CN216956127U - 一种用于检测触控屏的探针测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于检测触控屏的探针测试装置，包括电控箱，所述电控箱为内部中空的箱体结构，在电控箱的内部设置有控制电路板；所述电控箱的正面倾斜设置有测试平台，所述测试平台的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽，所述仿形定位槽设置有贯穿测试平台的探针通孔，所述电控箱的内部设置有探针升降组件，所述探针升降组件包括与所述控制电路板电连接的升降机构及设置在升降机构输出端的测试探针，且测试探针可升降地设置在探针通孔中。本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置，采用探针升降组件代替人工进行测试，能够保证检测的准确性和稳定性，并降低测试人员的劳动强度。

Description

一种用于检测触控屏的探针测试装置

技术领域

本实用新型涉及触控屏检测设备技术领域，特别是涉及一种用于检测触控屏的探针测试装置。

背景技术

随着科技的发展，现在越来越多的电子设备摒弃了物理按键，采用更加美观便捷的触控屏来实现。在具有触控屏的电子产品组装之前，需要针对触控屏进行一个功能测试环节，以防止装配完成后的电子产品出现触控屏品质异常的问题。

现有的触控屏大多采用人工检测的方式，具体通过人工将探针与触控屏背部的探针接口连接，并通过电路的导通来判断触控屏的功能是否正常。而采用人工检测的方式不仅增加操作员的劳动强度，在人工对接探针接口的过程中有时候会产生微小的偏移从而导致触控屏的检测结果不够准确，需要进行复查才能得出准确数据，既导致了人工成本的增加，其检测效果也不够稳定。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于检测触控屏的探针测试装置，采用探针升降组件代替人工进行测试，能够保证检测的准确性和稳定性，并降低测试人员的劳动强度。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种用于检测触控屏的探针测试装置，包括电控箱，所述电控箱为内部中空的箱体结构，在电控箱的内部设置有控制电路板；所述电控箱的正面倾斜设置有测试平台，所述测试平台的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽，所述仿形定位槽设置有贯穿测试平台的探针通孔，所述电控箱的内部设置有探针升降组件，所述探针升降组件包括与所述控制电路板电连接的升降机构及设置在升降机构输出端的测试探针，且测试探针可升降地设置在探针通孔中。

作为一种实施方式，所述升降机构固定设置在所述测试平台的底部，且升降机构的输出端与所述测试平台互相垂直设置。

作为一种实施方式，所述升降机构包括与所述控制电路板电连接的升降气缸以及设置在升降气缸输出端的升降支架，所述升降支架可升降地设置在探针通孔的下方，所述测试探针固定设置在升降支架的顶部，且随着升降支架可升降地设置在探针通孔中。

作为一种实施方式，所述升降支架包括升降顶板和升降底板，所述升降顶板与升降底板之间通过若干根支撑柱连接，且所述升降底板通过一连接板与升降气缸的输出端连接；所述测试平台的下表面位于探针通孔的四周分别垂直设有若干根导向柱，所述升降顶板的下表面正对于若干根导向柱的位置分别设有若干个套筒，且每个套筒对应套设在每根导向柱中。

作为一种实施方式，所述电控箱为上端开口的箱体结构，所述测试平台倾斜覆盖在电控箱的开口上，且测试平台与水平面之间的倾斜角度为30°。

作为一种实施方式，所述测试平台的上表面分别设有四个限位块，四个限位块均L型状结构，且四个限位块分别两两对称设置在探针通孔的四周并形成所述仿形定位槽。

作为一种实施方式，所述仿形定位槽的两侧和下端分别各设有旋转限位组件，每个旋转限位组件均包括与所述控制电路板电连接的旋转电机以及设置在旋转电机输出端的旋转块，且每个旋转电机可带动其输出端上的旋转块在所述仿形定位槽的上方旋转。

作为一种实施方式，所述仿形定位槽的两侧边和下端的边缘分别设置有旋转通孔，三个旋转电机分别设置在测试平台的下表面，且三个旋转电机的输出端分别穿过三个旋转通孔并伸出测试平台的上方。

作为一种实施方式，所述电控箱的正面分别设置有启动开关和停止开关，所述启动开关和停止开关分别与所述控制电路板电连接；所述电控箱的内部设置有电池阀，所述电池阀与所述控制电路板电连接。

作为一种实施方式，所述电控箱的两侧分别设置有凹槽扣手部。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型所述的用于检测触控屏的探针测试装置，测试平台采用倾斜的设计方案，能够方便测试员目视触控屏的检测效果，并方便拿取触控屏；通过测试平台上的仿形定位槽可快速将触控屏定位放置，并通过探针升降组件将测试探针升起并精准接入触控屏的探针接口处，再按触控屏上的预定程序进行功能测试；测试完毕后可通过升降机构带动测试探针下降并与触控屏分离后，再取出测试后的触控屏。因此，本实用新型采用探针升降组件代替人工进行测试，能够保证检测的准确性和稳定性，并降低测试人员的劳动强度。

为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本实用新型。

附图说明

图1为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的俯视图；

图3为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的内部结构示意图；

图4为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的另一内部结构示意图；

图5为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的探针升降组件的结构示意图。

具体实施方式

为进一步说明各实施例，本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域的普通技术人员应能理解其他可能得实施方式以及本实用新型的优点。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解对本实用新型的限制。

请参阅图1和图2，图1为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的俯视图；图3为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的内部结构示意图；图4为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的另一内部结构示意图；图5为本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置的探针升降组件的结构示意图。

本实施例提供一种用于检测触控屏的探针测试装置，包括电控箱10，所述电控箱10为内部中空的箱体结构，在电控箱10的内部设置有控制电路板20；所述电控箱10的正面倾斜设置有测试平台30，所述测试平台30的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽40，所述仿形定位槽40设置有贯穿测试平台30的探针通孔，所述电控箱10的内部设置有探针升降组件50，所述探针升降组件50包括与所述控制电路板20电连接的升降机构60及设置在升降机构60输出端的测试探针70，且测试探针70可升降地设置在探针通孔中。

可选地，本实施例的升降机构60固定设置在所述测试平台30的底部，且升降机构60的输出端与所述测试平台30互相垂直设置。其中，所述升降机构60包括与所述控制电路板20电连接的升降气缸60以及设置在升降气缸60输出端的升降支架62，所述升降支架62可升降地设置在探针通孔的下方，所述测试探针70固定设置在升降支架62的顶部，且随着升降支架62可升降地设置在探针通孔中。

进一步地，所述升降支架62包括升降顶板63和升降底板64，所述升降顶板63与升降底板64之间通过若干根支撑柱连接，且所述升降底板64通过一连接板65与升降气缸60的输出端连接；所述测试平台30的下表面位于探针通孔的四周分别垂直设有若干根导向柱31，所述升降顶板63的下表面正对于若干根导向柱31的位置分别设有若干个套筒66，且每个套筒66对应套设在每根导向柱31中。

由此，本实施例的升降气缸60可带动升降支架62沿垂直于测试平台30的方向做升降运动，并在若干根导向柱31的导向作用下，保证其运动方向不会发生偏移，进而带动升降支架62顶部的测试探针70沿垂直于测试平台30的方向在探针通孔中做升降运动。

可选地，所述电控箱10为上端开口的箱体结构，所述测试平台30倾斜覆盖在电控箱10的开口上，且测试平台30与水平面之间的倾斜角度为30°。由此，本实施例采用倾斜的设计方案，能够方便测试员目视触控屏的检测效果，并方便拿取触控屏。

进一步地，所述测试平台30的上表面分别设有四个限位块32，四个限位块32均L型状结构，且四个限位块32分别两两对称设置在探针通孔的四周并形成所述仿形定位槽40。在本实施例中，四个限位块32的内直角边分别位于仿形定位槽40的四周边缘上，这样一来，使得触控屏能够快速被定位放在仿形定位槽40中。另外，由于四个限位块32分别间隔设置，因此，等触控屏测试完毕后，也可方便拿取触控屏。

为了防止触控屏在测试的过程中被人拿起，在本实施例中，所述仿形定位槽40的两侧和下端分别各设有旋转限位组件80，每个旋转限位组件80均包括与所述控制电路板20电连接的旋转电机81以及设置在旋转电机81输出端的旋转块82，且每个旋转电机81可带动其输出端上的旋转块82在所述仿形定位槽40的上方旋转。

具体地，所述仿形定位槽40的两侧边和下端的边缘分别设置有旋转通孔，三个旋转电机81分别设置在测试平台30的下表面，且三个旋转电机81的输出端分别穿过三个旋转通孔并伸出测试平台30的上方。由此，本实施例的三个旋转电机81可分别带动各自的旋转块82在平行于测试平台30的平面上做旋转运动，并在触控屏与测试探针70连接后，通过控制电路板20控制三个旋转电机81转动90°并使得三个旋转块82的投影伸入仿形定位槽40的内部，从而暂时地将触控屏限位在测试平台30上，以防有人将测试中的触控屏取走。

可选地，所述电控箱10的正面分别设置有启动开关21和停止开关22，所述启动开关21和停止开关22分别与所述控制电路板20电连接；所述电控箱10的内部设置有电池阀23，所述电池阀23与所述控制电路板20电连接。

另外，本实施例的电控箱10的两侧分别设置有凹槽扣手部11，进而方便测试员移动本装置时，可通过双手分别扣入电控箱10两侧的凹槽扣手部11即可将电控箱10提起。

本实用新型所述的用于检测触控屏的探针测试装置，测试平台30采用倾斜的设计方案，能够方便测试员目视触控屏的检测效果，并方便拿取触控屏；通过测试平台30上的仿形定位槽40可快速将触控屏定位放置，并通过探针升降组件50将测试探针70升起并精准接入触控屏的探针接口处，再按触控屏上的预定程序进行功能测试；测试完毕后可通过升降机构60带动测试探针70下降并与触控屏分离后，再取出测试后的触控屏。因此，本实用新型采用探针升降组件50代替人工进行测试，能够保证产品检测的准确性和稳定性，并降低测试人员的劳动强度。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型用于检测触控屏的探针测试装置范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

包括电控箱，所述电控箱为内部中空的箱体结构，在电控箱的内部设置有控制电路板；所述电控箱的正面倾斜设置有测试平台，所述测试平台的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽，所述仿形定位槽设置有贯穿测试平台的探针通孔，所述电控箱的内部设置有探针升降组件，所述探针升降组件包括与所述控制电路板电连接的升降机构及设置在升降机构输出端的测试探针，且测试探针可升降地设置在探针通孔中。

2.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述升降机构固定设置在所述测试平台的底部，且升降机构的输出端与所述测试平台互相垂直设置。

3.根据权利要求2所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述升降机构包括与所述控制电路板电连接的升降气缸以及设置在升降气缸输出端的升降支架，所述升降支架可升降地设置在探针通孔的下方，所述测试探针固定设置在升降支架的顶部，且随着升降支架可升降地设置在探针通孔中。

4.根据权利要求3所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述升降支架包括升降顶板和升降底板，所述升降顶板与升降底板之间通过若干根支撑柱连接，且所述升降底板通过一连接板与升降气缸的输出端连接；所述测试平台的下表面位于探针通孔的四周分别垂直设有若干根导向柱，所述升降顶板的下表面正对于若干根导向柱的位置分别设有若干个套筒，且每个套筒对应套设在每根导向柱中。

5.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述电控箱为上端开口的箱体结构，所述测试平台倾斜覆盖在电控箱的开口上，且测试平台与水平面之间的倾斜角度为30°。

6.根据权利要求5所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述测试平台的上表面分别设有四个限位块，四个限位块均L型状结构，且四个限位块分别两两对称设置在探针通孔的四周并形成所述仿形定位槽。

7.根据权利要求6所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述仿形定位槽的两侧和下端分别各设有旋转限位组件，每个旋转限位组件均包括与所述控制电路板电连接的旋转电机以及设置在旋转电机输出端的旋转块，且每个旋转电机可带动其输出端上的旋转块在所述仿形定位槽的上方旋转。

8.根据权利要求7所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述仿形定位槽的两侧边和下端的边缘分别设置有旋转通孔，三个旋转电机分别设置在测试平台的下表面，且三个旋转电机的输出端分别穿过三个旋转通孔并伸出测试平台的上方。

9.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述电控箱的正面分别设置有启动开关和停止开关，所述启动开关和停止开关分别与所述控制电路板电连接；所述电控箱的内部设置有电池阀，所述电池阀与所述控制电路板电连接。

10.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述电控箱的两侧分别设置有凹槽扣手部。

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