CN216719872U - 一种半导体恒温测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体恒温测试台，属于半导体技术领域，包括工作台，所述工作台的顶部固定有自动温控部件，所述自动温控部件的顶部设置有铝制加热台，所述工作台的顶部设置有滑轨，所述滑轨的表面滑动连接有活动块，所述活动块相向的一侧设置有探针模组件，所述活动块远离探针模组件的一侧设置有推手，本实用新型通过自动温控部件中的加热丝方便将铝制加热台加热升高温度，对检测芯片的检测温度进行升高，同时通过温度传感器可对铝制加热台表面的温度进行检测，控制加热丝的断与开，同时对铝制加热台的温度进行自动补偿，保障铝制加热台温度的稳定，使测试充分稳定，解决了传统半导体检测台无法保持恒温环境进行检测的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体恒温测试台。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。
半导体行业日渐增多，目前针对高温环境测试的环境和场地不够完善，基本上采用烤箱或者热风机加热之后再进行测试的方式，在测试中半导体表面的温度会逐渐降低，无法达到恒温环境下测试，同时无法对测试温度进行控制，造成半导体芯片检测的效率大大降低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体恒温测试台，可对半导体芯片的检测环境处于恒温状态下，同时可对温度进行调控，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体恒温测试台，包括工作台，所述工作台的顶部固定有自动温控部件，所述自动温控部件的顶部设置有铝制加热台，所述工作台的顶部设置有滑轨，所述滑轨的表面滑动连接有活动块，所述活动块相向的一侧设置有探针模组件，所述活动块远离探针模组件的一侧设置有推手，所述铝制加热台的顶部放置有检测芯片。
优选的，所述自动温控部件包括温度传感器和加热丝，所述加热丝位于铝制加热台的底部，所述温度传感器的顶部与铝制加热台的底部接触。
优选的，所述工作台顶部的前端设置有显示屏，所述显示屏的左侧设置有警报灯。
优选的，所述铝制加热台的顶部开设有凹槽，所述检测芯片位于凹槽的内腔。
优选的，所述工作台的两侧均设置有把手，所述把手的表面套设有防护套。
优选的，所述探针模组件位于检测芯片的两侧，所述探针模组件与检测芯片的高度相同。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型通过自动温控部件中的加热丝方便将铝制加热台加热升高温度，对检测芯片的检测温度进行升高，同时通过温度传感器可对铝制加热台表面的温度进行检测，控制加热丝的断与开，同时对铝制加热台的温度进行自动补偿，保障铝制加热台温度的稳定，使测试充分稳定，解决了传统半导体检测台无法保持恒温环境进行检测的问题。
2、本实用新型通过铝制加热台的设置，不仅可对检测芯片进行放置，防止检测芯片在检测过程中滑落，同时利用铝制品热传导效率高的特点，缩短加热丝对检测芯片升温的时间，同时保障铝制加热台的温度与检测芯片表面的温度一致，方便通过温度传感器对温度进行控制，提升温度控制的精准度。
附图说明
图1为本实用新型的主视结构示意图；
图2为本实用新型的俯视结构示意图。
图中标号：1、工作台；2、自动温控部件；3、铝制加热台；4、滑轨；5、活动块；6、推手；7、检测芯片；8、显示屏；9、警报灯；10、把手；11、探针模组件。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供了如图1～2所示的一种半导体恒温测试台，包括工作台1，工作台1的顶部固定有自动温控部件2，自动温控部件2的顶部设置有铝制加热台3，工作台1的顶部设置有滑轨4，滑轨4的表面滑动连接有活动块5，活动块5相向的一侧设置有探针模组件11，活动块5远离探针模组件11的一侧设置有推手6，铝制加热台3的顶部放置有检测芯片7，通过自动温控部件2中的加热丝方便将铝制加热台3加热升高温度，对检测芯片7的检测温度进行升高，同时通过温度传感器可对铝制加热台3表面的温度进行检测，控制加热丝的断与开，同时对铝制加热台3的温度进行自动补偿，保障铝制加热台3温度的稳定，使测试充分稳定，解决了传统半导体检测台无法保持恒温环境进行检测的问题。
自动温控部件2包括温度传感器和加热丝，加热丝位于铝制加热台3的底部，温度传感器的顶部与铝制加热台3的底部接触，通过对自动温控部件2的设置，方便了解内部组成，可对铝制加热台3表面温度进行调控，同时保持恒温状态。
工作台1顶部的前端设置有显示屏8，显示屏8的左侧设置有警报灯9，通过显示屏8的设置，可以显示自动温控部件2对铝制加热台3的温度值，方便操作人员观测检测台的检测温度，加快对半导体芯片测试的速度，通过警报灯9的设置，当检测台发生故障，使警报灯9发出警报，提示操作人员进行维修。
铝制加热台3的顶部开设有凹槽，检测芯片7位于凹槽的内腔，通过凹槽的设置，方便对检测芯片7进行限位，防止在探针模组件11对检测芯片7进行检测时，检测芯片7发生晃动从铝制加热台3的顶部掉落。
工作台1的两侧均设置有把手10，把手10的表面套设有防护套，通过把手10的设置，方便操作人员对工作台1进行移动，增加工作台1的灵活度，避免在移动工作台1贯穿至接触铝制加热台3，造成烫伤。
探针模组件11位于检测芯片7的两侧，探针模组件11与检测芯片7的高度相同，通过对探针模组件11位置的设置，方便利用探针模组件11对检测芯片7进行夹持并对检测芯片7进行接触检测，避免探针模组件11与检测芯片7高度不同，无法对检测芯片7进行检测。
具体使用时，使用者利用把手10将检测台移动至指定位置，同时将需要检测的检测芯片7放置在铝制加热台3的顶部，随后连接电源，同时设置加热温度，随后加热丝对铝制加热台3进行加热，同时温度传感器检测铝制加热台3表面的温度，随后铝制加热台3对检测芯片7进行加热，当温度达到设置温度后，使用者利用推手6带动活动块5在滑轨4的表面移动，同时活动块5带动探针模组件11向中间移动，随后探针模组件11与检测芯片7接触并对检测芯片7进行夹持，随后探针模组件11对检测芯片7进行检测。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种半导体恒温测试台，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶部固定有自动温控部件(2)，所述自动温控部件(2)的顶部设置有铝制加热台(3)，所述工作台(1)的顶部设置有滑轨(4)，所述滑轨(4)的表面滑动连接有活动块(5)，所述活动块(5)相向的一侧设置有探针模组件(11)，所述活动块(5)远离探针模组件(11)的一侧设置有推手(6)，所述铝制加热台(3)的顶部放置有检测芯片(7)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于：所述自动温控部件(2)包括温度传感器和加热丝，所述加热丝位于铝制加热台(3)的底部，所述温度传感器的顶部与铝制加热台(3)的底部接触。
3.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于：所述工作台(1)顶部的前端设置有显示屏(8)，所述显示屏(8)的左侧设置有警报灯(9)。
4.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于：所述铝制加热台(3)的顶部开设有凹槽，所述检测芯片(7)位于凹槽的内腔。
5.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于：所述工作台(1)的两侧均设置有把手(10)，所述把手(10)的表面套设有防护套。
6.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于：所述探针模组件(11)位于检测芯片(7)的两侧，所述探针模组件(11)与检测芯片(7)的高度相同。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202122955574.2U CN216719872U (zh) | 2021-11-29 | 2021-11-29 | 一种半导体恒温测试台 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN216719872U true CN216719872U (zh) | 2022-06-10 |
Family
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2021
- 2021-11-29 CN CN202122955574.2U patent/CN216719872U/zh active Active
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