CN216485353U - 一种芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域。一种芯片测试装置，包括检测箱，电机输出轴穿过检测箱外壁延伸至内部并套接有转盘，检测箱内部后侧通过销轴转动连接有V型杆，方形板底面呈线性等间距设有多个检测仪主体，防护箱前侧的板上呈线性等间距设有多个待检测芯片，结构间的紧密配合，使得该装置通过转盘的转动，带动V型杆进行往复，从而带动方形板上的多个检测仪主体伸出对待检测芯片进行检测动作，完毕后收回到防护箱中，从而使得该装置的通过检测仪一次可以检测多个芯片，提高了检测效率，同时可以精准的进行检测，不会出现芯片移动放偏的情况，同时，检测仪在不用时可以收起，避免了长时间暴露在外，延长了使用的寿命。

Description

一种芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片测试装置。

背景技术

随着计算机信息科技迅速蓬勃发展，在计算机相关领域的设计与组件也不断日新月异，然而，在日新月异的电子产品中，均会使用不同类型之内存芯片模块，也因此对内存芯片的质量要求也日益严格，需要对芯片的质量进行检测。现有技术公开号为CN207689526U的文献，提供一种芯片测试装置，该装置通过在述底座的下侧壁开设有多个凹口，每两个对称设置的转轴之间设有传送辊，两个传送辊上共同套设有传送带，每个固定块的一侧侧壁上均开设有安装槽，其中一个安装槽内设有芯片检测仪，芯片检测仪远离安装槽的一侧设有探头，使用时将待测芯片放在传送带上，调节双轴步进电机的转动角度和频率使传送带将待测芯片递进一定距离至待测芯片位于橡胶块与探头之间后停止进行检测，虽然该装置有益效果较多，但依然存在下列问题：该装置的通过检测仪一次只能检测一个芯片，检测效率低，而通过放置在传送带上，放置的位置十分关键，容易导致芯片移动放偏，从而影响检测结果，同时该装置的检测仪长时间暴露在外，影响使用寿命，鉴于此，我们提出一种芯片测试装置。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

2.技术方案

一种芯片测试装置，包括检测箱，所述检测箱前侧设有防护箱，所述检测箱左侧设有机箱，所述机箱内部设有电机，所述电机输出轴穿过检测箱外壁延伸至内部并套接有转盘，所述转盘外壁开设有环形槽，所述检测箱内部后侧通过销轴转动连接有V型杆，所述V型杆前端左侧设有凸轮，所述V型杆下端通过销轴对称转动连接有两个滑轮，所述检测箱内部前侧固设有固定块，所述固定块内部对称开设有限位孔，所述固定块后侧对称设有两个限位杆，两个所述限位杆之间设有连接块，所述连接块后侧对称焊接有两个调节块，所述调节块中部开设有滑槽，两个所述限位杆前端穿过固定块内部延伸至外部并固设有方形板，所述方形板底面呈线性等间距设有多个检测仪主体，所述防护箱前侧的板上呈线性等间距设有多个待检测芯片，所述防护箱前侧铰链有箱门，所述箱门内壁中部对称设有两个挂环A，所述挂环A内侧通过挂钩挂接有弹簧。

优选地，所述环形槽呈椭圆形结构设置，所述环形槽与凸轮滑动连接。

优选地，所述滑轮与所述滑槽内壁滚动连接。

优选地，所述限位孔与限位杆滑动连接。

优选地，所述弹簧后端通过挂钩与所述防护箱内壁设置的挂环B挂接配合。

3.有益效果

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

1.本实用新型通过在电机输出轴穿过检测箱外壁延伸至内部并套接有转盘，检测箱内部后侧通过销轴转动连接有V型杆，方形板底面呈线性等间距设有多个检测仪主体，防护箱前侧的板上呈线性等间距设有多个待检测芯片，结构间的紧密配合，使得该装置通过转盘的转动，带动V型杆进行往复，从而带动方形板上的多个检测仪主体伸出对待检测芯片进行检测动作，完毕后收回到防护箱中，从而使得该装置的通过检测仪一次可以检测多个芯片，提高了检测效率，同时可以精准的进行检测，不会出现芯片移动放偏的情况，同时，检测仪在不用时可以收起，避免了长时间暴露在外，延长了使用的寿命。

2.本实用新型通过在防护箱前侧铰链有箱门，箱门内壁中部对称设有两个挂环A，挂环A内侧通过挂钩挂接有弹簧，弹簧后端通过挂钩与防护箱内壁设置的挂环B挂接配合，通过弹簧的设计，使得方形板在伸出时，可以顶开箱门，在收回后通过弹簧的拉动，可以自动的关闭箱门，十分的便利，避免了灰尘或搬运碰触损坏检测仪主体。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的整体结构剖面图；

图3为本实用新型的转盘结构拆分图；

图中标号说明：1、检测箱；101、机箱；102、电机；103、转盘；104、环形槽；2、防护箱；3、V型杆；301、凸轮；302、滑轮；4、固定块；401、限位孔；402、限位杆；403、连接块；404、调节块；405、滑槽；406、方形板；5、检测仪主体；6、待检测芯片；7、箱门；701、挂环A；702、弹簧；703、挂环B。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案：

一种芯片测试装置，包括检测箱1，检测箱1前侧设有防护箱2，检测箱1左侧设有机箱101，机箱101内部设有电机102，电机102输出轴穿过检测箱1外壁延伸至内部并套接有转盘103，转盘103外壁开设有环形槽104，检测箱1内部后侧通过销轴转动连接有V型杆3，V型杆3前端左侧设有凸轮301，V型杆3下端通过销轴对称转动连接有两个滑轮302，检测箱1内部前侧固设有固定块4，固定块4内部对称开设有限位孔401，固定块4后侧对称设有两个限位杆402，两个限位杆402之间设有连接块403，连接块403后侧对称焊接有两个调节块404，调节块404中部开设有滑槽405，两个限位杆402前端穿过固定块4内部延伸至外部并固设有方形板406，方形板406底面呈线性等间距设有多个检测仪主体5，防护箱2前侧的板上呈线性等间距设有多个待检测芯片6，防护箱2前侧铰链有箱门7，箱门7内壁中部对称设有两个挂环A701，挂环A701内侧通过挂钩挂接有弹簧702。结构间的紧密配合，使得该装置通过转盘103的转动，带动V型杆3进行往复，从而带动方形板406上的多个检测仪主体5伸出对待检测芯片6进行检测动作，完毕后收回到防护箱2中，从而使得该装置的通过检测仪一次可以检测多个芯片，提高了检测效率，同时可以精准的进行检测，不会出现芯片移动放偏的情况，同时，检测仪在不用时可以收起，避免了长时间暴露在外，延长了使用的寿命。

具体的，环形槽104呈椭圆形结构设置，环形槽104与凸轮301滑动连接。通过环形槽104呈椭圆形结构的设置，使得凸轮301带动V型杆3进行前后的往复运动，从而带动连接块403进行前后运动。

进一步的，滑轮302与滑槽405内壁滚动连接。通过滑轮302有效的减小了摩擦力，同时滑轮302与滑槽405内壁滚动，适应了V型杆3在运动时弧度的变化。

再进一步的，限位孔401与限位杆402滑动连接。

更进一步的，弹簧702后端通过挂钩与防护箱2内壁设置的挂环B703挂接配合。通过弹簧702的设计，使得方形板406在伸出时，可以顶开箱门7，在收回后通过弹簧702的拉动，可以自动的关闭箱门7，十分的便利，避免了灰尘或搬运碰触损坏检测仪主体5。

工作原理：当需要该芯片测试装置时，首先，将待检测芯片6放置在防护箱2前侧的槽内，此时，通过控制器驱动电机101转动，由于电机102输出轴穿过检测箱1外壁延伸至内部并套接有转盘103，而转盘103外壁开设有环形槽104，而环形槽104呈椭圆形结构设置，环形槽104与凸轮301滑动连接，环形槽104呈椭圆形结构的设置，通过转盘103转动，使得凸轮301带动V型杆3进行前后的往复运动，而V型杆3下端通过销轴对称转动连接有两个滑轮302，滑轮302与滑槽405内壁滚动连接，通过滑轮302有效的减小了摩擦力，同时滑轮302与滑槽405内壁滚动，适应了V型杆3在运动时弧度的变化，从而带动连接块403进行前后运动，而箱门7内的弹簧702后端通过挂钩与防护箱2内壁设置的挂环B703挂接配合，通过弹簧702的设计，使得方形板406在伸出时，可以顶开箱门7，在收回后通过弹簧702的拉动，可以自动的关闭箱门7，十分的便利，避免了灰尘或搬运碰触损坏检测仪主体5。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.一种芯片测试装置，包括检测箱(1)，其特征在于：所述检测箱(1)前侧设有防护箱(2)，所述检测箱(1)左侧设有机箱(101)，所述机箱(101)内部设有电机(102)，所述电机(102)输出轴穿过检测箱(1)外壁延伸至内部并套接有转盘(103)，所述转盘(103)外壁开设有环形槽(104)，所述检测箱(1)内部后侧通过销轴转动连接有V型杆(3)，所述V型杆(3)前端左侧设有凸轮(301)，所述V型杆(3)下端通过销轴对称转动连接有两个滑轮(302)，所述检测箱(1)内部前侧固设有固定块(4)，所述固定块(4)内部对称开设有限位孔(401)，所述固定块(4)后侧对称设有两个限位杆(402)，两个所述限位杆(402)之间设有连接块(403)，所述连接块(403)后侧对称焊接有两个调节块(404)，所述调节块(404)中部开设有滑槽(405)，两个所述限位杆(402)前端穿过固定块(4)内部延伸至外部并固设有方形板(406)，所述方形板(406)底面呈线性等间距设有多个检测仪主体(5)，所述防护箱(2)前侧的板上呈线性等间距设有多个待检测芯片(6)，所述防护箱(2)前侧铰链有箱门(7)，所述箱门(7)内壁中部对称设有两个挂环A(701)，所述挂环A(701)内侧通过挂钩挂接有弹簧(702)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述环形槽(104)呈椭圆形结构设置，所述环形槽(104)与凸轮(301)滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述滑轮(302)与所述滑槽(405)内壁滚动连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述限位孔(401)与限位杆(402)滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述弹簧(702)后端通过挂钩与所述防护箱(2)内壁设置的挂环B(703)挂接配合。

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