CN216718713U - 一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，包括避光盒，所述避光盒顶部中心设置有中板，且中板底面圆柱底端与避光盒内侧底面连接固定，并且中板外边缘与避光盒之间设置有轨迹窗，所述顶环下端面安装有底滑轮，所述顶环顶面通过轴承座安装有调节螺纹杆，且调节螺纹杆贯穿活动支架顶端，并且活动支架贯穿定位孔。该闪烁晶体线列探测器性能检测装置，采用新型的结构设计，可以稳定的驱动豁免源进行旋转运动，且能够便捷的调整豁免源与闪烁晶体线列探测器本体的间距，令闪烁晶体线列探测器本体与豁免源间距合适，还能对闪烁晶体线列探测器本体进行便捷的更换，便于对闪烁晶体线列探测器本体的连续检测。

Description

一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置

技术领域

本实用新型涉及闪烁晶体探测技术领域，具体为一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置。

背景技术

闪烁晶体是指高能粒子的撞击下，能将高能粒子的动能转变为光能而发出闪光的晶体，人们利用闪烁材料的这种特性做成了测量各种射线的探测器，即当高能射线照射到探测器上后，闪烁材料便发出荧光，射线愈强，发出的荧光愈强，这荧光被光电转换系统接收并转变成电信号，经过电子线路处理后，便能在指示器上指示出来，因此人们将这种探测器比喻为看得见X射线和其他高能射线的“眼睛”。

在公开号为CN210982746U的名为一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置的已授权中国实用新型专利中，仅采用转轴装置对传动皮带进行驱动，带动豁免源进行圆周运动，不仅未公开转轴装置的具体结构，没有设置皮带的限位结构，而且皮带本身结构强度不足，豁免源不论安装在皮带的侧面、顶端还是底端，都会因为重力造成皮带形变，导致传动皮带在运行时，无法保证豁免源的平缓稳定移动，在上述对比专利中还描述有：“将豁免源固定在围绕探测器底座旋转的传动皮带上并且尽可能靠近闪烁晶体线列探测器表面”，但是对比专利中的豁免源安装在高度固定的传动皮带上，闪烁晶体线列探测器置于探测器底座上，二者均为固定设置，间距无法调节，无法实现“尽可能靠近闪烁晶体线列探测器表面”的试验要求，还无法对闪烁晶体线列探测器进行便捷的更换，不便于连续检测的进行。

所以需要针对上述问题设计一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，以解决上述背景技术中提出传动皮带无法保证豁免源的平缓稳定移动，闪烁晶体线列探测器和豁免源均为固定安装，间距无法调节，不满足试验要求，还无法对闪烁晶体线列探测器进行便捷的更换，不便于连续检测的进行的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，包括避光盒、闪烁晶体线列探测器本体和豁免源，所述避光盒顶部中心设置有中板，且中板底面圆柱底端与避光盒内侧底面连接固定，并且中板外边缘与避光盒之间设置有轨迹窗，同时轨迹窗内壁两侧均安装有稳定滑轮，所述避光盒底部设置有调节机构，且调节机构上安装有闪烁晶体线列探测器本体，所述中板上固定安装有伺服电机，且伺服电机的输出轴顶端焊接固定有主动齿轮，并且主动齿轮与顶环内壁啮合连接，所述顶环下端面安装有底滑轮，所述顶环顶面通过轴承座安装有调节螺纹杆，且调节螺纹杆贯穿活动支架顶端，并且活动支架贯穿定位孔。

优选的，所述定位孔开设于顶环上，所述活动支架中部贯穿轨迹窗，且活动支架底端与底环连接固定，并且底环底部安装有豁免源。

优选的，所述调节机构包括底螺纹杆、活动座和限位底槽，且底螺纹杆通过两端轴承座贯穿安装在避光盒底部，并且底螺纹杆上安装有活动座，同时活动座底面与限位底槽内壁贴合，所述限位底槽开设在避光盒内侧底面上，所述活动座顶部安装有闪烁晶体线列探测器本体。

优选的，所述底螺纹杆与活动座为螺纹连接，且活动座与限位底槽为滑动连接，并且活动座中心与底环中心处于同一铅垂线上。

优选的，所述底滑轮在顶环底面关于活动支架对称分布，且对称分布的所述底滑轮的底端分别与避光盒顶面和中板顶面边缘紧密贴合。

优选的，所述调节螺纹杆关于活动支架对称分布，且调节螺纹杆与活动支架为螺纹连接，并且活动支架的正视剖面为“T”字型，同时活动支架与定位孔为滑动连接，所述活动支架以中板圆心为中心等角度分布。

优选的，所述活动支架底部固定安装有遮光环，且遮光环的宽度和顶环的宽度均大于轨迹窗的宽度，并且轨迹窗的内壁等角度水平密集设置有稳定滑轮。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该闪烁晶体线列探测器性能检测装置，采用新型的结构设计，可以稳定的驱动豁免源进行旋转运动，且能够便捷的调整豁免源与闪烁晶体线列探测器本体的间距，令闪烁晶体线列探测器本体与豁免源间距合适，还能对闪烁晶体线列探测器本体进行便捷的更换，便于对闪烁晶体线列探测器本体的连续检测；

1.通过避光盒、底螺纹杆、活动座和限位底槽相互配合工作，能便捷的更换闪烁晶体线列探测器本体，实现对闪烁晶体线列探测器本体的快速连续检测，提高检测效率；

2.通过伺服电机、主动齿轮、顶环、底滑轮、调节螺纹杆、活动支架、遮光环、定位孔、轨迹窗、稳定滑轮和底环相互配合工作，能够便捷的调整豁免源的高度，令豁免源可以与闪烁晶体线列探测器本体贴近，且保证豁免源能平缓稳定的进行水平旋转。

附图说明

图1为本实用新型正视剖面结构示意图；

图2为本实用新型正视结构示意图；

图3为本实用新型俯视结构示意图；

图4为本实用新型活动座俯视剖面结构示意图；

图5为本实用新型活动支架和轨迹窗俯视剖面结构示意图。

图中：1、避光盒；101、中板；2、调节机构；201、底螺纹杆；202、活动座；203、限位底槽；3、闪烁晶体线列探测器本体；4、伺服电机；5、主动齿轮；6、顶环；7、底滑轮；8、调节螺纹杆；9、活动支架；901、遮光环；10、定位孔；11、轨迹窗；12、稳定滑轮；13、底环；14、豁免源。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，包括避光盒1、中板101、调节机构2、底螺纹杆201、活动座202、限位底槽203、闪烁晶体线列探测器本体3、伺服电机4、主动齿轮5、顶环6、底滑轮7、调节螺纹杆8、活动支架9、遮光环901、定位孔10、轨迹窗11、稳定滑轮12、底环13和豁免源14，避光盒1顶部中心安装有中板101，且中板101底面圆柱底端与避光盒1内侧底面连接固定，并且中板101外边缘与避光盒1之间预设有轨迹窗11，同时轨迹窗11内壁两侧均安装有稳定滑轮12，避光盒1底部安装有调节机构2，且调节机构2上固定有闪烁晶体线列探测器本体3，调节机构2包括底螺纹杆201、活动座202和限位底槽203，且底螺纹杆201贯穿安装在避光盒1底部，并且底螺纹杆201上螺纹安装有活动座202，同时活动座202底面与限位底槽203内壁相互贴合设置，限位底槽203预设在避光盒1内侧底面上，活动座202顶部固定设置有闪烁晶体线列探测器本体3，上述的结构设计可以便捷的调整活动座202和闪烁晶体线列探测器本体3的水平位置，便于闪烁晶体线列探测器本体3的快速更换。

底螺纹杆201与活动座202为螺纹连接，且活动座202与限位底槽203之间为滑动设置，并且活动座202中心与底环13中心处于同一铅垂线上，通过旋转底螺纹杆201，利用螺纹连接关系推动活动座202带着闪烁晶体线列探测器本体3沿着限位底槽203进行稳定的水平位移。

中板101上贯穿固定有伺服电机4，且伺服电机4的输出轴顶端焊接固定有主动齿轮5，并且主动齿轮5与顶环6内壁密集分布的齿凸结构啮合连接，顶环6下端面垂直设置底滑轮7，底滑轮7在顶环6底面上关于活动支架9呈对称分布设置，且对称分布的底滑轮7的底端分别与避光盒1顶面和中板101顶面边缘相互紧密贴合，上述的结构设计保证顶环6可以进行稳定的旋转移动。

顶环6顶面通过轴承座安装有调节螺纹杆8，且调节螺纹杆8贯穿活动支架9顶端水平部分，并且活动支架9贯穿定位孔10，同时定位孔10设置于顶环6上，调节螺纹杆8在活动支架9的边缘呈对称分布状态，且调节螺纹杆8与活动支架9之间为贯穿式螺纹连接，并且活动支架9的正视剖面为“T”字型，同时活动支架9与定位孔10为滑动连接，活动支架9以中板101圆心为中心等角度分布，上述的结构设计使得调节螺纹杆8在旋转时可以便捷的调整活动支架9的高度，且能保证活动支架9所连的顶环6在运动时的稳定性。

活动支架9中部贯穿轨迹窗11，且活动支架9底端固定安装有底环13，并且底环13底部设置有豁免源14，活动支架9底部固定安装有遮光环901，且遮光环901的宽度和顶环6的宽度均大于轨迹窗11的宽度，并且轨迹窗11的内壁等角度水平密集设置有稳定滑轮12，上述的结构设计可以有效避免光从轨迹窗11进入避光盒1，且能保证顶环6和活动支架9在旋转运动时的稳定和顺畅。

工作原理：使用本装置时，先打开图1中避光盒1左侧的旋转门，然后正向旋转底螺纹杆201，令底螺纹杆201旋转推动活动座202沿着限位底槽203左滑至左侧打开的旋转门处，将闪烁晶体线列探测器本体3通过螺栓安装在活动座202顶部中心，接着反向旋转底螺纹杆201，令底螺纹杆201旋转推动活动座202带着闪烁晶体线列探测器本体3运动至底环13中心正下方停止，闭合图1中避光盒1左侧的旋转门；

然后同时正向旋转图1中1个活动支架9上安装的2个调节螺纹杆8，调节螺纹杆8旋转推动活动支架9沿着定位孔10竖直下滑，活动支架9带着遮光环901、底环13和豁免源14竖直下移，至豁免源14与闪烁晶体线列探测器本体3距离足够近，停止旋转调节螺纹杆8，利用螺纹自锁将活动支架9、遮光环901、底环13和豁免源14的高度固定；

最后，控制伺服电机4带动主动齿轮5均速单向旋转，主动齿轮5驱动顶环6旋转，顶环6通过活动支架9带动底环13和豁免源14稳定旋转，启动豁免源14，并为闪烁晶体线列探测器本体3供电，令闪烁晶体线列探测器本体3在豁免源14匀速旋转的同时进行探测，从而检测闪烁晶体线列探测器本体3的工作性能；

1个闪烁晶体线列探测器本体3检测完毕后，暂停为伺服电机4供电，打开图1中避光盒1左侧的旋转门，旋转底螺纹杆201，令活动座202带着已检测完成的闪烁晶体线列探测器本体3左移，然后拆下旧的闪烁晶体线列探测器本体3，安装上新的闪烁晶体线列探测器本体3，重复上述步骤，就可以连续的进行闪烁晶体线列探测器本体3的性能检测，这就是该闪烁晶体线列探测器性能检测装置的工作原理。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，包括避光盒(1)，其特征在于：所述避光盒(1)顶部中心设置有中板(101)，且中板(101)底面圆柱底端与避光盒(1)内侧底面连接固定，并且中板(101)外边缘与避光盒(1)之间设置有轨迹窗(11)，同时轨迹窗(11)内壁两侧均安装有稳定滑轮(12)，所述避光盒(1)底部设置有调节机构(2)，且调节机构(2)上安装有闪烁晶体线列探测器本体(3)，所述中板(101)上固定安装有伺服电机(4)，且伺服电机(4)的输出轴顶端焊接固定有主动齿轮(5)，并且主动齿轮(5)与顶环(6)内壁啮合连接，所述顶环(6)下端面安装有底滑轮(7)，所述顶环(6)顶面通过轴承座安装有调节螺纹杆(8)，且调节螺纹杆(8)贯穿活动支架(9)顶端，并且活动支架(9)贯穿定位孔(10)。

2.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，其特征在于：所述定位孔(10)开设于顶环(6)上，所述活动支架(9)中部贯穿轨迹窗(11)，且活动支架(9)底端与底环(13)连接固定，并且底环(13)底部安装有豁免源(14)。

3.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，其特征在于：所述调节机构(2)包括底螺纹杆(201)、活动座(202)和限位底槽(203)，且底螺纹杆(201)通过两端轴承座贯穿安装在避光盒(1)底部，并且底螺纹杆(201)上安装有活动座(202)，同时活动座(202)底面与限位底槽(203)内壁贴合，所述限位底槽(203)开设在避光盒(1)内侧底面上，所述活动座(202)顶部安装有闪烁晶体线列探测器本体(3)。

4.根据权利要求3所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，其特征在于：所述底螺纹杆(201)与活动座(202)为螺纹连接，且活动座(202)与限位底槽(203)为滑动连接，并且活动座(202)中心与底环(13)中心处于同一铅垂线上。

5.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，其特征在于：所述底滑轮(7)在顶环(6)底面关于活动支架(9)对称分布，且对称分布的所述底滑轮(7)的底端分别与避光盒(1)顶面和中板(101)顶面边缘紧密贴合。

6.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，其特征在于：所述调节螺纹杆(8)关于活动支架(9)对称分布，且调节螺纹杆(8)与活动支架(9)为螺纹连接，并且活动支架(9)的正视剖面为“T”字型，同时活动支架(9)与定位孔(10)为滑动连接，所述活动支架(9)以中板(101)圆心为中心等角度分布。

7.根据权利要求2所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置，其特征在于：所述活动支架(9)底部固定安装有遮光环(901)，且遮光环(901)的宽度和顶环(6)的宽度均大于轨迹窗(11)的宽度，并且轨迹窗(11)的内壁等角度水平密集设置有稳定滑轮(12)。

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