CN217521044U - 一种半导体光学检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体光学检测设备，涉及半导体检测设备相关技术领域，包括支撑座，支撑座的一端固定有检测设备，支撑座的上表面固定安装有支撑板，支撑板的上表面滑动安装有观察板，观察板的上表面一端转动安装有挤压板，观察板的上表面远离挤压板的一端滑动有导向板，导向板的一端设有可控制导向板滑动的螺纹杆，观察板的底部固定安装有滑块，支撑板的上表面开设有与滑块相匹配的滑槽，支撑板的上表面位于滑槽旁开设有定位标记，通过转动螺纹杆使导向板对挤压板进行挤压，从而使挤压板能够对不同尺寸的半导体进行固定，从而使半导体在检测进行位置校准的过程中不会发生晃动，从而提高了对半导体检测的速率。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体检测设备相关技术领域，具体为一种半导体光学检测设备。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，半导体在生产的过程中需要用到检测设备对其进行光学检测来查看是否合格，然而现有技术中的一种半导体光学检测设备存在以下问题：
现有的半导体光学检测设备在对半导体进行检测时，不能对半导体进行固定，从而使半导体在检测校准的过程中容易发生晃动，从而影响半导体检测过程中的校准过程，因此需要一种新型的半导体光学检测设备来解决上述技术问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体光学检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种半导体光学检测设备，包括支撑座，所述支撑座的一端固定有检测设备，所述支撑座的上表面固定安装有支撑板，所述支撑板的上表面滑动安装有观察板，所述观察板的上表面一端转动安装有挤压板，所述观察板的上表面远离挤压板的一端滑动有导向板，所述导向板的一端设有可控制导向板滑动的螺纹杆。
优选地，所述观察板的底部固定安装有滑块，所述支撑板的上表面开设有与滑块相匹配的滑槽，所述支撑板的上表面位于滑槽旁开设有定位标记，通过转动螺纹杆使导向板对挤压板进行挤压，从而使挤压板能够对不同尺寸的半导体进行固定，从而使半导体在检测进行位置校准的过程中不会发生晃动，从而提高了对半导体检测的速率。
优选地，所述观察板的上表面固定有一组固定柱，所述挤压板呈U型状，所述挤压板的U型开口端与固定柱之间转动连接。
优选地，所述挤压板的U型开口端的底部外侧壁固定安装有限位弹簧，所述限位弹簧远离挤压板的一端与观察板的上表面固定连接，所述挤压板的一端固定有固定块。
优选地，所述观察板的一端上表面固定有限位板，所述螺纹杆转动安装在限位板的外侧壁，所述螺纹杆的一端与导向板的一端活动连接。
优选地，所述导向板呈直角三角形状，所述导向板的斜边方向朝向固定块的方向。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：
通过转动螺纹杆使导向板对挤压板进行挤压，从而使挤压板能够对不同尺寸的半导体进行固定，从而使半导体在检测进行位置校准的过程中不会发生晃动，从而提高了对半导体检测的速率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型结构示意图。
图2为本实用新型观察板结构示意图。
图3为本实用新型图2的A处结构放大图。
图中：1、支撑座；2、支撑板；3、检测设备；4、滑槽；5、定位标记；6、观察板；7、螺纹杆；8、滑块；9、导向板；10、限位板；12、挤压板；13、限位弹簧；14、固定柱；15、固定块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例：如图1-3所示，本实用新型提供了一种半导体光学检测设备，包括支撑座1，支撑座1的一端固定有检测设备3，检测设备3为现有技术中的对半导体进行检测的设备，支撑座1的上表面固定安装有支撑板2，支撑板2的上表面滑动安装有观察板6，支撑板2用于对观察板6的支撑，利用观察板6将半导体材质滑动到检测设备3的适当的位置进行观察。
其中，观察板6的底部固定安装有滑块8，支撑板2的上表面开设有与滑块8相匹配的滑槽4，支撑板2的上表面位于滑槽4旁开设有定位标记5，滑槽4为滑块8提供了滑动空间，从而方便滑块8的滑动，滑块8在滑槽4内部的滑动能够使观察板6滑动到适当的位置，定位标记5为观察板6的移动起到定位的效果，用于确定观察板6所移动的位置。
本实施例中，观察板6的上表面一端转动安装有挤压板12，观察板6的上表面远离挤压板12的一端滑动有导向板9，导向板9的一端设有可控制导向板9滑动的螺纹杆7，观察板6的上表面固定有一组固定柱14，挤压板12呈U型状，挤压板12的U型开口端与固定柱14之间转动连接，固定柱14起到支点的作用能够方便挤压板12的转动，U型状的挤压板12能够对半导体挤压后，留有一定的空间来方便检测设备3的观察。
进一步的，挤压板12的U型开口端的底部外侧壁固定安装有限位弹簧13，限位弹簧13远离挤压板12的一端与观察板6的上表面固定连接，挤压板12的一端固定有固定块15，限位弹簧13提供向外侧的弹力能够使挤压板12及时复位，从而起到对半导体固定的作用。
进一步的，观察板6的一端上表面固定有限位板10，螺纹杆7转动安装在限位板10的外侧壁，螺纹杆7的一端与导向板9的一端活动连接，限位板10用于对螺纹杆7的支撑，螺纹杆7转动时不会带动导向板9一起转动，而会对导向板9进行挤压，从而使导向板9发生移动。
进一步的，导向板9呈直角三角形状，导向板9的斜边方向朝向固定块15的方向，导向板9在螺纹杆7的作用下发生移动时，能够使固定块15顺着导向板9的斜边方向升高，从而使挤压板12能够围绕固定柱14发生转动，从而可以调节挤压板12与水平方向的角度，使挤压板12能够适应不同尺寸的半导体对其进行固定，从而使半导体在检测进行位置校准的过程中不会发生晃动，从而提高了对半导体检测的速率。
工作原理：利用导向板9在螺纹杆7的作用下发生移动时，能够使固定块15顺着导向板9的斜边方向升高，从而使挤压板12能够围绕固定柱14发生转动，从而可以调节挤压板12与水平方向的角度，使挤压板12能够适应不同尺寸的半导体对其进行固定，从而使半导体在检测进行位置校准的过程中不会发生晃动，从而提高了对半导体检测的速率，其中滑块8在滑槽4内部的滑动能够使观察板6滑动到适当的位置，定位标记5为观察板6的移动起到定位的效果，用于确定观察板6所移动的位置。
显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (6)
1.一种半导体光学检测设备，包括支撑座(1)，所述支撑座(1)的一端固定有检测设备(3)，其特征在于：所述支撑座(1)的上表面固定安装有支撑板(2)，所述支撑板(2)的上表面滑动安装有观察板(6)，所述观察板(6)的上表面一端转动安装有挤压板(12)，所述观察板(6)的上表面远离挤压板(12)的一端滑动有导向板(9)，所述导向板(9)的一端设有可控制导向板(9)滑动的螺纹杆(7)。
2.如权利要求1所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于，所述观察板(6)的底部固定安装有滑块(8)，所述支撑板(2)的上表面开设有与滑块(8)相匹配的滑槽(4)，所述支撑板(2)的上表面位于滑槽(4)旁开设有定位标记(5)。
3.如权利要求2所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于，所述观察板(6)的上表面固定有一组固定柱(14)，所述挤压板(12)呈U型状，所述挤压板(12)的U型开口端与固定柱(14)之间转动连接。
4.如权利要求3所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于，所述挤压板(12)的U型开口端的底部外侧壁固定安装有限位弹簧(13)，所述限位弹簧(13)远离挤压板(12)的一端与观察板(6)的上表面固定连接，所述挤压板(12)的一端固定有固定块(15)。
5.如权利要求4所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于，所述观察板(6)的一端上表面固定有限位板(10)，所述螺纹杆(7)转动安装在限位板(10)的外侧壁，所述螺纹杆(7)的一端与导向板(9)的一端活动连接。
6.如权利要求5所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于，所述导向板(9)呈直角三角形状，所述导向板(9)的斜边方向朝向固定块(15)的方向。
Priority Applications (1)
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| CN202220873293.4U CN217521044U (zh) | 2022-04-15 | 2022-04-15 | 一种半导体光学检测设备 |
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2022
- 2022-04-15 CN CN202220873293.4U patent/CN217521044U/zh active Active
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