CN217277953U - 芯片检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测的技术领域，芯片检测设备包括：支架、检测相机、光源组件、罩壳和打标装置，所述检测相机和光源组件均安装在所述支架上，所述罩壳罩设在所述支架、检测相机和光源组件的外侧；所述罩壳的内壁上安装有打标装置，所述打标装置包括沿竖向依次连接的固定部、伸缩部和打标部，所述固定部与罩壳连接，所述伸缩部用于改变所述打标部与所述固定部之间的距离，以使所述打标部压在芯片上。

Description

芯片检测设备

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是涉及一种芯片检测设备。

背景技术

操作者在显微镜的辅助下对每个芯片或排线针脚进行观察，对于有缺陷的产品进行逐一检测，对有相关问题的产品手工进行标记处理，打标效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测设备，以缓解现有芯片检测过程中芯片标记效率低的技术问题。

本实用新型实施例提供的一种芯片检测设备，包括：支架、检测相机、光源组件、罩壳和打标装置，所述检测相机和光源组件均安装在所述支架上，所述罩壳罩设在所述支架、检测相机和光源组件的外侧；

所述罩壳的内壁上安装有打标装置，所述打标装置包括沿竖向依次连接的固定部、伸缩部和打标部，所述固定部与罩壳连接，所述伸缩部用于改变所述打标部与所述固定部之间的距离，以使所述打标部压在芯片上。

进一步的，所述伸缩部为气缸。

进一步的，所述罩壳内部上固定连接有轨道，所述固定部上连接有行进机构，所述行进机构能够沿所述轨道运动，以改变打标位置。

进一步的，所述行进机构包括电机和滚轮，所述电机用于驱动所述滚轮转动。

进一步的，所述轨道包括上下间隔设置的上凹槽和下凹槽，且上凹槽和下凹槽的开口朝向相对，所述滚轮位于上凹槽和下凹槽之间。

进一步的，所述固定部上具有沿横向延伸的上支撑部和下支撑部，所述上支撑部和下支撑部分别位于行进机构的上下两侧，且上支撑部和下支撑部分别支撑在罩壳的内壁上，避免打标部倾斜。

进一步的，所述上支撑部和下支撑部与罩壳接触的端部设置平衡轮，所述平衡轮的转轴沿竖向设置。

进一步的，所述打标部与伸缩部的端部可拆卸连接。

进一步的，所述打标部与伸缩部的端部通过锁销连接。

进一步的，所述打标部与伸缩部的端部通过螺纹连接。

本实用新型实施例提供的芯片检测设备，包括：支架、检测相机、光源组件、罩壳和打标装置，所述检测相机和光源组件均安装在所述支架上，所述罩壳罩设在所述支架、检测相机和光源组件的外侧；所述罩壳的内壁上安装有打标装置，所述打标装置包括沿竖向依次连接的固定部、伸缩部和打标部，所述固定部与罩壳连接，所述伸缩部用于改变所述打标部与所述固定部之间的距离，以使所述打标部压在芯片上。芯片检测设备使用时，可以将待检测的芯片放置在检测相机的下方，利用检测相机完成对待检测芯片的对焦，利用光源组件对待检测芯片进行照明，从而使检测相机能够拍摄到清晰的图像，然后再利用图像对比技术，将拍摄到的照片与预设图片进行对比，从而检测出芯片是否具有缺陷，采用上述设备对待检测芯片进行检测可以提高检测效率，同时可以避免人工检测可能出现的人为检测误差。罩壳可以避免外界光对芯片的检测产生影响。检测结束后，当需要对芯片进行打标时，可以利用伸缩部带动打标部向下运动，打标部压在芯片上形成标记，实现了检测打标一体化。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的芯片检测设备的示意图(罩壳未画)；

图2为本实用新型实施例提供的芯片检测设备的俯视图；

图3为本实用新型实施例提供的芯片检测设备的打标装置的示意图。

图标：100-支架；200-检测相机；300-光源组件；400-打标装置；410-固定部；420-伸缩部；430-打标部；500-罩壳；610-上凹槽；620-下凹槽；710-上支撑部；720-下支撑部；730-平衡轮；810-电机；820-滚轮。

具体实施方式

下面将结合实施例对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1-图3所示，本实用新型实施例提供的芯片检测设备，包括：支架100、检测相机200、光源组件300、罩壳500和打标装置400，所述检测相机200和光源组件300均安装在所述支架100上，所述罩壳500罩设在所述支架100、检测相机200和光源组件300的外侧；所述罩壳500的内壁上安装有打标装置400，所述打标装置400包括沿竖向依次连接的固定部410、伸缩部420和打标部430，所述固定部410与罩壳500连接，所述伸缩部420用于改变所述打标部430与所述固定部410之间的距离，以使所述打标部430压在芯片上。芯片检测设备使用时，可以将待检测的芯片放置在检测相机200的下方，利用检测相机200完成对待检测芯片的对焦，利用光源组件300对待检测芯片进行照明，从而使检测相机200能够拍摄到清晰的图像，然后再利用图像对比技术，将拍摄到的照片与预设图片进行对比，从而检测出芯片是否具有缺陷，采用上述设备对待检测芯片进行检测可以提高检测效率，同时可以避免人工检测可能出现的人为检测误差。罩壳500可以避免外界光对芯片的检测产生影响。检测结束后，当需要对芯片进行打标时，可以利用伸缩部420带动打标部430向下运动，打标部430压在芯片上形成标记，实现了检测打标一体化。

其中，支架100上可以设置第一升降机构，第一升降机构用于带动检测相机200升降，从而实现对焦，支架100上还可以设置有第二升降机构，第二升降用于带动光源上下运动，从而调节与芯片之间的竖向距离。

所述伸缩部420可以为气缸。

所述罩壳500内部上固定连接有轨道，所述固定部410上连接有行进机构，所述行进机构能够沿所述轨道运动，以改变打标位置。

行进机构通过轨道可以在水平面上运动，从而改变打标的位置，例如，在实际检测过程中，发现芯片存在不同的问题，针对不同的问题，可以改变打标的位置，进行分类，这样后续工作人员可以根据芯片上的打标位置不同进行集中分类处理。

轨道可以沿芯片的长度方向或者宽度方向延伸。

所述行进机构包括电机810和滚轮820，所述电机810用于驱动所述滚轮820转动。电机810的转轴带动滚轮820转动，从而在轨道上行进。

避免行进机构与轨道分离，所述轨道包括上下间隔设置的上凹槽610和下凹槽620，且上凹槽610和下凹槽620的开口朝向相对，所述滚轮820位于上凹槽610和下凹槽620之间，上凹槽610和下凹槽620起到上下方向的限位作用，其中，滚轮820的上半部分位于上凹槽610内，下半部分位于下凹槽620内。

所述固定部410上具有沿横向延伸的上支撑部710和下支撑部720，所述上支撑部710和下支撑部720分别位于行进机构的上下两侧，且上支撑部710和下支撑部720分别支撑在罩壳500的内壁上，避免打标部430倾斜。进一步的，所述上支撑部710和下支撑部720与罩壳500接触的端部设置平衡轮730，所述平衡轮730的转轴沿竖向设置，行进机构运动时，平衡轮730与罩壳500内部滚动接触。下支撑部720为了抵消打标装置400的自重所带来的倾斜趋势，而上支撑部710为了抵消达标过程中，打标部430与芯片压接时所带来的倾斜趋势。

所述打标部430与伸缩部420的端部可拆卸连接。所述打标部430与伸缩部420的端部可以通过锁销连接，例如，伸缩部420的活动端可以插入到打标部430顶面上的插孔内，然后横向用锁销贯穿伸缩部420和打标部430。或者，所述打标部430与伸缩部420的端部还可以通过螺纹连接。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种芯片检测设备，其特征在于，包括：支架(100)、检测相机(200)、光源组件(300)、罩壳(500)和打标装置(400)，所述检测相机(200)和光源组件(300)均安装在所述支架(100)上，所述罩壳(500)罩设在所述支架(100)、检测相机(200)和光源组件(300)的外侧；

所述罩壳(500)的内壁上安装有打标装置(400)，所述打标装置(400)包括沿竖向依次连接的固定部(410)、伸缩部(420)和打标部(430)，所述固定部(410)与罩壳(500)连接，所述伸缩部(420)用于改变所述打标部(430)与所述固定部(410)之间的距离，以使所述打标部(430)压在芯片上。

2.根据权利要求1所述的芯片检测设备，其特征在于，所述伸缩部(420)为气缸。

3.根据权利要求1所述的芯片检测设备，其特征在于，所述罩壳(500)内部上固定连接有轨道，所述固定部(410)上连接有行进机构，所述行进机构能够沿所述轨道运动，以改变打标位置。

4.根据权利要求3所述的芯片检测设备，其特征在于，所述行进机构包括电机(810)和滚轮(820)，所述电机(810)用于驱动所述滚轮(820)转动。

5.根据权利要求4所述的芯片检测设备，其特征在于，所述轨道包括上下间隔设置的上凹槽(610)和下凹槽(620)，且上凹槽(610)和下凹槽(620)的开口朝向相对，所述滚轮(820)位于上凹槽(610)和下凹槽(620)之间。

6.根据权利要求5所述的芯片检测设备，其特征在于，所述固定部(410)上具有沿横向延伸的上支撑部(710)和下支撑部(720)，所述上支撑部(710)和下支撑部(720)分别位于行进机构的上下两侧，且上支撑部(710)和下支撑部(720)分别支撑在罩壳(500)的内壁上，避免打标部(430)倾斜。

7.根据权利要求6所述的芯片检测设备，其特征在于，所述上支撑部(710)和下支撑部(720)与罩壳(500)接触的端部设置平衡轮(730)，所述平衡轮(730)的转轴沿竖向设置。

8.根据权利要求1所述的芯片检测设备，其特征在于，所述打标部(430)与伸缩部(420)的端部可拆卸连接。

9.根据权利要求8所述的芯片检测设备，其特征在于，所述打标部(430)与伸缩部(420)的端部通过锁销连接。

10.根据权利要求8所述的芯片检测设备，其特征在于，所述打标部(430)与伸缩部(420)的端部通过螺纹连接。

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