型的一个实施例提供了一种集成运放特性参数测试分析设备，包括晶振模块、MCU、UART转USB模块、复位模块以及至少一种集成运放特性参数测试模块。
所述晶振模块与所述MCU相连接，所述晶振模块用于产生振荡，并提供振荡信号给MCU；所述MCU连接复位模块，所述复位模块用于复位信号给MCU。
参见图1所示，所述MCU与所述至少一种集成运放特性参数测试模块相连接。在本实用新型的一个实施例中，所述集成运放特性参数测试模块包括输入失调电压测试模块、输入失调电流测试模块、共模抑制比测试模块、最大不失真输出电压测试模块、转移速率测试模块以及开环差模电压增益测试模块。
在本实用新型实施例中，MCU与6个集成运放特性参数测试模块连接，即：输入失调电压测试模块、输入失调电流测试模块、共模抑制比测试模块、最大不失真输出电压测试模块、转移速率测试模块、开环差模电压增益测试模块。
在测试时，可以进行输入失调电压、输入失调电流、共模抑制比、最大不失真输出电压、转移速率以及开环差模电压增益进行测试，并将测试的数据收集。
参见图1所示，所述MCU还连接UART转USB模块，所述MCU通过UART转USB模块连接上位机。
在本实用新型的实施例中，所述MCU通过UART转USB模块与上位机的数据交互，所述上位机用于接收所述MCU发送的数据，自动绘制集成运放特性参数曲线，汇总测试结果。
在本实用新型的实施例中，所述集成运放特性参数测试分析设备还连接有测量仪器，所述测量仪器包含示波器和信号源；其中，所述信号源用于提供激励信号，所述示波器用于观测。
在本实用新型的实施例中，所述集成运放特性参数测试分析设备还连接有电源模块，所述电源模块为各需电模块提供电源。
本实用新型的工作原理：集成运放测试分析设备的所述MCU通过方口USB线连接到上位机，在所述集成运放特性参数测试分析设备连接测量仪器且电源正常供电的条件下，通过上位机下发开始测试指令，所述集成运放特性参数测试模块自动开始测试，所述MCU用于采集测试过程中的数据，返回给上位机，以自动生成集成运放特性参数曲线。
综上所述，本实用新型提供一种集成运放特性参数测试分析设备，能够实时获取测试数据，自动生成集成运放特性参数曲线，统计测试结果；使用户全面了解集成运算放大器的基本特性参数。
而且，本实用新型提供的集成运放特性参数测试分析设备，具有测量集成运放所有特性参数的功能，配套的集成运放特性参数测试分析系统能采集测试过程中的数据，生成特性参数曲线，更为直观的呈现给用户。
以上仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种集成运放特性参数测试分析设备，其特征在于，包括晶振模块、MCU、UART转USB模块、复位模块以及至少一种集成运放特性参数测试模块；
所述晶振模块与所述MCU相连接，所述晶振模块用于产生振荡，并提供振荡信号给MCU；所述MCU连接复位模块，所述复位模块用于复位信号给MCU；
所述MCU与所述至少一种集成运放特性参数测试模块相连接，所述MCU还连接UART转USB模块，所述MCU通过UART转USB模块连接上位机块。
2.根据权利要求1所述的集成运放特性参数测试分析设备，其特征在于，所述MCU通过UART转USB模块与上位机的数据交互，所述上位机用于接收所述MCU发送的数据，自动绘制集成运放特性参数曲线，汇总测试结果。
3.根据权利要求2所述的集成运放特性参数测试分析设备，其特征在于，所述集成运放特性参数测试分析设备还连接有测量仪器，所述测量仪器包含示波器和信号源；其中，所述信号源用于提供激励信号，所述示波器用于观测。
4.根据权利要求3所述的集成运放特性参数测试分析设备，其特征在于，所述集成运放特性参数测试分析设备还连接有电源模块，所述电源模块为各需电模块提供电源。
5.根据权利要求4所述的集成运放特性参数测试分析设备，其特征在于，所述集成运放特性参数测试模块包括输入失调电压测试模块、输入失调电流测试模块、共模抑制比测试模块、最大不失真输出电压测试模块、转移速率测试模块以及开环差模电压增益测试模块。
6.根据权利要求5所述的集成运放特性参数测试分析设备，其特征在于，所述MCU通过方口USB线连接到上位机，在所述集成运放特性参数测试分析设备连接测量仪器且电源正常供电的条件下，通过上位机下发开始测试指令，所述集成运放特性参数测试模块自动开始测试，所述MCU用于采集测试过程中的数据，返回给上位机，以自动生成集成运放特性参数曲线。
Priority Applications (1)
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| CN202221852560.6U CN218003642U (zh) | 2022-07-18 | 2022-07-18 | 一种集成运放特性参数测试分析设备 |
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Publications (1)
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|---|---|
| CN218003642U true CN218003642U (zh) | 2022-12-09 |
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Family Applications (1)
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| CN202221852560.6U Active CN218003642U (zh) | 2022-07-18 | 2022-07-18 | 一种集成运放特性参数测试分析设备 |
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2022
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