CN218002408U - 一种内径百分表校对装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种内径百分表校对装置,包括用于校对内径百分表的校对件和用于将拼合后的校对件锁紧定位的锁紧件;校对件包括两个环规部和两个长度相同块规部,两个环规部对称设置,两个块规部设置在两个环规部之间;锁紧件将环规部和块规部抵紧,使两个环规部和两个块规部围合成一用于校对内径百分表的校对空间,校对空间包括两个分别与内径百分表底部测量头两端相抵的校对基准面,校对基准面为弧面,两个校对基准面分别位于两个环规部上。这样,通过弧形的校对基准面模拟工件内孔,提高校对装置的精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及检校器具领域,尤其涉及一种内径百分表校对装置。
背景技术
内径百分表是目前机械行业加工现场使用非常频繁的量具之一。它检验精度较高,具有较好的重复性,主要用于检验精度要求较高的内孔或深孔的直径。由于内径百分表的检验是一种比较检验法,因此检验前应根据被检孔直径的大小,选择规格适宜的测杆,再在专用环规或千分尺上校对好所需的尺寸后,再进行零件检验。对于公差在+0.03mm或-0.03mm以外直径的检验,一般选择千分尺对内径百分表进行校对,在这个范围以内的精度较高直径的检验,一般选择专用环规进行校对。如果需要利用内径百分表测量的精度较高的内孔或深孔直径规格繁多,那就需要配置很多规格的专用环规,不但需要较高的加工或购买费用,还可能因等待加工或购买而影响生产,并且后期还需要很高的维护、校准等成本。
公开号为CN 208780170 U的专利文献公开了一种新型可调式内径量表校准器,包括基座和测量装置,所述测量装置包括主板架,所述主板架一端设置有T型块,在主板架的底部设置有主板支撑块,主板架通过主板支撑块固定在基座上,所述主板架上还设置有活动基座、平行夹块、锁紧组件,所述的活动基座、平行夹块、锁紧组件分别对应活动安装在主板架上。所述基座设置两个,所述基座为磁性基座,分别设置于主架板两端;所述T型块和主板架之间通过螺钉连接;所述活动基座为可拆卸式活动基座;所述主板架上的平行夹块设置有两个,两平行夹块分别为第一平行夹块和第二平行夹块,所述第一平行夹块和第二平行夹块设置在活动基座的两侧;所述锁紧组件为锁紧杠杆组件,所述锁紧杠杆组件包括固定旋钮和锁紧旋钮,固定旋钮与锁紧旋钮配合设置;所述磁性基座上设置有旋钮所述活动基座上设置有第三平行夹块,所述的第三平行夹块设置在第一平行夹块和第二平行夹块之间,所述第二平行夹块与第一平行夹块和第三平行夹块对应设置。
现有技术中,在内径量表校对的过程中,需要将内径百分表底部的测量头卡在第二平行夹块和第三平行夹块之间,将内径百分表进行左右摆动和上下摆动以使得内径百分表的表头的指针归零,而内径百分表底部的测量头的两端分别与第二平行夹块和第三平行夹块的相抵,第二平行夹块和第三平行夹块与测量头相抵的面均为平面,而内径百分表是用于测量内孔内孔直径,内径百分表是直接与工件内孔内侧的圆弧面相抵的,这样在使用现有技术中的结构时,使得内径百分表的校准精度较低;并且,第三平行夹块是通过活动滑块滑动设置在基座上的,活动基座通过锁紧旋钮进行锁紧定位,锁紧旋钮的锁紧的方向与第三平行滑块的运动方向并不处于同一直线上,这样在第三平行夹块锁紧定位时会导致活动基座和磁性基座无法完全夹紧块规,同时由于第三平行夹块是滑动安装的,整个校准器的各个部件之间难免存有间隙,这样也会使第三夹块该定位时沿其滑移轨迹发生偏摆,降低内径百分表的校准的校正精度。
实用新型内容
为了解决现有技术中校准器的精度低的问题,本实用新型的目的在于提供一种内径百分表校对装置,通过将两个环规部和两个块规部围合成一两端为弧面的校对空间,通过校对空间的弧形面模拟工件内孔,进而提高内径百分表校对的精度。
为了实现上述的目的,本实用新型采用了以下的技术方案:一种内径百分表校对装置,包括用于校对内径百分表的校对件和用于将拼合后的校对件锁紧定位的锁紧件;校对件包括两个环规部和两个长度相同块规部,两个环规部对称设置,两个块规部设置在两个环规部之间;锁紧件将环规部和块规部抵紧,使两个环规部和两个块规部围合成一用于校对内径百分表的校对空间,校对空间包括两个分别与内径百分表底部测量头两端相抵的校对基准面,校对基准面为弧面,两个校对基准面分别位于两个环规部上。这样,通过弧形的校对基准面模拟工件内孔,提高校对装置的精度。
作为优选,两个环规部由一个标准环规切而成,两个环规部的校对基准面为标准环规的内圆面。这样,采用标准环规作为环规部加工的原材料,保证校对基准面内径的一致,保证保证校对精度。
作为优选,块规部由一个标准块规组成,或由多个标准块规拼合而成。这样,通过标准块规组成的块规部,能有效的降低校对装置的制造、使用和维护成本;同时使由块规部和环规部组成的校对件成为一专用与内径百分表的标准件。
作为优选,锁紧件包括两个滑轨和两个滑块,任意一个滑块均与两个滑轨滑动配合,滑块能够通过紧固件固定在滑轨上,两个滑块和两个滑轨围合成一锁紧空间,校对件设置在锁紧空间内,两个滑轨将两个环规部夹紧,两个滑块分别与两个环规部抵紧。
作为优选,环规部包括第一基准面、第二基准面、第三基准面、第四基准面和第五基准面,第一基准面、第二基准面、第三基准面和第四基准面均为平面,校对基准面位于第一基准面和第二基准面之间,校对基准面的一端和第一基准面的一端通过第三基准面相连,校对基准面的另一端和第二基准面的一端通过第四基准面相连,第一基准面的另一端和第二基准面的另一端通过第五基准面相连;环规部的第一基准面和其中一个滑轨相抵,环规部的第二基准面和另一个滑轨相抵,两个环规部的第三基准面分别与其中一个块规部的两端相抵,两个环规部的第四基准面分别与其中另一个块规部的两端相抵,环规部的第五基准面和滑块相抵。这样,通过环规部上各个基准面进一步提高各个部件之间的配合精度,减小部件之间的误差。
作为优选,第一基准面的粗糙度和第二基准面的粗糙度均≤0.4μm,第一基准面和第二基准面的平行度≤0.003mm,第一基准面和第三基准面的垂直度≤0.003mm,第二基准面和第四基准面的垂直度≤0.003mm。
作为优选,滑块上开设有两个滑移口,滑块的两端均开设有与滑移口连通的定位螺纹孔,定位螺纹孔处连接由定位螺栓,滑块通过两个滑移口与两个滑轨滑动配合;通过转动定位螺栓,使得定位螺栓的一端伸入滑移口内后与滑轨相抵,进而将滑块固定在滑轨上。
作为优选,其中一个滑块上开设有锁紧螺纹孔,锁紧螺纹孔处安装有锁紧螺栓,锁紧螺栓能够穿过锁紧螺纹孔与环规部抵紧。
作为优选,滑块上的滑移口内相对设置的两个侧壁的平行度≤0.003mm,滑块上的滑移口内相连的两个侧壁的垂直度≤0.003mm,滑移口的内侧壁的粗糙度均≤0.4μm。
作为优选,滑轨上位于相对位置的两个侧面的平行度≤0.005mm,滑轨上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm,滑轨侧面的粗糙度均≤0.4μm。
本实用新型的技术方案的有益效果为:1. 由于校对基准面为弧形面,使得校对装置的校对基准面能够模拟工件内孔的内壁,使得检校的结果更加精准;2.块规部和环规部均由标准件制成,所以由块规部和环规部组成的校对件为一个完整的标准件,在对不同空间的内孔进行校对时,通过更换相应长度的块规部即可完成对该尺寸的内径百分表的校对,如此设置使得校对装置更加灵活,既保证了校对精度又降低了对校对器具很高的维护、校准等成本;3.校对装置的各个部件的表面均做了加工处理,保证各个部件的配合精度,提高校对装置的校对精度;4.校对装置的结构更加简单,避免冗长的传动路径,减小了各部件之间配合的误差。
附图说明
图1为一种内径百分表的校对装置的整体示意图;
图2为锁紧件的结构示意图;
图3为校对件的结构示意图;
图4为滑块的结构示意图;
图5为环规部的结构示意图。
附图标记:1、锁紧件;11、滑轨;12、滑块;121、滑移口;122、定位螺纹孔;123、锁紧螺纹孔;13、锁紧空间;14、锁紧螺栓;2、校对件;21、环规部;211、校对基准面;212、第一基准面;213、第二基准面;214、第三基准面;215、第四基准面;216、第五基准面;22、块规部;23、校对空间。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
为了方便表述,以下实施例所述方位以图1为准,以校对装置的中央为“内”,以固定块所在位置为“左”,以滑动块所在位置为“右”。
实施例
如图1-3所展示的一种内径百分表校对装置,包括用于校对内径百分表的校对件2和用于将拼合后的校对件2锁紧的锁紧件1;校对件2包括两个环规部21和两个长度相同的块规部22,两个环规部21左右方向对称设置,两个块规部22上下方向对称设置在两个环规部21之间,任意一个环规部21均与两个块规部22抵紧,两个环规部21和两个块规部22围和成一个用于内径百分表校对的校对空间23,校对空间23包括两个用于与内径百分表底部的测量头相抵的校对基准面211,校对基准面211为弧形面,两个校对基准面211分别位于两个环规部21上,内径百分表校对时,内径百分表底部的测量头的两端分别与两个环规部的校对基准面211相抵,将内径百分表进行左右摆动和上下摆动,使内径百分表底部的测量头的两端分别沿两个校对基准面211滑动,在找到两个校对基准面211的最大距离后,调整内径百分表的表头使内径百分表的指针归零时,进而完成校对。这样,由于校对基准面211为弧形面,使得校对装置的校对基准面211能够模拟工件内孔的内壁,使得检校的结果更加精准;同时块规部21和环规部22组成的校对件为一个完整的标准件,在对不同空间的内孔进行校对时,通过更换相应长度的块规部22即可完成对该尺寸的内径百分表的校对,如此设置使得校对装置更加灵活,既保证了校对精度又降低了对校对器具很高的维护、校准等成本。
本实施例优选的,块规部22由一个标准块规组成,或者由多个标准块规拼接形成。这样,通过多个标准块规拼合形成的块规部22的方式,一方面块规的成本和制作难度都较低,另一方面增加了对一套内多个规格的标准块的利用率,进而降低对标准块规数量的要求,进一步降低校对装置的维护和使用成本。
本实施例优选的,两个环规部21由同一个标准环规通过线切割的方式分切而成,两个环规部上的校对基准面均为半圆面,使得两个校对基面能够拼合成一标准环规的内圆面。这样,可以保证两个环规部21的结构一致,使得校对件一趋近与标准件的结构提高内径百分表校对的精度。
本实施例中,锁紧件1包括两个用于夹持环规部21的滑轨11和两个用于将块规部22与环规部21抵紧的滑块12;两个滑轨1上下方向布置,两个滑块12左右方向布置,任意一个滑块12均与两个滑轨11滑动连接,两个滑块12均能够通过锁紧件固定在两个滑轨11上,两个滑块12与两个滑轨11围合形成一锁紧空间13,校对件2位于锁紧空间13内,两个滑轨11将两个环规部21夹紧,两个滑块12分别与两个环规部21抵紧。这样,避免了复杂的锁紧结构,简化校对件的锁紧过程,使校对工作更精准。
本实施例优选的,如图5所示,滑块12的同一侧面上设有两个滑移口121,滑块12的两端均开设有定位螺纹孔122,位于滑块12两端的定位螺纹孔122分别与两个滑移口121联通,定位螺纹孔122处连接有定位螺栓,滑块12通过两个滑移口121与两个滑轨11滑动配合;锁紧件锁紧定位时,通过转动定位螺栓,使得定位螺栓的一端伸入滑移口121内与滑轨11相抵,进而将滑块12固定在滑轨11上。这样,简化校对装置的组件的数量,避免在锁紧过程中各部件之间过多的运动导致校对装置的精度降低。
本实施例中优选的,如图1-4所示,环规部21包括第一基准面212、第二基准面213、第三基准面214、第四基准面215和第五基准面216,校对基准面211位于第一基准面212和第二基准面213之间,校对基准面211的一端和第一基准面212的一端通过第三基准面214相连,校对基准面211的另一端和第二基准面213的另一端通过第四基准面215相连,第四基准面215的另一端和第三基准面214的另一端通过第五基准面216相连;第一基准面212、第二基准面213、第三基准面214和第四基准面215均为平面,环规部21的第一基准面212和第二基准面213分别与两个滑轨11的侧面相抵,两个环规部21的第三基准面214分别与其中一个块规部22的两端相抵,两个环规部21的第四基准面215分别与另一个环规部21的两端相抵,两个环规部21的第五基准面能够与两个滑块12相抵。这样,能够提高校对装置内各组件的安装精度,进一步提高内径百分表校对时的精度。
进一步的,滑块12上两个滑移口121的间距小于环规部21上第一基准面212和第二基准面213之间的间距。这样,位于滑块两侧的锁紧螺栓分别伸入两个滑移口后与两个滑轨相抵,使得两个滑轨与环规部的第一基准面和第二基准面相抵,进而通过两个滑轨将环规部夹紧。
本实施例优选的,其中一个滑块12上开设由锁紧螺纹孔123,锁紧螺纹孔123沿滑块12移动的方向贯穿滑块23,锁紧螺纹孔123处螺纹连接有锁紧螺栓14;锁紧螺栓14的一端能够穿过该滑块12与其中一个环规部21的第五基准面216抵紧。这样,使环规部21与块规部22抵紧,消除校对件2内部的间隙,进一步提高内径百分表校对时的精度。其他实施例中,两个滑块12上均开设由锁紧螺纹孔,两个锁紧螺栓14能够分别穿过两个滑块12后分别两个环规部21的第五基准面216相抵。
本实施例中,第一基准面212的粗糙度和第二基准面213的粗糙度均≤0.4μm,第一基准面212和第二基准面213的平行度≤0.003mm,第一基准面212和第三基准面214的垂直度≤0.003mm,第二基准面213和第四基准面215的垂直度≤0.003mm;滑块12上的滑移口121内相对设置的两个侧壁的平行度≤0.003mm,滑块12上的滑移口121内相连的两个侧壁的垂直度≤0.003mm,滑移口121内侧壁的粗糙度均≤0.4μm;滑轨11上位于相对位置的两个侧面的平行度≤0.005mm,滑轨11上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm,滑轨11侧面的粗糙度均≤0.4μm。这样,保证校对装置内各部件的位置精度和配合精度,提高校对装置的准确性。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本实用新型的限制,本领域的普通技术人员在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种内径百分表校对装置,其特征在于:包括用于校对内径百分表的校对件(2)和用于将拼合后的校对件(2)锁紧定位的锁紧件(1);校对件(2)包括两个环规部(21)和两个长度相同块规部(22),两个环规部(21)对称设置,两个块规部(22)设置在两个环规部(21)之间;锁紧件(1)将环规部(21)和块规部(22)抵紧,使两个环规部(21)和两个块规部(22)围合成一用于校对内径百分表的校对空间(23),校对空间(23)包括两个分别与内径百分表底部测量头两端相抵的校对基准面(211),校对基准面(211)为弧面,两个校对基准面(211)分别位于两个环规部(21)上。
2.根据权利要求1所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:两个环规部(21)由一个标准环规切而成,两个环规部(21)上的校对基准面(211)均为半圆面,两个环规部(21)的校对基准面(211)为标准环规的内圆面。
3.根据权利要求1所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:块规部(22)由一个标准块规组成,或由多个标准块规拼合而成。
4.根据权利要求1所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:锁紧件(1)包括两个滑轨(11)和两个滑块(12),任意一个滑块(12)均与两个滑轨(11)滑动配合,滑块(12)能够通过紧固件固定在滑轨(11)上,两个滑块(12)和两个滑轨(11)围合成一锁紧空间(13),校对件(2)设置在锁紧空间(13)内,两个滑轨(11)将两个环规部(21)夹紧,两个滑块(12)分别与两个环规部(21)抵紧。
5.根据权利要求4所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:环规部(21)包括第一基准面(212)、第二基准面(213)、第三基准面(214)、第四基准面(215)和第五基准面(216),第一基准面(212)、第二基准面(213)、第三基准面(214)和第四基准面(215)均为平面,校对基准面(211)位于第一基准面(212)和第二基准面(213)之间,校对基准面(211)的一端和第一基准面(212)的一端通过第三基准面(214)相连,校对基准面(211)的另一端和第二基准面(213)的一端通过第四基准面(215)相连,第一基准面(212)的另一端和第二基准面(213)的另一端通过第五基准面(216)相连;环规部(21)的第一基准面(212)和其中一个滑轨(11)相抵,环规部(21)的第二基准面(213)和另一个滑轨(11)相抵,两个环规部(21)的第三基准面(214)分别与其中一个块规部(22)的两端相抵,两个环规部(21)的第四基准面(215)分别与其中另一个块规部(22)的两端相抵,环规部(21)的第五基准面(216)和滑块(12)相抵。
6.根据权利要求5所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:第一基准面(212)的粗糙度和第二基准面(213)的粗糙度均≤0.4μm,第一基准面(212)和第二基准面(213)的平行度≤0.003mm,第一基准面(212)和第三基准面(214)的垂直度≤0.003mm,第二基准面(213)和第四基准面(215)的垂直度≤0.003mm。
7.根据权利要求4所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:滑块(12)上开设有两个滑移口(121),滑块(12)的两端均开设有与滑移口(121)连通的定位螺纹孔(122),定位螺纹孔(122)处连接由定位螺栓,滑块(12)通过两个滑移口(121)与两个滑轨(11)滑动配合;通过转动定位螺栓,使得定位螺栓的一端伸入滑移口(121)内后与滑轨(11)相抵,进而将滑块(12)固定在滑轨(11)上。
8.根据权利要求7所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:其中一个滑块(12)上开设有锁紧螺纹孔(123),锁紧螺纹孔(123)处安装有锁紧螺栓(14),锁紧螺栓(14)能够穿过锁紧螺纹孔(123)与环规部(21)抵紧。
9.根据权利要求7所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:滑块(12)上的滑移口(121)内相对设置的两个侧壁的平行度≤0.003mm,滑块(12)上的滑移口(121)内相连的两个侧壁的垂直度≤0.003mm,滑移口(121)的内侧壁的粗糙度均≤0.4μm。
10.根据权利要求7所述的一种内径百分表校对装置,其特征在于:滑轨(11)上位于相对位置的两个侧面的平行度≤0.005mm,滑轨(11)上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm,滑轨(11)侧面的粗糙度均≤0.4μm。
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GR01 | Patent grant | ||
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