CN217639221U - 一种测试b2b连接器的刀片式探针机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于连接器测试设备技术领域，具体公开一种测试B2B连接器的刀片式探针机构。该机构包括自上而下依次浮动连接的装配基座、中间导向压块和刀片式探针模组；所述刀片式探针模组自上而下依次浮动连接设置有信号转接板模组、探针模组和B2B连接器模组；所述探针模组包括两组定位排列的刀片式探针，所述刀片式探针的上端接触导通信号转接板模组，下端通过仿型接触部接触导通B2B连接器模组的连接器弹片。本实用新型提供的用于测试B2B连接器的刀片式探针机构，通过刀片式探针模组取代Pogopin微型探针来实现B2B连接器的测试，以满足测试过程中大电流、低阻抗的测试需求，且结构简单紧凑、加工成本低、测试可靠、维护方便。

Description

一种测试B2B连接器的刀片式探针机构

技术领域

本实用新型属于连接器测试设备技术领域，具体涉及一种测试B2B连接器的刀片式探针机构。

背景技术

随着科技的发展，电子产品尺寸越来越小，连接器尺寸也随之减小，而传输的信号却越来越多，同时，对电子产品的制程效率、良率要求也日益提高。在不断要求提高电子产品制程效率的同时，也逐步加强对于产品功能测试设备的研制和优化升级。

B2B连接器又称板到板连接器(Board to Board)，被广泛应用到电子产品上用来传输信号。由于B2B连接器通常体积都非常小，导致B2B连接器上负责信号导出的弹片尺寸也非常小、相邻的弹片间距也很小。针对B2B连接器的测试，一般采用装载Pogopin微型探针的Pogoblock针块结构，但Pogopin微型探针所能通过的电流要求也是有所限制的，通常所能通过电流≤2A/单个探针)；B2B连接器测试普遍涉及高频信号和大电流(≥5A/单个弹片)的传输及测试，Pogopin微型探针与B2B连接器的弹片接触阻抗，将直接影响高频信号传输效率及测试良率；提高B2B连接器测试的效率和良率已成为了一个亟待解决的问题。

现有技术中，专利文献CN202011070852.X公开了一种连接器测试探针模组，包括：一载体，所述载体内设置有内腔；一弹片，所述弹片包含：一弹性部，所述弹性部位于所述内腔中；一头部，所述头部与所述弹性部的一端连接，并且头部伸出所述载体；一尾部，所述尾部与所述弹性部的另一端连接，并且尾部伸出所述载体。该技术方案中的连接器测试探针模组，解决了现有测试模组存在测试不稳定以及电阻大的问题；但是该技术方案存在以下缺陷： (1)在测试时，与连接器弹片接触的方式只有三个点，可通过的电流极其有限，不可作大电流通过使用，强行通过大电流会使测试模组损坏；(2)在测试时，与连接器弹片接触的方式只有三个点，存在与B2B连接器的弹片接触不良导致阻抗变大，测试良率无法保障。

实用新型内容

本实用新型旨在针对现有技术的上述问题，提供一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，通过刀片式探针模组取代Pogopin微型探针来实现B2B连接器的测试，以满足测试过程中大电流、低阻抗的测试需求，且结构简单紧凑、加工成本低、测试可靠、维护方便。

为实现以上技术目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，包括自上而下依次浮动连接的装配基座、中间导向压块和刀片式探针模组；

所述刀片式探针模组自上而下依次浮动连接设置有信号转接板模组、探针模组和B2B连接器模组；所述探针模组包括两组定位排列的刀片式探针，所述刀片式探针的上端接触导通信号转接板模组，下端通过仿型接触部接触导通B2B连接器模组的连接器弹片。

进一步地，所述信号转接板模组包括信号转接板压块、信号转接板和信号转接板定位块；所述探针模组包括刀片式探针和刀片式探针固定块；所述B2B连接器模组包括B2B连接器、连接器定位座和连接器定位座限位块；

所述信号转接板压块通过斜对角设置的两个连接长螺栓固定连接在信号转接板上端；两个所述连接长螺栓的下端依次间隙浮动穿过信号转接板定位块和刀片式探针固定块上设置的通孔，固定连接在连接器定位座限位块上；所述信号转接板定位块、刀片式探针固定块和连接器定位座限位块之间通过普通螺栓固定连接；

所述刀片式探针固定块内定位放置有刀片式探针；所述连接器定位座限位块内放置有连接器定位座，所述连接器定位座内部定位放置有B2B连接器。

更进一步地，所述刀片式探针通过工字梳齿槽块定位排列成两组，所述工字梳齿槽块浮动放置在刀片式探针固定块开设的探针通孔槽中，且与探针通孔槽的内壁保持0.02mm的间隙。

更进一步地，所述刀片式探针包括上接触端、中间弯折连接部和下接触端；所述上接触端为锥型，所述中间弯折连接部为连续的S型，所述下接触端设置有圆弧型的仿型接触部；

所述刀片式探针的中间弯折连接部定位放置在工字梳齿槽块的梳齿槽中；上接触端穿过信号转接板定位块底部开设的通孔槽，接触导通连接信号转接板底部；下接触端插入连接在 B2B连接器的连接器槽孔中，且与连接器槽孔中的圆弧型弯折的连接器弹片仿型接触。

更进一步地，所述连接器定位座为两侧设置有挂耳、中间下沉的U型槽结构，所述连接器定位座通过两测的挂耳嵌入在连接器定位座限位块内部开设的阶梯槽孔中，中间下沉的U 型槽底部用于放置B2B连接器。

更进一步地，所述连接器定位座的两侧挂耳与刀片式探针固定块之间设置有若干个缓冲弹簧。

进一步地，所述信号转接板定位块、刀片式探针固定块和连接器定位座限位块三个部件之间斜相对设置有两个第二浮动导向销。

更进一步地，所述中间导向压块通过若干个压块等高螺丝浮动连接在装配基座底端，所述刀片式探针模组通过若干个探针模组等高螺丝浮动连接在中间导向压块底端。

更进一步地，所述装配基座和中间导向压块之间设置有若干个防过压弹簧；所述中间导向压块和刀片式探针模组之间设置有若干个浮动弹簧。

更进一步地，所述中间导向压块和装配基座之间设置有两个第一浮动导向销，所述装配基座上端设置有两个装配定位销。

与现有技术相比，本实用新型所产生的有益效果是：

(1)本实用新型采用刀片式探针模组，两组刀片式探针定位放置在工字梳齿槽块中，刀片式探针的下接触端与B2B连接器的弹片为圆弧段仿型定位接触，接触面积大、接触紧密牢固，通过大面积的接触可有效满足测试时的大电流通过要求(≥5A/单个弹片)，通过良好紧密的接触可避免接触不良的情况发生，大大减少阻抗值，使得测试良率得以保障；

(2)本实用新型提供的刀片式探针机构，其中的装配基座、中间导向压块和刀片式探针模组之间均采用浮动连接结构，中间分别设置有防过压弹簧和浮动弹簧，同时在刀片式探针模组的信号转接板模组和探针模组之间设置有缓冲弹簧；另外，在中间导向压块和装配基座之间设置有两个第一浮动导向销，在信号转接板定位块、刀片式探针固定块和连接器定位座限位块三个部件之间斜相对设置有两个第二浮动导向销；通过上述结构能够在测试下压时实现精准精准定位、且能有效保护待测产品免受压损，结构简单紧凑、加工成本低，测试可靠、维护方便。

附图说明

图1为本实用新型实施例的刀片式探针机构整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例的刀片式探针机构整体爆炸结构示意图；

图3为本实用新型实施例的刀片式探针模组爆炸结构示意图；

图4为本实用新型实施例的B2B连接器结构示意图；

图5为本实用新型实施例的刀片式探针和B2B连接器仿型配合结构示意图；

图6为图5中的A处局部放大结构示意图；

图中标记说明：

1-装配基座；2-中间导向压块；3-刀片式探针模组，4-装配定位销，5-防过压弹簧，6-第一浮动导向销，7-压块等高螺丝，8-浮动弹簧，9-探针模组等高螺丝；

31-信号转接板模组，32-探针模组，33-B2B连接器模组，34-连接长螺栓，35-普通螺栓， 36-第二浮动导向销；

311-信号转接板压块，312-信号转接板，313-信号转接板定位块；

321-刀片式探针，322-刀片式探针固定块，323-工字梳齿槽块，324-探针通孔槽；

331-B2B连接器，332-连接器定位座，333-连接器定位座限位块，334-缓冲弹簧；

3211-上接触端，3212-中间弯折连接部，3213-下接触端；

3311-连接器槽孔，3312-连接器弹片。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端”、“顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

结合图1-6所示，本实用新型提供了一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，自上而下依次为装配基座1、中间导向压块2和刀片式探针模组3(参见图1和图2)；所述中间导向压块2通过4个压块等高螺丝7浮动连接在装配基座1底端，所述刀片式探针模组3通过4 个探针模组等高螺丝9浮动连接在中间导向压块2底端。

在本实施例中，结合图2所示，所述装配基座1上端设置有两个装配定位销10；所述装配基座1和中间导向压块2之间设置有4个防过压弹簧5和两个第一浮动导向销6；所述中间导向压块2和刀片式探针模组3之间设置有4个浮动弹簧8；通过浮动等高螺丝、弹簧和导向销等构成的浮动下压结构，能有效补偿下压时的产品尺寸公差，同时确保下压时的定位精准性，确保各测试部件能够顺利接触导通。

在本实施例中，结合图3所示，所述刀片式探针模组3自上而下依次浮动连接设置有信号转接板模组31、探针模组32和B2B连接器模组33；所述信号转接板模组31包括信号转接板压块311、信号转接板312和信号转接板定位块313；所述探针模组32包括包括两组定位排列的刀片式探针321、用于定位放置刀片式探针321的工字梳齿槽块323和刀片式探针固定块322；所述B2B连接器模组33包括B2B连接器331、连接器定位座332和连接器定位座限位块333；

在本实施例中，所述信号转接板压块311通过斜对角设置的两个连接长螺栓34固定连接在信号转接板312上端；两个所述连接长螺栓34的下端依次间隙浮动穿过信号转接板定位块 313和刀片式探针固定块322上设置的通孔，固定连接在连接器定位座限位块333上；所述信号转接板定位块313、刀片式探针固定块322和连接器定位座限位块333之间通过普通螺栓35固定连接，且在所述信号转接板定位块313、刀片式探针固定块322和连接器定位座限位块333三个部件之间斜相对设置有两个第二浮动导向销36，用于浮动下压时的定位。

在本实施例中，所述刀片式探针321通过工字梳齿槽块323定位排列成两组，所述工字梳齿槽块323浮动放置在刀片式探针固定块322开设的探针通孔槽324中，且与探针通孔槽 324的内壁保持0.02mm的间隙。

在本实施例中，所述连接器定位座限位块333内放置有连接器定位座332；所述连接器定位座332为两侧设置有挂耳、中间下沉的U型槽结构；所述连接器定位座332通过两测的挂耳嵌入在连接器定位座限位块333内部开设的阶梯槽孔中，且在两侧挂耳与刀片式探针固定块322之间设置有4个缓冲弹簧334；所述连接器定位座332的中间下沉U型槽底部用于放置B2B连接器331。

在本实施例中，参见图4-6所示，所述刀片式探针321包括上接触端3211、中间弯折连接部3212和下接触端3213；所述上接触端3211为锥型，所述中间弯折连接部3212为连续的S型，所述下接触端3213设置有圆弧型的仿型接触部；所述刀片式探针321的上端用于接触导通信号转接板模组31，下端通过仿型接触部接触导通B2B连接器模组33的连接器弹片。

在本实施例中，所述刀片式探针321的中间弯折连接部3212定位放置在工字梳齿槽块 323的梳齿槽中；上接触端3211穿过信号转接板定位块313底部开设的通孔槽，接触导通连接信号转接板312底部；下接触端3213插入连接在B2B连接器331的连接器槽孔3311中，且与连接器槽孔3311中的圆弧型弯折的连接器弹片3312仿型接触，可有效增大接触导通面积，利用通过大电流，且接触良好，大大减少阻抗值，使得测试良率得以保障。

在本实施例中，B2B连接器的测试过程为：

首先，将B2B连接器331自动导入连接器定位座322中，装配基座1下压，使得刀片式探针321的下接触端3213露出B2B连接器定位座322，并与B2B连接器331的连接器槽孔3311中的圆弧型连接器弹片3312仿型接触导通；

然后，通过压合后，刀片式探针321与信号转接板312的底部接触导通；

最后，信号转接板312与测试主板连接导通，起到信号传输作用，开始测试B2B连接器。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用以限制本实用新型。凡在本实用新型的申请范围内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，包括自上而下依次浮动连接的装配基座(1)、中间导向压块(2)和刀片式探针模组(3)；

所述刀片式探针模组(3)自上而下依次浮动连接设置有信号转接板模组(31)、探针模组(32)和B2B连接器模组(33)；所述探针模组(32)包括两组定位排列的刀片式探针(321)，所述刀片式探针(321)的上端接触导通信号转接板模组(31)，下端通过仿型接触部接触导通B2B连接器模组(33)的连接器弹片。

2.根据权利要求1所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述信号转接板模组(31)包括信号转接板压块(311)、信号转接板(312)和信号转接板定位块(313)；所述探针模组(32)包括刀片式探针(321)和刀片式探针固定块(322)；所述B2B连接器模组(33)包括B2B连接器(331)、连接器定位座(332)和连接器定位座限位块(333)；

所述信号转接板压块(311)通过斜对角设置的两个连接长螺栓(34)固定连接在信号转接板(312)上端；两个所述连接长螺栓(34)的下端依次间隙浮动穿过信号转接板定位块(313)和刀片式探针固定块(322)上设置的通孔，固定连接在连接器定位座限位块(333)上；所述信号转接板定位块(313)、刀片式探针固定块(322)和连接器定位座限位块(333)之间通过普通螺栓(35)固定连接；

所述刀片式探针固定块(322)内定位放置有刀片式探针(321)；所述连接器定位座限位块(333)内放置有连接器定位座(332)，所述连接器定位座(332)内部定位放置有B2B连接器(331)。

3.根据权利要求2所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述刀片式探针(321)通过工字梳齿槽块(323)定位排列成两组，所述工字梳齿槽块(323)浮动放置在刀片式探针固定块(322)开设的探针通孔槽(324)中，且与探针通孔槽(324)的内壁保持0.02mm的间隙。

4.根据权利要求3所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述刀片式探针(321)包括上接触端(3211)、中间弯折连接部(3212)和下接触端(3213)；所述上接触端(3211)为锥型，所述中间弯折连接部(3212)为连续的S型，所述下接触端(3213)设置有圆弧型的仿型接触部；

所述刀片式探针(321)的中间弯折连接部(3212)定位放置在工字梳齿槽块(323)的梳齿槽中；上接触端(3211)穿过信号转接板定位块(313)底部开设的通孔槽，接触导通连接信号转接板(312)底部；下接触端(3213)插入连接在B2B连接器(331)的连接器槽孔(3311)中，且与连接器槽孔(3311)中的圆弧型弯折的连接器弹片(3312)仿型接触。

5.根据权利要求4所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述连接器定位座(332)为两侧设置有挂耳、中间下沉的U型槽结构，所述连接器定位座(332)通过两测的挂耳嵌入在连接器定位座限位块(333)内部开设的阶梯槽孔中，中间下沉的U型槽底部用于放置B2B连接器(331)。

6.根据权利要求5所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述连接器定位座(332)的两侧挂耳与刀片式探针固定块(322)之间设置有若干个缓冲弹簧(334)。

7.根据权利要求2-6任一项所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述信号转接板定位块(313)、刀片式探针固定块(322)和连接器定位座限位块(333)三个部件之间斜相对设置有两个第二浮动导向销(36)。

8.根据权利要求7所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述中间导向压块(2)通过若干个压块等高螺丝(7)浮动连接在装配基座(1)底端，所述刀片式探针模组(3)通过若干个探针模组等高螺丝(9)浮动连接在中间导向压块(2)底端。

9.根据权利要求8所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述装配基座(1)和中间导向压块(2)之间设置有若干个防过压弹簧(5)；所述中间导向压块(2)和刀片式探针模组(3)之间设置有若干个浮动弹簧(8)。

10.根据权利要求9所述的一种测试B2B连接器的刀片式探针机构，其特征在于，所述中间导向压块(2)和装配基座(1)之间设置有两个第一浮动导向销(6)，所述装配基座(1)上端设置有两个装配定位销(10)。

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