CN216717773U - 光栅测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种光栅测试装置，包括：测试平台；光纤固定组件，包括滑动件，滑动件沿测试平台的台面与测试平台滑动连接，滑动件包括用于与光纤连接的光纤连接部，光纤连接部沿第一方向依次分布，第一方向与滑动件的滑动方向呈夹角；测温组件，包括与测试平台连接的支架，以及与支架连接的测温器，测温器与测试平台的台面相对间隔设置。滑动滑动件将光纤连接部移动至便于安置光纤的位置，将待测试的光纤安置于滑动件上的光纤连接部，滑动滑动件改变光纤相对测试平台的位置，以使得测温器对准光纤，同时检测光纤的温度，操作更加便捷，解决目前在光栅测试装置中安置光纤操作不便的问题。

Description

光栅测试装置

技术领域

本申请涉及激光器技术领域，尤其涉及光栅测试装置。

背景技术

光纤光栅作为激光器内重要的组件，为了确保激光器的稳定性，需要对光纤光栅的可靠性进行测试，现有的光栅测试设备在测试的过程中，需要将光纤光栅放入光栅测试设备内部测试腔中的测试台，操作不便，导致的测试流程麻烦，测试效率低，因此目前急需一种方便安置光纤光栅的光栅测试装置。

实用新型内容

本申请实施例提供一种光栅测试装置，旨在解决目前在光栅测试装置中安置光纤光栅操作不便的问题。

本申请实施例提供一种光栅测试装置，包括：

测试平台；

光纤固定组件，包括滑动件，所述滑动件沿所述测试平台的台面与所述测试平台滑动连接，所述滑动件包括用于与光纤连接的光纤连接部，所述光纤连接部沿第一方向依次分布，所述第一方向与所述滑动件的滑动方向呈夹角；

测温组件，包括与所述测试平台连接的支架，以及与所述支架连接的测温器，所述测温器与所述测试平台的台面相对间隔设置。

可选地，所述测试平台上还设置有支撑件，所述支撑件与所述滑动件滑动连接，以使所述滑动件沿所述测试平台的台面与所述测试平台滑动连接；

所述支撑件包括固定部和测量部，所述固定部和所述测量部沿所述滑动件的滑动方向分布在所述支撑件的两端，所述滑动件相对所述支撑件具有安装位置和测量位置，在所述安装位置时，所述滑动件与所述固定部连接，在所述测量位置时，所述滑动件与所述测量部连接。

可选地，所述滑动件包括至少两个沿所述第一方向依次分布的所述光纤连接部。

可选地，所述测试平台表面开设有定位孔，所述支撑件背离所述测试平台的一侧表面开设有槽口，所述槽口贯穿所述支撑件，所述光栅测试装置还包括锁紧件，所述锁紧件穿过所述槽口及所述定位孔以连接所述支撑件及所述测试平台，所述槽口沿着所述滑动件滑动方向延伸；

所述定位孔的数量为多个，多个所述定位孔沿所述滑动件滑动方向分布。

可选地，所述固定部伸出于所述测试平台的边缘。

可选地，所述光栅测试装置包括第一限位件，所述第一限位件与所述固定部沿所述滑动件滑动方向的一端连接，所述第一限位件伸出于所述固定部背离所述测试平台一侧的表面，所述第一限位件用于与所述滑动件抵接，以限制所述滑动件在所述测量部至所述固定部方向的移动距离；

所述光栅测试装置还包括第二限位件，所述第二限位件与所述测量部沿所述滑动件滑动方向反向的一端连接，所述第二限位件伸出于所述测量部背离所述测试平台一侧的表面，所述第二限位件用于与所述滑动件抵接，以限制所述滑动件在所述固定部至所述测量部方向的移动距离。

可选地，所述光栅测试装置包括相互吸引的第一磁性件和第二磁性件，所述第一磁性件设置于所述测量部或者所述第一限位件，所述第二磁性件设置于所述滑动件。

可选地，所述光栅测试装置还包括相互吸引的第三磁性件和第四磁性件，所述第三磁性件设置于所述固定部或者所述第二限位件，所述第四磁性件设置于所述滑动件。

可选地，所述测温组件还包括驱动构件，所述支架通过驱动构件与所述测温器连接，所述驱动构件包括第一驱动结构和第二驱动结构，所述第一驱动结构与所述支架连接；

所述第一驱动结构与所述第二驱动结构连接以驱动所述第二驱动结构沿着所述滑动件的滑动方向移动，所述第二驱动结构与所述测温器连接以驱动所述测温器沿着所述第一方向移动；或者，

所述第一驱动结构与所述第二驱动结构连接以驱动所述第二驱动结构沿着所述第一方向移动，所述第二驱动结构与所述测温器连接以驱动所述测温器沿着所述滑动件的滑动方向移动。

可选地，所述光栅测试装置还包括与所述测试平台连接的功率衰减器，所述功率衰减器位于所述滑动件沿所述第一方向的一侧，所述功率衰减器朝向所述滑动件的一侧表面开设有开口，所述功率衰减器内设置有与所述开口连通的衰减空腔。

本申请实施例提供的光栅测试装置，滑动滑动件将光纤连接部移动至便于安置光纤的位置，将待测试的光纤安置于滑动件上的光纤连接部，滑动滑动件改变光纤相对测试平台的位置，以使得测温器对准光纤，同时检测光纤的温度，操作更加便捷，解决目前在光栅测试装置中安置光纤操作不便的问题。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的光栅测试装置结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试平台和光纤固定组件连接的结构示意图；

光栅测试装置100；测试平台1；光纤固定组件2；滑动件21；光纤连接部211；支撑滑轨22；测温组件3；支架31；测温器32；驱动构件33；第一驱动结构331；第二驱动结构332；支撑件4；固定部41；测量部42；定位孔5；槽口6；第一限位件7；第二限位件8；标定板9。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

本申请实施例提供一种光栅测试装置100。以下分别进行详细说明图1为本申请实施例提供的光栅测试装置结构示意图；图2为本申请实施例提供的测试平台和光纤固定组件连接的结构示意图。

首先，本申请实施例提供一种光栅测试装置100，包括：

测试平台1，作为支撑平台和承重平台；光纤固定组件2，用于对光纤进行固定；测温组件3，用于对光纤进行测温。

如图1及图2所示，光纤固定组件2包括滑动件21，滑动件21沿测试平台1的台面与测试平台1滑动连接，以使滑动件21可沿着沿测试平台1的台面移动，滑动件21包括用于与光纤连接的光纤连接部211，光纤连接部211可用于连接待测试的光纤光栅，光纤连接部211沿第一方向依次分布，以使与光纤连接部211连接的光纤光栅沿着第一方向延伸，第一方向与滑动件21的滑动方向呈夹角。

光栅测试装置100中的测温组件3包括与测试平台1连接的支架31，以及与支架31连接的测温器32，支架31用于支撑测温器32，测温器32与测试平台1的台面相对间隔设置，用于测量测试平台1上滑动件21上待测试的光纤光栅的温度。

本申请通过提供光栅测试装置100，滑动滑动件21将光纤连接部211移动至便于安置光纤的位置，将待测试的光纤安置于滑动件21上的光纤连接部211，滑动滑动件21改变光纤相对测试平台1的位置，以使得测温器32对准光纤，同时检测光纤的温度，操作更加便捷，解决目前在光栅测试装置100中安置光纤操作不便的问题。

其中，在对待测试的光纤光栅进行测试的过程中，需要将光纤的一端与激光器连接，通过激光器依次发出不同功率的激光，利用光栅测试装置100对光纤上不同的点进行测温。

具体的，测温器32可为非接触式红外测温仪，例如测温相机，在利用测温相机对光纤进行测温的过程中，首先需要对测温相机进行对焦，测试平台1可设置标定板9，用于测温相机的对焦，以使得测温相机在检测光纤的温度时更加精准。

可选地，测试平台1上还设置有支撑件4，支撑件4与滑动件21滑动连接，支撑件4可支撑滑动件21，以使滑动件21沿测试平台1的台面与测试平台1滑动连接，支撑件4为滑动件21提供了滑动平台，以使滑动件21可相对测试平台1滑动。

其中，支撑件4可伸出于测试平台1的边缘。

具体的，支撑件4背离测试平台1的一侧表面设有沿着滑动件21滑动方向延伸的支撑滑轨22，滑动件21通过支撑滑轨22与支撑件4滑动连接，支撑滑轨22可伸出于测试平台1的边缘。

如图1所示。可选的，支撑件4包括固定部41和测量部42，固定部41和测量部42在图1中利用两条虚线分隔，以方便理解，固定部41和测量部42沿滑动件21的滑动方向分布在支撑件4的两端，以使滑动件21可快速准确滑动至固定部41或者测量部42，滑动件21相对支撑件4具有安装位置和测量位置，在安装位置时，滑动件21与固定部41连接，此时用于在滑动件21上安置光纤，在测量位置时，滑动件21与测量部42连接，此时用于测温器32对滑动件21上的光纤进行测温。

其中，滑动件21与支撑件4滑动连接以使滑动件21可从固定部41滑动至测量部42。安装位置可为滑动件21与固定部41可连接的位置，测量位置可为测量部42与滑动件21可连接的位置。

具体地，支撑件4背离测试平台1的一侧表面设有沿着滑动件21滑动方向延伸的支撑滑轨22，以使滑动件21可从固定部41表面滑动至测量部42表面。支撑滑轨22的数量可为两条，两条支撑滑轨22可沿着第一方向依次分布，可避免滑动件21在支撑滑轨22上滑动产生第一方向上的偏移。

可选地，滑动件21包括至少两个沿第一方向依次分布的光纤连接部211，用于使光纤连接部211连接的光纤可沿着第一方向延伸。

其中，光纤连接部211可为滑动件21上凸设的限位部，限位部开设沿着第一方向延伸的限位槽。

具体地，限位槽的槽宽可与光纤的直径相匹配，以使限位槽可起到对光纤限位并连接的作用。

在一些实施例中，光纤可通过单面胶、双面胶或者胶水连接在滑动件21上，同时光纤沿着第一方向延伸。

可选地，测试平台1表面开设有定位孔5，支撑件4背离测试平台1的一侧表面开设有槽口6，槽口6贯穿支撑件4，以使槽口6可与定位孔5相对设置，光栅测试装置100还包括锁紧件，锁紧件穿过槽口6及定位孔5以连接支撑件4及测试平台1，锁紧件可锁紧支撑件4及测试平台1以固定支撑件4相对测试平台1的位置，槽口6沿着滑动件21滑动方向延伸，可沿着滑动件21滑动方向移动支撑件4以改变支撑件4相对测试平台1的位置。

其中，当支撑件4可相对测试平台1移动时，松动锁紧件，沿着滑动件21滑动方向移动支撑件4至预定位置；当支撑件4的位置可相对测试平台1固定时，锁紧锁紧件。

具体的，锁紧件可包括相互匹配的螺栓与螺母，通过改变螺母在螺栓上的位置以松动锁紧件或者锁紧锁紧件。

可选地，测试平台1表面开设有定位孔5，支撑件4背离测试平台1的一侧表面开设有槽口6，槽口6贯穿支撑件4，以使槽口6可与定位孔5相对设置，光栅测试装置100还包括锁紧件，锁紧件穿过槽口6及定位孔5以连接支撑件4及测试平台1，锁紧件可锁紧支撑件4和测试平台1以固定支撑件4相对测试平台1的位置，定位孔5的数量为多个，多个定位孔5沿滑动件21滑动方向分布，以使支撑件4可沿着滑动件21滑动方向改变位置。

其中，当支撑件4可相对测试平台1移动时，打开锁紧件，将支撑件4移动至预定位置，对准槽口6及定位孔5，利用锁紧件锁紧测试平台1及支撑件4，固定支撑件4相对测试平台1的位置。

具体的，定位孔5可包括多个子定位孔5，多个子定位孔5可沿着第一方向分布。

可选地，固定部41伸出于测试平台1的边缘，便于在测试平台1的边缘外侧安装光纤。

其中，滑动件21滑动至固定部41表面时，滑动件21上的光纤限位部可位于测试平台1的边缘的外侧。

具体的，在将光纤安置于滑动件21上时，可将滑动件21滑动以使光纤限位部可位于测试平台1的边缘的外侧，此时安置光纤更加方便快捷。

可选地，光栅测试装置100包括第一限位件7，第一限位件7与固定部41沿滑动件21滑动方向的一端连接，第一限位件7伸出于固定部41背离测试平台1一侧的表面，第一限位件7用于与滑动件21抵接，以限制滑动件21在测量部42至固定部41方向的移动距离，避免滑动件21滑动时从固定部41脱落，同时在安置光纤时可直接将滑动件21与第一限位件7抵接，可避免在安置光纤时滑动件21的移动。

其中，第一限位件7可沿着第一方向延伸以增大与滑动件21的抵接面面积，避免抵接面面积过小对滑动件21造成损伤。

具体的，第一限位件7可与固定部41沿滑动件21滑动方向的一端的端面相连接。第一限位件7的数量可为两个，两个限位件可沿着第一方向分布，可分散与滑动件21抵接时的抵接力，可避免在抵接时滑动件21出现第一方向的偏移。

可选地，光栅测试装置100还包括第二限位件8，第二限位件8与测量部42沿滑动件21滑动方向反向的一端连接，第二限位件8伸出于测量部42背离测试平台1一侧的表面，第二限位件8用于与滑动件21抵接，以限制滑动件21在固定部41至测量部42方向的移动距离，可通过第二限位件8与滑动件21抵接确定测温器32的检测温度位置。

其中，第二限位件8可沿着第一方向延伸以增大与滑动件21的抵接面面积，避免抵接面面积过小对滑动件21造成损伤。

具体的，第二限位件8可与固定部41沿滑动件21滑动方向反向的一端端面相连接。第二限位件8的数量可为两个，两个限位件可沿着第一方向分布。

在其它的一些实施例中，安置有光纤的滑动件21可滑动至测量部42与固定部41之间的位置以检测光纤的温度。

可选地，光栅测试装置100包括相互吸引的第一磁性件和第二磁性件，第一磁性件设置于测量部42或者第一限位件7，第二磁性件设置于滑动件21，相互吸引的第一磁性件和第二磁性件用于锁定滑动件21相对测量部42的位置。

其中，滑动件21从固定部41表面滑动至测量部42表面时可使第一磁性件和第二磁性件的磁吸力逐渐增加。

具体的，第一磁性件和第二磁性件均可为磁铁；或者第一磁性件可为磁铁，第二磁性件可为铁、钴、镍等；或者第一磁性件可为铁、钴、镍等，第二磁性件可为磁铁。

在一些实施例中，当第一磁性件设置于第一限位件7时，第一磁性件可位于第一限位件7与滑动件21的抵接面，第二磁性件可位于滑动件21与第一限位件7的抵接面。

可选地，光栅测试装置100还包括相互吸引的第三磁性件和第四磁性件，第三磁性件设置于固定部41或者第二限位件8，第四磁性件设置于滑动件21，相互吸引的第三磁性件和第四磁性件用于锁定滑动件21相对固定部41的位置。

其中，滑动件21从测量部42表面滑动至固定部41表面时可使第三磁性件和第四磁性件的磁吸力逐渐增加。

具体的，第三磁性件和第四磁性件均可为磁铁；或者第三磁性件可为磁铁，第四磁性件可为铁、钴、镍等；或者第四磁性件可为铁、钴、镍等，第三磁性件可为磁铁。

在一些实施例中，当第三磁性件设置于第二限位件8时，第三磁性件可位于第二限位件8与滑动件21的抵接面，第四磁性件可位于滑动件21与第二限位件8的抵接面。

可选地，测温组件3还包括驱动构件33，支架31通过驱动构件33与测温器32连接，驱动构件33包括第一驱动结构331和第二驱动结构332，第一驱动结构331与支架31连接，以支撑第一驱动结构331；

第一驱动结构331与第二驱动结构332连接以驱动第二驱动结构332沿着滑动件21的滑动方向移动，第二驱动结构332与测温器32连接以驱动测温器32沿着第一方向移动，通过第一驱动结构331及第二驱动结构332可使得测温器32在第一方向及滑动件21滑动方向移动。

其中，第一驱动结构331与第二驱动结构332滑动连接。第二驱动结构332与测温器32滑动连接。

具体的，第一驱动结构331包括第一滑轨、第一连接件及第一驱动件，第一滑轨与支架31连接，第一滑轨沿着滑动件21的滑动方向延伸，第一连接件与第一滑轨滑动连接，第一驱动件与第一连接件连接以驱动第一连接件滑动，第一连接件还与第二驱动结构332连接以驱动第二驱动结构332沿着滑动件21的滑动方向移动。

第二驱动结构332包括第二滑轨、第二驱动件及第二连接件，第二滑轨沿着第一方向延伸，第二滑轨与第一连接件连接，第二连接件沿着第一方向与第二滑轨滑动连接，第二驱动件与第二连接件连接以驱动第二连接件滑动，第二连接件凸设有伸出部，伸出部与测温器32连接。

在一些实施例中，第一驱动件和第二驱动件均可与控制器连接，通过控制器控制第一驱动件及第二驱动件，以控制测温器32的移动。

可选地，测温组件3还包括驱动构件33，支架31通过驱动构件33与测温器32连接，驱动构件33包括第一驱动结构331和第二驱动结构332，第一驱动结构331与支架31连接，以支撑第一驱动结构331。

第一驱动结构331与第二驱动结构332连接以驱动第二驱动结构332沿着第一方向移动，第二驱动结构332与测温器32连接以驱动测温器32沿着滑动件21的滑动方向移动,通过第一驱动结构331及第二驱动结构332可使得测温器32在滑动件21滑动方向及第一方向移动。

其中，第一驱动结构331与第二驱动结构332滑动连接。第二驱动结构332与测温器32滑动连接。

具体的，第一驱动结构331包括第一滑轨、第一连接件及第一驱动件，第一滑轨与支架31连接，第一滑轨沿着第一方向延伸，第一连接件与第一滑轨滑动连接，第一驱动件与第一连接件连接以驱动第一连接件滑动，第一连接件还与第二驱动结构332连接以驱动第二驱动结构332沿着第一方向移动。

第二驱动结构332包括第二滑轨、第二驱动件及第二连接件，第二滑轨沿着滑动件21滑动方向延伸，第二滑轨与第一连接件连接，第二连接件沿着滑动件21滑动方向与第二滑轨滑动连接，第二驱动件与第二连接件连接以驱动第二连接件滑动，第二连接件凸设有伸出部，伸出部与测温器32连接。

可选的，光栅测试装置100还包括与测试平台1连接的功率衰减器，功率衰减器位于滑动件21沿第一方向的一侧，功率衰减器朝向滑动件21的一侧表面开设有开口，用于和光纤的一端连接，功率衰减器内设置有与开口连通的衰减空腔，用于衰减射入衰减空腔的激光。

其中，功率衰减器的开口相对的衰减空腔内壁凸设有锥形凸起。

具体的，锥形凸起可为圆锥形凸起或者多边形凸起。衰减空腔内壁表面可涂抹为黑色。衰减空腔内壁中可设置有冷却水管路，用于带走衰减空腔内壁的热量。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种光栅测试装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种光栅测试装置，其特征在于，包括：

测试平台；

光纤固定组件，包括滑动件，所述滑动件沿所述测试平台的台面与所述测试平台滑动连接，所述滑动件包括用于与光纤连接的光纤连接部，所述光纤连接部沿第一方向依次分布，所述第一方向与所述滑动件的滑动方向呈夹角；

测温组件，包括与所述测试平台连接的支架，以及与所述支架连接的测温器，所述测温器与所述测试平台的台面相对间隔设置。

2.如权利要求1所述的光栅测试装置，其特征在于，所述测试平台上还设置有支撑件，所述支撑件与所述滑动件滑动连接，以使所述滑动件沿所述测试平台的台面与所述测试平台滑动连接；

所述支撑件包括固定部和测量部，所述固定部和所述测量部沿所述滑动件的滑动方向分布在所述支撑件的两端，所述滑动件相对所述支撑件具有安装位置和测量位置，在所述安装位置时，所述滑动件与所述固定部连接，在所述测量位置时，所述滑动件与所述测量部连接。

3.如权利要求1所述的光栅测试装置，其特征在于，所述滑动件包括至少两个沿所述第一方向依次分布的所述光纤连接部。

4.如权利要求2所述的光栅测试装置，其特征在于，所述测试平台表面开设有定位孔，所述支撑件背离所述测试平台的一侧表面开设有槽口，所述槽口贯穿所述支撑件，所述光栅测试装置还包括锁紧件，所述锁紧件穿过所述槽口及所述定位孔以连接所述支撑件及所述测试平台，所述槽口沿着所述滑动件滑动方向延伸；

所述定位孔的数量为多个，多个所述定位孔沿所述滑动件滑动方向分布。

5.如权利要求2所述的光栅测试装置，其特征在于，所述固定部伸出于所述测试平台的边缘。

6.如权利要求2所述的光栅测试装置，其特征在于，所述光栅测试装置包括第一限位件，所述第一限位件与所述固定部沿所述滑动件滑动方向的一端连接，所述第一限位件伸出于所述固定部背离所述测试平台一侧的表面，所述第一限位件用于与所述滑动件抵接，以限制所述滑动件在所述测量部至所述固定部方向的移动距离；

所述光栅测试装置还包括第二限位件，所述第二限位件与所述测量部沿所述滑动件滑动方向反向的一端连接，所述第二限位件伸出于所述测量部背离所述测试平台一侧的表面，所述第二限位件用于与所述滑动件抵接，以限制所述滑动件在所述固定部至所述测量部方向的移动距离。

7.如权利要求6所述的光栅测试装置，其特征在于，所述光栅测试装置包括相互吸引的第一磁性件和第二磁性件，所述第一磁性件设置于所述测量部或者所述第一限位件，所述第二磁性件设置于所述滑动件。

8.如权利要求6所述的光栅测试装置，其特征在于，所述光栅测试装置还包括相互吸引的第三磁性件和第四磁性件，所述第三磁性件设置于所述固定部或者所述第二限位件，所述第四磁性件设置于所述滑动件。

9.如权利要求1所述的光栅测试装置，其特征在于，所述测温组件还包括驱动构件，所述支架通过驱动构件与所述测温器连接，所述驱动构件包括第一驱动结构和第二驱动结构，所述第一驱动结构与所述支架连接；

所述第一驱动结构与所述第二驱动结构连接以驱动所述第二驱动结构沿着所述滑动件的滑动方向移动，所述第二驱动结构与所述测温器连接以驱动所述测温器沿着所述第一方向移动；或者，

所述第一驱动结构与所述第二驱动结构连接以驱动所述第二驱动结构沿着所述第一方向移动，所述第二驱动结构与所述测温器连接以驱动所述测温器沿着所述滑动件的滑动方向移动。

10.如权利要求1至9中任意一项所述的光栅测试装置，其特征在于，所述光栅测试装置还包括与所述测试平台连接的功率衰减器，所述功率衰减器位于所述滑动件沿所述第一方向的一侧，所述功率衰减器朝向所述滑动件的一侧表面开设有开口，所述功率衰减器内设置有与所述开口连通的衰减空腔。

Images