CN217007575U - 一种导体器件检测装置 - Google Patents

一种导体器件检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN217007575U
CN217007575U CN202123241684.9U CN202123241684U CN217007575U CN 217007575 U CN217007575 U CN 217007575U CN 202123241684 U CN202123241684 U CN 202123241684U CN 217007575 U CN217007575 U CN 217007575U
Authority
CN
China
Prior art keywords
conductor
plate
mounting
groove
backup pad
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN202123241684.9U
Other languages
English (en)
Inventor
黄兴
朱艳军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Qishixin Automation Technology Co ltd
Original Assignee
Suzhou Qishixin Automation Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Qishixin Automation Technology Co ltd filed Critical Suzhou Qishixin Automation Technology Co ltd
Priority to CN202123241684.9U priority Critical patent/CN217007575U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN217007575U publication Critical patent/CN217007575U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种导体器件检测装置,属于导体检测技术领域,包括检测台,检测台的顶面中部固定安装支撑板,支撑板上安装定位机构,定位机构与支撑板间卡接导体件,支撑板两侧的检测台上均滑动安装滑板,滑板顶面远离支撑板的一侧铰接安装板的一侧,滑板的顶面两端均安装卡块,安装板的两端端面均开有卡槽,卡块卡接卡槽,安装板上安装探头组件。导体件通过定位机构定位固定在支撑板上,通过调节多个探头组件在安装板上的位置,使得探头组件与导体件引脚对应,然后转动安装板,使得安装板贴合滑板顶部,此时探头组件分别与引脚接触,安装板通过卡块和卡槽快速固定,从而便于对不同型号的导体件进行快速检测。

Description

一种导体器件检测装置
技术领域
本实用新型涉及导体检测技术领域,具体为一种导体器件检测装置。
背景技术
在电路板等电子器件上常常会安装许多导体以及半导体器件,这些器件在加工后需要对其进行抽检,目前的抽检都是将导体器件放置在检测台上,然后人工手持探头接触导体的引脚,从而检测导体性能,但是存在以下不足:1、导体依靠人工手持固定,而人工又需要手持探头与引脚接触,操作不便;2、不同导体的引脚数量及间距不同,人工手持探头每次只能接触一个引脚,检测效率低,为此我们提出一种导体器件检测装置用于解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种导体器件检测装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种导体器件检测装置,包括检测台,所述检测台的顶面中部固定安装支撑板,所述支撑板上安装定位机构,所述定位机构与支撑板间卡接导体件,所述支撑板两侧的检测台上均滑动安装滑板,所述滑板顶面远离支撑板的一侧铰接安装板的一侧,所述滑板的顶面两端均安装卡块,所述安装板的两端端面均开有卡槽,所述卡块卡接卡槽,所述安装板上安装探头组件。
优选的,所述支撑板两侧的检测台上均开有多个螺栓孔,所述滑板的两端底部均固定安装连接板,所述连接板套接锁紧螺栓,且锁紧螺栓螺纹连接螺栓孔。
优选的,所述卡块为弹性L型结构,所述卡槽为L型结构,所述卡块远离滑板的一端外壁为倾斜结构。
优选的,所述定位机构包括定位板,所述支撑板一端的检测台上固定安装定位板,所述定位板的顶部固定安装固定板,所述固定板上通过螺纹结构套接压紧螺栓,所述压紧螺栓的底部转动卡接第一夹板,所述支撑板上通过螺栓安装第二夹板,所述第一夹板和第二夹板紧密压在导体件的两端顶面。
优选的,所述第一夹板为贴合定位板的长方体结构,所述第二夹板为Z型结构,且第二夹板转动连接螺栓,所述支撑板顶部开有多个螺纹孔。
优选的,所述探头组件包括滑槽,所述安装板的顶面开有滑槽,所述滑槽内滑动卡接多个安装块,所述安装块的底面开有收纳槽,所述滑槽的底面开有插槽,所述收纳槽内滑动卡接插块,所述插块的两侧外壁与插槽的两侧内壁间安装相配合的锁定齿,所述插块的顶面通过螺纹结构套接调节螺栓,所述调节螺栓贯穿收纳槽并转动卡接插块,所述安装块靠近支撑板的一端顶部固定安装探针,所述安装块的另一端固定套接连接线,所述连接线贯穿安装块并电连接探针。
优选的,所述安装块与滑槽的底部为T型结构,所述探针为倾斜向下的弹性铜片,所述插块的厚度大于插槽的深度,且插块的厚度小于收纳槽的深度。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:
1、导体件放在支撑板上后,端面贴合定位板,从而使得导体件两端的引脚与安装板平行,便于多个探针组件接触引脚,然后转动压紧螺栓,使得第一夹板压紧导体件,第二夹板通过螺栓固定然后压紧导体件的另一端,安装便捷,导体件固定稳定,便于检测;
2、安装块能够沿滑槽滑动,从而使得探针正对导体件的引脚,然后转动调节螺栓,使得插块插入插槽内,锁定齿啮合,使得安装块固定,将多个探针依次调节对应引脚后,安装板转动贴合滑板时,探针通过自身弹力压紧在引脚上,卡槽先通过卡块的倾斜面挤压卡块,使得卡块张开,当安装板贴合滑板时,卡块在自身弹力下完全卡入卡槽,实现安装板的快速固定,保持探针组件与引脚接触稳定,连接线连接外部电性测试设备,从而快速检测不同型号的导体件;
3、检测后,手动将卡块拉离卡槽,即可转动安装板使得探针组件与引脚分离,便于更换同型号的导体件,然后再次闭合安装板即可,从而便于批量检测。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图,
图2为本实用新型图1中A处放大结构示意图,
图3为本实用新型探头组件处局部剖面结构示意图。
图中:1、检测台;2、支撑板;3、导体件;4、定位机构;41、定位板;42、固定板;43、第一夹板;44、压紧螺栓;45、第二夹板;5、滑板;6、安装板;7、卡块;8、卡槽;9、探头组件;91、滑槽;92、安装块;93、插槽;94、收纳槽;95、插块;96、锁定齿;97、调节螺栓;98、探针;99、连接线;10、连接板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例:如图1-3所示,本实用新型提供了一种导体器件检测装置,包括检测台1,检测台1的顶面中部固定安装支撑板2,支撑板2上安装定位机构4,定位机构4与支撑板2间卡接导体件3,支撑板2两侧的检测台1上均滑动安装滑板5,滑板5顶面远离支撑板2的一侧铰接安装板6的一侧,滑板5的顶面两端均安装卡块7,安装板6的两端端面均开有卡槽8,卡块7卡接卡槽8,安装板6上安装探头组件9。导体件3通过定位机构4定位固定在支撑板2上,通过调节多个探头组件9在安装板6上的位置,使得探头组件9与导体件3引脚对应,然后转动安装板6,使得安装板6贴合滑板5顶部,此时探头组件9分别与引脚接触,安装板6通过卡块7和卡槽8快速固定,从而便于对不同型号的导体件3进行快速检测。
支撑板2两侧的检测台1上均开有多个螺栓孔,滑板5的两端底部均固定安装连接板10,连接板10套接锁紧螺栓,且锁紧螺栓螺纹连接螺栓孔,便于调节滑板5的位置,方便检测不同宽度的导体件3时,探头组件9能够接触引脚。
卡块7为弹性L型结构,卡槽8为L型结构,卡块7远离滑板5的一端外壁为倾斜结构,则安装板6转动靠近滑板5时,卡槽8先通过卡块7的倾斜面挤压卡块7,使得卡块7张开,当安装板6贴合滑板5时,卡块7在自身弹力下完全卡入卡槽8,实现安装板6的快速固定,保持探头组件9与引脚接触稳定,手动将卡块7拉离卡槽8,即可转动安装板6使得探头组件9与引脚分离,便于更换导体件3,从而便于快速、批量检测。
定位机构4包括定位板41,支撑板2一端的检测台1上固定安装定位板41,定位板41的顶部固定安装固定板42,固定板42上通过螺纹结构套接压紧螺栓44,压紧螺栓44的底部转动卡接第一夹板43,支撑板2上通过螺栓安装第二夹板45,第一夹板43和第二夹板45紧密压在导体件3的两端顶面,第一夹板43为贴合定位板41的长方体结构,第二夹板45为Z型结构,且第二夹板45转动连接螺栓,支撑板2顶部开有多个螺纹孔,则导体件3放在支撑板2上后,端面贴合定位板41,从而使得导体件3两端的引脚与安装板6平行,便于多个探头组件9接触引脚,然后转动压紧螺栓44,使得第一夹板43压紧导体件3,第二夹板45通过螺栓固定然后压紧导体件3的另一端,安装便捷,导体件3固定稳定,便于检测。
探头组件9包括滑槽91,安装板6的顶面开有滑槽91,滑槽91内滑动卡接多个安装块92,安装块92的底面开有收纳槽94,滑槽91的底面开有插槽93,收纳槽94内滑动卡接插块95,插块95的两侧外壁与插槽93的两侧内壁间安装相配合的锁定齿96,插块95的顶面通过螺纹结构套接调节螺栓97,调节螺栓97贯穿收纳槽94并转动卡接插块95,安装块92靠近支撑板2的一端顶部固定安装探针98,安装块92的另一端固定套接连接线99,连接线99贯穿安装块92并电连接探针98,安装块92与滑槽91的底部为T型结构,探针98为倾斜向下的弹性铜片,插块95的厚度大于插槽93的深度,且插块95的厚度小于收纳槽94的深度,则转动调节螺栓97,使得插块95完全滑入收纳槽94内,此时安装块92能够沿滑槽91滑动,从而使得探针98正对导体件3的引脚,然后转动调节螺栓97,使得插块95插入插槽93内,锁定齿96啮合,使得安装块92固定,将多个探针98依次调节对应引脚后,安装板6转动贴合滑板5时,探针98通过自身弹力压紧在引脚上,连接线99连接外部电性测试设备,从而快速检测导体件3。
工作原理:导体件3放在支撑板2上后,端面贴合定位板41,从而使得导体件3两端的引脚与安装板6平行,便于多个探头组件9接触引脚,然后转动压紧螺栓44,使得第一夹板43压紧导体件3,第二夹板45通过螺栓固定然后压紧导体件3的另一端,安装便捷,导体件3固定稳定,转动调节螺栓97,使得插块95完全滑入收纳槽94内,此时安装块92能够沿滑槽91滑动,从而使得探针98正对导体件3的引脚,然后转动调节螺栓97,使得插块95插入插槽93内,锁定齿96啮合,使得安装块92固定,将多个探针98依次调节对应引脚后,安装板6转动贴合滑板5时,探针98通过自身弹力压紧在引脚上,卡槽8先通过卡块7的倾斜面挤压卡块7,使得卡块7张开,当安装板6贴合滑板5时,卡块7在自身弹力下完全卡入卡槽8,实现安装板6的快速固定,保持探头组件9与引脚接触稳定,连接线99连接外部电性测试设备,从而快速检测导体件3,检测后,手动将卡块7拉离卡槽8,即可转动安装板6使得探头组件9与引脚分离,便于更换导体件3,从而便于快速、批量检测。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种导体器件检测装置,包括检测台(1),其特征在于:所述检测台(1)的顶面中部固定安装支撑板(2),所述支撑板(2)上安装定位机构(4),所述定位机构(4)与支撑板(2)间卡接导体件(3),所述支撑板(2)两侧的检测台(1)上均滑动安装滑板(5),所述滑板(5)顶面远离支撑板(2)的一侧铰接安装板(6)的一侧,所述滑板(5)的顶面两端均安装卡块(7),所述安装板(6)的两端端面均开有卡槽(8),所述卡块(7)卡接卡槽(8),所述安装板(6)上安装探头组件(9)。
2.根据权利要求1所述的一种导体器件检测装置,其特征在于:所述支撑板(2)两侧的检测台(1)上均开有多个螺栓孔,所述滑板(5)的两端底部均固定安装连接板(10),所述连接板(10)套接锁紧螺栓,且锁紧螺栓螺纹连接螺栓孔。
3.根据权利要求1所述的一种导体器件检测装置,其特征在于:所述卡块(7)为弹性L型结构,所述卡槽(8)为L型结构,所述卡块(7)远离滑板(5)的一端外壁为倾斜结构。
4.根据权利要求1所述的一种导体器件检测装置,其特征在于:所述定位机构(4)包括定位板(41),所述支撑板(2)一端的检测台(1)上固定安装定位板(41),所述定位板(41)的顶部固定安装固定板(42),所述固定板(42)上通过螺纹结构套接压紧螺栓(44),所述压紧螺栓(44)的底部转动卡接第一夹板(43),所述支撑板(2)上通过螺栓安装第二夹板(45),所述第一夹板(43)和第二夹板(45)紧密压在导体件(3)的两端顶面。
5.根据权利要求4所述的一种导体器件检测装置,其特征在于:所述第一夹板(43)为贴合定位板(41)的长方体结构,所述第二夹板(45)为Z型结构,且第二夹板(45)转动连接螺栓,所述支撑板(2)顶部开有多个螺纹孔。
6.根据权利要求1所述的一种导体器件检测装置,其特征在于:所述探头组件(9)包括滑槽(91),所述安装板(6)的顶面开有滑槽(91),所述滑槽(91)内滑动卡接多个安装块(92),所述安装块(92)的底面开有收纳槽(94),所述滑槽(91)的底面开有插槽(93),所述收纳槽(94)内滑动卡接插块(95),所述插块(95)的两侧外壁与插槽(93)的两侧内壁间安装相配合的锁定齿(96),所述插块(95)的顶面通过螺纹结构套接调节螺栓(97),所述调节螺栓(97)贯穿收纳槽(94)并转动卡接插块(95),所述安装块(92)靠近支撑板(2)的一端顶部固定安装探针(98),所述安装块(92)的另一端固定套接连接线(99),所述连接线(99)贯穿安装块(92)并电连接探针(98)。
7.根据权利要求6所述的一种导体器件检测装置,其特征在于:所述安装块(92)与滑槽(91)的底部为T型结构,所述探针(98)为倾斜向下的弹性铜片,所述插块(95)的厚度大于插槽(93)的深度,且插块(95)的厚度小于收纳槽(94)的深度。
CN202123241684.9U 2021-12-22 2021-12-22 一种导体器件检测装置 Expired - Fee Related CN217007575U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202123241684.9U CN217007575U (zh) 2021-12-22 2021-12-22 一种导体器件检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202123241684.9U CN217007575U (zh) 2021-12-22 2021-12-22 一种导体器件检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN217007575U true CN217007575U (zh) 2022-07-19

Family

ID=82383188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202123241684.9U Expired - Fee Related CN217007575U (zh) 2021-12-22 2021-12-22 一种导体器件检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN217007575U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116246451A (zh) * 2023-04-25 2023-06-09 河北华美光电子有限公司 一种高精度快速红外发射器测试系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116246451A (zh) * 2023-04-25 2023-06-09 河北华美光电子有限公司 一种高精度快速红外发射器测试系统
CN116246451B (zh) * 2023-04-25 2023-07-07 河北华美光电子有限公司 一种高精度快速红外发射器测试系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN217007575U (zh) 一种导体器件检测装置
CN213875925U (zh) 电路板飞针测试夹具
CN208795768U (zh) 一种基板封装测试治具
CN218629913U (zh) 一种用于pcb板检测的pcb板固定装置
CN218211071U (zh) 一种端盖圆孔公差测量装置
CN217717868U (zh) 一种便于pcb板检测的pcb板固定装置
CN214953792U (zh) 一种具有栅极电阻电容测试装置
CN215116730U (zh) 一种电子连接器线缆检测装置
CN213843327U (zh) 电子线路板的多工位夹紧测试装置
CN211043438U (zh) 一种集成电路板测试分选机用测试夹具
CN216956265U (zh) 一种柔性线路板电测装置
CN210775750U (zh) 一种线路板用手动测试装置
CN114563666A (zh) 一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统
CN114899629A (zh) 多功能电子元件转换式连接器
CN210129007U (zh) 测试机构及具有其的测试装置
CN215415824U (zh) 一种线序检测仪
CN216209281U (zh) 一种高精密电子件加工用测试冶具
CN217332734U (zh) 一种带有定位机构的电子芯片加工用检测装置
CN212569046U (zh) 一种屏幕导电及显示一体检测装置以及系统
CN221224913U (zh) 半导体器件散热性能测试装置
TW200716994A (en) Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method
CN214953780U (zh) 一种用于插件式电阻的测试治具
CN217506090U (zh) 一种电气性能测试装置
CN217384026U (zh) 一种螺母检验设备
CN216351023U (zh) 一种hdmi端子开短路测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20220719

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee