CN217083623U - 一种滑块的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种滑块的检测装置,涉及平行度检测技术领域。该滑块的检测装置包括检测平台、导轨和第一检测机构;导轨固定于检测平台上,待测滑块与导轨配合,能沿导轨的长度方向移动;第一检测机构包括检测杆和第一千分表,检测杆设置于待测滑块的第一基准面的一侧,与检测平台转动连接,检测杆包括第一端和与第一端相对设置的第二端,第一端固定连接有检测头,检测头与第一基准面抵接;第一千分表固定于检测平台上,第一千分表包括第一测头,第一测头与第二端抵接。本实用新型提供的滑块的检测装置,结构简单,检测效率高,适用于滑块的批量检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及平行度检测技术领域,尤其涉及一种滑块的检测装置。
背景技术
线性滑轨作为传动部件应用非常广泛。线性滑轨一般由滑轨、滑块和滚子构成。线性滑轨自身的性能参数极大地影响了整个设备的性能。衡量线性滑轨的精度一般需要检测三组数据:1、滑块上安装面与滑轨下安装面的行走平行度误差;2、滑块侧面与轨道侧面的行走平行度误差;3、在同一轴上使用的滑块之间的组合高度(等高)误差。
滚柱型滑块或滚珠型滑块在批量生产后,需对滑块的平行精度进行检测,现有技术中的滑块的检测装置结构复杂,检测效率低,不利于批量检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提出一种滑块的检测装置,该滑块的检测装置的检测效率高,适用于批量检测。
为达此目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种滑块的检测装置,包括:
检测平台;
导轨,固定于所述检测平台上,待测滑块与所述导轨配合,能沿所述导轨的长度方向移动;
第一检测机构,包括检测杆和第一千分表,所述检测杆设置于所述待测滑块的第一基准面的一侧,与所述检测平台转动连接,所述检测杆包括第一端和与所述第一端相对设置的第二端,所述第一端固定连接有检测头,所述检测头与所述第一基准面抵接;所述第一千分表固定于所述检测平台上,所述第一千分表包括第一测头,所述第一测头与所述第二端抵接。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第一检测机构还包括第一固定基座,所述第一固定基座与所述检测平台可拆卸连接,所述检测杆通过轴承与所述第一固定基座转动连接。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述检测杆包括阶梯孔,所述阶梯孔位于所述第一端和所述第二端之间;所述第一固定基座上设置有套筒,所述套筒上设置有内螺纹,所述轴承的内孔与所述套筒的外壁过盈配合,所述轴承的外壁与所述阶梯孔的较大直径的孔过盈配合,连接螺栓穿过所述阶梯孔的较小直径的孔与所述套筒螺接。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第一固定基座靠近所述第一千分表的一端设置有两个限位块,所述检测杆位于两个所述限位块之间,两个所述限位块能限制所述检测杆的转动角度。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第一检测机构还包括第二固定基座,所述第二固定基座与所述检测平台可拆卸连接,且与所述第二端相对设置,所述第一千分表固定于所述第二固定基座上。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第二固定基座上设置有第一通孔,所述第一千分表包括第一表盘和第一测头座,所述第一测头座固定于所述第一表盘的一端,所述第一测头活动设置于所述第一测头座远离所述第一表盘的一端,所述第一测头座穿过所述第一通孔,以使所述第一测头与所述第二端抵接。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第一测头和所述检测头位于所述检测杆的同侧。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第一测头和所述检测头位于所述检测杆的异侧。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述滑块的检测装置还包括第二检测机构,所述第二检测机构包括第二千分表,所述第二千分表设置于所述待测滑块的上方,所述第二千分表包括第二测头,所述第二测头与所述待测滑块的第二基准面抵接,在所述待测滑块沿所述导轨的长度方向移动时,所述第二千分表用于检测所述第二基准面的平行精度。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述第二检测机构还包括固定支架,所述固定支架包括立柱和支撑杆,所述支撑杆的一端固定于所述立柱上,另一端设置于所述第二基准面的上方,所述第二千分表固定于所述支撑杆位于所述第二基准面的上方的一端。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述支撑杆在所述立柱上的高度可调。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,所述滑块的检测装置还包括支撑平台,所述立柱和所述检测平台均固定于所述支撑平台上。
本实用新型的有益效果:
本实用新型提供的滑块的检测装置,通过第一检测机构对待测滑块的第一基准面进行检测,第一检测机构包括检测杆和第一千分表,检测杆的第一端设置有检测头,检测头与第一基准面抵接,第二端与固定于检测平台上的第一千分表的第一测头抵接,检测杆与检测平台转动连接。本实用新型提供的滑块的检测装置,结构简单,检测效率高,适用于滑块的批量检测。
附图说明
图1是本实用新型具体实施方式提供的滑块的检测装置的结构示意图;
图2是本实用新型具体实施方式提供的第一固定基座与检测杆配合的俯视图;
图3是图2中A-A向的剖视图。
图中:
100、待测滑块;
101、第一基准面;102、第二基准面;
1、检测平台;2、导轨;3、第一检测机构;4、第二检测机构;5、支撑平台;
31、检测杆;32、第一千分表;33、检测头;34、第一固定基座;35、轴承;36、连接螺栓;37、第二固定基座;41、第二千分表;42、固定支架;
321、第一测头;322、第一表盘;323、第一测头座;341、套筒;342、限位块;411、第二测头;421、立柱;422、支撑杆;
4221、第一弹性夹持部;4222、第二弹性夹持部。
具体实施方式
为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚,下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。
在本实用新型的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本实施例的描述中,术语“上”、“下”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述和简化操作,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分,并没有特殊的含义。
滑块包括滚柱型滑块和滚珠型滑块,无论是滚柱型滑块还是滚珠型滑块,都能与导轨配合,带动负载沿导轨以高速度和高精度做线性运动。为了保证线性运动的精度,滑块在批量生产后,装配完成的滑块需要进行检测分类,主要检测组合高度和行走精度。
如图1和图2所示,本实施例提供了一种滑块的检测装置,包括检测平台1、导轨2、第一检测机构3和第二检测机构4,导轨2固定于检测平台1上,待测滑块100与导轨2配合,能沿导轨2的长度方向移动。第一检测机构3用于检测待测滑块100的第一基准面101,第二检测机构4用于检测待测滑块100的第二基准面102。第一基准面101为待测滑块100的侧面,第二基准面102为待测滑块100的上表面,通过检测待测滑块100的上表面的平行精度判断组合高度误差。
本实施例提供的滑块的检测装置,在待测滑块100沿导轨2移动的过程中,通过第一检测机构3检测待测滑块100的侧面的平行精度,同时,通过第二检测机构4检测待测滑块100的上表面的平行精度;能够同时检测待测滑块100的组合高度和行走精度,大大提高了检测效率,适用于滑块的批量检测。
第一检测机构3包括检测杆31和第一千分表32,检测杆31设置于待测滑块100的第一基准面101的一侧,与检测平台1转动连接,检测杆31包括第一端和与第一端相对设置的第二端,第一端固定连接有检测头33,检测头33与第一基准面101抵接;第一千分表32固定于检测平台1上,第一千分表32包括第一测头321,第一测头321与第二端抵接。待测滑块100在导轨2上移动时,检测头33在第一基准面101上移动,根据杠杆原理,当检测头33接收到第一基准面101的平行度变化时,会显示在与第二端抵接的第一千分表32上,从而通过第一千分表32读出第一基准面101的平行精度的数值。该第一检测机构3利用杠杆原理将第一基准面101的平行度变化直接通过第一千分表32显示,结构简单。同种规格的待测滑块100在检测时,只需将待测滑块100与导轨2配合,将检测头33与待测滑块100的第一基准面101抵接即可,在批量检测时,无需反复拆装第一检测机构3,检测效率高。
第一检测机构3还包括第一固定基座34和第二固定基座37,第一固定基座34和第二固定基座37均与检测平台1可拆卸连接,检测杆31通过轴承35与第一固定基座34转动连接。第二固定基座37与检测杆31的第二端相对设置,第一千分表32固定于第二固定基座37上。
由于不同规格的待测滑块100的第一基准面101的高度也不相同,在检测时,检测头33需要与第一基准面101位于同一高度;相应地,第一千分表32需与检测头33位于同一高度。因此,将第一固定基座34和第二固定基座37均与检测平台1通过螺栓等方式可拆卸连接,便于在检测不同规格的待测滑块100时,更换不同高度的第一固定基座34和第二固定基座37,以满足不同规格的滑块的检测。
如图2和图3所示,作为滑块的检测装置的一个可选方案,检测杆31包括阶梯孔,阶梯孔位于第一端和第二端之间;第一固定基座34上设置有套筒341,套筒341上设置有内螺纹,轴承35的内孔与套筒341的外壁过盈配合,轴承35的外壁与阶梯孔的较大直径的孔过盈配合,连接螺栓36穿过阶梯孔的较小直径的孔与套筒341螺接。通过在检测杆31的第一端和第二端之间设置阶梯孔,较大直径的孔靠近第一固定基座34设置,将轴承35设置于较大直径的孔内,连接螺栓36与套筒341螺接后,连接螺栓36的螺帽抵接在轴承35远离第一固定基座34的一侧,限制了检测杆31沿竖直方向的移动,保证了检测杆31的稳定性,进一步地提高了检测精度。
当然,在其他实施例中,也可以在第一固定基座34上固定连接轴,在检测杆31上设置第二通孔,轴承35套设于连接轴上,与第二通孔过盈配合,也能实现检测杆31与第一固定基座34转动连接。
第一千分表32包括第一表盘322和第一测头座323,第一测头座323固定于第一表盘322的一端,第一测头321活动设置于第一测头座323远离第一表盘322的一端,当第一基准面101的平行度发生变化,检测头33始终保持与第一基准面101抵接,第一端的位置会发生变化,检测杆31便会发生转动,相应地,第二端的位置也会发生变化。而第一千分表32的示值范围一般为0~10毫米,最大可达到100毫米。如果第一基准面101的平行度变化过大,或检测杆31受外力干扰转动角度过大,可能会导致第一测头321受到过度挤压,损坏第一千分表32;或第一测头321无法与第二端抵接,从而无法检测的情况发生。
作为滑块的检测装置的一个可选方式,第一固定基座34靠近第一千分表32的一端设置有两个限位块342,检测杆31位于两个限位块342之间,两个限位块342能限制检测杆31的转动角度。通过在第一固定基座34靠近第一千分表32的一端设置两个限位块342,两个限位块342之间的间距根据第一千分表32的示值范围设定,以避免第一测头321受到过度挤压,损坏第一千分表32;或避免第一测头321无法与第二端抵接,从而无法检测的情况发生。
优选地,在第一固定基座34远离第一千分表32的一端也设置有一个限位块342,该限位块342位于检测杆31远离待测滑块100的一侧,该限位块342与检测杆31之间的距离根据第一测头座323允许的平行度的最大偏差值设置,以避免检测杆31受外力干扰等情况造成的检测头33与第一基准面101无法抵接。
第二固定基座37上设置有第一通孔,第一测头座323穿过第一通孔,以使第一测头321与第二端抵接。第一通孔的轴线和检测头33的轴线位于同一高度,以使检测头33和第一测头321位于同一高度。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,第一测头321和检测头33可以位于检测杆31的同侧,也可以位于检测杆31的异侧。第一测头321和检测头33位于同侧或异侧,第一千分表32都可显示平行度变化的相对值。不论第一测头321和检测头33是位于检测杆31的同侧还是异侧,第一千分表32显示数值的绝对值相同,只需判断平行度变化的正负值。
第二检测机构4包括第二千分表41,第二千分表41设置于待测滑块100的上方,第二千分表41包括第二测头411,第二测头411与待测滑块100的第二基准面102抵接,在待测滑块100沿导轨2的长度方向移动时,第二千分表41用于检测第二基准面102的平行精度。在待测滑块100沿导轨2的长度方向移动时,第一千分表32用于检测第一基准面101的平行精度,第二千分表41用于检测第二基准面102的平行精度,能够同时检测待测滑块100的第一基准面101和第二基准面102的平行精度,检测效率高。
第二检测机构4还包括固定支架42和支撑平台5,固定支架42包括立柱421和支撑杆422,支撑杆422的一端固定于立柱421上,另一端设置于第二基准面102的上方,第二千分表41固定于支撑杆422位于第二基准面102的上方的一端。立柱421和检测平台1均固定于支撑平台5上。通过固定支架42固定第二千分表41,使得第二千分表41的第二测头411与第二基准面102抵接,在本实施例中,将检测平台1和固定支架42均固定于支撑平台5上,检测平台1和支撑平台5的平行度都经过校准,对待测滑块100的组合误差影响较小,检测精度高。当然,在其他实施例中,也可以将检测平台1和固定支架42固定于经过平行度校准的地面上。
作为滑块的检测装置的一个可选方案,支撑杆422在立柱421上的高度可调。将支撑杆422在立柱421上的高度设置为可调的,能够适应不同规格的待测滑块100的第二基准面102的检测,适用性更广泛。
在本实施例中,支撑杆422的两端分别设置有第一弹性夹持部4221和第二弹性夹持部4222,第一弹性夹持部4221用于夹持第二千分表41,第二弹性夹持部4222用于夹持立柱421。当待测滑块100的高度变化不大时,可将第一弹性夹持部4221手动掰开,通过调节第二千分表41的高度,适应待测滑块100的高度,当第二千分表41的高度调好之后,松开第一弹性夹持部4221,第一弹性夹持部4221自动夹紧第二千分表41。当待测滑块100的高度变化较大时,只调节第二千分表41的高度无法与待测滑块100的上表面抵接,则将第二弹性夹持部4222手动掰开,调节支撑杆422在立柱421上的高度,以适应待测滑块100的高度变化,将支撑杆422调节至合适高度后,松开第二弹性夹持部4222,第二弹性夹持部4222自动夹紧立柱421。
将支撑杆422设置为在立柱421上的高度可调的方式有很多,本领域技术人员可自主设定。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (12)
1.一种滑块的检测装置,其特征在于,包括:
检测平台(1);
导轨(2),固定于所述检测平台(1)上,待测滑块(100)与所述导轨(2)配合,能沿所述导轨(2)的长度方向移动;
第一检测机构(3),包括检测杆(31)和第一千分表(32),所述检测杆(31)设置于所述待测滑块(100)的第一基准面(101)的一侧,与所述检测平台(1)转动连接,所述检测杆(31)包括第一端和与所述第一端相对设置的第二端,所述第一端固定连接有检测头(33),所述检测头(33)与所述第一基准面(101)抵接;所述第一千分表(32)固定于所述检测平台(1)上,所述第一千分表(32)包括第一测头(321),所述第一测头(321)与所述第二端抵接。
2.根据权利要求1所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第一检测机构(3)还包括第一固定基座(34),所述第一固定基座(34)与所述检测平台(1)可拆卸连接,所述检测杆(31)通过轴承(35)与所述第一固定基座(34)转动连接。
3.根据权利要求2所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述检测杆(31)包括阶梯孔,所述阶梯孔位于所述第一端和所述第二端之间;所述第一固定基座(34)上设置有套筒(341),所述套筒(341)上设置有内螺纹,所述轴承(35)的内孔与所述套筒(341)的外壁过盈配合,所述轴承(35)的外壁与所述阶梯孔的较大直径的孔过盈配合,连接螺栓(36)穿过所述阶梯孔的较小直径的孔与所述套筒(341)螺接。
4.根据权利要求2所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第一固定基座(34)靠近所述第一千分表(32)的一端设置有两个限位块(342),所述检测杆(31)位于两个所述限位块(342)之间,两个所述限位块(342)能限制所述检测杆(31)的转动角度。
5.根据权利要求1所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第一检测机构(3)还包括第二固定基座(37),所述第二固定基座(37)与所述检测平台(1)可拆卸连接,且与所述第二端相对设置,所述第一千分表(32)固定于所述第二固定基座(37)上。
6.根据权利要求5所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第二固定基座(37)上设置有第一通孔,所述第一千分表(32)包括第一表盘(322)和第一测头座(323),所述第一测头座(323)固定于所述第一表盘(322)的一端,所述第一测头(321)活动设置于所述第一测头座(323)远离所述第一表盘(322)的一端,所述第一测头座(323)穿过所述第一通孔,以使所述第一测头(321)与所述第二端抵接。
7.根据权利要求1所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第一测头(321)和所述检测头(33)位于所述检测杆(31)的同侧。
8.根据权利要求1所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第一测头(321)和所述检测头(33)位于所述检测杆(31)的异侧。
9.根据权利要求1-8任一项所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述滑块的检测装置还包括第二检测机构(4),所述第二检测机构(4)包括第二千分表(41),所述第二千分表(41)设置于所述待测滑块(100)的上方,所述第二千分表(41)包括第二测头(411),所述第二测头(411)与所述待测滑块(100)的第二基准面(102)抵接,在所述待测滑块(100)沿所述导轨(2)的长度方向移动时,所述第二千分表(41)用于检测所述第二基准面(102)的平行精度。
10.根据权利要求9所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述第二检测机构(4)还包括固定支架(42),所述固定支架(42)包括立柱(421)和支撑杆(422),所述支撑杆(422)的一端固定于所述立柱(421)上,另一端设置于所述第二基准面(102)的上方,所述第二千分表(41)固定于所述支撑杆(422)位于所述第二基准面(102)的上方的一端。
11.根据权利要求10所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述支撑杆(422)在所述立柱(421)上的高度可调。
12.根据权利要求10所述的滑块的检测装置,其特征在于,所述滑块的检测装置还包括支撑平台(5),所述立柱(421)和所述检测平台(1)均固定于所述支撑平台(5)上。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202220664411.0U CN217083623U (zh) | 2022-03-24 | 2022-03-24 | 一种滑块的检测装置 |
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CN118090766A (zh) * | 2024-04-19 | 2024-05-28 | 东莞市兆丰精密仪器有限公司 | 芯片检测设备及调试方法 |
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- 2022-03-24 CN CN202220664411.0U patent/CN217083623U/zh active Active
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Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
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