CN216670058U - 一种可搬移的天线快速测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：包括测试暗箱、第一测试转台、第二测试转台和控制柜；测试暗箱的内部设置有轨道支架和移动轨道，移动轨道上滑动连接有用于连接测试天线的天线夹持单元，第一测试转台滑动连接在第一轨道上，第一轨道包括第一外部轨道和第一内部轨道，第二测试转台滑动连接在第二轨道上，第二轨道包括第二外部轨道和第二内部轨道。本实用新型中第一测试转台和第二测试转台同时使用，在进行天线的测试时，同时可进行天线调试，可节省天线安装调试的时间，测试系统在需要搬运到不同的生产现场时，可分别进行搬运，搬运到预定现场后，再进行拼装，可实现生产现场流水线测量，提高天线生产效率。

Description

一种可搬移的天线快速测试装置

技术领域

本实用新型属于天线测试技术领域，具体涉及一种可搬移的天线快速测试装置。

背景技术

目前天线测试系统多通过建设微波暗室的形式进行建设，微波暗室可方便排除外界电磁干扰，微波暗室主要用于辐射无线电骚扰(EMI)和辐射敏感度(EMS)测量，微波暗室的尺寸和射频吸波材料的选用主要由受试设备(EUT)的外形尺寸和测试要求决定，天线可用于检测微波暗室内部是否出现电磁干扰现象，天线是一种变换器，它把传输线上传播的导行波，变换成在无界媒介(通常是自由空间)中传播的电磁波，或者进行相反的变换，在无线电设备中用来发射或接收电磁波的部件。

现阶段，建设微波暗室主要是通过建设一间尺寸合适的房间或厂房，在房内焊接屏蔽体并做吸波处理，然后安装测试设备搭建测试链路，完成系统的建设。此种方法缺点是：系统暗室建设成本较高、周期较长；测试系统无法进行整体搬移，不能实现生产现场实时流水线测量，天线生产效率较低；天线测试时，需对在暗室内进行天线的安装调试，天线测试及批量对比测试效率较低，测试成本较高。

但是现有的微波暗室天线测试设备通常采用固定的底座对天线的位置进行固定，导致天线无法对微波暗室内部进行全方位的检测，其次微波暗室的内部空间有限，体积较大的天线测试设备会占用一定的面积，导致空间拥挤，针对上述问题，我们提出了一种微波暗室及相应的天线测试系统。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种可搬移的天线快速测试装置，其结构简单、设计合理，本实用新型结构简单、设计合理，第一测试转台和第二测试转台同时使用，再进行天线的测试时，同时可进行天线调，可节省天线安装调试的时间，且测试系统在需要搬运到不同的生产现场时，可分别进行搬运，搬运到预定现场后，再进行拼装，使用方便，可实现生产现场流水线测量，提高天线生产效率。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：包括测试暗箱、第一测试转台、第二测试转台和控制柜；所述测试暗箱的两侧分别开设有可供第一测试转台进出的第一活动门和可供第二测试转台进出的第二活动门；所述测试暗箱的内部设置有轨道支架和搭设在所述轨道支架上的移动轨道，所述移动轨道上滑动连接有用于连接测试天线的天线夹持单元，所述第一测试转台滑动连接在第一轨道上，所述第一轨道包括相互连接的第一外部轨道和第一内部轨道，所述第一外部轨道位于第一活动门的外部，所述第一内部轨道位于第一活动门的内部，所述第二测试转台滑动连接在第二轨道上，所述第二轨道包括相互连接的第二外部轨道和第二内部轨道，所述第二外部轨道位于第二活动门的外部，所述第二内部轨道位于第二活动门的内部，所述第二内部轨道与第一内部轨道连通，所述移动轨道与第一轨道和第二轨道均呈垂直不相交布设。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述控制柜包括PLC控制器，所述PLC控制器的输出端接有第一伺服驱动器和第二伺服驱动器，所述第一伺服驱动器接有用于驱动第一测试转台沿着所述第一轨道滑动的第一电机，所述第二伺服驱动器接有用于驱动第二测试转台沿着所述第二轨道滑动的第二电机，所述PLC控制器的输入端接有第一遥控器和第二遥控器。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第一测试转台和第二测试转台结构相同均包括升降板、设置在升降板底端的升降柱，以及至少一个第一支撑杆、多个第二支撑杆和支撑板，所述第一支撑杆和第二支撑杆均设置在升降板和支撑板之间，所述第一支撑杆和第二支撑杆均与支撑板可转动连接，所述第一支撑杆为升降杆，所述第一支撑杆为最短长度时，所述支撑板与水平面平行。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：还包括微控制器，所述微控制器的输入端接有第三遥控器和第四遥控器，所述微控制器的输出端通过变频器一与用于驱动升降柱的第三电机相接，所述微控制器通过变频器二与用于驱动第一支撑杆的第四电机，所述变频器二与第四电机的数量相同。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述测试暗箱包括箱体和铺设在所述箱体内侧的屏蔽层和吸波层，所述屏蔽层采用具有高磁损耗角正切的NiZn铁氧体材料制成，所述吸波层采用吸波棉制成。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第二轨道包括第一内部轨道平台和设置在第一内部轨道平台上的第二滑轨，所述第二测试转台的底部设置有与所述第二滑轨相适应的滑块。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第一轨道包括第一轨道平台和设置在第一轨道平台上的第一滑轨，所述第一测试转台的底部设置有与所述第一滑轨相适应的滑块。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第一活动门和第二活动门均为电动遥控门。

上述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述测试暗箱、第一测试转台、第二测试转台和控制柜的底部均可拆卸连接有滑轮。

上述天线夹持单元包括与移动轨道相适应的滑块和与滑动固定连接的夹持件。

本实用新型与现有技术相比具有以下优点：

1、本实用新型的结构简单、设计合理，实现及使用操作方便。

2、本实用新型中，第一测试转台和第二测试转台同时使用，再进行天线的测试时，同时可进行天线调试，节省了天线的测试和调试时间，提高天线测试及批量天线对比测试效率，降低测试成本。

3、本实用新型中，第一外部轨道和第一内部轨道可拆卸连接，第一内部轨道位于第一活动门的内部且与测试暗箱固定连接，第二外部轨道和第二内部轨道可拆卸连接，第二内部轨道位于第二活动门的内部且与测试暗箱固定连接，测试系统在需要搬运到不同的生产现场时，可分别进行搬运，搬运到预定现场后，再进行拼装，使用方便。

4、本实用新型的测试系统移动方便，在生产中，不需要建设微波暗室，实现生产现场流水线测量，节约测试时间，提高天线生产效率。

5、本实用新型在测试过程中，可通过调整升降柱的高度，来改变发射天线在测试暗箱内的高度，通过调整第一支撑杆的高度，可改变发射天线在测试暗箱内的倾斜度。通过调整发射天线在不用高度和不同角度的电磁波信号，可获得发射天线在测试暗箱不同位置的测试结果，测试结果全面准确，使用效果好。

综上所述，本实用新型结构简单、设计合理，第一测试转台和第二测试转台同时使用，再进行天线的测试时，同时可进行天线调，可节省天线安装调试的时间，且测试系统在需要搬运到不同的生产现场时，可分别进行搬运，搬运到预定现场后，再进行拼装，

使用方便，可实现生产现场流水线测量，提高天线生产效率。

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为图1打开第一活动门和第一活动门的结构示意图。

图3为本实用新型第一测试转台或第二测试转台的电路原理框图。

图4为本实用新型控制柜的电路原理框图。

图5为本实用新型测试控制装置的电路原理框图。

图6为本实用新型测试暗箱的内部结构示意图。

附图标记说明:

1—测试暗箱； 2—控制柜； 3—第一轨道平台；

4—第一滑轨； 5—第一测试转台； 6—发射天线；

7—第一内部轨道平台； 8—第二滑轨； 9—第二测试转台；

10—接收天线； 11—升降板； 12—第一支撑杆；

13—第二支撑杆； 14—支撑板； 15—升降柱；

16—微控制器； 17—变频器一； 18—第三电机；

19—变频器二； 20—第四电机； 1-1—第一活动门；

1-2—第二活动门； 1-3—滑块； 1-4—夹持件；

1-5—测试天线； 1-6—移动轨道； 1-7—轨道支架；

2-1—PLC控制器； 2-2—第一伺服驱动器； 2-3—第二伺服驱动器；

2-4—第一电机； 2-5—第二电机； 2-6—第一遥控器；

2-6—第二遥控器。

具体实施方式

下面结合附图及本实用新型的实施例对本实用新型作进一步

详细的说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实

施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实

施例来详细说明本发明。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方

式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使

用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数

形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包

含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、

组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中

的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用

于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当

情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式例如能够以

除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包

含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品

或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有

清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步

骤或单元。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

如图1、图2和图6所示，本实用新型包括测试暗箱1、第一测试转台5、第二测试转台9和控制柜2；所述测试暗箱1的两侧分别开设有可供第一测试转台5进出的第一活动门1-1和可供第二测试转台9进出的第二活动门1-2；所述测试暗箱1的内部设置有轨道支架1-7和搭设在所述轨道支架1-7上的移动轨道1-6，所述移动轨道1-6上滑动连接有用于连接测试天线1-5的天线夹持单元，所述第一测试转台5滑动连接在第一轨道上，所述第一轨道包括相互连接的第一外部轨道和第一内部轨道，所述第一外部轨道位于第一活动门1-1的外部，所述第一内部轨道位于第一活动门1-1的内部，所述第二测试转台9滑动连接在第二轨道上，所述第二轨道包括相互连接的第二外部轨道和第二内部轨道，所述第二外部轨道位于第二活动门1-2的外部，所述第二内部轨道位于第二活动门1-2的内部，所述第二内部轨道与第一内部轨道连通，所述移动轨道1-6与第一轨道和第二轨道均呈垂直不相交布设。

第一轨道和第二轨道分别安装在测试暗箱1的两侧，测试暗箱1的两侧具有活动门，分别为可供第一测试转台5进出的第一活动门1-1和可供第二测试转台9进出的第二活动门1-2，第一活动门1-1和第二活动门1-2可电动或手动打开。

需要说明的是，第一外部轨道位于第一活动门1-1的外部，且与第一内部轨道可拆卸连接。第一内部轨道位于第一活动门1-1的内部且与测试暗箱1固定连接。第二外部轨道位于第二活动门1-2的外部，且与第二内部轨道可拆卸连接。第二内部轨道位于第二活动门1-2的内部，且与测试暗箱1固定连接。

第一测试转台5、第二测试转台9采用型材及板材焊接而成。

第一测试转台5和第二测试转台9上分别设置有用于夹持天线的夹持件。

实际使用时，测试暗箱1为天线测试提供测试环境，第一测试转台5用于安装待测天线6，第二测试转台9用于安装待调试天线10，第一轨道和第二轨道用于实现第一测试转台5和第二测试转台9的移动，控制柜2用于控制第一测试转台5和第二测试转台9的移动。

测试系统在需要搬运到不同的生产现场时，将第二活动门1-2和第一活动门1-1手动或电动打开，将第一测试转台5移动到第一内部轨道上，将第二测试转台9移动到第二内部轨道上，即将第一测试转台5和第二测试转台9移动到测试暗箱1的内部，关闭第二活动门1-2和第一活动门1-1。然后，将第一外部轨道和第一内部轨道拆卸开来，将第二外部轨道和第二内部轨道拆卸开来，分别进行搬运。测试暗箱1、控制柜2、第一外部轨道和第二外部轨道的底部安滑轮推移搬运，也可以采用吊车、叉车等进行搬运，搬运到预定现场后，再进行拼装。

具体在进行天线测试时时，第一测试转台5用于安装待测天线6，第二测试转台9用于安装待调试天线10。打开第一活动门1-1，将第一测试转台5移动到第一内部轨道上，关闭第一活动门1-1和第二活动门1-2。第一测试转台5上的待测天线6与移动轨道(1-6)上滑动连接的测试天线(1-5)组成发射接收链路，测试暗室1用把发射天线的射频能量,尽可能地吸收或改变其反射方向，使之不进入接收天线的主波束区，即在接收天线所在区域内提供近似无反射的静区，以此对第一测试转台5上的待测天线6进行检测。

与此同时，第二测试转台9仍旧位于测试暗箱1的外部，在进行第一测试转台5上的待测天线6的测试时，工作人员可对第二测试转台9上的待调试天线10进行调试，以提高天线测试及批量天线对比测试效率，降低测试成本。

第一测试转台5上的待测天线6完成测试后，改变第一测试转台(5)和第二测试转台(9)的位置，使第一测试转台(5)位于测试暗箱1的外部，第二测试转台(9)位于测试暗箱1的内部，开始对第二测试转台9上的待调试天线10进行测试，如此往复，第一测试转台5和第二测试转台9同时使用，再进行天线的测试时，同时可进行天线调试，节省了天线的测试和调试时间。

本申请的测试系统移动方便，在系统生产中，不需要建设微波暗室，实现生产现场流水线测量，节约测试时间，提高天线生产效率。

如图4所示，本实施例中，所述控制柜2包括PLC控制器2-1，所述PLC控制器2-1的输出端接有第一伺服驱动器2-2和第二伺服驱动器2-3，所述第一伺服驱动器2-2接有用于驱动第一测试转台5沿着所述第一轨道滑动的第一电机2-4，所述第二伺服驱动器2-3接有用于驱动第二测试转台9沿着所述第二轨道滑动的第二电机2-5，所述PLC控制器2-1的输入端接有第一遥控器2-6和第二遥控器2-7。

需要说明的是，本申请中，PLC控制器2-1、第一伺服驱动器2-2、第二伺服驱动器2-3、第一电机2-4、第二电机2-5、第一遥控器2-6和第二遥控器2-7均为现有技术设备，可以直接购置并连接使用。

实际使用时，第一遥控器2-6和第二遥控器2-7向PLC控制器2-1发送参数，PLC控制器2-1根据接收的参数发送相应的高数脉冲给第一伺服驱动器2-2和第二伺服驱动器2-3，第一伺服驱动器2-2和第二伺服驱动器2-3根据输入的高数脉冲驱动第一电机2-4和第二电机2-5转动。PLC控制器2-1通过不同的高速脉冲信号和方向信号来控制第一电机2-4和第二电机2-5的转动方向和转速，达到对第一测试转台5和第二测试转台9的运动轨迹的精确控制。

如图3所示，本实施例中，所述第一测试转台5和第二测试转台9结构相同均包括升降板11、设置在升降板11底端的升降柱15，以及至少一个第一支撑杆12、多个第二支撑杆13和支撑板14，所述第一支撑杆12和第二支撑杆13均设置在升降板11和支撑板14之间，所述第一支撑杆12和第二支撑杆13均与支撑板14可转动连接，所述第一支撑杆12为升降杆，所述第一支撑杆12为最短长度时，所述支撑板14与水平面平行。

需要说明的是，本申请中可转动连接指的是通过销轴或万向球头连接。万向球头包括基座和可在基座内自由活动的滚珠，基座与第一支撑杆12或第二支撑杆13的末端固定连接，滚珠的一端与支撑板14固定连接。

第一支撑杆12的个数为至少一个，第一支撑杆12用于实现支撑板14的倾斜。第四电机位于升降板11的下方。

测试过程中，可通过调整升降柱15的高度，来改变发射天线6在测试暗箱1内的高度，通过调整第一支撑杆12的高度，可改变发射天线6在测试暗箱1内的倾斜度。通过调整发射天线6在不用高度和不同角度的电磁波信号，可获得发射天线6在测试暗箱1不同位置的测试结果，测试结果全面准确，使用效果好。

如图5所示，本实施例中，用于控制第一测试转台5或第二测试转台9运动的装置称为测试控制装置，测试控制装置还包括微控制器16，所述微控制器16的输入端接有第三遥控器21和第四遥控器22，所述微控制器16的输出端通过变频器一17与用于驱动升降柱15的第三电机18相接，所述微控制器16通过变频器二19与用于驱动第一支撑杆12的第四电机20，所述变频器二19与第四电机20的数量相同。

需要说明的是，本申请中，微控制器16、变频器一17、变频器二19、第三电机18、第四电机20、第三遥控器21和第四遥控器22均为现有技术设备，可以直接购置并连接使用。

实际使用时，第三遥控器21和第四遥控器22向PLC控制器2-1发送参数，微控制器16根据接收的参数发送相应的高数脉冲给变频器一17和变频器二19，变频器一17和变频器二19根据输入的高数脉冲驱动第三电机18和第四电机20转动。微控制器16通过不同的高速脉冲信号和方向信号来控制第三电机18的输出轴和第四电机20的输出轴的转动方向和转速，达到对第一支撑杆12和升降柱15的运动轨迹的精确控制。

本实施例中，所述测试暗箱1包括箱体和铺设在所述箱体内侧的屏蔽层和吸波层，所述屏蔽层采用具有高磁损耗角正切的NiZn铁氧体材料制成，所述吸波层采用吸波棉制成。

实际使用时，测试暗箱1的箱体采用型材及板材焊接而成，具有良好的屏蔽性能，且生产成本较低，生产周期短。

本实施例中，所述第二轨道包括第一内部轨道平台7和设置在第一内部轨道平台7上的第二滑轨8，所述第二测试转台9的底部设置有与所述第二滑轨8相适应的滑块。

本实施例中，所述第一轨道包括第一轨道平台3和设置在第一轨道平台3上的第一滑轨4，所述第一测试转台5的底部设置有与所述第一滑轨4相适应的滑块。

本实施例中，所述第一活动门1-1和第二活动门1-2均为电动遥控门。实际使用时，电动遥控门包括包括固定门、滑动门、滑槽、导轨和控制装置。

本实施例中，所述测试暗箱1、第一测试转台5、第二测试转台9和控制柜2的底部均可拆卸连接有滑轮。

实际使用时，测试暗箱1、控制柜2、第一轨道和第二外部轨道的底部均可拆卸连接有滑轮，当需要搬运测试系统时，可通过滑轮移动搬运，也可以采用吊车、叉车等进行搬运，搬运到预定现场后，再进行拼装，使用方便。

其中，说明书中未做详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

以上所述，仅是本实用新型的实施例，并非对本实用新型作任何限制，凡是根据本实用新型技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。

Claims (10)

1.一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：包括测试暗箱(1)、第一测试转台(5)、第二测试转台(9)和控制柜(2)；所述测试暗箱(1)的两侧分别开设有可供第一测试转台(5)进出的第一活动门(1-1)和可供第二测试转台(9)进出的第二活动门(1-2)；所述测试暗箱(1)的内部设置有轨道支架(1-7)和搭设在所述轨道支架(1-7)上的移动轨道(1-6)，所述移动轨道(1-6)上滑动连接有用于连接测试天线(1-5)的天线夹持单元，所述第一测试转台(5)滑动连接在第一轨道上，所述第一轨道包括相互连接的第一外部轨道和第一内部轨道，所述第一外部轨道位于第一活动门(1-1)的外部，所述第一内部轨道位于第一活动门(1-1)的内部，所述第二测试转台(9)滑动连接在第二轨道上，所述第二轨道包括相互连接的第二外部轨道和第二内部轨道，所述第二外部轨道位于第二活动门(1-2)的外部，所述第二内部轨道位于第二活动门(1-2)的内部，所述第二内部轨道与第一内部轨道连通，所述移动轨道(1-6)与第一轨道和第二轨道均呈垂直不相交布设。

2.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述控制柜(2)包括PLC控制器(2-1)，所述PLC控制器(2-1)的输出端接有第一伺服驱动器(2-2)和第二伺服驱动器(2-3)，所述第一伺服驱动器(2-2)接有用于驱动第一测试转台(5)沿着所述第一轨道滑动的第一电机(2-4)，所述第二伺服驱动器(2-3)接有用于驱动第二测试转台(9)沿着所述第二轨道滑动的第二电机(2-5)，所述PLC控制器(2-1)的输入端接有第一遥控器(2-6)和第二遥控器(2-7)。

3.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第一测试转台(5)和第二测试转台(9)结构相同均包括升降板(11)、设置在升降板(11)底端的升降柱(15)，以及至少一个第一支撑杆(12)、多个第二支撑杆(13)和支撑板(14)，所述第一支撑杆(12)和第二支撑杆(13)均设置在升降板(11)和支撑板(14)之间，所述第一支撑杆(12)和第二支撑杆(13)均与支撑板(14)可转动连接，所述第一支撑杆(12)为升降杆，所述第一支撑杆(12)为最短长度时，所述支撑板(14)与水平面平行。

4.按照权利要求3所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：还包括微控制器(16)，所述微控制器(16)的输入端接有第三遥控器(21)和第四遥控器(22)，所述微控制器(16)的输出端通过变频器一(17)与用于驱动升降柱(15)的第三电机(18)相接，所述微控制器(16)通过变频器二(19)与用于驱动第一支撑杆(12)的第四电机(20)，所述变频器二(19)与第四电机(20)的数量相同。

5.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述测试暗箱(1)包括箱体和铺设在所述箱体内侧的屏蔽层和吸波层，所述屏蔽层采用具有高磁损耗角正切的NiZn铁氧体材料制成，所述吸波层采用吸波棉制成。

6.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第二轨道包括第一内部轨道平台(7)和设置在第一内部轨道平台(7)上的第二滑轨(8)，所述第二测试转台(9)的底部设置有与所述第二滑轨(8)相适应的滑块。

7.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第一轨道包括第一轨道平台(3)和设置在第一轨道平台(3)上的第一滑轨(4)，所述第一测试转台(5)的底部设置有与所述第一滑轨(4)相适应的滑块。

8.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述第一活动门(1-1)和第二活动门(1-2)均为电动遥控门。

9.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述测试暗箱(1)、第一测试转台(5)、第二测试转台(9)和控制柜(2)的底部均可拆卸连接有滑轮。

10.按照权利要求1所述的一种可搬移的天线快速测试装置，其特征在于：所述天线夹持单元包括与移动轨道(1-6)相适应的滑块(1-3)和与滑块(1-3)固定连接的夹持件(1-4)。

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