CN217359867U - 一种锡点测试银钯合金探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种锡点测试银钯合金探针，涉及锡点测试技术领域，包括检测结构，所述检测结构包括持握手柄，所述持握手柄的下端设置有支撑结构，所述支撑结构包括滑动底槽，所述滑动底槽开设在持握手柄下端的中部两侧。本实用新型通过支撑端块与支撑滑杆的设置，可在将持握手柄放置时，将支撑滑杆抽出，从而增加支撑端块的支撑距离，使支撑端块的下端与持握手柄一侧的底部以及放置面之间形成三角架构，同时支撑端块的移动，可用于对支撑时的重心进行调整，从而便于对检测探针的支撑，以便于检测探针的放置，同时支撑端块的支撑，可对持握手柄进行限位，防止在将持握手柄放置时，持握手柄滚动，容易掉落。

Description

一种锡点测试银钯合金探针

技术领域

本实用新型涉及锡点测试技术领域，尤其涉及一种锡点测试银钯合金探针。

背景技术

锡(Stannum)英文名：tin，元素符号为Sn。是一种金属元素，无机物，普通形态的白锡是一种有银白色光的的低熔点金属，在化合物中是二价或四价，常温下不会被空气氧化，自然界中主要以二氧化物(锡石)和各种硫化物(例如硫锡石)的形式存在。锡是大名鼎鼎的“五金”—金、银、铜、铁、锡之一。早在远古时代，人们便发现并使用锡了。在我国的一些古墓中，便常发掘到一些锡壶、锡烛台之类锡器。据考证，我国周朝时，锡器的使用已十分普遍了。在埃及的古墓中，也发现有锡制的日常用品。

现有技术中，锡点测试用的银钯合金探针在使用时，在使用过程中，中途会将探针放在桌面上，而探针头部伸出较长，从而使得探针头部与桌面接触，容易使得探针头部受损，从而影响锡点测试银钯合金探针的正常使用。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在锡点测试用的银钯合金探针在使用时，在使用过程中，中途会将探针放在桌面上，而探针头部伸出较长，从而使得探针头部与桌面接触，容易使得探针头部受损，从而影响锡点测试银钯合金探针的正常使用的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种锡点测试银钯合金探针，包括检测结构，所述检测结构包括持握手柄，所述持握手柄的下端设置有支撑结构，所述支撑结构包括滑动底槽，所述滑动底槽开设在持握手柄下端的中部两侧，所述滑动底槽的两侧均开设有侧滑槽，所述滑动底槽的内部滑动连接有滑动端块，所述滑动端块的两侧均固定连接有侧滑卡块，所述侧滑卡块与侧滑槽之间滑动卡接，所述滑动端块的一端固定连接有支撑滑杆，所述支撑滑杆与滑动底槽之间卡接设置，所述支撑滑杆的一端固定连接以后支撑端块。

优选的，所述滑动底槽的内部一端固定连接有限位挡块，所述限位挡块的下端与支撑滑杆的上端贴合，所述侧滑卡块的一端与限位挡块的一端之间固定连接有挤压弹簧。

优选的，所述支撑滑杆的上端固定连接有加强筋，所述限位挡块的下端开设有底滑槽，所述底滑槽与限位挡块之间滑动卡接。

优选的，所述支撑端块的下端开设有卡接底槽，所述卡接底槽的内部卡接固定有支撑橡胶垫。

优选的，所述持握手柄的内部一侧开设有固定卡槽，所述固定卡槽的一侧开设有内卡槽，所述内卡槽的一侧开设有卡接端槽。

优选的，所述固定卡槽的内部卡接设置有检测探针，所述内卡槽的内部设置有电性连接块，所述电性连接块的一端固定连接有卡接端块，所述卡接端块与卡接端槽之间卡接固定，所述检测探针的一端与电性连接块卡接固定，所述电性连接块的一端固定连接有连接线，所述连接线穿过卡接端块。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于，

1、本实用新型中，通过支撑端块与支撑滑杆的设置，可在将持握手柄放置时，将支撑滑杆抽出，从而增加支撑端块的支撑距离，使支撑端块的下端与持握手柄一侧的底部以及放置面之间形成三角架构，同时支撑端块的移动，可用于对支撑时的重心进行调整，从而便于对检测探针的支撑，以便于检测探针的放置，同时支撑端块的支撑，可对持握手柄进行限位，防止在将持握手柄放置时，持握手柄滚动，容易掉落。

2、本实用新型中，通过挤压弹簧的设置，用于拉动支撑滑杆移动，使得支撑滑杆漏出，从而保证支撑端块始终处于伸出状态，无须在使用时，将支撑端块拉出使用，通过加强筋的设置，用于增加支撑滑杆的支撑强度，通过支撑橡胶垫的设置，用于对支撑端块的下端进行保护，通过电性连接块与卡接端块的设置，使得检测探针与持握手柄之间为分离式设置，从而便于检测探针的更换。

附图说明

图1为本实用新型提出一种锡点测试银钯合金探针的立体结构示意图；

图2为本实用新型提出一种锡点测试银钯合金探针的爆炸结构示意图；

图3为本实用新型提出一种锡点测试银钯合金探针中支撑滑杆的立体结构示意图；

图4为本实用新型提出一种锡点测试银钯合金探针中持握手柄的立体结构示意图。

图例说明：

1、检测结构；11、持握手柄；12、检测探针；13、连接线；14、卡接端块；15、电性连接块；16、内卡槽；17、卡接端槽；18、固定卡槽；

2、支撑结构；21、支撑端块；22、支撑滑杆；23、滑动端块；24、侧滑卡块；25、挤压弹簧；26、加强筋；27、卡接底槽；28、支撑橡胶垫；29、滑动底槽；210、限位挡块；211、底滑槽；212、侧滑槽。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合具体实施例，对本发明作进一步地详细说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。

实施例1，如图1－4所示，本实用新型提供了一种锡点测试银钯合金探针，包括检测结构1，检测结构1包括持握手柄11，持握手柄11的下端设置有支撑结构2，支撑结构2包括滑动底槽29，滑动底槽29开设在持握手柄11下端的中部两侧，滑动底槽29的两侧均开设有侧滑槽212，滑动底槽29的内部滑动连接有滑动端块23，滑动端块23的两侧均固定连接有侧滑卡块24，侧滑卡块24与侧滑槽212之间滑动卡接，滑动端块23的一端固定连接有支撑滑杆22，支撑滑杆22与滑动底槽29之间卡接设置，支撑滑杆22的一端固定连接以后支撑端块21。

下面具体说一下其支撑结构2的具体设置和作用，通过支撑端块21与支撑滑杆22的设置，可在将持握手柄11放置时，将支撑滑杆22抽出，从而增加支撑端块21的支撑距离，使支撑端块21的下端与持握手柄11一侧的底部以及放置面之间形成三角架构，同时支撑端块21的移动，可用于对支撑时的重心进行调整，从而便于对检测探针12的支撑，以便于检测探针12的放置，同时支撑端块21的支撑，可对持握手柄11进行限位，防止在将持握手柄11放置时，持握手柄11滚动，容易掉落。

如图1－4所示，滑动底槽29的内部一端固定连接有限位挡块210，限位挡块 210的下端与支撑滑杆22的上端贴合，侧滑卡块24的一端与限位挡块210的一端之间固定连接有挤压弹簧25，支撑滑杆22的上端固定连接有加强筋26，限位挡块210的下端开设有底滑槽211，底滑槽211与限位挡块210之间滑动卡接，支撑端块21的下端开设有卡接底槽27，卡接底槽27的内部卡接固定有支撑橡胶垫28，持握手柄11的内部一侧开设有固定卡槽18，固定卡槽18的一侧开设有内卡槽16，内卡槽16的一侧开设有卡接端槽17，固定卡槽18的内部卡接设置有检测探针12，内卡槽16的内部设置有电性连接块15，电性连接块15的一端固定连接有卡接端块14，卡接端块14与卡接端槽17之间卡接固定，检测探针12的一端与电性连接块15卡接固定，电性连接块15的一端固定连接有连接线13，连接线13穿过卡接端块14。

其整个检测结构1与支撑结构2达到的效果为，通过挤压弹簧25的设置，用于拉动支撑滑杆22移动，使得支撑滑杆22漏出，从而保证支撑端块21始终处于伸出状态，无须在使用时，将支撑端块21拉出使用，通过加强筋26的设置，用于增加支撑滑杆22的支撑强度，通过支撑橡胶垫28的设置，用于对支撑端块 21的下端进行保护，通过电性连接块15与卡接端块14的设置，使得检测探针12与持握手柄11之间为分离式设置，从而便于检测探针12的更换。

工作原理：在安装时，将检测探针12插入固定卡槽18，将卡接端块14与卡接端槽17之间卡接，从而使得电性连接块15与检测探针12之间接触连接，在使用时，将支撑端块21拉出，通过挤压弹簧25的弹性，拉动滑动端块23，使得支撑端块21始终处于伸出状态，在放置时，将支撑端块21的下端与放置面接触即可，在使用结束时，将支撑端块21挤压收回，使得支撑端块21与滑动底槽29自己挤压卡接，将支撑滑杆22进行固定。

需要注意的是，本发明中使用的多种标准件均是可以从市场上得到的，非标准件则是可以特别定制，本发明所采用的连接方式比如螺栓连接、焊接等也是机械领域中非常常见的手段，发明人在此不再赘述。

以上仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围。

Claims (6)

1.一种锡点测试银钯合金探针，包括检测结构(1)，其特征在于：所述检测结构(1)包括持握手柄(11)，所述持握手柄(11)的下端设置有支撑结构(2)，所述支撑结构(2)包括滑动底槽(29)，所述滑动底槽(29)开设在持握手柄(11)下端的中部两侧，所述滑动底槽(29)的两侧均开设有侧滑槽(212)，所述滑动底槽(29)的内部滑动连接有滑动端块(23)，所述滑动端块(23)的两侧均固定连接有侧滑卡块(24)，所述侧滑卡块(24)与侧滑槽(212)之间滑动卡接，所述滑动端块(23)的一端固定连接有支撑滑杆(22)，所述支撑滑杆(22)与滑动底槽(29)之间卡接设置，所述支撑滑杆(22)的一端固定连接以后支撑端块(21)。

2.根据权利要求1所述的锡点测试银钯合金探针，其特征在于：所述滑动底槽(29)的内部一端固定连接有限位挡块(210)，所述限位挡块(210)的下端与支撑滑杆(22)的上端贴合，所述侧滑卡块(24)的一端与限位挡块(210)的一端之间固定连接有挤压弹簧(25)。

3.根据权利要求2所述的锡点测试银钯合金探针，其特征在于：所述支撑滑杆(22)的上端固定连接有加强筋(26)，所述限位挡块(210)的下端开设有底滑槽(211)，所述底滑槽(211)与限位挡块(210)之间滑动卡接。

4.根据权利要求1所述的锡点测试银钯合金探针，其特征在于：所述支撑端块(21)的下端开设有卡接底槽(27)，所述卡接底槽(27)的内部卡接固定有支撑橡胶垫(28)。

5.根据权利要求1所述的锡点测试银钯合金探针，其特征在于：所述持握手柄(11)的内部一侧开设有固定卡槽(18)，所述固定卡槽(18)的一侧开设有内卡槽(16)，所述内卡槽(16)的一侧开设有卡接端槽(17)。

6.根据权利要求5所述的锡点测试银钯合金探针，其特征在于：所述固定卡槽(18)的内部卡接设置有检测探针(12)，所述内卡槽(16)的内部设置有电性连接块(15)，所述电性连接块(15)的一端固定连接有卡接端块(14)，所述卡接端块(14)与卡接端槽(17)之间卡接固定，所述检测探针(12)的一端与电性连接块(15)卡接固定，所述电性连接块(15)的一端固定连接有连接线(13)，所述连接线(13)穿过卡接端块(14)。

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