CN216411480U - 一种用于芯片检测的基台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于芯片检测的基台，涉及芯片检测技术领域。本实用新型包括基台本体，基台本体内部的中间位置处转动连接有反向螺杆，基台本体的一侧固定有第一电机，且第一电机的输出端与反向螺杆固定连接，反向螺杆外侧的两端均螺纹连接有移动块，且移动块与基台本体滑动连接，移动块的顶部固定有焊接板，焊接板的顶部安装有夹持机构，夹持机构用于对芯片夹持。本实用新型通过第二电机、固定柱和夹持板之间的相互配合，使得装置能够对芯片进行夹持，且通过连接体、顶部转动板和第二弹簧之间的相互配合，使得装置能够进行减震。

Description

一种用于芯片检测的基台

技术领域

本实用新型属于芯片检测技术领域，特别是涉及一种用于芯片检测的基台。

背景技术

芯片的固有可靠性取决于产品的可靠性设计，因此，在芯片在生产出厂或者装上PCB板之前，就要通过相应的检测工序对芯片进行检测，以尽可能排除掉存在问题的芯片，防止产品失效。因此，芯片制造完成后的检测筛选是芯片使用前至关重要部分，通常的芯片的筛选项目可以包括高温存储、功率电老炼、温度循环、离心加速度、监控振动和冲击等检测，目前的芯片检测系统或装置，多是在常温条件或者某一恒温条件下对芯片进行上述检测，现有的检测装置大多都需要基台，也就是工作台，然而，现有的基台在对芯片检测时往往不方便对其进行夹持转动，使得芯片只能够检测一面，不方便对背面进行检测；以及现有的装置往往在对芯片检测时，往往不方便进行减震，使得基台在检测过程中可能会因外力而发生震动，从而对芯片造成损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于芯片检测的基台，以解决现有的问题：现有的基台往往不方便在对芯片检测时往往不方便对其进行夹持转动，使得芯片只能够检测一面，不方便对背面进行检测。

为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：一种用于芯片检测的基台，包括基台本体，所述基台本体内部的中间位置处转动连接有反向螺杆，所述基台本体的一侧固定有第一电机，且所述第一电机的输出端与所述反向螺杆固定连接，所述反向螺杆外侧的两端均螺纹连接有移动块，且所述移动块与基台本体滑动连接，所述移动块的顶部固定有焊接板，所述焊接板的顶部安装有夹持机构，所述夹持机构用于对芯片夹持。

进一步地，每个所述夹持机构均包括支撑架、固定柱、连接板、夹持板、缓冲件和一驱动件；

所述焊接板的顶部焊接有支撑架，所述支撑架的一侧转动连接有固定柱，所述固定柱的一端固定有连接板，所述连接板的一侧通过所述缓冲件安装有夹持板，所述支撑架的另一侧安装有驱动件，所述驱动件用于驱动所述固定柱转动。

进一步地，所述缓冲件包括第一弹簧和限位杆；

所述第一弹簧固定于所述连接板和所述夹持板之间，所述夹持板的另一侧焊接有至少一个限位杆，且所述限位杆与连接板滑动连接。

进一步地，所述驱动件为第二电机，所述第二电机固定于支撑架的另一侧，所述第二电机的输出端穿过支撑架与固定柱固定连接。

进一步地，所述基台本体的底部设置有至少两个减震结构，所述减震结构用于对芯片检测时减震；

每个所述减震结构均包括底板、底部滑动块、底部转动板、连接体、顶部转动板、顶部滑动块、伸缩杆和第二弹簧；

所述底板设置于所述基台本体的底部，所述底板的顶部对称滑动连接有底部滑动块，所述底部滑动块的顶部转动连接有底部转动板，两个所述底部转动板的顶部转动连接有连接体；

所述连接体的顶部对称转动连接有顶部转动板，所述顶部转动板的顶部转动连接有顶部滑动块，所述顶部滑动块与所述基台本体滑动连接；

所述连接体的顶部与底部均固定有至少一个伸缩杆，顶部的所述伸缩杆与所述基台本体固定连接，底部的所述伸缩杆与所述底板固定连接，所述伸缩杆的外侧设置有第二弹簧。

进一步地，所述夹持板相互靠近的一侧均设置有软垫，且所述软垫的材质为橡胶。

本实用新型具有以下有益效果：

1、本实用新型通过第二电机、固定柱和夹持板之间的相互配合，使得装置能够对芯片进行夹持，进而使得使用者能够对芯片的两面都可进行检测，从而提升了检测的效果。

2、本实用新型通过连接体、顶部转动板和第二弹簧之间的相互配合，使得装置能够进行减震，从而使得使用者在检测芯片时避免因外力过大对芯片造成损坏。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型基台本体的剖视图；

图3为本实用新型支撑架、第二电机和夹持板结构示意图；

图4为本实用新型基台本体、连接体和第二弹簧之间的结构示意图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、基台本体；2、反向螺杆；3、第一电机；4、移动块；5、焊接板；6、支撑架；7、固定柱；8、连接板；9、夹持板；10、第一弹簧；11、限位杆；12、第二电机；13、底板；14、底部滑动块；15、底部转动板；16、连接体；17、顶部转动板；18、顶部滑动块；19、伸缩杆；20、第二弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4所示，本实用新型为一种用于芯片检测的基台，包括基台本体1，基台本体1内部的中间位置处转动连接有反向螺杆2，基台本体1的一侧固定有第一电机3，且第一电机3的输出端与反向螺杆2固定连接，反向螺杆2外侧的两端均螺纹连接有移动块4，且移动块4与基台本体1滑动连接，移动块4的顶部固定有焊接板5，焊接板5的顶部安装有夹持机构，夹持机构用于对芯片夹持。

每个夹持机构均包括支撑架6、固定柱7、连接板8、夹持板9、缓冲件和一驱动件；

焊接板5的顶部焊接有支撑架6，支撑架6的一侧转动连接有固定柱7，固定柱7的一端固定有连接板8，连接板8的一侧通过缓冲件安装有夹持板9，夹持板9相互靠近的一侧均设置有软垫，且软垫的材质为橡胶，使得夹持板9在对芯片夹持时，不会轻易的对芯片造成损坏；

缓冲件包括第一弹簧10和限位杆11；

第一弹簧10固定于连接板8和夹持板9之间，夹持板9的另一侧焊接有至少一个限位杆11，且限位杆11与连接板8滑动连接，使得夹持板9在对芯片夹持时，能够进行缓冲从而提升了夹持板9的缓冲效果，支撑架6的另一侧安装有驱动件，驱动件用于驱动固定柱7转动，驱动件为第二电机12，第二电机12固定于支撑架6的另一侧，第二电机12的输出端穿过支撑架6与固定柱7固定连接，使得第二电机12的输出端带动固定柱7转动。

基台本体1的底部设置有至少两个减震结构，减震结构用于对芯片检测时减震；

每个减震结构均包括底板13、底部滑动块14、底部转动板15、连接体16、顶部转动板17、顶部滑动块18、伸缩杆19和第二弹簧20；

底板13设置于基台本体1的底部，底板13的顶部对称滑动连接有底部滑动块14，底部滑动块14的顶部转动连接有底部转动板15，两个底部转动板15的顶部转动连接有连接体16；

连接体16的顶部对称转动连接有顶部转动板17，顶部转动板17的顶部转动连接有顶部滑动块18，顶部滑动块18与基台本体1滑动连接；

连接体16的顶部与底部均固定有至少一个伸缩杆19，顶部的伸缩杆19与基台本体1固定连接，底部的伸缩杆19与底板13固定连接，伸缩杆19的外侧设置有第二弹簧20。

本实施例的一个具体应用为：使用者使用该装置时，需要对芯片进行检测时，启动第一电机3，使得第一电机3的输出端带动反向螺杆2转动，进而通过反向螺杆2的特性，且通过两个移动块4分别螺纹连接在反向螺杆2两端的外侧，进而能够使得两个移动块4向着相互靠近的方向移动，手持芯片，并通过两个夹持板9对芯片进行夹持，在对芯片夹持时，通过第一弹簧10和限位杆11的设置，使得能够在对芯片夹持时进行缓冲，从而避免对芯片夹持时造成芯片损坏，从而能够使得使用者使用设备对芯片进行检测；

在对芯片的上部检测完成之后，可驱动第二电机12，使得第二电机12的输出端带动固定柱7和夹持板9转动，对芯片进行翻转，从而能够对芯片的背部进行检测；

该装置通过第二电机12、固定柱7和夹持板9之间的相互配合，使得装置能够对芯片进行夹持，方便使用者对芯片的两面都可进行检测，从而提升了检测的效果。

在对芯片夹持时，通过底部滑动块14和底板13、顶部滑动块18和基台本体1之间的滑动连接，且通过底部转动板15和底部滑动块14、底部转动板15和连接体16之间的转动连接，并通过顶部转动板17和连接体16、顶部转动板17和顶部滑动块18之间的转动连接，使得连接体16在上下移动时，能够压缩伸缩杆19，进而通过第二弹簧20的拉伸和压缩，能够进行有效的减震；

该装置通过连接体16、顶部转动板17和第二弹簧20之间的相互配合，使得装置能够进行减震，从而使得使用者在检测芯片时避免因外力过大对芯片造成损坏。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (6)

1.一种用于芯片检测的基台，包括基台本体(1)，其特征在于：所述基台本体(1)内部的中间位置处转动连接有反向螺杆(2)，所述基台本体(1)的一侧固定有第一电机(3)，且所述第一电机(3)的输出端与所述反向螺杆(2)固定连接，所述反向螺杆(2)外侧的两端均螺纹连接有移动块(4)，且所述移动块(4)与基台本体(1)滑动连接，所述移动块(4)的顶部固定有焊接板(5)，所述焊接板(5)的顶部安装有夹持机构，所述夹持机构用于对芯片夹持。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的基台，其特征在于：每个所述夹持机构均包括支撑架(6)、固定柱(7)、连接板(8)、夹持板(9)、缓冲件和一驱动件；

所述焊接板(5)的顶部焊接有支撑架(6)，所述支撑架(6)的一侧转动连接有固定柱(7)，所述固定柱(7)的一端固定有连接板(8)，所述连接板(8)的一侧通过所述缓冲件安装有夹持板(9)，所述支撑架(6)的另一侧安装有驱动件，所述驱动件用于驱动所述固定柱(7)转动。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的基台，其特征在于：所述缓冲件包括第一弹簧(10)和限位杆(11)；

所述第一弹簧(10)固定于所述连接板(8)和所述夹持板(9)之间，所述夹持板(9)的另一侧焊接有至少一个限位杆(11)，且所述限位杆(11)与连接板(8)滑动连接。

4.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的基台，其特征在于：所述驱动件为第二电机(12)，所述第二电机(12)固定于支撑架(6)的另一侧，所述第二电机(12)的输出端穿过支撑架(6)与固定柱(7)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的基台，其特征在于：所述基台本体(1)的底部设置有至少两个减震结构，所述减震结构用于对芯片检测时减震；

每个所述减震结构均包括底板(13)、底部滑动块(14)、底部转动板(15)、连接体(16)、顶部转动板(17)、顶部滑动块(18)、伸缩杆(19)和第二弹簧(20)；

所述底板(13)设置于所述基台本体(1)的底部，所述底板(13)的顶部对称滑动连接有底部滑动块(14)，所述底部滑动块(14)的顶部转动连接有底部转动板(15)，两个所述底部转动板(15)的顶部转动连接有连接体(16)；

所述连接体(16)的顶部对称转动连接有顶部转动板(17)，所述顶部转动板(17)的顶部转动连接有顶部滑动块(18)，所述顶部滑动块(18)与所述基台本体(1)滑动连接；

所述连接体(16)的顶部与底部均固定有至少一个伸缩杆(19)，顶部的所述伸缩杆(19)与所述基台本体(1)固定连接，底部的所述伸缩杆(19)与所述底板(13)固定连接，所述伸缩杆(19)的外侧设置有第二弹簧(20)。

6.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的基台，其特征在于：所述夹持板(9)相互靠近的一侧均设置有软垫，且所述软垫的材质为橡胶。

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