CN217385567U - 一种电子元器件老化性能测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电子元器件老化性能测试夹具，包括夹具底座，夹具底座顶部两侧的正面和背面分别设置有支撑插条，支撑插条顶端和中间的内部均活动连接有粗调引导杆，两个粗调引导杆的一侧固定连接有移动夹板，两个粗调引导杆之间设置有粗调螺杆，粗调螺杆的中部与支撑插条的顶部进行螺纹连接，粗调螺杆的一端与移动夹板的一侧活动连接，移动夹板顶部的一侧设置有X型叉架，X型叉架包括固定夹板和活动夹板，固定夹板一侧的顶端和活动夹板一侧的底端均固定连接有多个防滑条，本实用新型通过使左右两个移动夹板相互靠近，将X型叉架夹在电子元器件的两侧，并借助多个防滑条可以在进行电子元器件老化性能测试的过程中，防止电子元器件松动。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子器件性能测试技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种电子元器件老化性能测试夹具。
背景技术
电子元器件是机器、电子仪器内的重要组成部件，电子元器件一般包括电容、晶体管、游丝以及发条等电子器件，最为常见的电子元器件有二极管等，在电子元器件生产时，需要进行老化筛选，在进行老化筛选的过程中，一般需要给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部效应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数测量，筛选剔除那些失效或参数变化了的元器件，尽可能把失效元器件在使用之前提取出来，可以有效保证电子元器件的使用寿命和功能。
在给电子元器件施加机械外部效应力时，需要借助夹具将电器件固定，便于进行指定部位的老化性能测试工作，现有老化性能测试夹具在进行圆柱类电子元器件的夹持过程中，容易出现松动的情况，影响正常的老化性能测试工作，降低了测试的准确性，使潜在故障无法提前暴露。
实用新型内容
为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供一种电子元器件老化性能测试夹具，本实用新型所要解决的技术问题是：现有老化性能测试夹具在进行圆柱类电子元器件的夹持过程中，容易出现松动的情况，降低了测试的准确性。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子元器件老化性能测试夹具，包括夹具底座，所述夹具底座顶部两侧的正面和背面分别设置有支撑插条，所述支撑插条顶端和中间的内部均活动连接有粗调引导杆，两个所述粗调引导杆的一侧固定连接有移动夹板，两个所述粗调引导杆之间设置有粗调螺杆，所述粗调螺杆的中部与支撑插条的顶部进行螺纹连接，所述粗调螺杆的一端与移动夹板的一侧进行活动连接，所述移动夹板顶部的一侧设置有X型叉架，所述X型叉架包括固定夹板和活动夹板，所述固定夹板一侧的顶端和活动夹板一侧的底端均固定连接有多个防滑条。
在一个优选地实施方式中，所述防滑条由橡胶材质制成，通过将防滑条设置成橡胶材质，可以防止圆柱类电子元器件在X型叉架之间转动，并避免器件外壁局部压力过大。
在一个优选地实施方式中，所述夹具底座两侧顶端的内部均开设有多个定位槽，所述支撑插条活动插接在定位槽的内部，通过对多个定位槽的使用，可以调节正面和背面两个支撑插条之间的距离，可以适应不同长度的电子元器件的老化性能的测试工作。
在一个优选地实施方式中，所述活动夹板铰接在固定夹板中心的内部，所述固定夹板的一侧与支撑插条顶部的一侧进行固定连接，所述活动夹板一侧的底端活动连接有支撑板，通过对支撑板的使用，有利于支撑活动夹板，防止活动夹板在固定夹板的内部转动。
在一个优选地实施方式中，所述支撑插条底端一侧的内部开设有收纳槽，所述支撑板活动连接在收纳槽的顶部，所述收纳槽顶部内壁的正面和背面均固定连接有导向杆，所述支撑板活动连接在两个导向杆的外部，通过对导向杆的使用，有利于支撑板在收纳槽的内部由顶部向底部做往返运动。
在一个优选地实施方式中，所述支撑板的底端活动连接细调螺杆，所述细调螺杆螺纹连接在支撑插条底端的内部，所述细调螺杆的顶部位于两个导向杆之间，通过对支撑板的使用，有利于支撑支撑板向顶部运动，从而使活动夹板在固定夹板的内部转动，可以进行不同直径圆柱形电子元件的夹持工作。
本实用新型的技术效果和优点：
1、本实用新型通过调节粗调螺杆与支撑插条的螺纹连接情况，推动左右两个移动夹板相互靠近，将X型叉架夹在电子元器件的两侧，并借助多个防滑条防止元器件在X型叉架之间转动，在进行老化性能测试的过程中，不会出现元器件松动的情况。
2、本实用新型通过调节移动夹板底部与细调螺杆的螺纹连接情况，支撑支撑板在两个导向杆的外部滑动，从而控制活动夹板与固定夹板之间的夹角大小，可以在固定电子元器件的过程中，尽可能少地减小X型叉架与元件器之间的接触面积。
附图说明
图1为本实用新型的主视结构示意图；
图2为本实用新型的俯视结构示意图；
图3为本实用新型支撑插条与移动夹板的连接结构示意图；
图4为本实用新型移动夹板的右视结构示意图；
图5为本实用新型图4中A部的放大结构示意图。
附图标记为：1、支撑插条；2、移动夹板；3、夹具底座；4、X型叉架；41、固定夹板；42、活动夹板；5、粗调引导杆；6、定位槽；7、粗调螺杆；8、防滑条；9、收纳槽；10、支撑板；11、导向杆；12、细调螺杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参照说明书附图1-3，该实施例的一种电子元器件老化性能测试夹具，包括夹具底座3，夹具底座3两侧顶端的内部均开设有多个定位槽6，支撑插条1活动插接在定位槽6的内部，通过对多个定位槽6的使用，可以调节正面和背面两个支撑插条1之间的距离，可以适应不同长度的电子元器件的老化性能的测试工作,夹具底座3顶部两侧的正面和背面分别设置有支撑插条1，支撑插条1顶端和中间的内部均活动连接有粗调引导杆5，两个粗调引导杆5的一侧固定连接有移动夹板2，两个粗调引导杆5之间设置有粗调螺杆7，粗调螺杆7的中部与支撑插条1的顶部进行螺纹连接，粗调螺杆7的一端与移动夹板2的一侧进行活动连接，移动夹板2顶部的一侧设置有X型叉架4，X型叉架4包括固定夹板41和活动夹板42，固定夹板41一侧的顶端和活动夹板42一侧的底端均固定连接有多个防滑条8，防滑条8由橡胶材质制成，通过将防滑条8设置成橡胶材质，可以防止圆柱类电子元器件在X型叉架4之间转动，并避免器件外壁局部压力过大。
实施场景具体为：
在进行本实用新型的使用过程中，通过将支撑插条1置于不同定位槽6的内部，并调节正面和背面两个支撑插条1之间的距离，以适应电子元器件的长度，通过调节粗调螺杆7与支撑插条1的螺纹连接情况，推动左右两个移动夹板2相互靠近，将位于移动夹板2一侧顶部的X型叉架4夹在电子元器件的两侧，并借助活动夹板42一侧底端的和固定夹板41一侧顶端的多个防滑条8防止元器件在X型叉架4之间转动，在进行老化性能测试的过程中，不会出现元器件松动的情况。
参照说明书附图3-5，该实施例的一种电子元器件老化性能测试夹具，包括活动夹板42，活动夹板42铰接在固定夹板41中心的内部，固定夹板41的一侧与支撑插条1顶部的一侧进行固定连接，活动夹板42一侧的底端活动连接有支撑板10，通过对支撑板10的使用，有利于支撑活动夹板42，防止活动夹板42在固定夹板41的内部转动，支撑插条1底端一侧的内部开设有收纳槽9，支撑板10活动连接在收纳槽9的顶部，收纳槽9顶部内壁的正面和背面均固定连接有导向杆11，支撑板10活动连接在两个导向杆11的外部，通过对导向杆11的使用，有利于支撑板10在收纳槽9的内部由顶部向底部做往返运动，支撑板10的底端活动连接细调螺杆12，细调螺杆12螺纹连接在支撑插条1底端的内部，细调螺杆12的顶部位于两个导向杆11之间，通过对支撑板10的使用，有利于支撑支撑板10向顶部运动，从而使活动夹板42在固定夹板41的内部转动，可以进行不同直径圆柱形电子元件的夹持工作。
实施场景具体为：
在进行本实用新型的使用过程中，通过在移动夹板2的底端转动细调螺杆12调节移动夹板2底部与细调螺杆12的螺纹连接情况，支撑支撑板10在两个导向杆11的外部滑动，从而控制活动夹板42与固定夹板41之间的夹角大小，可以在固定电子元器件的过程中，尽可能少地减小X型叉架4与元件器之间的接触面积，可以在不影响电子元器件老化性能测试的前提下，保证电子元器件的固定效果。
最后：以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种电子元器件老化性能测试夹具，其特征在于：包括夹具底座(3)，所述夹具底座(3)顶部两侧的正面和背面分别设置有支撑插条(1)，所述支撑插条(1)顶端和中间的内部均活动连接有粗调引导杆(5)，两个所述粗调引导杆(5)的一侧固定连接有移动夹板(2)，两个所述粗调引导杆(5)之间设置有粗调螺杆(7)，所述粗调螺杆(7)的中部与支撑插条(1)的顶部进行螺纹连接，所述粗调螺杆(7)的一端与移动夹板(2)的一侧进行活动连接，所述移动夹板(2)顶部的一侧设置有X型叉架(4)，所述X型叉架(4)包括固定夹板(41)和活动夹板(42)，所述固定夹板(41)一侧的顶端和活动夹板(42)一侧的底端均固定连接有多个防滑条(8)。
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件老化性能测试夹具，其特征在于：所述防滑条(8)由橡胶材质制成。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件老化性能测试夹具，其特征在于：所述夹具底座(3)两侧顶端的内部均开设有多个定位槽(6)，所述支撑插条(1)活动插接在定位槽(6)的内部。
4.根据权利要求1所述的一种电子元器件老化性能测试夹具，其特征在于：所述活动夹板(42)铰接在固定夹板(41)中心的内部，所述固定夹板(41)的一侧与支撑插条(1)顶部的一侧进行固定连接，所述活动夹板(42)一侧的底端活动连接有支撑板(10)。
5.根据权利要求4所述的一种电子元器件老化性能测试夹具，其特征在于：所述支撑插条(1)底端一侧的内部开设有收纳槽(9)，所述支撑板(10)活动连接在收纳槽(9)的顶部，所述收纳槽(9)顶部内壁的正面和背面均固定连接有导向杆(11)，所述支撑板(10)活动连接在两个导向杆(11)的外部。
6.根据权利要求5所述的一种电子元器件老化性能测试夹具，其特征在于：所述支撑板(10)的底端活动连接细调螺杆(12)，所述细调螺杆(12)螺纹连接在支撑插条(1)底端的内部，所述细调螺杆(12)的顶部位于两个导向杆(11)之间。
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