CN217506017U - 一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装 - Google Patents

一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装 Download PDF

Info

Publication number
CN217506017U
CN217506017U CN202221316079.5U CN202221316079U CN217506017U CN 217506017 U CN217506017 U CN 217506017U CN 202221316079 U CN202221316079 U CN 202221316079U CN 217506017 U CN217506017 U CN 217506017U
Authority
CN
China
Prior art keywords
metal
aging test
radio frequency
test tool
frequency amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202221316079.5U
Other languages
English (en)
Inventor
陈圳
邱永峰
苟于华
刘强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Yuxi Electronic Technology Co ltd
Original Assignee
Chengdu Yuxi Electronic Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Yuxi Electronic Technology Co ltd filed Critical Chengdu Yuxi Electronic Technology Co ltd
Priority to CN202221316079.5U priority Critical patent/CN217506017U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN217506017U publication Critical patent/CN217506017U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本实用新型属于电老练技术领域,公开了一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装,包括金属座体,金属座体上呈行列排布凹设有多个限位槽,金属座体顶部可拆卸的安装有盖板,盖板盖设于限位槽上;金属座体内设有金属探针,金属探针上套设有绝缘子,金属探针的顶部位于限位槽内,金属探针与PCB板电性连接,PCB板与插头电性连接。本实用新型的电老练试验工装,QFN封装射频放大器底部与金属座体进行完全接触,使得QFN封装射频放大器射频接地良好。输入输出采用绝缘子和金属探针,形成50欧姆阻抗,使放大器同负载进行良好匹配及正常工作。该电老练试验工装解决了QFN封装射频放大器在电老练过程中带来的产品自激问题。

Description

一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装
技术领域
本实用新型属于电老练技术领域,具体涉及一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装。
背景技术
现有QFN封装射频放大器的电老练试验工装大多采用金属弹簧探针或金属簧片同放大器产品引脚相连的方式,这两种方式实现简单、成本较低,但在信号传输及放大器工作的过程中,金属弹簧探针或金属簧片射频特性较差,无法与放大器输入输出端形成良好的阻抗匹配,会导致放大器形成自激振荡效应,导致放大器无法正常工作或烧毁。
实用新型内容
本实用新型旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。为此,本实用新型目的在于提供一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装。
本实用新型所采用的技术方案为:
一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装,包括金属座体,金属座体上呈行列排布凹设有多个限位槽,金属座体顶部可拆卸的安装有盖板,盖板盖设于限位槽上;金属座体内设有金属探针,金属探针上套设有绝缘子,金属探针的顶部位于限位槽内,金属探针与PCB板电性连接,PCB板与插头电性连接。
优选地,所述金属座体的底部凹设有安装槽,PCB板设于安装槽的顶壁上,插头设于金属座体的侧壁上。
优选地,每个限位槽内设有三根金属探针,每个限位槽背面对应安装有一块PCB板。
优选地,所述金属座体上安装有保护板,保护板盖设于安装槽上。
优选地,所述PCB板通过固定螺丝安装在金属座体上,盖板通过紧固螺丝安装在金属座体顶部。
优选地,所述绝缘子包括两段同轴设置的圆柱形结构,其中两段圆柱形结构的直径不同。
优选地,所述绝缘子由聚四氟乙烯制成。
本实用新型的有益效果为:
本实用新型所提供的一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装,QFN封装射频放大器底部与金属座体进行完全接触,使得QFN封装射频放大器射频接地良好。输入输出采用绝缘子和金属探针,形成50欧姆阻抗,使放大器同负载进行良好匹配及正常工作。该电老练试验工装解决了QFN封装射频放大器在电老练过程中带来的产品自激问题。
附图说明
图1是本实用新型电老练试验工装的立体图。
图2是本实用新型电老练试验工装的剖视图。
图3是本实用新型电老练试验工装的顶部透视图。
图4是本实用新型电老练试验工装的底部透视图。
图中:1-金属座体;2-限位槽;3-盖板;4-金属探针;5-绝缘子;6-PCB板;7-插头;8-安装槽;9-保护板;10-固定螺丝;11-紧固螺丝。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
在本实用新型实施例的描述中,需要说明的是,指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。
下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行进一步的说明。
如图1至图4所示,本实施例的一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装,包括大致为长方体形的金属座体1,如图2所示,金属座体1上呈行列排布凹设有多个限位槽2,限位槽2的形状与QFN封装射频放大器的形状匹配;金属座体1顶部通过紧固螺丝11可拆卸的安装有盖板3,盖板3盖设于限位槽2上,当限位槽2内放置QFN封装射频放大器后,盖板3将QFN封装射频放大器的顶部压住。金属座体1内设有金属探针4,其中每个限位槽2内设有三根金属探针4,金属探针4上套设有绝缘子5,金属探针4的顶部位于限位槽2内,金属探针4与PCB板6电性连接,每个限位槽2背面对应安装有一块PCB板6,PCB板6与插头7电性连接。
金属座体1的底部凹设有安装槽8,PCB板6设于安装槽8的顶壁上,插头7设于金属座体1的侧壁上。金属座体1上安装有保护板9,保护板9盖设于安装槽8上,保护板9通过紧固螺丝安装在金属座体1底部,PCB板6通过固定螺丝10安装在金属座体1上。
绝缘子5由聚四氟乙烯制成,绝缘子5包括两段同轴设置的圆柱形结构,其中两段圆柱形结构的直径不同,由于两段圆柱形结构的直径不同形成类似台阶的结构,安装时将绝缘子5插入金属座体1的安装孔内,类似台阶的结构起到限位的作用。
上述的适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装的工作原理及过程为:QFN封装射频放大器在电老练时,将需电老练的器件放置在限位槽内,将顶部的盖板进行下压,同金属座体进行锁紧,将产品固定在限位槽内,然后通过插头连通射频放大器供电电源,使放大器进行工作。QFN封装射频放大器底部与金属座体进行完全接触,使得QFN封装射频放大器射频接地良好。输入输出采用聚四氟乙烯制成的绝缘子和金属探针,形成50欧姆阻抗,使放大器同负载进行良好匹配及正常工作。限位槽采用矩阵设计,一次性可将多个产品同时进行电老练试验,提高生产效率。
本实用新型不局限于上述可选实施方式,任何人在本实用新型的启示下都可得出其他各种形式的产品,但不论在其形状或结构上作任何变化,凡是落入本实用新型权利要求界定范围内的技术方案,均落在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种适用于QFN封装射频放大器的电老练试验工装,其特征在于:包括金属座体(1),金属座体(1)上呈行列排布凹设有多个限位槽(2),金属座体(1)顶部可拆卸的安装有盖板(3),盖板(3)盖设于限位槽(2)上;金属座体(1)内设有金属探针(4),金属探针(4)上套设有绝缘子(5),金属探针(4)的顶部位于限位槽(2)内,金属探针(4)与PCB板(6)电性连接,PCB板(6)与插头(7)电性连接。
2.根据权利要求1所述的电老练试验工装,其特征在于:所述金属座体(1)的底部凹设有安装槽(8),PCB板(6)设于安装槽(8)的顶壁上,插头(7)设于金属座体(1)的侧壁上。
3.根据权利要求1或2所述的电老练试验工装,其特征在于:每个限位槽(2)内设有三根金属探针(4),每个限位槽(2)背面对应安装有一块PCB板(6)。
4.根据权利要求2所述的电老练试验工装,其特征在于:所述金属座体(1)上安装有保护板(9),保护板(9)盖设于安装槽(8)上。
5.根据权利要求1所述的电老练试验工装,其特征在于:所述PCB板(6)通过固定螺丝(10)安装在金属座体(1)上,盖板(3)通过紧固螺丝(11)安装在金属座体(1)顶部。
6.根据权利要求1所述的电老练试验工装,其特征在于:所述绝缘子(5)包括两段同轴设置的圆柱形结构,其中两段圆柱形结构的直径不同。
7.根据权利要求1或6所述的电老练试验工装,其特征在于:所述绝缘子(5)由聚四氟乙烯制成。
CN202221316079.5U 2022-05-27 2022-05-27 一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装 Active CN217506017U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202221316079.5U CN217506017U (zh) 2022-05-27 2022-05-27 一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202221316079.5U CN217506017U (zh) 2022-05-27 2022-05-27 一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN217506017U true CN217506017U (zh) 2022-09-27

Family

ID=83357383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202221316079.5U Active CN217506017U (zh) 2022-05-27 2022-05-27 一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN217506017U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201138360Y (zh) 老化装置
MY146186A (en) Probe card
CN217385580U (zh) Qfn封装射频芯片测试夹具
CN217820702U (zh) 一种接触稳定的芯片老化测试座
CN217506017U (zh) 一种适用于qfn封装射频放大器的电老练试验工装
WO2023010645A1 (zh) 轴向二极管接线盒及其制造方法
CN201230103Y (zh) 电连接器
CN201555926U (zh) 封装半导体器件塑封体绝缘测试设备
CN102625625B (zh) 一种新型大功率射频功率放大器固定装置及安装方法
CN215005843U (zh) 一种用于三相电能表检定设备的接表座
CN211043577U (zh) 半导体芯片的老化测试装置
CN212060353U (zh) 一种基于led测试的新型测试针组件
CN217956152U (zh) 一种可测试接线板
CN218300394U (zh) 一种真空接线防放电机构
CN220691049U (zh) 一种半导体分立器件参数测试装置
CN219459076U (zh) 新型lga模块测试治具
CN214850525U (zh) 一种适配多种测定器的充电座
CN114094360B (zh) 一种高性能接线端子排
CN210489886U (zh) 一种带弹片的重载连接器
CN218727417U (zh) 一种芯片检测装置
CN219180883U (zh) 一种强弱电之间做隔热结构的魔方插座
CN210608416U (zh) 一种新型接线盒
CN219957665U (zh) 一种芯片固定治具及芯片测试装置
CN211263761U (zh) 一种激光雷达老化测试工装
CN211350988U (zh) 一种接线装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant