CN216414303U - 一种电回环模块和测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种电回环模块和测试系统，涉及通信设备测试技术领域，包括模块本体以及设置于模块本体上的TX端口和RX端口，TX端口和RX端口经模块本体内部回环连接，TX端口和RX端口分别与待测设备连接。如此，在测试待测设备时，由待测设备发射的高频信号经过TX端口后传输到模块本体内部，并且在模块本体内部直接回环，然后通过RX端口传送到待测设备中，由待测设备进行接收，如此，能够对待测设备的端口的高频性能进行测试。从而简化模块内部的电路结构，降低测试成本，有利于实现光通信器件检测过程中的大规模推广使用。

Description

一种电回环模块和测试系统

技术领域

本申请涉及通信设备测试技术领域，具体而言，涉及一种电回环模块和测试系统。

背景技术

目前，交换机和网络设备在进行光口自检时，一般都是在系统中需要自检的光口上插上常规的光模块，用光纤跳线连接光模块的收发端口来实现通信设备光口的自检。

现有的光模块内部电路结构复杂，同时，在多次插拔过程中，也容易对光模块的插接端口造成损坏，存在测试成本较高的问题。

实用新型内容

本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种电回环模块，以解决现有光模块测试时测试成本较高的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

本申请实施例的一方面，提供一种电回环模块，用以测试待测设备的性能，包括模块本体以及设置于模块本体上的TX端口和RX端口，TX端口和RX端口经模块本体内部回环连接，TX端口和RX端口分别与待测设备连接，待测设备的高频信号经TX端口进入模块本体，再经RX端口回到待测设备，以测试待测设备的高频性能。

可选的，在模块本体上还设置有IIC端口，在模块本体内部还设置有存储器，IIC端口与存储器信号连接，待测设备通过IIC端口与存储器连接，并对存储器进行读写，以测试待测设备的通信性能。

可选的，在模块本体内部还设置有数字电位器和线性稳压器，数字电位器与IIC端口信号连接，且数字电位器与存储器并联，数字电位器还与线性稳压器连接，待测设备通过IIC端口设置数字电位器的电阻比值，以调线性稳压器的输出电压。

可选的，数字电位器的W端与线性稳压器的FB端连接，数字电位器的H端与线性稳压器的电压输出端连接。

可选的，电回环模块还包括负载电阻，负载电阻与线性稳压器的电压输出端连接且接地。

可选的，在模块本体上还设置有VCC端口，VCC端口分别与存储器、数字电位器和线性稳压器电连接。

可选的，线性稳压器为低压差线性稳压器。

本申请实施例的另一方面，提供一种测试系统，包括待测设备以及上述任一种的电回环模块，待测设备与电回环模块的TX端口和RX端口连接。

可选的，待测设备为交换机设备。

可选的，待测设备为网络设备。

本申请的有益效果包括：

本申请提供了一种电回环模块和测试系统，包括模块本体以及设置于模块本体上的TX端口和RX端口，TX端口和RX端口经模块本体内部回环连接，TX端口和RX端口分别与待测设备连接。如此，在测试待测设备时，由待测设备发射的高频信号经过TX端口后传输到模块本体内部，并且在模块本体内部直接回环，然后通过RX端口传送到待测设备中，由待测设备进行接收，如此，能够对待测设备的端口的高频性能进行测试。从而简化模块内部的电路结构，降低测试成本，有利于实现光通信器件检测过程中的大规模推广使用。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种电回环模块的结构示意图之一；

图2为本申请实施例提供的一种电回环模块的结构示意图之二；

图3为本申请实施例提供的一种测试系统的结构示意图。

图标：100-电回环模块；200-待测设备。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的各个特征可以相互结合，结合后的实施例依然在本申请的保护范围内。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

随着互联网科技的快速发展，通信设备已经成为互联网快速发展必不可少的基础支撑。光通信(Optical Communication)是以光波为载波的通信技术，以该技术发展的光通信器件具有信息容量大、抗干扰、保密性强、设备轻便等特点。为了保证光通信器件的性能，需要对光通信器件进行检测，现有检测方式通常需要提供光模块，然后将光通信器件插接于光模块，进而实现对光通信器件各项指标的测试。

但是现有测试中，常规光模块内部结构较为复杂，因此其价格较高，同时，在长期使用中，需要光模块经历多次插拔，这容易对光模块的插接端口造成损坏，需要更换光模块，存在测试成本较高的问题。型的光收发一体模块，通过采用简单的电路结构实现了电信号的环回，避免了光纤和衰减器的使用，不仅降低了成本，减小了操作难度，而且提高了产品的可靠性，方便了技术人员的使用。

本申请实施例的一方面，提供一种电回环模块100，通过简化电路结构，从而降低测试成本，有利于实现光通信器件检测过程中的大规模推广使用。

如图1所示，电回环模块100包括模块本体和设置于模块本体上的TX端口和RX端口，其中，TX端口作为信号发送端口，用于插接待测设备200的信号发送端口，RX端口作为信号接收端口，则用于插接待测设备200的信号接收端口，如此，实现电回环模块100与待测设备200的插接。

如图1所示，电回环模块100的TX端口和RX端口经模块本体内部直接回环连接，如此，如图3所示，在测试待测设备200时，由待测设备200发射的高频信号经过TX端口后传输到模块本体内部，并且在模块本体内部直接回环，然后通过RX端口传送到待测设备200中，由待测设备200进行接收，如此，能够对待测设备200的端口的高频性能进行测试。

综上，本申请通过设计一种电回环模块100，使得模块本体上的TX端口和RX端口经模块本体内部直接回环连接，从而简化模块内部的电路结构，降低测试成本，有利于实现光通信器件检测过程中的大规模推广使用。

在一些实施方式中，如图1所示，TX端口可以包括设置于模块本体上的TX+端口和TX-端口，对应的RX端口也可以包括设置于模块本体上的RX+端口和RX-端口，其中，TX+端口和RX+端口在模块内部直接回环连接，TX-端口和RX-端口在模块内部也直接回环连接，从而在模块本体内部形成两路并行的回环电路。

在一些实施方式中，如图1所示，为了便于实现接线，本申请中的TX端口和RX端口均可以设置于模块本体的同一侧，例如图1所示的模块本体的左侧。

在一些实施方式中，在实现电回环模块100上的各端口与待测设备200的连接时，可以采用光纤进行连接。

可选的，如图2所示，在模块本体上还设置有IIC端口，同时，在模块本体内部还设置有存储器，IIC端口在模块内部与存储器信号连接，IIC端口可以通过IIC总线与待测设备200连接。如图3所示，在实际测试时，当电回环模块100的IIC端口与待测设备200连接时，可以由待测设备200通过IIC端口对模块本体内部的存储器进行数据读写，从而实现对待测设备200的IIC通信性能的测试。

由于IIC总线只需要两根线：一根数据线和一根时钟线，可以很容易形成标准化和模块化，便于重复利用。因此，本申请的模块本体采用IIC端口进行信号传输时，能够有效简化了电路结构，降低了系统成本，提高了系统可靠性。

在一些实施方式中，存储器可以是带电可擦可编程只读存储器(ElectricallyErasable Programmable read only memory，EEPROM)，其是一种掉电后数据不丢失的存储芯片，方便预先在模块本体内部的存储器中写入数据后，无论电回环模块100是否一直通电，都不会影响下一次对待测设备200的IIC通信性能的测试，避免在电回环模块100断电后，再重新对待测设备200进行检测时，由于电回环模块100中存储器的数据丢失，需要先写入数据的繁琐步骤。EEPROM可以在电脑上或专用设备上擦除已有信息，重新编程，实现即插即用。

需要说明的是，由于IIC总线是一个真正的多主机总线，如果两个或多个主机同时初始化数据传输，可以通过冲突检测和仲裁防止数据破坏，每个连接到总线上的器件都有唯一的地址，任何器件既可以作为主机也可以作为从机，但同一时刻只允许有一个主机。数据传输和地址设定由软件设定，非常灵活。总线上的器件增加和删除不影响其他器件正常工作。因此，可以根据实际需求在后续实施例中的模块本体内部灵活增加连接于IIC总线上的数字电位器等器件，其对于存储器并不造成影响。

可选的，如图2所示，在模块本体内部还设置有数字电位器和线性稳压器，其中，数字电位器也与IIC端口信号连接，且数字电位器与存储器并联，数字电位器还与线性稳压器连接。数字电位器由数字输入控制，产生一个模拟量的输出。依据数字电位器的不同，抽头电流最大值可以从几百微安到几个毫安。数字电位器采用数控方式调节电阻值的，具有使用灵活、调节精度高、无触点、低噪声、不易污损、抗振动、抗干扰、体积小、寿命长等显著优点。

如图3所示，在实际测试时，待测设备200可以通过IIC端口改变数字电位器的电阻比值，当数字电位器的电阻比值变化后，对应的，线性稳压器的输出电压也会进行变化，从而实现待测设备200通过IIC端口控制数字电位器的电阻比值，进而调节线性稳压器的输出电压。

在一些实施方式中，如图2所示，数字电位器的W端与线性稳压器的FB端连接，数字电位器的H端与线性稳压器的电压输出端连接，从而实现数字电位器与线性稳压器在模块本体内部的连接。应当理解的是，数字电位器的W端指滑动端，数字电位器的H端指高端，线性稳压器的FB端指输出反馈端。

可选的，如图2所示，电回环模块100还包括设置于模块本体内部的负载电阻R，其中，负载电阻R与线性稳压器的电压输出端out连接并且接地，如此，如图3所示，在实际测试时，待测设备200可以通过IIC端口改变数字电位器的电阻比值，当数字电位器的电阻比值变化后，对应的，线性稳压器的输出电压也会进行变化，从而控制负载电阻R的功耗，即也就是控制了整个电回环模块100的功耗，以此，便可以来测试待测设备200的负载能力。

可选的，如图2和图3所示，在模块本体上还设置有VCC端口，VCC端口分别与存储器、数字电位器和线性稳压器电连接，如此，通过VCC端口便可以对模块本体内部的存储器、数字电位器和线性稳压器提供电源，使其能够进行正常工作。

可选的，线性稳压器为低压差线性稳压器(low dropout regulator，LDO)，LDO使用在其饱和区域内运行的晶体管或场效应管(FET)，从应用的输入电压中减去超额的电压，产生经过调节的输出电压。其工作原理为：取样电压加在放大器A的反相输入端，与加在同相输入端的基准电压Uref相比较，两者的差值经放大器A放大后，控制串联调整管的压降，从而稳定输出电压。当输出电压Uout降低时，基准电压与取样电压的差值增加，比较放大器输出的驱动电流增加，串联调整管压降减小，从而使输出电压升高。相反，若输出电压Uout超过所需要的设定值，比较放大器输出的前驱动电流减小，从而使输出电压降低。供电过程中，输出电压校正连续进行，调整时间只受比较放大器和输出晶体管回路反应速度的限制。

本申请实施例的另一方面，提供一种测试系统，如图3所示，包括待测设备200以及上述任一种的电回环模块100，待测设备200与电回环模块100的TX端口和RX端口连接，待测设备200还可以通过IIC端口与电回环模块100的存储器和数字电位器连接。如此，通过本申请的电回环模块100能够对待测设备200进行高频性能的测试、IIC通信性能的测试、负载能力的测试，由此，可以简化模块内部的电路结构，降低测试成本，有利于实现光通信器件检测过程中的大规模推广使用。

可选的，待测设备200为交换机设备，交换机(Switch)意为“开关”是一种用于电(光)信号转发的网络设备。它可以为接入交换机的任意两个网络节点提供独享的电信号通路。交换机设备可以是广域网交换机或局域网交换机。广域网交换机主要应用于电信领域，提供通信用的基础平台。而局域网交换机则应用于局域网络，用于连接终端设备，如PC机及网络打印机等。

可选的，待测设备200为网络设备，例如其可以是计算机等设备。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电回环模块，用以测试待测设备的性能，其特征在于，包括模块本体以及设置于所述模块本体上的TX端口和RX端口，所述TX端口和所述RX端口经所述模块本体内部回环连接，所述TX端口和所述RX端口分别与所述待测设备连接，所述待测设备的高频信号经所述TX端口进入所述模块本体，再经所述RX端口回到所述待测设备，以测试所述待测设备的高频性能。

2.如权利要求1所述的电回环模块，其特征在于，在所述模块本体上还设置有IIC端口，在所述模块本体内部还设置有存储器，所述IIC端口与所述存储器信号连接，所述待测设备通过所述IIC端口与所述存储器连接，并对所述存储器进行读写，以测试所述待测设备的通信性能。

3.如权利要求2所述的电回环模块，其特征在于，在所述模块本体内部还设置有数字电位器和线性稳压器，所述数字电位器与所述IIC端口信号连接，且所述数字电位器与所述存储器并联，所述数字电位器还与所述线性稳压器连接，所述待测设备通过所述IIC端口设置所述数字电位器的电阻比值，以调所述线性稳压器的输出电压。

4.如权利要求3所述的电回环模块，其特征在于，所述数字电位器的W端与所述线性稳压器的FB端连接，所述数字电位器的H端与所述线性稳压器的电压输出端连接。

5.如权利要求4所述的电回环模块，其特征在于，所述电回环模块还包括负载电阻，所述负载电阻与所述线性稳压器的电压输出端连接且接地。

6.如权利要求3所述的电回环模块，其特征在于，在所述模块本体上还设置有VCC端口，所述VCC端口分别与所述存储器、所述数字电位器和所述线性稳压器电连接。

7.如权利要求3所述的电回环模块，其特征在于，所述线性稳压器为低压差线性稳压器。

8.一种测试系统，其特征在于，包括待测设备以及如权利要求1至7任一项所述的电回环模块，所述待测设备与所述电回环模块的TX端口和RX端口连接。

9.如权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述待测设备为交换机设备。

10.如权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述待测设备为网络设备。

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