CN217865574U - 一种光电器件的测试传递模具 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种光电器件的测试传递模具，在包括测试盒体和盒体盖合机构的测试传递模具中，测试盒体具有设置在矩形底板上的四个侧板，矩形底板与四个侧板形成测试盒体的容纳空间，设置在矩形底板上的至少两个隔板将容纳空间划分为多个用于容纳测试样品的子空间，采用本申请实施例提供的测试传递模具，可以一次性容纳多个光电器件，可以大大缩短测试过程中拿取和放置光电器件的时间，提高测试效率。

Description

一种光电器件的测试传递模具

技术领域

本申请涉及微电子产品测试技术领域，具体而言，涉及一种光电器件的测试传递模具。

背景技术

光电耦合器(optical coupler，简称光耦)，是以光为媒介传输电信号的一种电-光-电转换器件。由于光电耦合器输入输出间互相隔离，电信号传输具有单向性等特点，因而具有良好的电绝缘能力和抗干扰能力，此外光电耦合器还具有体积小、寿命长等优点，因此在多种电路中得到广泛的应用，现已成为种类最多、用途最广的光电器件之一。

高低温试验是高温试验和低温试验的总称，试验目的是评价光电耦合器等光电器件在高温、低温条件下存储和工作的性能。特别是对于光电耦合器，高低温测试是筛选以及评价光耦质量一致性的重要测试项目。当前进行高低温测试时，需要从能够放置数百个光电器件的高低温测试箱(又称为“测试箱体”)中逐一拿取和放置光电器件，导致光电器件的测试效率低下。

实用新型内容

为解决上述问题，本申请实施例的目的在于提供一种光电器件的测试传递模具。

本申请实施例提供了一种光电器件的测试传递模具，包括：测试盒体和盒体盖合机构，盒体盖合机构能够盖合在测试盒体上，以形成用于容纳光电器件的密闭空间；

测试盒体包括：矩形底板、第一侧板、第二侧板、第三侧板、第四侧板和至少两个隔板；其中，第一侧板和第二侧板均与矩形底板的矩形底板长边的长度相同，第三侧板和第四侧板均与矩形底板的矩形底板短边的长度相同；

第一侧板和第二侧板分别固定在矩形底板中的各矩形底板长边上，第三侧板和第四侧板分别固定在矩形底板中的各矩形底板短边上；

至少两个隔板中的各隔板，分别设置在矩形底板上。

本申请实施例提供的方案中，在包括测试盒体和盒体盖合机构的测试传递模具中，测试盒体具有矩形底板以及设置在矩形底板上的四个侧板，矩形底板与四个侧板形成测试盒体的容纳空间，设置在矩形底板上的至少两个隔板将容纳空间划分为多个用于容纳测试样品的子空间。采用本申请实施例提供的测试传递模具，可以一次性容纳多个光电器件，因此可以大大缩短测试过程中拿取和放置光电器件的时间；而且，可以将同批次待测试的数百个光电器件分别放置到多个测试传递模具中，再把该多个测试传递模具放置到测试箱体中，可以一次完成对同批次数百个光电器件的测试，进一步提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请实施例所提供的一种光电器件的测试传递模具中测试盒体的俯视图；

图2示出了本申请实施例所提供的测试盒体的正视图；

图3示出了本申请实施例所提供的测试盒体的侧视图；

图4示出了本申请实施例所提供的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的俯视图；

图5示出了本申请实施例所提供的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的正视图；

图6示出了本申请实施例所提供的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的左侧视图；

图7示出了本申请实施例所提供的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的右侧视图。

图标：100、矩形底板；102、第一侧板；104、第二侧板；106、第三侧板；108、第四侧板；110、隔板；1000、第一嵌合部；1002、第二嵌合部；1004、台阶结构。

具体实施方式

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或部件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个部件内部的连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

对于光电耦合器等光电器件，在进行高低温试验时，按照高低温试验的规范要求，需将测试样品置于测试箱体内，当测试箱体内的温度达到测试要求温度时，测试样品需在该测试温度下保持预设时间(通常不少于三十分钟)后将测试样品取出并进行性能测试，且需要在测试样品离开高低温测试箱十秒钟内完成测试，避免因温度发生明显波动而导致测试结果不准确。现阶段，高低温测试过程中多采用两人配合的方式，由其中一人打开测试箱体的箱门取出测试样品并交由另一人进行测试。但是在打开箱门的过程中，环境温度会对测试箱体内温度造成影响，导致测试箱体内温度发生明显波动，若继续取出样品进行测试则显然无法保证测试结果的准确性，而若重新等待测试箱体内温度恢复到测试温度并稳定维持预设时间则又会导致测试周期延长，影响测试效率。

为此，一种改进的测试方式，是采用单人侧抽拾取测试样品的方式进行测试，即对测试箱体进行改造，在测试箱体两侧开设两个尺寸相对较小的窗口并在窗口处均设置抽屉结构，以将测试样品通过抽屉送入测试箱体内，待温度达到预设温度并保持预设时间后迅速将抽屉抽出，将测试样品从测试箱体内取出以进行后续测试。这样一方面可以缩短测试样品从测试箱体取出到测试台之间的传递时间，保证测试数据的准确性；另一方面，相对于打开箱门来说，采用抽屉的方式可以最大限度上避免环境温度对箱体内温度的干扰。又因为测试箱体处于两台测试设备之间，同时开设的两个窗口可方便相同测试条件的不同样品由两侧人员共同使用。经过实践，每次抽拉抽屉虽然仍会造成测试箱体内些许的温度波动，但是每次温度波动后仅需等待3分钟左右即可恢复到测试温度，相较于两人配合的方式，能够提高测试效率。

但是经过进一步验证，由于抽屉尺寸较长，在逐一取出抽屉内的测试样品时，位于抽屉内侧的测试样品不易取出，这会影响测试效率；而且，因为需要严格控制窗口尺寸，避免影响测试箱体内温度，导致抽屉空间有限，且测试样品通常按批次测试，在一个批次需要测试几十个甚至几百个样品的情况下，经常会发生抽屉不能完全容纳同批次测试样品的情况，导致同批次测试样品无法同时进行测试，导致测试效率较低。因此，如何进一步提高测试效率，是亟待解决的问题。

基于此，本申请实施例提出一种光电器件的测试传递模具，在测试过程中，可将同一批次的测试样品分别放置到多个测试传递模具中，然后将多个测试传递模具置于测试箱体的“抽屉”中，利用拿取和放置容纳有多个光电器件的测试传递模具的方式替代逐一拿取和放置光电器件的方式，便于测试时拿取测试样品；而且，可以一次完成对同批次测试样品的测试；再者，在等待测试样品温度达到预设温度的过程中，可以使用其他的测试传递模具放置下一批需要测试的测试样品，为对下一批测试样品的测试做准备，提高了测试效率。

在本申请以下实施例中，所述测试样品，就是进行高低温测试的光电器件。所述光电器件，包括但不限于光电耦合器。

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和实施例对本申请做进一步详细的说明。

参见图1所示的光电器件的测试传递模具中测试盒体的俯视图，参见图2所示的测试盒体的正视图，以及图3所示的测试盒体的侧视图，本实施例提出一种光电器件的测试传递模具，包括：测试盒体和盒体盖合机构，盒体盖合机构能够盖合在测试盒体上，以形成用于容纳光电器件的密闭空间。

前述测试盒体具体包括：矩形底板100、第一侧板102、第二侧板104、第三侧板106、第四侧板108和至少两个隔板110。其中，第一侧板102和第二侧板104分别固定在矩形底板100中的各矩形底板长边上，第一侧板102和第二侧板104相互平行，且第一侧板102和第二侧板104均与矩形底板100的矩形底板长边的长度相同；第三侧板106、第四侧板108分别固定在矩形底板100中的各矩形底板短边上，第三侧板106与第四侧板108平行，且第三侧板106和第四侧板108均与矩形底板100的矩形底板短边的长度相同；各隔板110分别设置在矩形底板100上。

通过第一侧板102、第二侧板104、第三侧板106和第四侧板108这四个侧板与矩形底板100形成了顶部开口的、用于放置测试样品的容纳空间。

在测试盒体的尺寸小于测试箱体的抽屉尺寸的前提下，为了方便从测试箱体的抽屉中放置和拿取测试盒体，测试盒体的尺寸可以设置为：长15cm至16cm、宽7cm至8cm，上述测试盒体的尺寸同时也是符合人体舒适抓握的尺寸。

此外，在矩形底板100上还设置有隔板110，将容纳空间分隔成多个子空间。设置在矩形底板100上的隔板110，可以对放置在多个子空间中的测试样品起到隔离作用，使放置在多个子空间中相邻子空间内的测试样品不会因为位移而相互干扰；而且，还可以对放置在多个子空间中的测试样品起到定位作用，比如可以将相同类型的测试样品置于同一子空间中。具体子空间的大小可以根据测试样品的尺寸设置，在本实施例中不做限制。

在本实施例提出的光电器件的测试传递模具中，所有子空间的大小可以是相同的，也可以是不完全相同的，子空间的大小可根据实际待测试的光电器件的尺寸情况调整。

在一个实施方式中，各隔板110分别与矩形底板100的矩形底板长边或者矩形底板短边平行，可以将该容纳空间分隔成多个条形的子空间。

或者在另一个实施方式中，各隔板110相互交错的设置在矩形底板100上，会在容纳空间中形成呈阵列排布的多个子空间，以满足不同尺寸的测试样品的测试需求。

进一步地，为了满足高低温测试环境需求，本实施例提出的光电器件的测试传递模具需导热性能好，且耐寒耐用。经实际测试对比，铝镁合金材料Al-Mg 5052材料具有密度小、强度高且具有良好的导热性的特点，因此选择Al-Mg 5052材料作为光电器件的测试传递模具的制作材料。

本实施例中提供的测试盒体，可以在进行高温测试时单独使用；但对于低温测试来说，由于低温会导致测试盒体表面结霜，进而会影响光电耦合器的测试效果。为了避免结霜对低温测试结果的影响，就需要测试盒体与盒体盖合机构配合，即在测试盒体上盖合盒体盖合机构后再进行测试样品的低温测试。

在本实施例提出的光电器件的测试传递模具中，上述盒体盖合机构可以有以下二种实现方式：

第一种实现方式是盒体盖板。盒体盖合机构为盒体盖板，盒体盖板能够盖合在测试盒体上，与测试盒体一起形成密闭空间；其中，第一侧板102的高度、第二侧板104的高度、第三侧板106的高度、第四侧板108的高度相同且均高于放置在测试盒体内的光电器件的高度，以确保测试样品完全位于测试传递模具内，即测试样品的顶部与盒体盖板之间具有一定的距离，避免测试样品与盒体盖板直接接触而发生变形等情况。

当然，若光电器件具有引脚，即光电器件包括光电器件本体与管脚；那么，光电器件的高度约等于光电器件本体的高度以及引脚的高度之和。那么为了确保测试样品完全位于测试传递模具内，需要光电器件的高度小于测试盒体的上述四个侧板的高度，从而确保测试样品完全位于容纳空间内，防止盖板对测试样品造成损害。

但是为了兼容多种规格、特别是多种尺寸的光电器件，需要增大上述四个侧板的高度，才能确保测试样品完全位于容纳空间内。但较高的侧板会造成测试时从测试盒体中拿取测试样品的不便。

为此，所述盒体盖合机构的第二种实现方式是采用盖合盒体，以解决上述盒体盖合机构采用盒体盖板中的问题。换言之，盒体盖合机构为盖合盒体，盖合盒体能够盖合在测试盒体上，与测试盒体形成密闭空间。

盖合盒体的形状和尺寸与测试盒体的形状和尺寸完全或大致相同，因此以下结合图1至图3中所示的测试盒体对盖合盒体的结构进行详细说明。

具体地，盖合盒体包括：盖合板以及设置在盖合板上的四个侧板和多个间隔板；其中，盖合板的形状与尺寸和矩形底板的形状与尺寸相同；四个侧板包括：两个短侧板和两个长侧板；长侧板的长度与第一侧板的长度相同；短侧板的长度与第三侧板的长度相同；多个间隔板中的各间隔板设置在盖合板上。

盖合盒体中各间隔板在盖合板上的具体设置方式，与测试盒体中各隔板在矩形底板上的设置方式类似，这里不再赘述。当然可以理解的是，测试盒体中的隔板与盖合盒体中的间隔板对应设置，以共同将由测试盒体与盖合盒体形成的密闭空间分隔成多个子空间。

盖合盒体的侧板与测试盒体中侧板的高度之和大于光电器件的高度，使得盖合盒体与测试盒体形成的密闭空间可以有效容纳测试样品，避免在低温测试过程中出现表面结霜的问题。

在一个实施方式中，盖合盒体与测试盒体形成的密闭空间的高度，应该比光电器件的高度高至少2mm。

当然，测试盒体与盖合盒体的侧板高度可以相同或不同。在本实现方式中，测试盒体与盖合盒体的侧板高度相同，即测试盒体与盖合盒体的大小尺寸完全相同；换言之，测试盒体可作为盖合盒体，盖合盒体可作为测试盒体。

为了确保盖合盒体与测试盒体能够有效盖合，在本实施例提出的光电器件的测试传递模具中，测试盒体的第一侧板102、第二侧板104、第三侧板106和第四侧板108中至少部分上设置有第一固定件和/或者第二固定件。相应的，盖合盒体的长侧板和短侧板中至少部分设置有第二固定件和/或者第一固定件；盖合盒体盖合在测试盒体上后，第一固定件与第二固定件连接，使盖合盒体与测试盒体形成密闭空间。

具体的，可以在测试盒体的相对的两个侧板(比如第一侧板102和第二侧板104)上均设置第一固定件；相应的，在盖合盒体相对的两个侧板(比如两个长侧板)上均设置第二固定件，将盖合盒体盖合在测试盒体上，第一固定件与第二固定件连接，使盖合盒体与测试盒体形成密闭空间。或者，可以在测试盒体的相对的两个侧板上分别设置第一固定件和第二固定件，比如第一侧板102上设置第一固定件，第二侧板104上设置第二固定件；相应的，在盖合盒体相对的两个侧板上分别设置第一固定件和第二固定件，比如其中一个长侧板上设置第一固定件，另一个长侧板上设置第二固定件，测试盒体上的第一固定件(和第二固定件)与盖合盒体上的第二固定件(和第一固定件)连接，从而使盖合盒体与测试盒体形成密闭空间。当然，还有其它方式，此处不一一列举。

在一个实施方式中，第一固定件为固定柱，第二固定件为与所述固定柱匹配的固定孔；或者，第一固定件为固定孔，第二固定件为与固定孔匹配的固定柱。

具体的，固定柱和/或者固定孔可以分别设置在盖合盒体和测试盒体的四个端角位置上，或者不相邻的两个端角位置上。

那么在盖合时，将测试盒体的固定柱插入到盖合盒体匹配的固定孔内，和/或者将盖合盒体的固定柱插入到测试盒体匹配的固定孔内，即实现了盖合盒体与测试盒体的盖合。

上述具有固定柱和固定孔的测试盒体和盖合盒体投入使用后，在低温测试时测试盒体和盖合盒体需要配对使用，而高温测试时则单独使用测试盒体即可。

但实践表明，经过一段时间后，并不是所有的测试盒体和盖合盒体都能完全匹配，特别是在经历了多次高温测试和多次低温测试后，固定柱容易发生变形，因此在实际使用过程中存在测试盒体和盖合盒体中的固定柱和固定孔存在不匹配的现象，这种不匹配的现象尤其会影响低温测试的测试效率。

为此，在本实施例提出的光电器件的测试传递模具中，还可以通过将测试盒体和盖合盒体相互嵌合在一起的方式形成密封空间，以解决上述存在的测试盒体和盖合盒体中的固定柱和固定孔不匹配而影响低温测试的测试效率的问题。

具体地，参见图4所示的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的俯视图、参见图5所示的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的正视图、参见图6所示的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的左侧视图、以及参见图7所示的能够相互嵌合的测试盒体和盖合盒体的右侧视图，测试盒体中的第三侧板106和第四侧板108分别设置有第一嵌合部1000和/或者第二嵌合部1002。相应的，盖合盒体的两个短侧板上分别设置有第一嵌合部和/或者第二嵌合部。当盖合盒体盖合在测试盒体上后，第三侧板106和第四侧板108上的第一嵌合部1000分别嵌合在盖合盒体的两个短侧板上设置的第二嵌合部内，第三侧板106和第四侧板108上的第二嵌合部1002分别嵌合在盖合盒体的两个短侧板上设置的第一嵌合部内，使盖合盒体与测试盒体形成密闭空间。

具体地，在测试盒体中的第三侧板106和第四侧板108均设有第一嵌合部1000；相应的，在盖合盒体的两个短侧板上均设有第二嵌合部；当将盖合盒体盖合在测试盒体上后，第三侧板106和第四侧板108上的第一嵌合部1000分别嵌合在盖合盒体的对应短侧板上，形成密闭空间。或者，在测试盒体中的第三侧板106上设置第一嵌合部1000，并在第四侧板108上设置第二嵌合部1002；相应的，在盖合盒体的两个短侧板中，其中一个设置第二嵌合部，另一个设置第一嵌合部。当然，还有其它可行的情况，不再赘述。

可选地，测试盒体中的第一侧板102和第二侧板104分别设置有第一嵌合部1000和/或者第二嵌合部1002；盖合盒体的两个长侧板上分别设置有第一嵌合部和/或者第二嵌合部；盖合盒体盖合在测试盒体上后，第一侧板102和第二侧板104上的第一嵌合部1000嵌合在盖合盒体的两个长侧板上设置的第二嵌合部内，第一侧板102和第二侧板104上的第二嵌合部1002嵌合在盖合盒体的两个长侧板上设置的第一嵌合部内，使盖合盒体与测试盒体形成密闭空间。

具体地，在测试盒体中的第一侧板102和第二侧板104均设有第一嵌合部1000；相应的，在盖合盒体的两个长侧板上均设有第二嵌合部；当将盖合盒体盖合在测试盒体上后，第一侧板102和第二侧板104上的第一嵌合部1000分别嵌合在盖合盒体的对应长侧板上，形成密闭空间。或者，在测试盒体中的第一侧板102上设置第一嵌合部1000，并在第二侧板104上设置第二嵌合部1002；相应的，在盖合盒体的两个长侧板中，其中一个设置第二嵌合部，另一个设置第一嵌合部。当然，还有其它可行的情况，不再赘述。

在一个实施方式中，第一嵌合部1000为凸起部，第二嵌合部1002为凹陷部；或者，第一嵌合部1000为凹陷部，第二嵌合部1002为凸起部。

这样当测试盒体和盖合盒体盖合时，盖合盒体的凹陷部/凸起部与测试盒体的凸起部/凹陷部镶嵌配合，形成密闭空间。由于无需在测试盒体和盖合盒体中设置固定柱和固定孔来形成密闭空间，解决了上述测试盒体和盖合盒体中的固定柱和固定孔存在不匹配的问题，也就解决了低温测试的测试效率的问题。

进一步地，在本实施例提出的光电器件的测试传递模具中，第一侧板102、第二侧板104、以及长侧板均具有相同的台阶结构1004。测试盒体的第一侧板102和第二侧板104的台阶结构1004能够分别与盖合盒体的两个长侧板的台阶结构严丝合缝地扣合，形成密封空间。

进一步参考图5，第一侧板102、第二侧板104和长侧板的台阶结构1004(从右至左)依次包括第一段结构至第五段结构，其中，第一段结构和第五段结构的高度和长度均一致，第二段结构低于第一段结构，第三段结构高于第二段结构而形成一个台阶，第四段结构高于第三段结构而形成另一个台阶，第四段结构高于第五段结构而形成又一个台阶。并且第二段结构与第四段结构的长度相同且两个台阶的高度相同。

上述图5所示的台阶结构仅为示意，可以采用现有任何其他形状的台阶形成第一侧板、第二侧板和长侧板，这里不再一一赘述。

而且，测试盒体的第一侧板102和第二侧板104的台阶结构1004与盖合盒体的两个长侧板的台阶结构，可以在测试盒体与盖合盒体盖合到一起时降低第一侧板102和第二侧板104与两个长侧板接触边缘的磨损程度，避免磨损程度过大而导致扣合不严的缺陷。

本实用新型提供的一种光电器件的测试传递模具，具有重量轻，实验误差小、测试结果准确、测试效率高、且方便拿取测试样品的特点。

在使用本实施例提出的光电器件的测试传递模具和测试箱体进行高低温测试时，拾取测试样品的时间缩短到6s/次，测试样品的效率达到800个/天，比不使用本实施例提出的光电器件的测试传递模具进行高低温测试时的效率提升了1.5倍左右。

综上所述，本实施例提出一种光电器件的测试传递模具，在包括测试盒体和盒体盖合机构的测试传递模具中，测试盒体具有设置在矩形底板上的四个侧板，矩形底板与四个侧板形成测试盒体的容纳空间，设置在矩形底板上的多个隔板将容纳空间划分为多个用于容纳测试样品的子空间。采用本申请实施例提供的测试传递模具，可以一次性容纳多个光电器件，因此可以大大缩短测试过程中拿取和放置光电器件的时间；而且，可以将同批次待测试的数百个光电器件分别放置到多个测试传递模具中，再把该多个测试传递模具放置到测试箱体中，可以一次完成对同批次数百个光电器件的测试，大大提高了测试效率。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种光电器件的测试传递模具，其特征在于，包括：测试盒体和盒体盖合机构，所述盒体盖合机构能够盖合在所述测试盒体上，以形成用于容纳所述光电器件的密闭空间；

所述测试盒体包括：矩形底板、第一侧板、第二侧板、第三侧板、第四侧板和至少两个隔板；其中，所述第一侧板和所述第二侧板均与所述矩形底板的矩形底板长边的长度相同，所述第三侧板和所述第四侧板均与所述矩形底板的矩形底板短边的长度相同；

所述第一侧板和所述第二侧板分别固定在所述矩形底板中的各所述矩形底板长边上，所述第三侧板和所述第四侧板分别固定在所述矩形底板中的各所述矩形底板短边上；

至少两个所述隔板中的各隔板，分别设置在所述矩形底板上。

2.根据权利要求1所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，各所述隔板，分别与所述矩形底板的矩形底板长边或者矩形底板短边平行；

或者，

各所述隔板，相互交错的设置在所述矩形底板上。

3.根据权利要求1或者2所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述盒体盖合机构为盒体盖板，所述盒体盖板能够盖合在所述测试盒体上，与所述测试盒体一起形成密闭空间；

其中，所述第一侧板的高度、所述第二侧板的高度、所述第三侧板的高度、所述第四侧板的高度相同且均高于放置在所述测试盒体内的光电器件的高度。

4.根据权利要求1或者2所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述盒体盖合机构为盖合盒体，所述盖合盒体能够盖合在所述测试盒体上，与所述测试盒体形成密闭空间；

所述盖合盒体，包括：盖合板以及设置在所述盖合板上的侧板和多个间隔板；其中，所述盖合板的形状与尺寸和所述矩形底板的形状与尺寸相同；所述侧板包括：两个短侧板和两个长侧板；所述长侧板的长度与所述第一侧板的长度相同；所述短侧板的长度与所述第三侧板的长度相同；所述多个间隔板中的各间隔板设置在所述盖合板上；

所述盖合盒体的侧板与所述测试盒体中第一侧板、所述第二侧板、所述第三侧板或者第四侧板的高度之和大于所述光电器件的高度。

5.根据权利要求4所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述测试盒体的所述第一侧板、所述第二侧板、所述第三侧板和第四侧板中，至少部分设置有第一固定件和/或者第二固定件；

盖合盒体的长侧板和短侧板中至少部分设置有第二固定件和/或者第一固定件；

所述盖合盒体盖合在所述测试盒体上后，所述第一固定件与所述第二固定件连接，使所述盖合盒体与所述测试盒体形成密闭空间。

6.根据权利要求5所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述第一固定件为固定柱，所述第二固定件为与所述固定柱匹配的固定孔；或者，

所述第一固定件为固定孔，所述第二固定件为与所述固定孔匹配的固定柱。

7.根据权利要求4所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述测试盒体中的所述第三侧板和所述第四侧板分别设置有第一嵌合部和/或者第二嵌合部；

所述盖合盒体的两个短侧板上分别设置有第一嵌合部和/或者第二嵌合部；

所述盖合盒体盖合在所述测试盒体上后，所述第三侧板和所述第四侧板上的第一嵌合部嵌合在所述盖合盒体的两个短侧板上设置的第二嵌合部内，所述第三侧板和所述第四侧板上的第二嵌合部嵌合在所述盖合盒体的两个短侧板上设置的第一嵌合部内，使所述盖合盒体与所述测试盒体形成密闭空间。

8.根据权利要求4所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述测试盒体中的所述第一侧板和所述第二侧板分别设置有第一嵌合部和/或者第二嵌合部；

所述盖合盒体的两个长侧板上分别设置有第一嵌合部和/或者第二嵌合部；

所述盖合盒体盖合在所述测试盒体上后，所述第一侧板和所述第二侧板上的第一嵌合部嵌合在所述盖合盒体的两个长侧板上设置的第二嵌合部内，所述第一侧板和所述第二侧板上的第二嵌合部嵌合在所述盖合盒体的两个长侧板上设置的第一嵌合部内，使所述盖合盒体与所述测试盒体形成密闭空间。

9.根据权利要求7或8所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述第一嵌合部为凸起部，所述第二嵌合部为凹陷部；或者，

所述第一嵌合部为凹陷部，所述第二嵌合部为凸起部。

10.根据权利要求8所述的光电器件的测试传递模具，其特征在于，所述第一侧板、所述第二侧板、以及所述长侧板均具有相同的台阶结构，所述台阶结构包括依序连接的第一段结构至第五段结构，其中第一段结构和第五段结构的高度和长度均一致，第二段结构低于第一段结构而形成台阶，第三段结构高于第二段结构而形成台阶，第四段结构高于第三段结构而形成台阶，第四段结构高于第五段结构而形成台阶，且第四段结构与第二段结构的长度相同。

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