CN217443495U - 一种电路板测试台及一种电路板测试系统 - Google Patents

一种电路板测试台及一种电路板测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN217443495U
CN217443495U CN202220573657.7U CN202220573657U CN217443495U CN 217443495 U CN217443495 U CN 217443495U CN 202220573657 U CN202220573657 U CN 202220573657U CN 217443495 U CN217443495 U CN 217443495U
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit board
tested
workbench
carrier
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202220573657.7U
Other languages
English (en)
Inventor
尚合明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Liangan Technology Co ltd
Original Assignee
Wuhan Liangan Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Liangan Technology Co ltd filed Critical Wuhan Liangan Technology Co ltd
Priority to CN202220573657.7U priority Critical patent/CN217443495U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN217443495U publication Critical patent/CN217443495U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本实用新型提出了一种电路板测试台及一种电路板测试系统,其中,电路板测试台包括工作台、限位卡扣和弹性顶针,工作台用于承载待测电路板,作台上设置有容许弹性顶针穿过的顶针孔;限位卡扣与工作台可旋转的连接,用于将待测电路板固定于工作台;弹性顶针固定于工作台。该电路板测试台通过限位卡扣即可对待测电路板进行固定,相较于现有技术,减少了一个压紧装置,结构更加小巧紧凑,便于携带,可以适用于空间有限的场景;限位卡扣与工作台可旋转的连接,限位卡扣可压在待测电路板上没有电子元器件的位置,消除了对待测电路板上电子元器件的摆放位置限制。

Description

一种电路板测试台及一种电路板测试系统
技术领域
本实用新型涉及待测电路板测试技术领域,特别涉及一种电路板测试台及一种电路板测试系统。
背景技术
待测电路板在制作完成之后需要进行测试,以确保电路的准确流通。现有技术中,有一种电路板测试台,利用弹性顶针一端与导线焊接,另一端与待测电路板测试点接触,解决了导线焊接在待测电路板上会划伤待测电路板、影响待测电路板质量的问题,为了避免待测电路板在测试过程中移动导致待测电路板损坏,需要对待测电路板进行固定。现有技术的电路板测试台中,对待测电路板进行固定,采用了压板放置于待测电路板上,再利用压板上方的压紧装置对压板下压。
实用新型内容
上述现有技术存在以下不足:电路板测试台高度较大,占用的体积大,不适用于空间受限的场景,且不便于携带。鉴于上述问题,有必要提出一种电路板测试台以解决或部分解决上述问题,本实用新型提出的技术方案如下:
第一方面,本实用新型提出了一种电路板测试台,包括工作台、限位卡扣和弹性顶针,其中:
所述工作台用于承载待测电路板,所述工作台上设置有容许弹性顶针穿过的顶针孔;
所述限位卡扣与所述工作台可旋转的连接,用于将待测电路板固定于所述工作台;
所述弹性顶针穿过所述顶针孔且固定于所述工作台;
测试状态下,所述限位卡扣将待测电路板固定于所述工作台,以使得所述弹性顶针与所述待测电路板的测试点接触。
进一步的,所述工作台设置有卡扣安装孔,所述限位卡扣的下端设置有枢轴,所述枢轴嵌入所述卡扣安装孔中,以使得所述限位卡扣能以所述卡扣安装孔为圆心旋转。
进一步的,所述限位卡扣与所述工作台通过螺钉连接,以使得待测电路板放置于所述工作台时将待测电路板固定于所述工作台上。
进一步的,所述工作台包括互相连接的底座和载台,所述载台设置于所述底座上方,所述卡扣安装孔设置于所述载台上,所述顶针孔包括设置于所述底座上的第一通孔和设置于所述载台上的第二通孔,所述弹性顶针固定于所述第一通孔中。
进一步的,所述弹性顶针包括针管和针脚,所述针管穿过第一通孔和第二通孔并固定于所述第一通孔中,所述针管的下端用于连接测试装置,所述针脚凸出于所述载台。
进一步的,所述载台设置有与所述待测电路板相匹配的凹槽,所述凹槽用于定位并放置所述待测电路板。
进一步的,所述载台的两侧设置有缺口,所述缺口从所述载台边缘延伸至所述凹槽。
进一步的,所述工作台还包括设置于所述底座下方的支架,所述支架与所述底座连接。
进一步的,所述工作台还包括与所述支架底部连接的防滑垫。
第二方面、本实用新型还提出了一种电路板测试系统,包括测试装置和所述的电路板测试台。
基于上述技术方案,本实用新型较现有技术而言的有益效果为:
本实用新型提出了一种电路板测试台,通过限位卡扣即可对待测电路板进行固定,相较于现有技术,减少了一个压紧装置,降低了电路板测试台的高度,结构更加小巧紧凑,便于携带,可以适用于空间有限的场景;而且,限位卡扣与所述工作台可旋转的连接,限位卡扣可压在待测电路板上没有电子元器件的位置,消除了对待测电路板上电子元器件的摆放位置限制。
附图说明
图1是本实用新型实施例中,电路板测试台的结构示意图;
图2是本实用新型实施例中,载台的结构示意图;
图3是本实用新型实施例中,底座的结构示意图;
图4是本实用新型实施例中,弹性顶针的结构示意图;
图5是本实用新型实施例中,支架的结构示意图。
其中,1-工作台,11-载台,111-第二通孔,112-凹槽、113-缺口,114-卡扣安装孔,115-第一安装孔,12-底座,121-第一通孔,122-第二安装孔,123-第三安装孔,13-支架,131-防滑垫,2-限位卡扣,21-枢轴,3-弹性顶针,31-针管,32-针脚。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例一
本实用新型实施例提出了一种电路板测试台,参照图1-图5所示,包括工作台1、限位卡扣2和弹性顶针3,其中:
所述工作台1用于承载待测电路板,所述工作台1上设置有容许弹性顶针3穿过的顶针孔;
所述限位卡扣2与所述工作台1可旋转的连接,用于将待测电路板固定于所述工作台1;
所述弹性顶针3穿过所述顶针孔且固定于所述工作台1;当待测电路板固定于所述工作台1时,所述弹性顶针3与所述待测电路板的测试点接触。弹性顶针3的一端与连接测试设备的导线焊接,另一端与所述待测电路板的测试点接触。
本实用新型实施例提出了一种电路板测试台,通过限位卡扣2即可对待测电路板进行固定,相较于现有技术,减少了一个压紧装置,降低了电路板测试台的高度,结构更加小巧紧凑,便于携带,可以适用于空间有限的场景;而且,限位卡扣2与所述工作台1可旋转的连接,限位卡扣2可压在待测电路板上没有电子元器件的位置,消除了对待测电路板上电子元器件的摆放位置限制。
在一个具体实施例中,所述工作台1设置有卡扣安装孔114,所述限位卡扣2的下端设置有枢轴21,所述枢轴21嵌入所述卡扣安装孔114中,以使得所述限位卡扣2能以所述卡扣安装孔114为圆心旋转360度。通过将所述枢轴21放置于所述卡扣安装孔114中,使得所述限位卡扣2能以所述卡扣安装孔114为圆心旋转360度,限位卡扣2可压在待测电路板上没有电子元器件的位置,消除了对待测电路板上电子元器件的摆放位置限制,对待测电路板的兼容性更好,且不会对待测电路板的电子元器件造成损伤。
在一个具体实施例中,所述限位卡扣2与所述工作台1通过螺钉连接,以使得限位卡扣2旋转至待测电路板上方时将待测电路板固定于所述工作台1上。进行测试时,将限位卡扣2旋转至待测电路板上方,通过螺钉连接所述限位卡扣2与所述工作台1,将待测电路板固定于所述工作台1上,测试完成后,松开螺钉,将限位卡扣2旋转至待测电路板的上方区域之外,取出待测电路板,待测电路板的更换方便快捷,可以提高待测电路板的测试效率。
当然,限位卡扣2与所述工作台1还可以通过其他方式连接,只要能实现限位卡扣2与所述工作台1的活动连接即可。
在进一步的实施例中,螺钉顶部与限位卡扣2之间放置一个弹簧,弹簧套在螺钉上,需要旋转时,限位卡扣2向上压缩弹簧,进行固定时,弹簧弹力使得限位卡扣2压在待测电路板上进行固定。弹簧使得限位卡扣2的旋转更加方便快捷,可以提高测试效率。
在一些实施例中,所述工作台1包括互相连接的底座12和载台11,所述载台11设置于所述底座12上方,所述顶针孔包括设置于所述底座12上的第一通孔121和设置于所述载台11上的第二通孔111,所述弹性顶针3固定于所述第一通孔121中,卡扣安装孔114设置于载台11上。具体的,结合图2和图3所示,载台11上设置有第一安装孔115,底座12上设置有第二安装孔122,通过螺钉穿过第一安装孔115和第二安装孔122连接载台11和底座12,所述第一通孔121包括两个长条腰圆孔,两个长条腰圆孔分别允许5个和7个弹性顶针3穿过,第二通孔111包括和第一通孔121相对应的两个长条腰圆孔,弹性顶针3穿过所述第一通孔121和第二通孔111,并通过胶水固定于第一通孔121中,当然,弹性顶针3与载台11之间还可以是其他连接方式,只要能实现弹性顶针3与载台11的固定连接即可。
本实施例中,底座12与载台11通过螺钉连接,底座12撑起载台11,为弹性顶针3下端焊接导线预留位置,方便焊接导线,载台11承载待测电路板,固定于载台11的弹性顶针3的一端与连接测试设备的导线焊接,另一端与所述待测电路板的测试点接触,不需要在待测电路板上焊接导线,降低了测试对待测电路板的损耗,提高了测试的效率。当然,底座12与载台11还可以通过其他方式连接,只要能实现底座12与载台11的可拆卸连接即可。
在一个具体实施例中,如图4所示,所述弹性顶针3包括针管31和针脚32,所述针管31穿过第一通孔121和第二通孔111并固定于所述第一通孔121中,所述针管31的上端与所述针脚32连接,所述针管31的下端用于焊接与测试设备连接的导线,所述针脚32凸出于所述载台11,当待测电路板固定于所述工作台1时,所述针脚32与所述待测电路板的测试点接触。
在本实施例中,所述针管31的上端与所述针脚32连接,所述针管31的下端用于焊接与测试设备连接的导线,针脚32可在针管31中伸缩,待测电路板放置于载台11上,待测电路板下压针脚32,针脚32与所述待测电路板的测试点接触,进行待测电路板的测试,不需要在待测电路板上焊接导线,降低了测试对待测电路板的损耗,提高了测试的效率。
在一个具体实施例中,所述载台11设置有与所述待测电路板相匹配的凹槽112,所述凹槽112用于定位并放置所述待测电路板。具体的,如图2所示,载台11上设置有与所述待测电路板相同大小和形状的凹槽112,可以定位并放置所述待测电路板,放置待测电路板更加快速,可以提高测试效率。
在进一步的实施例中,如图2所示,所述载台11的两侧设置有缺口113,所述缺口113从所述载台11边缘延伸至所述凹槽112。通过载台11两侧设置的缺口113,取放待测电路板更加方便快捷,可以提高测试效率。
在一个具体实施例中,所述工作台1还包括设置于所述底座12下方的支架13,所述支架13与所述底座12连接。具体的,如图3和图5所示,支架13由四根空心不锈钢组成,钢管上端设有内螺纹,底座12设置有第三安装孔123,通过螺钉穿过第三安装孔123并与钢管上端的内螺纹连接。
本实施例中,底座12撑起载台11,为弹性顶针3下端焊接导线预留位置,方便焊接导线,不需要在待测电路板上焊接导线,降低了测试对待测电路板的损耗,提高了测试的效率。
在进一步的实施例中,如图5所示,所述工作台1还包括与所述支架13底部连接的防滑垫131。钢管下端设有内螺纹,防滑垫131与钢管下端的内螺纹通过螺钉连接,防滑垫131可以增加工作台1的摩擦力,使得工作台1更加稳定,不会在测试过程中移动,影响测试结果。
实施例二
本实用新型实施例提出了一种电路板测试系统,包括测试装置和实施例一所述的电路板测试台。
本实用新型实施例提出的电路板测试系统,通过限位卡扣2即可对待测电路板进行固定,相较于现有技术,减少了一个压紧装置,降低了电路板测试台的高度,结构更加小巧紧凑,便于携带,可以适用于空间有限的场景;而且,电路板测试台的限位卡扣2与所述工作台1可旋转的连接,限位卡扣2可压在待测电路板上没有电子元器件的位置,消除了对待测电路板上电子元器件的摆放位置限制。
在上述的详细描述中,各种特征一起组合在单个的实施方案中,以简化本公开。不应该将这种公开方法解释为反映了这样的意图,即,所要求保护的主题的实施方案需要清楚地在每个权利要求中所陈述的特征更多的特征。相反,如所附的权利要求书所反映的那样,本实用新型处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此,所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中,其中每项权利要求独自作为本实用新型单独的优选实施方案。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然,为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的,但是本领域普通技术人员应该认识到,各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此,本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外,就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”,该词的涵盖方式类似于术语“包括”,就如同“包括,”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外,使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。

Claims (10)

1.一种电路板测试台,其特征在于,包括工作台、限位卡扣和弹性顶针,其中:
所述工作台用于承载待测电路板,所述工作台上设置有容许弹性顶针穿过的顶针孔;
所述限位卡扣与所述工作台可旋转的连接,用于将待测电路板固定于所述工作台;
所述弹性顶针穿过所述顶针孔且固定于所述工作台;
测试状态下,所述限位卡扣将待测电路板固定于所述工作台,以使得所述弹性顶针与所述待测电路板的测试点接触。
2.如权利要求1所述的电路板测试台,其特征在于,所述工作台设置有卡扣安装孔,所述限位卡扣的下端设置有枢轴,所述枢轴嵌入所述卡扣安装孔中,以使得所述限位卡扣能以所述卡扣安装孔为圆心旋转。
3.如权利要求2所述的电路板测试台,其特征在于,所述限位卡扣与所述工作台通过螺钉连接,以使得待测电路板放置于所述工作台时将待测电路板固定于所述工作台上。
4.如权利要求3所述的电路板测试台,其特征在于,所述工作台包括互相连接的底座和载台,所述载台设置于所述底座上方,所述卡扣安装孔设置于所述载台上,所述顶针孔包括设置于所述底座上的第一通孔和设置于所述载台上的第二通孔,所述弹性顶针固定于所述第一通孔中。
5.如权利要求4所述的电路板测试台,其特征在于,所述弹性顶针包括针管和针脚,所述针管穿过第一通孔和第二通孔并固定于所述第一通孔中,所述针管的下端用于连接测试装置,所述针脚凸出于所述载台。
6.如权利要求5所述的电路板测试台,其特征在于,所述载台设置有与所述待测电路板相匹配的凹槽,所述凹槽用于定位并放置所述待测电路板。
7.如权利要求6所述的电路板测试台,其特征在于,所述载台的两侧设置有缺口,所述缺口从所述载台边缘延伸至所述凹槽。
8.如权利要求7所述的电路板测试台,其特征在于,所述工作台还包括设置于所述底座下方的支架,所述支架与所述底座连接。
9.如权利要求8所述的电路板测试台,其特征在于,所述工作台还包括与所述支架底部连接的防滑垫。
10.一种电路板测试系统,其特征在于,包括测试装置和如权利要求1-9任一所述的电路板测试台。
CN202220573657.7U 2022-03-16 2022-03-16 一种电路板测试台及一种电路板测试系统 Active CN217443495U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202220573657.7U CN217443495U (zh) 2022-03-16 2022-03-16 一种电路板测试台及一种电路板测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202220573657.7U CN217443495U (zh) 2022-03-16 2022-03-16 一种电路板测试台及一种电路板测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN217443495U true CN217443495U (zh) 2022-09-16

Family

ID=83215866

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202220573657.7U Active CN217443495U (zh) 2022-03-16 2022-03-16 一种电路板测试台及一种电路板测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN217443495U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN205941466U (zh) 一种超声波无损检测中固定被测工件的通用夹具
CN217443495U (zh) 一种电路板测试台及一种电路板测试系统
CN210071940U (zh) 一种滤波器性能调试夹具
CN210923829U (zh) 多量程电容检测夹具
CN218036996U (zh) 一种用于大电流芯片的开尔文测试座
CN214669178U (zh) 一种电子原件测试工装
CN213364953U (zh) 一种晶圆测试用负载板连接固定结构
CN211042125U (zh) 一种防止工件从检测台滑落的激光平面干涉仪
CN210322251U (zh) 一种台灯照度等级测试装置
CN211528483U (zh) 电路板测试工作台
CN213986571U (zh) 一种铂薄膜热敏电阻器绝缘电阻测试夹具
CN212180848U (zh) 一种成品测量机台定位载具
CN212587225U (zh) 一种高精准度快速开卡治具
CN218947439U (zh) 一种多层pcb线路板固定夹具
CN213457252U (zh) 一种新型设备测试治具
CN217085034U (zh) 一种qfn系列芯片测试用测试针安装结构
CN217034030U (zh) 一种厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试夹具
CN221509665U (zh) 一种软件测试装置
CN219758455U (zh) 电芯首件测试装置
CN219369584U (zh) 一种封装元器件的测试装置
CN214539733U (zh) 一种探针卡针延长寿命用的垫座
CN214277352U (zh) 一种棱镜组件功能测试台
CN216927026U (zh) 一种电机测试夹持工装
CN218298304U (zh) 一种通用型芯片测试夹具及测试工装
CN219104344U (zh) 一种智能设备测试治具

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant