CN114963939A - 一种内径百分表的校对装置及其制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种内径百分表的校对装置及其制造方法，通过使用标准件制作环规部和块规部、对滑块和滑轨的处理方式以及将组内部件拼合成一完整校对装置的方式，使得由环规部和块规部组成的校对件成为一专用于内径百分表校对的标准件，保证了内径百分表的校对精度，降低了工装的制作和维护成本。

Description

一种内径百分表的校对装置及其制造方法

技术领域

本发明涉及检校器具领域，尤其涉及一种内径百分表的校对装置及其制造方法。

背景技术

内径百分表是目前机械行业加工现场使用非常频繁的量具之一。它检验精度较高，具有较好的重复性，主要用于检验精度要求较高的内孔或深孔的直径。由于内径百分表的检验是一种比较检验法，因此检验前应根据被检孔直径的大小，选择规格适宜的测杆，再在专用环规或千分尺上校对好所需的尺寸后，再进行零件检验。对于公差在+0.03mm或-0.03mm以外直径的检验，一般选择千分尺对内径百分表进行校对，在这个范围以内的精度较高直径的检验，一般选择专用环规进行校对。如果需要利用内径百分表测量的精度较高的内孔或深孔直径规格繁多，那就需要配置很多规格的专用环规如下图1，不但需要较高的加工或购买费用，还可能因等待加工或购买而影响生产，并且后期还需要很高的维护、校准等成本。

公开号为CN 208780170 U的专利文献公开了一种新型可调式内径量表校准器，包括基座和测量装置，所述测量装置包括主板架，所述主板架一端设置有T型块，在主板架的底部设置有主板支撑块，主板架通过主板支撑块固定在基座上，所述主板架上还设置有活动基座、平行夹块、锁紧组件，所述的活动基座、平行夹块、锁紧组件分别对应活动安装在主板架上。所述基座设置两个，所述基座为磁性基座，分别设置于主架板两端；所述T型块和主板架之间通过螺钉连接；所述活动基座为可拆卸式活动基座；所述主板架上的平行夹块设置有两个，两平行夹块分别为第一平行夹块和第二平行夹块，所述第一平行夹块和第二平行夹块设置在活动基座的两侧；所述锁紧组件为锁紧杠杆组件，所述锁紧杠杆组件包括固定旋钮和锁紧旋钮，固定旋钮与锁紧旋钮配合设置；所述磁性基座上设置有旋钮所述活动基座上设置有第三平行夹块，所述的第三平行夹块设置在第一平行夹块和第二平行夹块之间，所述第二平行夹块与第一平行夹块和第三平行夹块对应设置。

现有技术中，在内径量表校对的过程中，需要将内径百分表底部的测量头卡在第二平行夹块和第三平行夹块之间，将内径百分表进行左右摆动和上下摆动以使得内径百分表的表头的指针归零，而内径百分表底部的测量头的两端分别与第二平行夹块和第三平行夹块的相抵，第二平行夹块和第三平行夹块与测量头相抵的面均为平面，而内径百分表是用于测量内孔内孔直径，内径百分表是直接与工件内孔内侧的圆弧面相抵的，这样在使用现有技术中的结构时，使得内径百分表的校准精度较低；并且，第三平行夹块是通过活动滑块滑动设置在基座上的，活动基座通过锁紧旋钮进行锁紧定位，锁紧旋钮的锁紧的方向与第三平行滑块的运动方向并不处于同一直线上，这样在第三平行夹块锁紧定位时会导致活动基座和磁性基座无法完全夹紧块规，同时由于第三平行夹块是滑动安装的，整个校准器的各个部件之间难免存有间隙，这样使得现有技术中的结构，若要保证一定的测量精度，就要保证各个部件之间的位置精度和配合精度，使得部件具有很高制作要求和装配要求。

发明内容

为了解决现有技术中校准器结构复杂，部件制作和装配难度高的问题，本发明的目的在于提供一种内径百分表的校对装置及其制造方法，通过标准环规制成的环规部和标准块规制成的块规部，使得由环规部和块规部组成的校对件成为一专用于内径百分表校对的标准件，保证了内径百分表的校对精度，降低了装置的制作要求和成本。

为了实现上述的目的，本发明采用了以下的技术方案：一种内径百分表校对装置的制造方法，具体步骤如下：

1)环规部制作：选取一只标准环规，在标准环规的外圆面上加工出两个对称的平面，将标准环规切分成两个对称的环规部，使环规部具有半圆形的校对基准面和用于定位的定位面，两个环规部的校对基准面能够拼合成标准环规的内圆面，两个环规部的定位面能够拼合成标准环规的平面；

2)滑块的制作：在滑块的同一侧面上加工两个开口，开口沿贯穿所述滑块，滑块的两端加工定位螺纹孔，两个定位螺纹孔分别与两个开口联通，任一定位螺纹孔处均螺纹连接有定位螺栓，滑块的侧面加工一锁紧螺纹孔，锁紧螺纹孔沿滑块一端方向贯穿所述滑块，锁紧螺纹孔处螺纹连接由锁紧螺栓；

3)滑轨制作：对滑轨的侧面进行研磨；

4)块规部制作：块规部由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼接组成；

5)拼合：选择两个滑块，两个滑轨、两个环规部和两个长度相同的块规部，两个环规部左右方向设置，两个块规部上下方向设置在两个环规部之间；两个滑轨上下方向布置，两个块规部位于两个滑轨之间，环规部的两个定位面与两个滑轨的侧面相抵，两个滑块左右方向布置，两个环规部位于两个滑块之间，任一滑块均通过两个开口分别与两个滑轨滑动配合；调节两个滑块的间距，转动定位螺栓将滑块固定在滑轨上，转动锁紧螺栓，使锁紧螺栓的一端穿过锁紧螺纹孔后与环规部抵紧，进而使环规部和块规部抵紧

作为优选，上述步骤1)中，通过线切割的方式在标准环规上加工出两个平面后，对两个平面进行研磨使得两个平面的粗糙度均≤0.4μm，两个平面的平行度≤0.003mm，平面与标准环规的端面的垂直度≤0.003mm。

作为优选，通过线切割的方式将标准环规切分成两个环规部，环规部包括用于和内径百分表测量头相抵的校对基准面、两个用于与两个滑轨相抵的定位面和两个用于和块规部相抵的连接面；校对基准面位于两个定位面之间，校对基准面的两端分别通过两个连接面与两个定位面相连。

作为优选，对两个连接面进行研磨，使得连接面与定位面的垂直度≤0.003mm，连接面和校对基准面的垂直度≤0.003mm，两个连接面的的粗糙度均≤0.4μm。

作为优选，通过线切割的方式在滑块上加工两个开口后，对两个开口的内壁进行研磨。

作为优选，滑块的开口内相对位置的两个内壁之间的平行度≤0.003mm，滑块的开口内两个相连内壁的垂直度≤0.003mm，滑块的开口的内壁的粗糙度均≤0.4μm。

作为优选，滑块上两个开口的最小间距不大于环规部的两个定位面的间距。

作为优选，：滑轨上相对位置的两个侧面的平行度≤0.005mm，滑轨上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm，滑轨上的侧面的粗糙度均≤0.4μm。

一种内径百分表校对装置，采用上述一种内径百分表校对装置的制造方法，包括两个具有半圆形的校对基准面的环规部、两个能够限制两个校对基准面间距的块规部、两个能够夹紧环规部的滑轨和两个使环规部和块规部抵紧的滑块。

本发明的技术方案的有益效果为：1.通过标准环规制成的环规部和标准块规制成的块规部，使得由环规部和块规部组成的校对件成为一专用于内径百分表校对的标准件，保证了内径百分表的校对精度，降低了校对装置的制作、使用和维护成本；2.通过对各部件的表面进行加工出来，提高部件之间的连接精度，减小各部件之间的间隙，在拼合完成后，进一步提高校对时的精度；3.环规部通过定位面提高其余滑轨的连接面积，环规部通过连接面增加其余块规部的连接面积，这样能够通过滑轨和滑块保证环规部的正确姿态，保证内径百分表校对的准确性；4.校对件上拥有两个半圆形的校对基准面的校对空间能够模仿工件的内孔，进一步提高校对的准确性。

附图说明

图1为一种内径百分表的校对装置的结构示意图；

图2为锁紧件的结构示意图；

图3为校对件的结构示意图；

图4为标准环规的结构示意图；

图5为加工平面后的标准环规的结构示意图；

图6为将标准环规切分成两个环规部的结构示意图；

图7为滑块的结构示意图；

图8为滑轨的结构示意图。

附图标记：1、锁紧件；11、滑轨；12、滑块；121、开口；122、定位螺纹孔；123、锁紧螺纹孔；13、锁紧空间；14、锁紧螺栓；2、校对件；21、环规部；211、校对基准面；212、定位面；213、连接面；22、块规部；23、校对空间；3、标准环规；31、内圆面；32、外圆面； 321、平面。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

为了方便表述，以下实施例所述方位以图1为准，以校对装置的中央为“内”，以固定块所在位置为“左”，以滑动块所在位置为“右”。

实施例

一种内径百分表校对装置的制造方法，如图1-8所示，具体步骤如下：

1)环规部21制作：选取一只标准环规3，在标准环规3的外圆面32上加工出两个对称的平面321，将标准环规3切分成两个对称的环规部21，使环规部具有半圆形的校对基准面211和用于定位的定位面212，两个环规部21的校对基准面211能够拼合成标准环规3的内圆面31，两个环规部21的定位面212能够拼合成标准环规3的平面321；

2)滑块12的制作：在滑块12的同一侧面上加工两个开口121，开口121沿贯穿所述滑块12，滑块12的两端加工定位螺纹孔122，两个定位螺纹孔122分别与两个开口121 联通，任一定位螺纹孔122处均螺纹连接有定位螺栓，滑块12的侧面加工一锁紧螺纹孔123，锁紧螺纹孔123沿滑块一端方向贯穿所述滑块12，锁紧螺纹孔122处螺纹连接由锁紧螺栓14；

3)滑轨11制作：对滑轨11的侧面进行研磨；

4)块规部22制作：块规部22由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼接组成；

5)拼合：选择两个滑块12，两个滑轨11、两个环规部21和两个长度相同的块规部22，两个环规部21左右方向设置，两个块规部22上下方向设置在两个环规部21之间；两个滑轨11上下方向布置，两个块规部21位于两个滑轨之间，环规部21的两个定位面212与两个滑轨11的侧面相抵，两个滑块12左右方向布置，两个环规部21位于两个滑块12之间，任一滑块12均通过两个开口121分别与两个滑轨11滑动配合；调节两个滑块12的间距，转动定位螺栓将滑块12固定在滑轨1上，转动锁紧螺栓14，使锁紧螺栓14的一端穿过锁紧螺纹孔123后与环规部21抵紧，进而使环规部21和块规部22抵紧。

这样，环规部和块规部均由标准件制成，使得两个组合的校对件为标准件，这样使得校对装置兼具了标准环规的准确性，又利用标准块规降低校对装置的制作、使用和维护成本。

一种内径百分表校对装置应用上述的制造方法，包括用于校对内径百分表的校对件2和用于将校对件2锁紧的锁紧件1，校对件2包括两个所述环规部21和两个所述块规部22，两个环规部21和两个块规部22围合成一用于校对内径百分表的校对空间23，锁紧件1包括两个所述滑轨11和两个所述滑块12，任一滑块12均与两个滑轨11滑动连接，滑块12能够通过紧固件固定在滑轨11上，两个滑轨11和两个滑块12围合成一能够调节大小的锁紧空间13，校对件1位于锁紧空间13内，通过调整两个滑块12的间距进而调整锁紧空间13大小，能够将不同规格的校对件1锁紧。这样，通过块规部和环规部等简单的结构，避免冗长的传动机构和传动线路，进一步提高校对的准确性。

本实施例中，环规部21加工时，通过线切割的方式在标准环规3的外圆面32上加工出两个平面321后，对两个平面321进行研磨使得两个平面321的粗糙度均≤0.4μm，两个平面321的平行度≤0.003mm，平面321与标准环规3的端面的垂直度≤0.003mm。这样，通过线切割和研磨两道工序能够提高标准环规3上的平面321的表面质量，提高测量时的精度。进一步的，通过线切割的方式将标准环规3切分成两个环规部21，环规部21包括用于和内径百分表测量头相抵的校对基准面211、两个用于与两个滑轨11相抵的定位面212和两个用于和块规部22相抵的连接面213；校对基准面211位于两个定位面212之间，校对基准面211 的两端分别通过连接面213与两个定位面212相连；对两个连接面213进行研磨，使得连接面213与定位面212的垂直度≤0.003mm，连接面213和校对基准面211的垂直度≤0.003mm，两个连接面213的粗糙度均≤0.4μm。这样，减小环规部21与块规部22之间的间隙，在拼合完成后，使得校对件1能够成为专用于内径百分表校对的标准件，进一步提高校对时的精度。

本实施例中，通过线切割的方式在滑块12上加工两个开口121后，对两个开口121的内壁进行研磨；滑块12上开口121内相对位置的两个内壁的平行度≤0.003mm，滑块12上开口121内的两个相连内壁的垂直度≤0.003mm，滑块12上开口121的内壁的粗糙度均≤0.4μm。这样，提高滑轨11和滑块12之间的连接精度，提高校对装置的校对精度。进一步的，滑轨11上相对位置的两个侧面之间的平行度≤0.005mm，滑轨11上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm，滑轨11的侧面的粗糙度均≤0.4μm。这样，通过对滑块和滑轨的研磨等工序，提高滑块和滑轨的表面质量，提高滑轨11和滑块12之间的连接精度，进一步提高校对装置的校对精度。

本实施例中，滑块11上的两个开口121的最小间距不大于环规部21的两个定位面212 的间距。这样，在转动滑块12上的定位螺栓将环规部21通过两个滑轨11夹紧时，能够尽量间隙滑轨11和环规部21之间的间隙，使滑轨11更稳定的将环规部21夹紧。

本实施例中，块规部21由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼接组成。这样，由于块规的价格和维护成本更低，并且块规更容易制作，可进一步降低内孔校验所需成本；由于块规部是有标准块规组成，使得校对件更接近于标准件，检校精度更高；由于块规部可以由多个标准块规拼合而成，使得校对装置更加灵活，不用额外定制块规，就能够对不尺寸的内径百分百进行校对。

本实施例中，内径百分表校对时，内径百分表底部的测量头的两端分别与两个环规部21 的校对基准面211相抵，将内径百分表进行左右摆动和上下摆动，使内径百分表底部的测量头的两端分别沿两个校对基准面211滑动，在找到两个校对基准面211的最大距离后，调整内径百分表的表头使内径百分表的指针归零时，进而完成校对。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (9)

1.一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：具体步骤如下：

1)环规部(21)制作：选取一只标准环规(3)，在标准环规(3)的外圆面(32)上加工出两个对称的平面(321)，将标准环规(3)切分成两个对称的环规部(21)，使环规部具有半圆形的校对基准面(211)和用于定位的定位面(212)，两个环规部(21)的校对基准面(211)能够拼合成标准环规(3)的内圆面(31)，两个环规部(21)的定位面(212)能够拼合成标准环规(3)的平面(321)；

2)滑块(12)的制作：在滑块(12)的同一侧面上加工两个开口(121)，开口(121)沿贯穿所述滑块(12)，滑块(12)的两端加工定位螺纹孔(122)，两个定位螺纹孔(122)分别与两个开口(121)联通，任一定位螺纹孔(122)处均螺纹连接有定位螺栓，滑块(12)的侧面加工一锁紧螺纹孔(123)，锁紧螺纹孔(123)沿滑块一端方向贯穿所述滑块(12)，锁紧螺纹孔(122)处螺纹连接由锁紧螺栓(14)；

3)滑轨(11)制作：对滑轨(11)的侧面进行研磨；

4)块规部(22)制作：块规部(22)由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼接组成；

5)拼合：选择两个滑块(12)，两个滑轨(11)、两个环规部(21)和两个长度相同的块规部(22)，两个环规部(21)左右方向设置，两个块规部(22)上下方向设置在两个环规部(21)之间；两个滑轨(11)上下方向布置，两个块规部(21)位于两个滑轨之间，环规部(21)的两个定位面(212)与两个滑轨(11)的侧面相抵，两个滑块(12)左右方向布置，两个环规部(21)位于两个滑块(12)之间，任一滑块(12)均通过两个开口(121)分别与两个滑轨(11)滑动配合；调节两个滑块(12)的间距，转动定位螺栓将滑块(12)固定在滑轨(1)上，转动锁紧螺栓(14)，使锁紧螺栓(14)的一端穿过锁紧螺纹孔(123)后与环规部(21)抵紧，进而使环规部(21)和块规部(22)抵紧。

2.根据权利要求1所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：上述步骤1)中，通过线切割的方式在标准环规(3)上加工出两个平面(321)后，对两个平面(321)进行研磨使得两个平面(321)的粗糙度均≤0.4μm，两个平面(321)的平行度≤0.003mm，平面(321)与标准环规(3)的端面的垂直度≤0.003mm。

3.根据权利要求2所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：通过线切割的方式将标准环规(3)切分成两个环规部(21)，环规部(21)包括用于和内径百分表测量头相抵的校对基准面(211)、两个用于与两个滑轨(11)相抵的定位面(212)和两个用于和块规部(22)相抵的连接面(213)；校对基准面(211)位于两个定位面(212)之间，校对基准面(211)的两端分别通过两个连接面(213)与两个定位面(212)相连。

4.根据权利要求3所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：对两个连接面(213)进行研磨，使得连接面(213)与定位面(212)的垂直度≤0.003mm，连接面(213)和校对基准面(211)的垂直度≤0.003mm，两个连接面(212)的的粗糙度均≤0.4μm。

5.根据权利要求1所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：通过线切割的方式在滑块(12)上加工两个开口(121)后，对两个开口(121)的内壁进行研磨。

6.根据权利要求5所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：滑块(12)的开口(121)内相对位置的两个内壁之间的平行度≤0.003mm，滑块(12)的开口(121)内两个相连内壁的垂直度≤0.003mm，滑块(12)的开口(121)的内壁的粗糙度均≤0.4μm。

7.根据权利要求5所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：滑块(12)上两个开口(121)的最小间距不大于环规部(21)的两个定位面(212)的间距。

8.根据权利要求1所述的一种内径百分表校对装置的制造方法，其特征在于：滑轨(11)上相对位置的两个侧面的平行度≤0.005mm，滑轨(11)上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm，滑轨(11)上的侧面的粗糙度均≤0.4μm。

9.一种内径百分表校对装置，其特征在于：采用上述权利要求1-8中任意一项上述的一种内径百分表校对装置的制造方法，包括两个具有半圆形的校对基准面(211)的环规部(21)、两个能够限制两个校对基准面(211)间距的块规部(22)、两个能够夹紧环规部(21)的滑轨(11)和两个使环规部(21)和块规部(22)抵紧的滑块(12)。

Images