CN217971976U - 一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，包括安装架，所述安装架上固定有电机，且电机输出轴末端固定有辊轮，并且辊轮轴承连接在安装架上，同时辊轮上连接有表面为粗糙结构的输送带；还包括：限位板，对称设置在所述输送带上方，且限位板上轴承连接有螺纹杆；横板，固定在所述安装架上，且横板上固定有处理器，并且处理器上连接有操作面板。该可检测厚度的半导体引线框架输送装置，采用可调节的限位机构，可以实现对引线框架的限位输送作用，从而有效避免引线框架输送过程中产生偏移掉落的问题，配合检测机构，可以对输送的引线框架厚度进行检测，从而可以挑拣处残次品，保证产品生产的合格率。

Description

一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置

技术领域

本实用新型涉及引线框架输送装置技术领域，具体为一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置。

背景技术

引线框架是集成电路的芯片载体，主要由铜合金制造而成，具有良好的导电性和导热性，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，在电子信息产业中被广泛运用，在引线框架生成后，需要通过输送装置实现引线框架的传送作用，以便进行后续加工，现有的引线框架输送装置一般采用简单的传送带输送机构实现引线框架的输送作用，这种输送方式在进行使用过程中还存在一定缺陷；

在对引线框架进行输送时，现有的输送装置主要是直接将引线框架放置在传送带上进行输送，稳定性较差，而传送带输送时难以避免产生震动，从而导致引线框架易产生滑动掉落的问题，且在引线框架输送过程中，直接从起点输送至终点，而引线框架生产时难以保证厚度百分百合格，从而导致输送过程中难以对残次品进行检测，进而导致后续加工会产生不合格产品，所以需要针对上述问题进行改进以满足实际需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，以解决上述背景技术中提出输送稳定性较差导致引线框架易产生滑动掉落和不便对厚度不同的残次品进行检测的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，包括安装架，所述安装架上固定有电机，且电机输出轴末端固定有辊轮，并且辊轮轴承连接在安装架上，同时辊轮上连接有表面为粗糙结构的输送带；

还包括：

限位板，对称设置在所述输送带上方，且限位板上轴承连接有螺纹杆；

横板，固定在所述安装架上，且横板上固定有处理器，并且处理器上连接有操作面板，同时处理器上还连接有警示灯，所述处理器下端面连接有红外线测距仪，所述横板下方设置有活动架，且活动架上轴承连接有检测辊，并且检测辊与输送带接触可进行滚动，同时活动架上端还固定有竖杆。

优选的，所述限位板左端固定有弧形板，且限位板和弧形板下端面均连接有滚珠，并且滚珠与输送带接触可进行滚动，通过上述机构构成限位机构，在对引线框架进行输送时，通过弧形板的作用，可以将引线框架导入两组限位板之间，通过限位板的作用，可以实现限位，保证引线框架输送过程中的稳定性，配合滚珠与输送带之间的接触滚动作用，可以避免输送带与限位板之间产生摩擦而损坏。

优选的，所述螺纹杆通过螺纹与安装架相互连接实现调节作用，且螺纹杆的长度大于输送带宽度的一半，通过转动螺纹杆，配合螺纹杆与安装架直接之间的螺纹连接作用，可以调节限位板之间的距离，以便适应对不同尺寸的引线框架进行限位输送。

优选的，所述限位板上垂直固定有连接杆，且连接杆关于限位板的中心线为对称分布，并且连接杆贯穿安装架可进行滑动，通过转动螺纹杆对限位板的位置进行调节时，配合连接杆与安装架之间的滑动作用，可以保证限位板做稳定的线性运动。

优选的，所述活动架上设置有弹簧和滑杆；

弹簧，固定在所述活动架上，且弹簧另一端固定在横板上，并且活动架通过弹簧与横板之间构成弹性机构；

滑杆，垂直对称固定在所述活动架上，且滑杆贯穿横板可进行上下滑动，在对引线框架的厚度进行检测时，通过弹簧的作用，当检测辊与引线框架接触时，可以使活动架受力移动，从而为引线框架的检测提供基础保障，配合滑杆与横板之间的滑动作用，可以保证活动架移动的稳定性。

优选的，所述竖杆贯穿横板可进行上下滑动，且竖杆上端还固定有反光镜，并且反光镜位于红外线测距仪正下方，在活动架移动时，同时带动竖杆和反光镜进行移动，通过红外线测距仪的作用，可以检测反光镜产生的位移，从而实现引线框架厚度的检测作用。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该可检测厚度的半导体引线框架输送装置，采用可调节的限位机构，可以实现对引线框架的限位输送作用，从而有效避免引线框架输送过程中产生偏移掉落的问题，配合检测机构，可以对输送的引线框架厚度进行检测，从而可以挑拣处残次品，保证产品生产的合格率，其具体内容如下：

1.该可检测厚度的半导体引线框架输送装置，设置有限位板，在对引线框架输送过程中，通过螺纹杆可以调节两组限位板之间的距离，以便适应不同尺寸的引线框架进行限位输送，避免引线框架产生偏移滑落；

2.该可检测厚度的半导体引线框架输送装置，设置有反光镜，在引线框架输送至与检测辊接触时，此时检测辊受力向上移动，并带动竖杆和反光镜进行移动，配合红外线测距仪的作用，可以检测反光镜移动的距离，进而实现对引线框架厚度的检测作用，方便快速筛选出残次品，保证产品的质量。

附图说明

图1为本实用新型装置整体俯视结构示意图；

图2为本实用新型安装架侧视剖面结构示意图；

图3为本实用新型图2中A处放大结构示意图；

图4为本实用新型横板侧视结构示意图；

图5为本实用新型限位板立体结构示意图。

图中：1、安装架；2、电机；3、辊轮；4、输送带；5、限位板；501、弧形板；502、滚珠；6、螺纹杆；7、连接杆；8、横板；9、处理器；10、操作面板；11、警示灯；12、红外线测距仪；13、活动架；1301、弹簧；1302、滑杆；14、检测辊；15、竖杆；1501、反光镜。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，包括安装架1，安装架1上固定有电机2，且电机2输出轴末端固定有辊轮3，并且辊轮3轴承连接在安装架1上，同时辊轮3上连接有表面为粗糙结构的输送带4；

还包括：

限位板5，对称设置在输送带4上方，且限位板5上轴承连接有螺纹杆6；

横板8，固定在安装架1上，且横板8上固定有处理器9，并且处理器9上连接有操作面板10，同时处理器9上还连接有警示灯11，处理器9下端面连接有红外线测距仪12，横板8下方设置有活动架13，且活动架13上轴承连接有检测辊14，并且检测辊14与输送带4接触可进行滚动，同时活动架13上端还固定有竖杆15。

限位板5左端固定有弧形板501，且限位板5和弧形板501下端面均连接有滚珠502，并且滚珠502与输送带4接触可进行滚动；螺纹杆6通过螺纹与安装架1相互连接实现调节作用，且螺纹杆6的长度大于输送带4宽度的一半；限位板5上垂直固定有连接杆7，且连接杆7关于限位板5的中心线为对称分布，并且连接杆7贯穿安装架1可进行滑动。

首先根据引线框架的尺寸对限位板5之间的距离进行调节，通过转动螺纹杆6，配合螺纹杆6与安装架1之间的螺纹连接作用，可以带动限位板5进行移动，再配合连接杆7与安装架1之间的滑动作用，可以保证限位板5移动的稳定性，直至调节至合适位置，调节完成后，启动电机2，通过电机2带动辊轮3进行转动，从而带动输送带4进行旋转，通过滚珠502与输送带4之间的接触滚动作用，可以避免输送带4与限位板5摩擦损坏，再将需要输送的引线框架放置在输送带4上，通过输送带4可以带动引线框架进行移动，实现输送作用，当引线框架与弧形板501接触时，通过弧形板501的导向作用，可以使引线框架稳定进入两组限位板5之间，通过限位板5的作用，可以实现引线框架的限位，避免引线框架产生偏移，保证引线框架输送的稳定性。

活动架13上设置有弹簧1301和滑杆1302；弹簧1301，固定在活动架13上，且弹簧1301另一端固定在横板8上，并且活动架13通过弹簧1301与横板8之间构成弹性机构；滑杆1302，垂直对称固定在活动架13上，且滑杆1302贯穿横板8可进行上下滑动；竖杆15贯穿横板8可进行上下滑动，且竖杆15上端还固定有反光镜1501，并且反光镜1501位于红外线测距仪12正下方。

在装置启动时，同时启动红外线测距仪12，并通过操作面板10设置好引线框架厚度的取值范围，在引线框架输送时，当引线框架与检测辊14接触时，此时引线框架通过与输送带4之间的摩擦力可以继续向右移动，且检测辊14受力向上移动，从而带动活动架13向上移动并挤压弹簧1301收缩，配合滑杆1302与横板8之间的滑动作用，可以保证活动架13移动的稳定性，在活动架13移动时，同时带动竖杆15进行移动，从而带动反光镜1501移动，此时通过红外线测距仪12的作用，可以检测反光镜1501移动距离，进而实现对引线框架的厚度进行检测，并将数据传送至处理器9进行分析处理，当检测数据位于设定取值范围内时，装置进行正常输送，当检测数据超出设定取值范围时，此时警示灯11亮起，以便工作人员及时剔除不合格产品。

工作原理：如图1-5所示，在使用该可检测厚度的半导体引线框架输送装置时，首先将整个装置安装好，并通过外界电源为整个装置供电，再根据引线框架的尺寸对限位板5之间的距离进行调节，通过转动螺纹杆6带动限位板5进行移动既可调节限位板5之间的距离，调节完成后，启动电机2，通过电机2带动辊轮3和输送带4进行旋转，再将需要输送的引线框架放置在输送带4上，通过输送带4可以带动引线框架进行移动，实现输送作用，通过限位板5的作用，可以实现引线框架的限位，避免引线框架产生偏移，保证引线框架输送的稳定性；在装置启动时，同时启动红外线测距仪12，并通过操作面板10设置好引线框架厚度的取值范围，在引线框架输送时，当引线框架与检测辊14接触时，此时引线框架通过与输送带4之间的摩擦力可以继续向右移动，且检测辊14受力向上移动并带动活动架13向上移动，从而带动竖杆15和反光镜1501移动，此时通过红外线测距仪12的作用，可以检测反光镜1501移动距离，进而实现对引线框架的厚度进行检测，并将数据传送至处理器9进行分析处理，当检测数据位于设定取值范围内时，装置进行正常输送，当检测数据超出设定取值范围时，此时警示灯11亮起，以便工作人员及时剔除不合格产品，这就是该可检测厚度的半导体引线框架输送装置的工作原理。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，包括安装架(1)，所述安装架(1)上固定有电机(2)，且电机(2)输出轴末端固定有辊轮(3)，并且辊轮(3)轴承连接在安装架(1)上，同时辊轮(3)上连接有表面为粗糙结构的输送带(4)；

其特征在于，还包括：

限位板(5)，对称设置在所述输送带(4)上方，且限位板(5)上轴承连接有螺纹杆(6)；

横板(8)，固定在所述安装架(1)上，且横板(8)上固定有处理器(9)，并且处理器(9)上连接有操作面板(10)，同时处理器(9)上还连接有警示灯(11)，所述处理器(9)下端面连接有红外线测距仪(12)，所述横板(8)下方设置有活动架(13)，且活动架(13)上轴承连接有检测辊(14)，并且检测辊(14)与输送带(4)接触可进行滚动，同时活动架(13)上端还固定有竖杆(15)。

2.根据权利要求1所述的一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，其特征在于：所述限位板(5)左端固定有弧形板(501)，且限位板(5)和弧形板(501)下端面均连接有滚珠(502)，并且滚珠(502)与输送带(4)接触可进行滚动。

3.根据权利要求1所述的一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，其特征在于：所述螺纹杆(6)通过螺纹与安装架(1)相互连接实现调节作用，且螺纹杆(6)的长度大于输送带(4)宽度的一半。

4.根据权利要求1所述的一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，其特征在于：所述限位板(5)上垂直固定有连接杆(7)，且连接杆(7)关于限位板(5)的中心线为对称分布，并且连接杆(7)贯穿安装架(1)可进行滑动。

5.根据权利要求1所述的一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，其特征在于：所述活动架(13)上设置有弹簧(1301)和滑杆(1302)；

弹簧(1301)，固定在所述活动架(13)上，且弹簧(1301)另一端固定在横板(8)上，并且活动架(13)通过弹簧(1301)与横板(8)之间构成弹性机构；

滑杆(1302)，垂直对称固定在所述活动架(13)上，且滑杆(1302)贯穿横板(8)可进行上下滑动。

6.根据权利要求1所述的一种可检测厚度的半导体引线框架输送装置，其特征在于：所述竖杆(15)贯穿横板(8)可进行上下滑动，且竖杆(15)上端还固定有反光镜(1501)，并且反光镜(1501)位于红外线测距仪(12)正下方。

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