CN217728530U - 一种可调节的ct头模性能检测专用支架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可调节的CT头模性能检测专用支架，涉及可调节的CT头模性能检测专用支架技术领域，包括方环支撑架和卡紧单元；方环支撑架左右两侧沿上下方向设置有调节单元；卡紧单元包含有圆柱杆、方板、V形槽、头模结构和调节组件，所述方环支撑架内部上下两侧的左右两端分别沿上下方向设置有一个圆柱杆，所述方板的左右两端中部分别通过一个圆柱杆的外侧与方环支撑架的内侧之间沿上下方向滑动连接，通过圆柱杆增加方板沿上下方向的滑动平稳性，将头模结构放置到方环支撑架内部下侧的V形槽内，通过方板向下的滑动实现将头模结构稳固的卡接在V形槽的内部，通过V形槽的设计可实现对多种不同尺寸的头模结构的稳固卡紧作用。

Description

一种可调节的CT头模性能检测专用支架

技术领域

本实用新型涉及可调节的CT头模性能检测专用支架技术领域，具体为一种可调节的CT头模性能检测专用支架。

背景技术

CT即电子计算机断层扫描，它是利用精确准直的X线束、γ射线、超声波等，与灵敏度极高的探测器一同围绕人体的某一部位作一个接一个的断面扫描，具有扫描时间快，图像清晰等特点，可用于多种疾病的检查，CT的工作程序是这样的：它根据人体不同组织对X线的吸收与透过率的不同，应用灵敏度极高的仪器对人体进行测量，然后将测量所获取的数据输入电子计算机，电子计算机对数据进行处理后，就可摄下人体被检查部位的断面或立体的图像，发现体内任何部位的细小病变，CT剂量模体是对CT设备的剂量参数测量时使用的由聚甲基丙烯酸甲酯材料构成的一种统一规定的圆柱形模体，通常有头模和体模两种不同直径规格；

现有的CT头模性能检测专用支架，无法实现对不同直径的CT头模的卡紧作用，对于不同尺寸的CT头模需要更换对应的支架，较为麻烦，且现有的CT头模性能检测专用支架无法很好的实现高度的调节作用，为此，我们提出一种可调节的CT头模性能检测专用支架。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种可调节的CT头模性能检测专用支架，通过圆柱杆增加方板沿上下方向的滑动平稳性，将头模结构放置到方环支撑架内部下侧的V形槽内，通过方板向下的滑动实现将头模结构稳固的卡接在V形槽的内部，通过V形槽的设计可实现对多种不同尺寸的头模结构的稳固卡紧作用，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可调节的CT头模性能检测专用支架，包括方环支撑架和卡紧单元；

方环支撑架：左右两侧沿上下方向设置有调节单元；

卡紧单元：包含有圆柱杆、方板、V形槽、头模结构和调节组件，所述方环支撑架内部上下两侧的左右两端分别沿上下方向设置有一个圆柱杆，所述方板的左右两端中部分别通过一个圆柱杆的外侧与方环支撑架的内侧之间沿上下方向滑动连接，所述方环支撑架的内部下侧和方板的下侧分别开设有一个V形槽，两个V形槽的内侧之间配合卡接有头模结构，所述方环支撑架的上侧设置有与方板的上侧之间配合连接的调节组件。

通过调节组件带动方板在方环支撑架的内侧沿上下方向滑动，通过圆柱杆增加方板沿上下方向的滑动平稳性，将头模结构放置到方环支撑架内部下侧的V形槽内，通过方板向下的滑动实现将头模结构稳固的卡接在V形槽的内部，通过V形槽的设计可实现对多种不同尺寸的头模结构的稳固卡紧作用，通过调节单元实现对方环支撑架上下位置的调节作用，从而实现对卡紧的头模结构高度的调节作用。

进一步的，所述调节组件包含有螺纹轴、轴承和圆环转盘，所述方环支撑架的上侧中部开设有一个通孔，所述方板的上侧中部沿上下方向固定连接有一个螺纹轴，所述螺纹轴的外侧与通孔的内侧之间沿上下方向滑动连接，所述通孔的内侧上端固定连接有轴承，所述轴承的上端外侧固定连接有圆环转盘，所述圆环转盘的内侧与螺纹轴的外侧之间螺纹连接。

通过圆柱杆使方板上侧中部固定的螺纹轴只能沿左右方向滑动，通过外力带动圆环转盘在轴承的外侧转动，在圆环转盘的内侧与螺纹轴的外侧之间的螺纹连接作用下，通过圆环转盘的转动带动螺纹轴在通孔的内侧沿上下方向滑动，通过螺纹轴的滑动带动方板在方环支撑架的内侧沿上下方向滑动。

进一步的，所述调节组件还包含有圆孔二、卡紧杆二和圆槽二，所述圆环转盘的上端开设有圆孔二，所述圆孔二的内侧沿上下方向滑动连接有卡紧杆二，所述方环支撑架的上侧中部沿圆周方向均匀开设有一圈圆槽二，一圈圆槽二位于螺纹轴的外侧，所述卡紧杆二的外侧下端与对应的圆槽二的内侧之间配合卡接。

在圆孔二的作用下使卡紧杆二实现滑动的作用，在卡紧杆二的外侧下端与对应的圆槽二的内侧之间的配合卡接作用下，通过卡紧杆二实现对圆环转盘转动位置的固定作用，从而实现对方板上下滑动位置的固定作用。

进一步的，所述调节单元包含有支撑底板、支撑杆、滑槽一和调节结构，所述方环支撑架的左右两侧分别沿上下方向开设有一个滑槽一，两个滑槽一的内侧分别沿上下方向滑动连接有一个支撑杆，两个支撑杆的下端之间沿左右方向固定连接有一个支撑底板，两个滑槽一的内部内侧上端分别设置有一个与对应的支撑杆的内侧之间配合连接的调节结构。

在支撑底板的支撑作用下，通过调节结构实现对支撑杆在滑槽一内侧上下位置的调节作用，从而实现对方环支撑架上下位置的调节作用，从而实现对卡紧的头模结构高度的调节作用。

进一步的，所述调节结构包含有圆槽一、圆孔一、弹簧和卡紧杆一，两个支撑杆的内侧分别沿上下方向均匀开设有一排圆槽一，两个滑槽一的内部内侧上端分别沿左右方向开设有一个圆孔一，两个圆孔一的内侧内端分别固定连接有一个弹簧，所述卡紧杆一设置有两个，两个卡紧杆一的外侧外端分别与对应的圆槽一的内侧之间配合卡接。

在弹簧的作用下使卡紧杆一在对应的圆孔一的内侧有一个向内的力，在两个卡紧杆一的外侧外端分别与对应的圆槽一的内侧之间的配合卡接作用下，实现对支撑杆在滑槽一内侧上下位置的固定作用，需要调节时，使卡紧杆一的外侧外端分别与对应的圆槽一的内侧之间分离，从而实现对支撑杆在滑槽一内侧上下位置的调节作用。

进一步的，所述调节结构还包含有滑槽二和滑块，两个圆孔一的内部上侧分别沿左右方向开设有一个滑槽二，两个滑槽二的内部上侧贯穿出方环支撑架的上侧左右两端，所述滑块设置有两个，两个滑块各自通过一个卡紧杆一的外侧内端与对应的滑槽二的内侧之间沿左右方向滑动连接。

通过外力带动滑块在对应的滑槽二的内侧沿左右方向滑动，通过滑块的滑动带动卡紧杆一在对应的圆孔一的内侧沿左右方向滑动。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本可调节的CT头模性能检测专用支架，具有以下好处：

1、本可调节的CT头模性能检测专用支架设置有调节单元，在支撑底板的支撑作用下，通过调节结构实现对支撑杆在滑槽一内侧上下位置的调节作用，从而实现对方环支撑架上下位置的调节作用，从而实现对卡紧的头模结构高度的调节作用；

2、本可调节的CT头模性能检测专用支架设置有卡紧单元，在圆孔二的作用下使卡紧杆二实现滑动的作用，通过卡紧杆二实现对圆环转盘转动位置的固定作用，从而实现对方板上下滑动位置的固定作用；

3、通过圆柱杆增加方板沿上下方向的滑动平稳性，将头模结构放置到方环支撑架内部下侧的V形槽内，通过方板向下的滑动实现将头模结构稳固的卡接在V形槽的内部，通过V形槽的设计可实现对多种不同尺寸的头模结构的稳固卡紧作用。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型图1中A处局部放大结构示意图；

图3为本实用新型图1中B处局部放大结构示意图。

图中：图中：1方环支撑架、2调节单元、21支撑底板、22支撑杆、23滑槽一、24圆槽一、25圆孔一、26弹簧、27卡紧杆一、28滑槽二、29滑块、3卡紧单元、31圆柱杆、32方板、33V形槽、34头模结构、35螺纹轴、36轴承、37圆环转盘、38圆孔二、39卡紧杆二、310圆槽二。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实施例提供一种技术方案：一种可调节的CT头模性能检测专用支架，包括方环支撑架1和卡紧单元3；

方环支撑架1：左右两侧沿上下方向设置有调节单元2；

调节单元2包含有支撑底板21、支撑杆22、滑槽一23和调节结构，方环支撑架1的左右两侧分别沿上下方向开设有一个滑槽一23，两个滑槽一23的内侧分别沿上下方向滑动连接有一个支撑杆22，两个支撑杆22的下端之间沿左右方向固定连接有一个支撑底板21，两个滑槽一23的内部内侧上端分别设置有一个与对应的支撑杆22的内侧之间配合连接的调节结构。

在支撑底板21的支撑作用下，通过调节结构实现对支撑杆22在滑槽一23内侧上下位置的调节作用，从而实现对方环支撑架1上下位置的调节作用，从而实现对卡紧的头模结构34高度的调节作用。

调节结构包含有圆槽一24、圆孔一25、弹簧26和卡紧杆一27，两个支撑杆22的内侧分别沿上下方向均匀开设有一排圆槽一24，两个滑槽一23的内部内侧上端分别沿左右方向开设有一个圆孔一25，两个圆孔一25的内侧内端分别固定连接有一个弹簧26，卡紧杆一27设置有两个，两个卡紧杆一27的外侧外端分别与对应的圆槽一24的内侧之间配合卡接。

在弹簧26的作用下使卡紧杆一27在对应的圆孔一25的内侧有一个向内的力，在两个卡紧杆一27的外侧外端分别与对应的圆槽一24的内侧之间的配合卡接作用下，实现对支撑杆22在滑槽一23内侧上下位置的固定作用，需要调节时，使卡紧杆一27的外侧外端分别与对应的圆槽一24的内侧之间分离，从而实现对支撑杆22在滑槽一23内侧上下位置的调节作用。

调节结构还包含有滑槽二28和滑块29，两个圆孔一25的内部上侧分别沿左右方向开设有一个滑槽二28，两个滑槽二28的内部上侧贯穿出方环支撑架1的上侧左右两端，滑块29设置有两个，两个滑块29各自通过一个卡紧杆一27的外侧内端与对应的滑槽二28的内侧之间沿左右方向滑动连接。

通过外力带动滑块29在对应的滑槽二28的内侧沿左右方向滑动，通过滑块29的滑动带动卡紧杆一27在对应的圆孔一25的内侧沿左右方向滑动。

卡紧单元3：包含有圆柱杆31、方板32、V形槽33、头模结构34和调节组件，方环支撑架1内部上下两侧的左右两端分别沿上下方向设置有一个圆柱杆31，方板32的左右两端中部分别通过一个圆柱杆31的外侧与方环支撑架1的内侧之间沿上下方向滑动连接，方环支撑架1的内部下侧和方板32的下侧分别开设有一个V形槽33，两个V形槽33的内侧之间配合卡接有头模结构34，方环支撑架1的上侧设置有与方板32的上侧之间配合连接的调节组件。

通过调节组件带动方板32在方环支撑架1的内侧沿上下方向滑动，通过圆柱杆31增加方板32沿上下方向的滑动平稳性，将头模结构34放置到方环支撑架1内部下侧的V形槽33内，通过方板32向下的滑动实现将头模结构34稳固的卡接在V形槽33的内部，通过V形槽33的设计可实现对多种不同尺寸的头模结构34的稳固卡紧作用，通过调节单元2实现对方环支撑架1上下位置的调节作用，从而实现对卡紧的头模结构34高度的调节作用。

调节组件包含有螺纹轴35、轴承36和圆环转盘37，方环支撑架1的上侧中部开设有一个通孔，方板32的上侧中部沿上下方向固定连接有一个螺纹轴35，螺纹轴35的外侧与通孔的内侧之间沿上下方向滑动连接，通孔的内侧上端固定连接有轴承36，轴承36的上端外侧固定连接有圆环转盘37，圆环转盘37的内侧与螺纹轴35的外侧之间螺纹连接。

通过圆柱杆31使方板32上侧中部固定的螺纹轴35只能沿左右方向滑动，通过外力带动圆环转盘37在轴承36的外侧转动，在圆环转盘37的内侧与螺纹轴35的外侧之间的螺纹连接作用下，通过圆环转盘37的转动带动螺纹轴35在通孔的内侧沿上下方向滑动，通过螺纹轴35的滑动带动方板32在方环支撑架1的内侧沿上下方向滑动。

调节组件还包含有圆孔二38、卡紧杆二39和圆槽二310，圆环转盘37的上端开设有圆孔二38，圆孔二38的内侧沿上下方向滑动连接有卡紧杆二39，方环支撑架1的上侧中部沿圆周方向均匀开设有一圈圆槽二310，一圈圆槽二310位于螺纹轴35的外侧，卡紧杆二39的外侧下端与对应的圆槽二310的内侧之间配合卡接。

在圆孔二38的作用下使卡紧杆二39实现滑动的作用，在卡紧杆二39的外侧下端与对应的圆槽二310的内侧之间的配合卡接作用下，通过卡紧杆二39实现对圆环转盘37转动位置的固定作用，从而实现对方板32上下滑动位置的固定作用。

本实用新型提供的一种可调节的CT头模性能检测专用支架的工作原理如下：

通过圆柱杆31使方板32上侧中部固定的螺纹轴35只能沿左右方向滑动，通过外力带动圆环转盘37在轴承36的外侧转动，在圆环转盘37的内侧与螺纹轴35的外侧之间的螺纹连接作用下，通过圆环转盘37的转动带动螺纹轴35在通孔的内侧沿上下方向滑动，通过螺纹轴35的滑动带动方板32在方环支撑架1的内侧沿上下方向滑动，通过圆柱杆31增加方板32沿上下方向的滑动平稳性，将头模结构34放置到方环支撑架1内部下侧的V形槽33内，通过方板32向下的滑动实现将头模结构34稳固的卡接在V形槽33的内部，通过V形槽33的设计可实现对多种不同尺寸的头模结构34的稳固卡紧作用，在圆孔二38的作用下使卡紧杆二39实现滑动的作用，在卡紧杆二39的外侧下端与对应的圆槽二310的内侧之间的配合卡接作用下，通过卡紧杆二39实现对圆环转盘37转动位置的固定作用，从而实现对方板32上下滑动位置的固定作用，在支撑底板21的支撑作用下，通过外力带动滑块29在对应的滑槽二28的内侧沿左右方向滑动，通过滑块29的滑动带动卡紧杆一27在对应的圆孔一25的内侧沿左右方向滑动，在弹簧26的作用下使卡紧杆一27在对应的圆孔一25的内侧有一个向内的力，在两个卡紧杆一27的外侧外端分别与对应的圆槽一24的内侧之间的配合卡接作用下，实现对支撑杆22在滑槽一23内侧上下位置的固定作用，需要调节时，使卡紧杆一27的外侧外端分别与对应的圆槽一24的内侧之间分离，从而实现对支撑杆22在滑槽一23内侧上下位置的调节作用，从而实现对方环支撑架1上下位置的调节作用，从而实现对卡紧的头模结构34高度的调节作用。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种可调节的CT头模性能检测专用支架，其特征在于：包括方环支撑架(1)和卡紧单元(3)；

方环支撑架(1)：左右两侧沿上下方向设置有调节单元(2)；

卡紧单元(3)：包含有圆柱杆(31)、方板(32)、V形槽(33)、头模结构(34)和调节组件，所述方环支撑架(1)内部上下两侧的左右两端分别沿上下方向设置有一个圆柱杆(31)，所述方板(32)的左右两端中部分别通过一个圆柱杆(31)的外侧与方环支撑架(1)的内侧之间沿上下方向滑动连接，所述方环支撑架(1)的内部下侧和方板(32)的下侧分别开设有一个V形槽(33)，两个V形槽(33)的内侧之间配合卡接有头模结构(34)，所述方环支撑架(1)的上侧设置有与方板(32)的上侧之间配合连接的调节组件。

2.根据权利要求1所述的一种可调节的CT头模性能检测专用支架，其特征在于：所述调节组件包含有螺纹轴(35)、轴承(36)和圆环转盘(37)，所述方环支撑架(1)的上侧中部开设有一个通孔，所述方板(32)的上侧中部沿上下方向固定连接有一个螺纹轴(35)，所述螺纹轴(35)的外侧与通孔的内侧之间沿上下方向滑动连接，所述通孔的内侧上端固定连接有轴承(36)，所述轴承(36)的上端外侧固定连接有圆环转盘(37)，所述圆环转盘(37)的内侧与螺纹轴(35)的外侧之间螺纹连接。

3.根据权利要求2所述的一种可调节的CT头模性能检测专用支架，其特征在于：所述调节组件还包含有圆孔二(38)、卡紧杆二(39)和圆槽二(310)，所述圆环转盘(37)的上端开设有圆孔二(38)，所述圆孔二(38)的内侧沿上下方向滑动连接有卡紧杆二(39)，所述方环支撑架(1)的上侧中部沿圆周方向均匀开设有一圈圆槽二(310)，一圈圆槽二(310)位于螺纹轴(35)的外侧，所述卡紧杆二(39)的外侧下端与对应的圆槽二(310)的内侧之间配合卡接。

4.根据权利要求1所述的一种可调节的CT头模性能检测专用支架，其特征在于：所述调节单元(2)包含有支撑底板(21)、支撑杆(22)、滑槽一(23)和调节结构，所述方环支撑架(1)的左右两侧分别沿上下方向开设有一个滑槽一(23)，两个滑槽一(23)的内侧分别沿上下方向滑动连接有一个支撑杆(22)，两个支撑杆(22)的下端之间沿左右方向固定连接有一个支撑底板(21)，两个滑槽一(23)的内部内侧上端分别设置有一个与对应的支撑杆(22)的内侧之间配合连接的调节结构。

5.根据权利要求4所述的一种可调节的CT头模性能检测专用支架，其特征在于：所述调节结构包含有圆槽一(24)、圆孔一(25)、弹簧(26)和卡紧杆一(27)，两个支撑杆(22)的内侧分别沿上下方向均匀开设有一排圆槽一(24)，两个滑槽一(23)的内部内侧上端分别沿左右方向开设有一个圆孔一(25)，两个圆孔一(25)的内侧内端分别固定连接有一个弹簧(26)，所述卡紧杆一(27)设置有两个，两个卡紧杆一(27)的外侧外端分别与对应的圆槽一(24)的内侧之间配合卡接。

6.根据权利要求5所述的一种可调节的CT头模性能检测专用支架，其特征在于：所述调节结构还包含有滑槽二(28)和滑块(29)，两个圆孔一(25)的内部上侧分别沿左右方向开设有一个滑槽二(28)，两个滑槽二(28)的内部上侧贯穿出方环支撑架(1)的上侧左右两端，所述滑块(29)设置有两个，两个滑块(29)各自通过一个卡紧杆一(27)的外侧内端与对应的滑槽二(28)的内侧之间沿左右方向滑动连接。

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