CN217111997U - 一种元器件测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出了一种元器件测试装置，包括支撑架，支撑架上设置有若干个呈阶梯形排列的透明框，透明框通过转轴与支撑架转动连接，透明框上侧转动连接有上盖；转轴固定套设有棘轮，支撑架开设有竖直方向设置的滑槽，滑槽内滑动连接有下滑座，下滑座上端通过弹簧连接有棘杆，棘杆与棘轮相适配；滑槽内还固定连接有限位块，限位块设置在下滑座下方，滑槽内还滑动连接有与下滑座相适配的楔杆，楔杆一端穿出支撑架，楔杆设置在下滑座下方；透明框内还设有温度传感器和光强度传感器。本装置操作简单、结构合理，可根据光照角度，自由调整透明框的角度，有效提高阳光斜射时的光照接受效果，并且可较为方便的实现测试装置整体的移动。

Description

一种元器件测试装置

技术领域

本实用新型涉及元器件测试技术领域，具体涉及一种元器件测试装置。

背景技术

计量设备的关键元器件性能及可靠性直接决定了整个计量设备的质量。长期在光照等典型环境条件下运行，关键元器件的主要性能参数会发生一定的变化。

为测试元器件在光照条件下运行时性能参数的变化，需要将元器件放在光照条件下测试。然而现有的元器件测试装置存在体积较大，没有设置相应的轮子，在搬运时易造成测试装置的损坏；同时现有的元器件测试装置没法根据光照角度及时调整角度，造成测试效果不准确等问题的出现。

实用新型内容

为了解决上述现有技术中存在的问题，提供了一种元器件测试装置。本装置操作简单、结构合理，可根据光照角度，自由调整透明框的角度，有效提高阳光斜射时的光照接受效果，并且可较为方便的实现测试装置整体的移动。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

本实用新型提出了一种元器件测试装置，包括支撑架，所述支撑架上设置有若干个呈阶梯形排列的透明框，所述透明框通过转轴与所述支撑架转动连接，所述透明框上侧转动连接有上盖；所述转轴固定套设有棘轮，所述支撑架开设有竖直方向设置的滑槽，所述滑槽内滑动连接有下滑座，所述下滑座上端通过弹簧连接有棘杆，所述棘杆与所述棘轮相适配；所述滑槽内还固定连接有限位块，所述限位块设置在所述下滑座下方，所述滑槽内还滑动连接有与所述下滑座相适配的楔杆，所述楔杆一端穿出所述支撑架，所述所述楔杆设置在所述下滑座下方；所述透明框内还设有温度传感器和光强度传感器，所述温度传感器和光强度传感器连接有控制器。

优选的，当下滑座与限位块相接触时，所述下滑座带动所述棘杆移动到所述棘轮下方。

优选的，所述限位块对称设置在所述下滑座两侧，所述楔杆宽度小于两个限位块之间的距离。

优选的，当楔杆滑动到两个限位块之间时，所述楔杆上端与所述下滑座下端相接触，此时下滑座带动棘杆移动到棘轮一侧。

优选的，所述限位块和所述滑槽之间留有供所述楔杆探入的空隙。

优选的，所述滑槽内滑动连接有上滑座，所述棘杆底端与所述上滑座上端固定连接，所述下滑座通过所述弹簧与所述上滑座相连。

优选的，所述弹簧设置在所述上滑座和所述下滑座之间，所述弹簧上端与所述上滑座相连，所述弹簧下端与所述下滑座相连。

优选的，所述支撑架底端还开设有活动空间和螺纹孔，所述活动空间和所述螺纹孔相连通，所述活动空间内滑动连接有下楔块，所述下楔块转动连接有行走轮；所述下楔块上方配合设置有上楔块，所述上楔块转动连接有螺杆，所述螺杆贯穿所述螺纹孔且与所述螺纹孔螺纹连接。

优选的，所述螺杆一端穿出所述螺纹孔且连接有手轮，所述螺杆螺纹连接有螺母，所述螺母设置在所述支撑架外侧。

优选的，所述上楔块和所述活动空间滑动连接，所述上楔块设置在所述下楔块上方，所述上楔块和所述下楔块相贴合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型中设置有呈阶梯状排列的透明框，透明框用于放置元器件，不仅能够辅助实现在光照条件下元器件性能的测试，而且避免了在阳光斜射时前排元器件影响后排元器件接收光照，具有空间利用率高、测试效果好的优点。

2.本实用新型还设置有棘轮，在透明框转动时，在棘杆的作用下，可实现棘轮位置的相对固定工作，便于实现透明框转动后的支撑工作，操作方便，在复位时，只需向外滑出楔杆，在重力的作用下，下滑座带动棘杆下降，此时棘杆不再对棘轮有限位作用，透明框可实现复位工作，可根据光照角度的改变调整元器件的角度，使元器件尽可能地接收直射，提高测试效果和测试效率。

3.本实用新型还设置有行走轮，上楔块水平方向移动可带动下楔块竖直方向移动，随着螺杆的旋入和旋出，可使行走轮移动到活动空间内或者使行走轮和地面相接触，便于实现装置整体的行走工作，在工作时，又可将行走轮移动到活动空间内，防止装置在使用时发生移动，有效提高测试的效率

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本实用新型整体立体图；

图2是本实用新型整体立体图(工作状态下)；

图3是图1中透明框结构示意图；

图4是图1中透明框结构侧视图(工作状态下)；

图5是本发明中棘轮部分结构示意图；

图6是本发明中棘轮部分结构示意图(工作状态下)；

图7是图5中楔杆结构示意图；

图8是图1中行走轮部分结构示意图。

附图标记说明:

1支撑架；11活动空间；12滑槽；13螺纹孔；2透明框；21转轴；22上盖；3棘轮；31棘杆；32上滑座；33弹簧；34下滑座；35限位块；4楔杆；5行走轮；51下楔块；52上楔块；53螺杆；54手轮；55螺母。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

实施例一

如图1-7所示，本实施例提出了一种元器件测试装置，包括支撑架1，支撑架1上设置有若干个呈阶梯形排列的透明框2，透明框2上侧转动连接有上盖22，通过上盖22可便于透明框2的打开，透明框2内还设有温度传感器和光强度传感器，温度传感器和光强度传感器连接有控制器。

透明框2用于放置元器件，元器件与控制器相连，控制器可对元器件的加压运行检测和结果记录。阶梯形排列的透明框2不仅能够辅助实现在光照条件下元器件性能的测试，而且避免了在阳光斜射时前排元器件影响后排元器件接收光照，具有空间利用率高、测试效果好的优点。

透明框2通过转轴21与支撑架1转动连接，透明框2和转轴21固定连接，转轴21两端和支撑架1转动连接。透明框2内设置有若干个凸起，该凸起用于实现透明框2转动时，防止元器件发生滑动。转轴21一端固定套设有棘轮3，支撑架1开设有竖直方向设置的滑槽12，滑槽12内滑动连接有下滑座34，下滑座34上端通过弹簧33连接有棘杆31，棘杆31与棘轮3相适配。

滑槽12对下滑座34的运动起到限位和导向的作用，在滑槽12的作用下，下滑座34仅可沿竖直方向滑动，棘杆31包括斜面和直面，直面设置在右侧，当棘轮3和该直面相接触时，可实现棘轮3的限位工作，防止在透明框2的重力作用下，棘轮3顺时针转动。

当透明框2逆时针转动时，棘轮3和棘杆31的斜面相接触，使弹簧33压缩，因此透明框2在逆时针转动时，可实现转动后的自动限位工作，便于实现透明框转动后的支撑工作，操作方便，有效提高测试的效率。

滑槽12内还固定连接有限位块35，限位块35设置在下滑座34下方，滑槽12内还滑动连接有与下滑座34相适配的楔杆4，楔杆4一端穿出支撑架1，楔杆4设置在下滑座34下方，棘杆4仅可进行水平方向的移动。

当楔杆4水平方向移动时，此时棘杆4不再对下滑座34有支撑作用，在重力的作用下，下滑座34下降，当下滑座34与限位块35相接触时，下滑座34带动棘杆31移动到棘轮3下方，此时棘杆31不再对棘轮3有限位作用。

限位块35对称设置在下滑座34两侧，楔杆4宽度小于两个限位块35之间的距离。便于楔杆4在限位块35之间滑动。

限位块35和滑槽12之间留有供楔杆4探入的空隙。该空隙便于楔杆4的尖端的探入，从而使得楔杆4可带动下滑座34向上运动。当楔杆4滑动到两个限位块35之间时，楔杆4上端与下滑座34下端相接触，此时下滑座34带动棘杆31移动到棘轮3一侧。

滑槽12内滑动连接有上滑座32，棘杆31底端与上滑座32上端固定连接，下滑座34通过弹簧33与上滑座32相连。

弹簧33设置在上滑座32和下滑座34之间，弹簧33上端与上滑座32相连，弹簧33下端与下滑座34相连。

在上滑座32和棘杆31的作用下，初始状态下，弹簧33处于压缩的状态，弹簧33的弹力足够合适，从而使得棘杆31可移动到棘轮3的一侧，从而对棘轮3起到限位作用。

实施例二

参考附图8，其它结构同实施例一相同，不同之处在于，在本实施例中，考虑到，装置的行走问题。

支撑架1底端还开设有活动空间11和螺纹孔13，活动空间11和螺纹孔13相连通，螺纹孔13设置在活动空间11的一侧。活动空间11内滑动连接有下楔块51，下楔块51转动连接有行走轮5；下楔块51始终在活动空间11内滑动，且下楔块51仅可进行竖直方向的滑动。

下楔块51上方配合设置有上楔块52，上楔块52上端和活动空间11滑动连接，上楔块52仅可进行水平方向的滑动。上楔块52通过轴承转动连接有螺杆53，螺杆53贯穿螺纹孔13且与螺纹孔13螺纹连接。

活动空间11和行走轮5均各设置有4个，且设置在支撑架1的四个对角处，从而可对支撑架1有较好的支撑作用。

螺杆53一端穿出螺纹孔13且连接有手轮54，螺杆53螺纹连接有螺母55，螺母55设置在支撑架1外侧。手轮54便于转动螺杆53。可通过旋紧螺母55，实现螺杆53位置的相对固定，防止螺杆53转动。

上楔块52设置在下楔块51上方，上楔块52和下楔块51相贴合。考虑到楔块本身的形状特点，螺杆53向靠近支撑架1的方向移动时，上楔块52和下楔块51相互配合，从而可实现行走轮5位置的相对固定。当螺杆53向远离支撑架1方向运动时，此时行走轮5可在活动空间11内向上移动，支撑架1的底面与地面相接触，从而使支撑架1整体的稳定性更好。

具体工作过程如下：阶梯状的透明框2朝向阳光，便于进行元器件的测试工作，根据光照角度的变化，当需要透明框2逆时针转动时，逆时针转动透明框2，转轴21带动棘轮3转动，棘轮3带动棘杆31向下移动，此时弹簧33压缩。当需要透明框2顺时针转动，向外拉动楔杆4，楔杆4不再对下滑座34起到支撑的作用，在重力的作用下，下滑座34带动棘杆31下降，使棘杆31和棘轮3脱离配合，下滑座34和限位块35相接触，透明框2可顺时针转动。

当需要车体位置相对固定时，旋松螺母55，通过手轮54带动螺杆53转动，螺杆53向远离支撑架1的方向运动，螺杆53带动上楔块52水平方向运动，上楔块52和下楔块51脱离配合，上楔块52带动行走轮5向上运动，从而使支撑架1底端和地面相接触，实现装置整体的支撑。

当需要车体移动时，通过手轮54带动螺杆53转动，螺杆53向靠近支撑架1的方向运动，螺杆53带动上楔块52水平方向运动，上楔块52带动下楔块51向下运动，使行走轮5和地面相接触，然后旋紧螺母55，便于实现装置整体的移动。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种元器件测试装置，包括支撑架(1)，其特征在于，所述支撑架(1)上设置有若干个呈阶梯形排列的透明框(2)，所述透明框(2)通过转轴(21)与所述支撑架(1)转动连接，所述透明框(2)上侧转动连接有上盖(22)；所述转轴(21)固定套设有棘轮(3)，所述支撑架(1)开设有竖直方向设置的滑槽(12)，所述滑槽(12)内滑动连接有下滑座(34)，所述下滑座(34)上端通过弹簧(33)连接有棘杆(31)，所述棘杆(31)与所述棘轮(3)相适配；所述滑槽(12)内还固定连接有限位块(35)，所述限位块(35)设置在所述下滑座(34)下方，所述滑槽(12)内还滑动连接有与所述下滑座(34)相适配的楔杆(4)，所述楔杆(4)一端穿出所述支撑架(1)，所述楔杆(4)设置在所述下滑座(34)下方；所述透明框(2)内还设有温度传感器和光强度传感器，所述温度传感器和光强度传感器连接有控制器。

2.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置，其特征在于，当下滑座(34)与限位块(35)相接触时，所述下滑座(34)带动所述棘杆(31)移动到所述棘轮(3)下方。

3.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述限位块(35)对称设置在所述下滑座(34)两侧，所述楔杆(4)宽度小于两个限位块(35)之间的距离。

4.根据权利要求3所述的一种元器件测试装置，其特征在于，当楔杆(4)滑动到两个限位块(35)之间时，所述楔杆(4)上端与所述下滑座(34)下端相接触，此时下滑座(34)带动棘杆(31)移动到棘轮(3)一侧。

5.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述限位块(35)和所述滑槽(12)之间留有供所述楔杆(4)探入的空隙。

6.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述滑槽(12)内滑动连接有上滑座(32)，所述棘杆(31)底端与所述上滑座(32)上端固定连接，所述下滑座(34)通过所述弹簧(33)与所述上滑座(32)相连。

7.根据权利要求6所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述弹簧(33)设置在所述上滑座(32)和所述下滑座(34)之间，所述弹簧(33)上端与所述上滑座(32)相连，所述弹簧(33)下端与所述下滑座(34)相连。

8.根据权利要求1所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述支撑架(1)底端还开设有活动空间(11)和螺纹孔(13)，所述活动空间(11)和所述螺纹孔(13)相连通，所述活动空间(11)内滑动连接有下楔块(51)，所述下楔块(51)转动连接有行走轮(5)；所述下楔块(51)上方配合设置有上楔块(52)，所述上楔块(52)转动连接有螺杆(53)，所述螺杆(53)贯穿所述螺纹孔(13)且与所述螺纹孔(13)螺纹连接。

9.根据权利要求8所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述螺杆(53)一端穿出所述螺纹孔(13)且连接有手轮(54)，所述螺杆(53)螺纹连接有螺母(55)，所述螺母(55)设置在所述支撑架(1)外侧。

10.根据权利要求8所述的一种元器件测试装置，其特征在于，所述上楔块(52)和所述活动空间(11)滑动连接，所述上楔块(52)设置在所述下楔块(51)上方，所述上楔块(52)和所述下楔块(51)相贴合。

Images