CN115218757A - 一种内径百分表的校对装置及校对方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种内径百分表的校对装置及校对方法，包括两个环规部和两个块规部，通过选择合适长度的块规部，并通过锁紧件将两个环规部和两个块规部围合成一两端为弧面的校对空间，通过校对空间模拟待校对工件的内孔；使得校对过程中所需的部件和结构更加简单，避免冗长的传动结构和复杂的连接结构，有效的降低各部件之间的配合难度，提高内径百分表的校对精度。

Description

一种内径百分表的校对装置及校对方法

技术领域

本发明涉及检校器具领域，尤其涉及一种内径百分表的校对装置及校对方法。

背景技术

内径百分表是目前机械行业加工现场使用非常频繁的量具之一。它检验精度较高，具有较好的重复性，主要用于检验精度要求较高的内孔或深孔的直径。由于内径百分表的检验是一种比较检验法，因此检验前应根据被检孔直径的大小，选择规格适宜的测杆，再在专用环规或千分尺上校对好所需的尺寸后，再进行零件检验。对于公差在+0.03mm或-0.03mm以外直径的检验，一般选择千分尺对内径百分表进行校对，在这个范围以内的精度较高直径的检验，一般选择专用环规进行校对。如果需要利用内径百分表测量的精度较高的内孔或深孔直径规格繁多，那就需要配置很多规格的专用环规如下图1，不但需要较高的加工或购买费用，还可能因等待加工或购买而影响生产，并且后期还需要很高的维护、校准等成本。

公开号为CN 208780170 U的专利文献公开了一种新型可调式内径量表校准器，包括基座和测量装置，所述测量装置包括主板架，所述主板架一端设置有T型块，在主板架的底部设置有主板支撑块，主板架通过主板支撑块固定在基座上，所述主板架上还设置有活动基座、平行夹块、锁紧组件，所述的活动基座、平行夹块、锁紧组件分别对应活动安装在主板架上。所述基座设置两个，所述基座为磁性基座，分别设置于主架板两端；所述T型块和主板架之间通过螺钉连接；所述活动基座为可拆卸式活动基座；所述主板架上的平行夹块设置有两个，两平行夹块分别为第一平行夹块和第二平行夹块，所述第一平行夹块和第二平行夹块设置在活动基座的两侧；所述锁紧组件为锁紧杠杆组件，所述锁紧杠杆组件包括固定旋钮和锁紧旋钮，固定旋钮与锁紧旋钮配合设置；所述磁性基座上设置有旋钮所述活动基座上设置有第三平行夹块，所述的第三平行夹块设置在第一平行夹块和第二平行夹块之间，所述第二平行夹块与第一平行夹块和第三平行夹块对应设置。

现有技术中，在内径量表校对的过程中，需要将内径百分表底部的测量头卡在第二平行夹块和第三平行夹块之间，将内径百分表进行左右摆动和上下摆动以使得内径百分表的表头的指针归零，而内径百分表底部的测量头的两端分别与第二平行夹块和第三平行夹块的相抵，第二平行夹块和第三平行夹块与测量头相抵的面均为平面，而内径百分表是用于测量内孔内孔直径，内径百分表是直接与工件内孔内侧的圆弧面相抵的，这样在使用现有技术中的结构时，使得内径百分表的校准精度较低；并且，第三平行夹块是通过活动滑块滑动设置在基座上的，活动基座通过锁紧旋钮进行锁紧定位，锁紧旋钮的锁紧的方向与第三平行滑块的运动方向并不处于同一直线上，这样在第三平行夹块锁紧定位时会导致活动基座和磁性基座无法完全夹紧块规，同时由于第三平行夹块是滑动安装的，整个校准器的各个部件之间难免存有间隙，这样也会使第三夹块该定位时沿其滑移轨迹发生偏摆，降低内径百分表的校准的校正精度。

发明内容

为了解决现有技术中由于活动式的校准器结构复杂导致内径百分表在校对时精度较低的问题，本发明的目的在于提供一种内径百分表的校对装置及校对方法，通过选择合适长度的块规部，以及两个环规部和两个块规部围合成一两端为弧面的校对空间，通过校对空间模拟待校对工件的内孔；使得校对过程中所需的部件和结构更加简单，避免冗长的传动结构和复杂的连接结构，有效的降低各部件之间的配合难度，提高内径百分表的校对精度。

为了实现上述的目的，本发明采用了以下的技术方案：一种内径百分表的校对方法，具体步骤如下：

1）根据待检测工件内孔的孔径，选择两个长度一致的块规部；

2）将两个块规部置于两个环规部之间，通过锁紧件使两个环规部与两个块规部抵紧，使两个环规部和两个块规部围合成一校对空间；

3）将内径百分表底部的测量头插入校对件内侧的校对空间，测量头的两端分别与校对空间内的两个弧形的校对基准面相抵；

4）将内径百分表进行左右摆动和上下摆动，使内径百分表底部的测量头的两端分别沿两个校对基准面滑动，在找到两个校对基准面的最大距离后，调整内径百分表的表头使内径百分表的指针归零时，进而完成校对。这样，由于校对基准面为弧形面，使得在内径百分表校对的过程中，校对装置的校对基准面能够模拟工件内孔的内壁，使得检校的结果更加精准。

作为优选，两个环规部左右方向设置，两个块规部上下方向设置，两个环规部的上侧段通过一个块规部相抵，两个环规部的下侧段通过另一个块规部相抵，两个校对基准面分别设置在两个环规部上；上述步骤1）中，通过选择与工件内孔的孔径长度相匹配的块规部，进而改变两个校对基准面的最大距离。这样，能够更加灵活方便的对不同孔径的内孔进行校对。

作为优选，块规部由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼合而成。这样，由于块规的制造和成本都较低，进而降低内孔校对所需成本。

作为优选，锁紧件包括两个滑轨和两个滑块，任一滑块均与两个滑轨滑动配合，滑块能够通过紧固件固定在滑轨上，两个滑轨与两个滑块围合成锁紧空间，两个环规部和两个块规部均位于锁紧空间内；两个滑轨将来两个环规部夹紧，两个滑块分别与两个环规部相抵，进而将环规部和块规部抵紧。

作为优选，滑块的同一侧面上开设有两个滑移口，两个滑移口均贯穿滑块，同一滑块上的两个滑移口分别与两个滑轨滑动配合，滑块的两端均开设有定位螺纹孔，两个定位螺纹孔分别两个滑移口联通，定位螺纹孔处螺纹连接有定位螺栓，定位螺栓的一端能够穿过定位螺纹孔与滑移口内的滑轨相抵；通过两个滑块的四个锁紧螺栓使得两个滑轨将两个环规部夹紧。这样，使得各个部件之间更加紧凑，间隙部件之间的间隙，提高检校准确性。

作为优选，滑块上开设有锁紧螺纹孔，锁紧螺纹孔沿滑块的滑移方向贯穿滑块，锁紧螺纹孔处螺纹连接有锁紧螺栓，锁紧螺栓的一端穿过滑块后与环规部相抵，进而使环规部和块规部抵紧。

作为优选，环规部包括校对基准面、第一基准面、第二基准面、第三基准面、第四基准面和第五基准面，校对基准面位于第一基准面和第二基准面之间，校对基准面的一端和第一基准面的一端通过第三基准面连接，校对基准面的另一端和第二基准面的一端通过第四基准面连接，第四基准面的另一端和第三基准面的另一端通过第五基准面相连；第一基准面和第二基准面分别与两个滑轨的侧面相抵，两个环规部上的两个第三基准面分别与一个环规部的两端相抵，两个环规部上的两个第四基准面分别与另一个环规部的两端相抵，两个环规部的两个第五基准面分别与滑块和\或锁紧螺栓相抵。这样，环规部与滑轨之间通过面进行抵接，环规部和块规部通过面抵接，环规部姿态的正确，进而保证校对结果的准确。

作为优选，两个环规部是由一个标准环规分切后研磨而成，第五基准面为标准环规的外圆面，两个环规部上的校对基准面均为半圆面，校对基准面为标准环规的内圆面。这样，保证两个环规部基本一致，并且便于制作，提高校对结果的准确性。

作为优选，同一滑块上的两个滑移口的间距不大于环规部上第一基准面和第二基准面的间距。这样，保证滑轨夹持环规部的稳定性。

一种内径百分表校对装置，采用上述内径百分表的校对方法，校对装置包括内侧具有校对空间的校对件，还包括用于将校对件锁紧的锁紧件。

本发明的技术方案的有益效果为：1. 由于校对基准面为弧形面，使得在内径百分表校对的过程中，校对装置的校对基准面能够模拟工件内孔的内壁，使得检校的结果更加精准；2.通过将两个环规部和两个块规部围合成一校对空间，即可完成对内径百分表的校对，使得校对过程中所需的部件和结构更加简单，避免冗长的传动结构和复杂的连接结构，有效的降低各部件之间的配合难度，提高内径百分表的校对精度；3.环规部和块规部均由标准件制成，进一步提高校对精度，降低校对装置的制造和维护的成本；4.校对不同孔径的内孔时，进行更换与内孔孔径相匹配的块规部，提高校对装置的灵活性。

附图说明

图1为一种内径百分表的校对装置的整体示意图；

图2为锁紧件的结构示意图；

图3为校对件的结构示意图；

图4为滑块的结构示意图；

图5为环规部的结构示意图。

附图标记：1、锁紧件；11、滑轨；12、滑块；121、滑移口；122、定位螺纹孔；123、锁紧螺纹孔；13、锁紧空间；14、锁紧螺栓；2、校对件；21、环规部；211、校对基准面；212、第一基准面；213、第二基准面；214、第三基准面；215、第四基准面；216、第五基准面；22、块规部；23、校对空间。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

为了方便表述，以下实施例所述方位以图1为准，以校对装置的中央为“内”，以固定块所在位置为“左”，以滑动块所在位置为“右”。

实施例

一种内径百分表的校对方法，具体步骤如下：

5）根据待检测工件内孔的孔径，选择两个长度一致的块规部22；

6）将两个块规部22置于两个环规部21之间，通过锁紧件1使两个环规部21与两个块规部22抵紧，使两个环规部21和两个块规部22围合成一校对空间23；

7）将内径百分表底部的测量头插入校对件2内侧的校对空间23，测量头的两端分别与校对空间23内的两个弧形的校对基准面211相抵；

8）将内径百分表进行左右摆动和上下摆动，使内径百分表底部的测量头的两端分别沿两个校对基准面211滑动，在找到两个校对基准面211的最大距离后，调整内径百分表的表头使内径百分表的指针归零时，进而完成校对。

这样，由于校对基准面211为弧形面，使得在内径百分表校对的过程中，校对装置的校对基准面211能够模拟工件内孔的内壁，使得检校的结果更加精准。通过将两个环规部21和两个块规部22围合成一校对空间23，即可完成对内径百分表的校对，使得校对过程中所需的部件和结构更加简单，避免冗长的传动结构和复杂的连接结构，有效的降低各部件之间的配合难度，提高内径百分表的校对精度。

一种内径百分百校对装置，采用上述的校对方法，如图1-3所示，包括内侧具有校对空间23的校对件2，还包括用于将校对件2锁紧固定的锁紧件1。本实施例中，校对件2包括两个环规部21和两个块规部22，两个环规部21左右方向设置，两个块规部22上下方向设置，两个环规部21的上侧段通过一个块规部22相抵，两个环规部21的下侧段通过另一个块规部22相抵，两个校对基准面211分别设置在两个环规部21上；在对不同孔径的内孔进行检校时，通过选择与工件内孔的孔径长度相匹配的块规部22改变两个校对基准面211的间距，进而使校对装置能够对多种规格的内径百分表进行校对。这样，由块规部22和环规部21组成的校对件2为一个完整的标准件，在对不同空间的内孔进行校对时，通过更换相应长度的块规部即可对不同规格的内径百分表进行校对，使得校对装置更加灵活，既保证了校对精度又降低了对校对器具很高的维护、校准等成本。

本实施例中，块规部22由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼合而成；两个环规部21是由一个标准环规分切后研磨而成，两个环规部上的校对基准面均为半圆面，两个校对基面能够拼合成一标准环规的内圆面。这样，由于块规部22和环规部21均由标准件制成，这样使得校对件2更趋近与标准件，使用上述校对装置对内径百分表校对的精度更高更便于制造；相比于环规，标准块规的制作和维护所用的成本更低，进而降低了工件内孔检校所需成本。

本实施例中，如图1、图2、图4和图5所示，锁紧件1包括两个滑轨11和两个滑块12，任一滑块12均与两个滑轨11滑动配合，滑块12能够通过紧固件固定在滑轨11上，两个滑轨11与两个滑块12围合成锁紧空间13，两个环规部21和两个块规部22均位于锁紧空间13内；两个滑轨11将来两个环规部21夹紧，两个滑块12分别与两个环规部21相抵，通过调节两个滑块12的间距将环规部21和块规部22抵紧。这样，锁紧件1通过简单结构，避免冗长的传动结构和复杂的连接结构，有效的降低各部件之间的配合难度，提高内径百分表的校对精度。进一步的，滑块12的同一侧面上开设有两个滑移口121，两个滑移口121均贯穿滑块12，同一滑块12上的两个滑移口121分别与两个滑轨11滑动配合，滑块12的两端均开设有定位螺纹孔122，两个定位螺纹孔122分布两个滑移口121联通，定位螺纹孔122处螺纹连接有定位螺栓，定位螺栓的一端能够穿过定位螺纹孔122与滑移口121内的滑轨11相抵；通过两个滑块12的四个锁紧螺栓使得两个滑轨11将两个环规部21夹紧。这样，通过两个滑轨11将环规部21夹紧，保证环规部21姿态的准确，提高校对装置的校对精度。进一步的，滑块12上开设有锁紧螺纹孔123，锁紧螺纹孔123沿滑块12的滑移方向贯穿滑块12，锁紧螺纹孔123处螺纹连接有锁紧螺栓14，锁紧螺栓14的一端穿过滑块12后与环规部21相抵，进而使环规部21和块规部22抵紧。这样，通过转动锁紧螺栓使其与环规部相抵，进一步减小环规部和块规部之间的间隙，使校对件更加趋近与标准件，提高校对装置的校对精度。

本实施例中，环规部21包括第一基准面212、第二基准面213、第三基准面214、第四基准面215和第五基准面216，校对基准面211位于第一基准面212和第二基准面213之间，校对基准面211的一端和第一基准面212的一端通过第三基准面214相连，校对基准面211的另一端和第二基准面213的另一端通过第四基准面215相连，第四基准面215的另一端和第三基准面214的另一端通过第五基准面216相连；第一基准面212、第二基准面213、第三基准面214和第四基准面215均为平面，环规部21的第一基准面212和第二基准面213分别与两个滑轨11的侧面相抵，两个环规部21的第三基准面214分别与其中一个块规部22的两端相抵，两个环规部21的第四基准面215分别与另一个环规部21的两端相抵，两个环规部21的两个第五基准面216与滑块12和\或锁紧螺栓14相抵；第五基准面216为标准环规的外圆面，校对基准面211为标准环规的内圆面。这样，环规部21通过第一基准面212和第二基准213面分别与两个滑轨12的侧面相抵，还通过两个环规部21上的两个第三基准面214分别与一个环规部21的两端相抵，两个环规部21上的两个第四基准面215分别与另一个环规部21的两端相抵，进而面与面的抵接能够保证锁紧空间内环规部和块规部姿态的正确，使校对件更加趋近与标准件，提高校对装置的校对精度。

本实施例中，第一基准面212的粗糙度和第二基准面213的粗糙度均≤0.4μm，第一基准面212和第二基准面213的平行度≤0.003mm，第一基准面212和第三基准面214的垂直度≤0.003mm，第二基准面213和第四基准面215的垂直度≤0.003mm；滑块12上的滑移口121内两个相对设置的侧壁的平行度≤0.003mm，滑块12上的滑移口121的相连的两个侧壁的垂直度≤0.003mm，滑移口121内侧壁的粗糙度均≤0.4μm；滑轨11上位于相对位置的两个侧面的平行度≤0.005mm，滑轨11上两个相连侧面的垂直度≤0.003mm，滑轨11侧面的粗糙度均≤0.4μm。这样，保证校对装置内各部件的位置精度和配合精度，提高校对装置的准确性。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种内径百分表的校对方法，其特征在于：具体步骤如下：

1)根据待检测工件内孔的孔径，选择两个长度一致的块规部(22)；

2)将两个块规部(22)置于两个环规部(21)之间，通过锁紧件(1)使两个环规部(21)与两个块规部(22)抵紧，使两个环规部(21)和两个块规部(22)围合成一校对空间(23)；

3)将内径百分表底部的测量头插入校对件(2)内侧的校对空间(23)，测量头的两端分别与校对空间(23)内的两个弧形的校对基准面(211)相抵；

4)将内径百分表进行左右摆动和上下摆动，使内径百分表底部的测量头的两端分别沿两个校对基准面(211)滑动，在找到两个校对基准面(211)的最大距离后，调整内径百分表的表头使内径百分表的指针归零时，进而完成校对。

2.根据权利要求1所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：两个环规部(21)左右方向设置，两个块规部(22)上下方向设置，两个环规部(21)的上侧段通过一个块规部(22)相抵，两个环规部(21)的下侧段通过另一个块规部(22)相抵，两个校对基准面(211)分别设置在两个环规部(21)上；上述步骤1)中，通过选择与工件内孔的孔径长度相匹配的块规部，进而改变两个校对基准面的最大距离。

3.根据权利要求2所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：块规部(22)由一个标准块规组成，或由多个标准块规拼合而成。

4.根据权利要求2所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：锁紧件(1)包括两个滑轨(11)和两个滑块(12)，任一滑块(12)均与两个滑轨(11)滑动配合，滑块(12)能够通过紧固件固定在滑轨(11)上，两个滑轨(11)与两个滑块(12)围合成锁紧空间(13)，两个环规部(21)和两个块规部(22)均位于锁紧空间(13)内；两个滑轨(11)将来两个环规部(21)夹紧，两个滑块(12)分别与两个环规部(21)相抵，进而将环规部(21)和块规部(22)抵紧。

5.根据权利要求4所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：滑块(12)的同一侧面上开设有两个滑移口(121)，两个滑移口(121)均贯穿滑块(12)，同一滑块(12)上的两个滑移口(121)分别与两个滑轨(11)滑动配合，滑块(12)的两端均开设有定位螺纹孔(122)，两个定位螺纹孔(122)分别两个滑移口(121)联通，定位螺纹孔(122)处螺纹连接有定位螺栓，定位螺栓的一端能够穿过定位螺纹孔(122)与滑移口(121)内的滑轨(11)相抵；通过两个滑块(12)的四个锁紧螺栓使得两个滑轨(11)将两个环规部(21)夹紧。

6.根据权利要求4所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：滑块(12)上开设有锁紧螺纹孔(123)，锁紧螺纹孔(123)沿滑块(12)的滑移方向贯穿滑块(12)，锁紧螺纹孔(123)处螺纹连接有锁紧螺栓(14)，锁紧螺栓(14)的一端穿过滑块(12)后与环规部(21)相抵，进而使环规部(21)和块规部(22)抵紧。

7.根据权利要求5所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：环规部(21)包括校对基准面(211)、第一基准面(212)、第二基准面(213)、第三基准面(214)、第四基准面(215)和第五基准面(216)，校对基准面(211)位于第一基准面(212)和第二基准面(213)之间，校对基准面(211)的一端和第一基准面(212)的一端通过第三基准面(214)连接，校对基准面(211)的另一端和第二基准面(213)的一端通过第四基准面(215)连接，第四基准面(215)的另一端和第三基准面(214)的另一端通过第五基准面(216)相连；第一基准面(212)和第二基准面(213)分别与两个滑轨(11)的侧面相抵，两个环规部(21)上的两个第三基准面(214)分别与一个环规部(21)的两端相抵，两个环规部(21)上的两个第四基准面(215)分别与另一个环规部(21)的两端相抵，两个环规部(21)的两个第五基准面(216)分别与滑块(12)和\或锁紧螺栓(14)相抵。

8.根据权利要求7所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：两个环规部(21)是由一个标准环规分切后研磨而成，第五基准面为(216)标准环规的外圆面，两个环规部(21)上的校对基准面(211)均为半圆面，校对基准面(211)为标准环规的内圆面。

9.根据权利要求7所述的一种内径百分表的校对方法，其特征在于：同一滑块(12)上的两个滑移口(121)的间距不大于环规部(21)上第一基准面(212)和第二基准面(213)的间距。

10.一种内径百分表校对装置，其特征在于：采用上述权利要求1-9中任意一项所述的一种内径百分表的校对方法，校对装置包括内侧具有校对空间(23)的校对件(2)，还包括用于将校对件(2)锁紧的锁紧件(1)。

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