CN217385742U - 一种lt1x63系列的集成电路芯片的老炼板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型一种LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，包括芯片，芯片的左右两侧各伸出四个引脚，第一引脚和第二引脚先接在一起再接输出电阻和滤波电容，输出电阻的另一端接地，滤波电容的另一端接地，第四引脚接第一输入电容，第一输入电容的另一端接第一引脚，第五引脚和第八引脚先接在一起再接直流稳压电源和第二输入电容，直流稳压电源的另一端接地，第二输入电容的另一端接地，第三引脚、第六引脚、第七引脚接地。本实用新型采用了固定的外围电路，满足了LT1763和LT1963两种型号器件的老炼需求，且便于操作，改善了难以老炼的现状。采用直插元件，便于实现大批量芯片的老炼试验。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路的老炼领域，具体涉及LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板。
背景技术
当一批产品被制造出来的时候，由于器件本身具有固有缺陷、或者制造工艺控制不当等各种因素的影响，会导致一批产品中每个元器件的可靠性不同，为了保证产品的质量，会在元器件出厂前或使用前对元器件进行老炼试验，剔除那些勉强合格的器件。通过老炼试验可以缩短元器件早期失效的时间，能够充分的暴露出大部分元器件的失效机理，使得元器件提前进入偶然失效期，保证了元器件投入使用的可靠性。传统的老炼试验方式的老炼板在对LT1X63这一系列的LT1763、LT1963两种型号器件老炼时，由于器件外围电路比较难以实现，传统通用老炼板难以实现对器件的老炼试验，更难以实现大批量器件的老炼试验。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板。
本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，包括芯片，芯片的左右两侧各伸出四个引脚，左侧的四个引脚自上而下依次为第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，右侧的四个引脚自下而上依次为第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚，第一引脚和第二引脚先接在一起再接输出电阻和滤波电容，输出电阻的另一端接地，滤波电容的另一端接地，第四引脚接第一输入电容，第一输入电容的另一端接第一引脚，第五引脚和第八引脚先接在一起再接直流稳压电源和第二输入电容，直流稳压电源的另一端接地，第二输入电容的另一端接地，第三引脚、第六引脚、第七引脚接地。
进一步的，所述输出电阻的电阻值为10KΩ。
进一步的，所述滤波电容的电容值为10μF。
进一步的，所述第一输入电容的电容值为0.01μF。
进一步的，所述第二输入电容的电容值为1μF。
与现有技术相比，本实用新型LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板的有益效果是：采用了固定的外围电路，满足了LT1763和LT1963两种型号器件的老炼需求，且便于操作，改善了难以老炼的现状。采用直插元件，便于实现大批量芯片的老炼试验。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是LT1763芯片的结构示意图。
图3是LT1963芯片的结构示意图。
具体实施方式
请参阅图1，一种LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，包括芯片1，芯片1的左右两侧各伸出四个引脚，左侧的四个引脚自上而下依次为第一引脚J1、第二引脚J2、第三引脚J3、第四引脚J4，右侧的四个引脚自下而上依次为第五引脚J5、第六引脚J6、第七引脚J7、第八引脚J8。
第一引脚J1和第二引脚J2先接在一起再接输出电阻3和滤波电容4，输出电阻3的另一端接地，滤波电容4的另一端接地。
第四引脚J4接第一输入电容5，第一输入电容5的另一端接第一引脚J1。
第五引脚J5和第八引脚J8先接在一起再接直流稳压电源2和第二输入电容7，直流稳压电源2的另一端接地，第二输入电容7的另一端接地。
第三引脚J3、第六引脚J6、第七引脚J7接地。
输出电阻3的电阻值为10KΩ，滤波电容4的电容值为10μF，第一输入电容5的电容值为0.01μF，第二输入电容7的电容值为1μF。直流稳压电源由集成电路高温动态老化系统提供。
集成电路高温动态老化系统为现有技术，用于半导体元器件老炼实验，适用于各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微电子电路高温动态老化试验，能够为半导体元器件老炼试验提供直流稳压电源、64路数字信号、4路模拟信号以及老炼试验所需的环境。
请参阅图2和图3，使用该老炼板为LT1763芯片和LT1963芯片进行老炼试验时。先核实后器件管脚定义，器件老炼条件后，编写对应的程控程序给入正确的电压即可。
本实用新型采用DIP8的直插封装夹具，按照老炼试验需求配合各种不同封装器件的老化座，即可完成各种器件的老炼试验，老炼板采用直插封装夹具可以根据器件封装自行选择老化座进行老化，提高了老炼板的使用率。进行老炼试验时，根据LT1X63系列器件封装选取合适的老化座进行安装后，将器件放置在夹具中，发送对应型号的集成电路高温动态老化系统的程控程序即可。
本实用新型采用了固定的外围电路，满足了LT1763和LT1963两种型号器件的老炼需求，且便于操作，改善了难以老炼的现状。采用直插元件，便于实现大批量芯片的老炼试验。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点,对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (5)
1.一种LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，其特征在于：包括芯片，芯片的左右两侧各伸出四个引脚，左侧的四个引脚自上而下依次为第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，右侧的四个引脚自下而上依次为第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚，第一引脚和第二引脚先接在一起再接输出电阻和滤波电容，输出电阻的另一端接地，滤波电容的另一端接地，第四引脚接第一输入电容，第一输入电容的另一端接第一引脚，第五引脚和第八引脚先接在一起再接直流稳压电源和第二输入电容，直流稳压电源的另一端接地，第二输入电容的另一端接地，第三引脚、第六引脚、第七引脚接地。
2.根据权利要求1所述的LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，其特征在于：所述输出电阻的电阻值为10KΩ。
3.根据权利要求1所述的LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，其特征在于：所述滤波电容的电容值为10μF。
4.根据权利要求1所述的LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，其特征在于：所述第一输入电容的电容值为0.01μF。
5.根据权利要求1所述的LT1X63系列的集成电路芯片的老炼板，其特征在于：所述第二输入电容的电容值为1μF。
Priority Applications (1)
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| CN202222103956.7U CN217385742U (zh) | 2022-08-11 | 2022-08-11 | 一种lt1x63系列的集成电路芯片的老炼板 |
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Publications (1)
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Country Status (1)
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2022
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