CN216387276U - 管芯性能的测试装置和测试电路 - Google Patents

Abstract

一种管芯性能的测试装置和测试电路，涉及电子技术领域，包括：待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块；该待测试管插接模块插接待测试管；该可调电容的一端连接该电容电压源，该可调电容的另一端连接该第一电流检测模块，该电容电压源为该可调电容供电；该第一电流检测模块连接该待测试管的第一极，测试该电容电压源未接通时，流经该第一极的电流；该第二电流检测模块连接该待测试管的第二极，测试该电容电压源接通，且调节该可调电容时流经该第二极的电流。该管芯性能的测试装置可以利用两个电流检测模块对待测试管的两个极的电流进行检测判断管芯性能，结构简单，成本低，方便快捷地完成有效的测试。

Description

管芯性能的测试装置和测试电路

技术领域

本申请实施例涉及电子技术领域，尤其涉及一种管芯性能的测试装置和测试电路。

背景技术

电路中的管芯性能需要进行测试，例如，容传声器咪头的内置放大器管芯(IC)场效应晶体管(FET，Field Effect Transisto)，是电容传声器的核心部件，其性能参数直接决定了传声器本身的性能。而现有技术中，对FET等管芯性能测试通常需要价格昂贵、体积笨重的曲线特性测试仪，十分不便。

实用新型内容

本申请实施例提供一种管芯性能的测试装置和测试电路，可以利用两个电流检测模块对FET等管芯的电流进行检测，结构简单，成本低，方便快捷地完成有效的测试。

本申请实施例一方面提供了一种管芯性能的测试装置，包括：

待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块；

所述待测试管插接模块用于插接待测试管；

所述可调电容的一端连接所述电容电压源，所述可调电容的另一端连接所述第一电流检测模块，所述电容电压源用于为所述可调电容供电；

所述第一电流检测模块连接所述待测试管的第一极，用于测试所述电容电压源未接通时，流经所述第一极的电流；

所述第二电流检测模块连接所述待测试管的第二极，用于测试所述电容电压源接通且调节所述可调电容时，流经所述第二极的电流。

进一步地，所述待测试管为场效应管，所述第一电流检测模块包括第一电流表，所述第一电流表连接所述待测试管的栅极，用于测试所述电容电压源未接通时，流经所述栅极的电流，所述第二电流检测模块包括第二电流表，所述第二电流表连接所述测试管的漏极，用于测试所述电容电压源接通，且调节所述可调电容时流经所述漏极的电流。

进一步地，所述测试装置还包括电源指示灯和指示灯供电源，所述电源指示灯与所述指示灯供电源连接。

进一步地，所述测试装置还包括：联动开关；

所述联动开关连接所述电容电压源和所述指示灯供电源，当所述联动开关开启时，所述电容电压源和所述指示灯供电源同时供电。

进一步地，所述测试装置还包括调节旋钮；

所述调节旋钮连接在所述电容电压源的负极和所述第一电流表的第一端，用于被操控时调节所述可调电容的电容值大小。

进一步地，所述测试装置还包括外壳；

所述可调电容、所述电容电压源、所述第一电流表和所述第二电流表设置在所述外壳的内部。

进一步地，所述待测试管插接模块包括插台，所述插台上具有三极接口，所述场效应管的三极接入后，所述场效应管的栅极连接所述第一电流表，漏极连接所述第二电流表。

进一步地，所述电源指示灯、所述联动开关和所述调节旋钮均设置在所述外壳的外表面，所述第一电流表和所述第二电流表的显示窗口均露在所述外壳的外表面。

本申请实施例另一方面提供了一种管芯性能的测试电路，包括如上所述的测试装置中的所述待测试管插接模块、所述可调电容、所述电容电压源、所述第一电流检测模块和所述第二电流检测模块；

进一步地，所述测试电路还包括：π型滤波器，所述π型滤波器连接在所述第二电流表的输出端。

从上述本申请各实施例可知，该管芯性能的测试装置包括待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块，待测试管插接模块用于插接待测试管，该可调电容的一端连接该电容电压源，该可调电容的另一端连接该第一电流检测模块，该电容电压源用于为该可调电容供电，该第一电流检测模块连接该待测试管的第一极，用于测试该电容电压源未接通时，流经该第一极的电流，该第二电流检测模块连接该待测试管的第二极，用于测试该电容电压源接通，且调节该可调电容时流经该第二极的电流，通过两个电流检测模块检测该待测试管的两个极的电流，来判断该待测试管的性能是否发生异常，结构简单，成本低，且检测迅速、精度高，可应用于任何通过测试待测试管的管极电流即可判断该待测试管的性能的应用场景，应用范围广。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的管芯性能的测试装置一个结构示意图；

图2为本申请实施例提供的管芯性能的测试装置的外观结构示意图；

图3为本申请实施例提供的管芯性能的测试电路的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，也可以是成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，也可以是通讯连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介的间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。下面以具体地实施例对本申请的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

参见图1，图1为本申请一实施例提供的管芯性能的测试装置的结构示意图。该管芯性能的测试装置可以测试具有多个管脚的待测试管发生开路和击穿的故障，该管芯性能的测试装置主要包括：

待测试管插接模块10、可调电容20、电容电压源30、第一电流检测模块40和第二电流检测模块50；

待测试管插接模块10用于插接待测试管，该待测试管插接入待测试管插接模块10后，与第一电流检测模块40和第二电流检测模块50实现电连接；

可调电容20的一端连接电容电压源30，可调电容20的另一端连接第一电流检测模块40，电容电压源30用于为可调电容20供电；

第一电流检测模块40连接该待测试管的第一极，用于测试电容电压源30未接通时，流经该待测试管的第一极的电流，此时若第一极的电流不为0，则可确认该待测试管击穿。

第二电流检测模块50连接该待测试管的第二极，用于测试电容电压源30接通后，且调节可调电容20的大小时，流经该待测试管的第二极的电流，在调节过程中若该第二极的电流没有变化，则可确认该待测试管开路。

该管芯性能的测试装置可以应用于任何通过测试该待测试管的一极或多极的电流，即可判断该待测试试管性能的测试场景。

本实施例中，该管芯性能的测试装置包括待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块，待测试管插接模块用于插接待测试管，该可调电容的一端连接该电容电压源，该可调电容的另一端连接该第一电流检测模块，该电容电压源用于为该可调电容供电，该第一电流检测模块连接该待测试管的第一极，用于测试该电容电压源未接通时，流经该第一极的电流，该第二电流检测模块连接该待测试管的第二极，用于测试该电容电压源接通，且调节该可调电容时流经该第二极的电流，通过两个电流检测模块检测该待测试管的两个极的电流，来判断该待测试管的性能是否发生异常，结构简单，成本低，且检测迅速、精度高，应用范围广。

进一步地，参见图2和图3，图2为管芯性能的测试装置的立体外观结构示意图，图3为管芯性能的测试电路的结构示意图。

进一步地，该待测试管具体可为FET，第一电流检测模块40包括第一电流表A1和周边电路，第一电流表A1连接待测试管的栅极g，用于测试电容电压源U1未接通时，流经栅极g的电流，第二电流检测模块50包括第二电流表A2和周边电路，第二电流表A2连接该测试管的漏极d，用于测试电容电压源U1接通，且调节可调电容C1时流经漏极d的电流。其中，第一电流表A1的检测级别为μA(微安)，第二电流表A2的检测级别为mA(毫安)。

若改变可调电容C1的值，第二电流表A2的电流值没有变化，则表明FET开路，性能异常；若在电容电压源U1没有接通时，第一电流表A1检测到了电流值，则表明漏极g存在电流，该FET已经被击穿或者是漏电流大。

FET性能正常的情况包括：当可调电容C1调大至第一调节值时，FET栅极上的电压也会同步增长，第二电流表A2会同步增长，此刻电流小于5mA，此刻表明FET的性能正常，此调节导致FET的输入电压过高；当可调电容C1调小，FET栅极上的电压也会同步降低，第二电流表A2的显示值逐渐减小，直至无电流，此刻表明FET的性能正常。

进一步地，该测试装置还包括外壳60，上述可调电容、电容电压源、第一电流表和第二电流表均设置在外壳60的内部。

该测试装置还包括电源指示灯70，电源指示灯70与指示灯供电源U2连接。如图3所示，电源指示灯70为LED(light-emitting diode)灯。指示灯供电源U2的工为一2V电压电源，用于为电源指示灯70供电。

该测试装置还包括：联动开关80；

联动开关80连接电容电压源U1和指示灯供电源U2，当联动开关80开启时，电容电压源和指示灯供电源同时供电。即图3中，电容电压源和U1和指示灯供电源U2同时供电。

该测试装置还包括调节旋钮90；

调节旋钮90连接在图3中电容电压源U1的负极和第一电流表A1的第一端，用于被操控时调节可调电容C1的电容值大小。

电源指示灯70、联动开关80、待节旋钮90均设置在外壳60的外表面，第一电流表的显示窗口41和第二电流表的显示窗口51均露在外壳60的外表面。

进一步地，待测试管插接模块10包括插台11及插台11的周围电路，插台11上具有三极接口，FET的栅极、漏极、源极三极接入后，FET的栅极g连接第一电流表A1，漏极d连接第二电流表A2。其中插台11的作用是为FET插接方便，待测试的FET更换只需要在插台上更换即可。

具体地，电容电压源为一30V电压源，型号为DVDC-30；第一电流表A1型号为DCA-1MA；第二电流表A2，型号为DCA-5MA；可调电容C1的可调电容值范围为1～25pF(皮法)；插台11的型号为DY-1CM33。

测试工作原理：待测试的FET插入该插台后，通过外壳上的第一电流表A的显示窗口查看FET的栅极电流，若在电容电压源U1没有接通时，第一电流表A1检测到了电流，则表明漏极g存在电流，该FET已经被击穿，性能异常。若第一电流表A1未检测到电流值，则表明该FET未被击穿。按下该联动开关，接通该电容电压源和该指示灯供电源，电源指示灯亮起，通过调节该调节旋钮控制该可调电容的电容值改变，并通过外壳上第二电流表A2的显示窗口查看FET的漏极电流发生改变的值，若可调电容C1的值改变，而第二电流表A2的电流值没有变化，则表明FET开路，性能异常。

本实施例中，该管芯性能的测试装置包括待测试管插台、可调电容、电容电压源、第一电流表和第二电流表，该可调电容的一端连接该电容电压源，该可调电容的另一端连接该第一电流表，该电容电压源用于为该可调电容供电，该第一电流表连接该待测试FET的栅极，用于测试该电容电压源未接通时，流经该栅极的电流，该第二电流表连接该待测试FET的漏极，用于测试该电容电压源接通，且调节该可调电容时流经该漏极的电流，通过两个电流表检测该待测试FET的两个极的电流，来判断该待测试FET的性能是否发生异常，结构简单，成本低，且待测试管插台、可调电容、电容电压源、第一电流表和第二电流表设置在外壳内，由于结构简单，因此加上外壳后体积小，便于携带，且检测迅速、精度高，应用范围广。

本实施例还提供了一种管芯性能的检测电路，包括如上所述的待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块。

其中，该待测试管插接模块用于插接待测试管；

该可调电容的一端连接该电容电压源，该可调电容的另一端连接该第一电流检测模块，该电容电压源用于为该可调电容供电；

该第一电流检测模块连接该待测试管的第一极，用于测试该电容电压源未接通时，流经该第一极的电流；

该第二电流检测模块连接该待测试管的第二极，用于测试该电容电压源接通，且调节该可调电容时流经该第二极的电流。

具体地，参见图3，待测试管插接模块包括插台11、第一电流检测模块包括第一电流表A1和周边电路，第二电流检测模块包括第二电流表A2和周边电路。

进一步地，该测试电路还包括：π型滤波器，包括连接在所述第二电流表的输出端该π型滤波器包括第一电阻R1、第一电容C2和第二电容C3。

进一步地，该检测电路还包括上述管芯性能的检测装置的电源指示灯(即图3中的LED)和联动开关，该联动开关包括K1和K2两个开关。

进一步地，该测试电路还外接插台11。

其中，K1连接电容电压源U1的正极，控制U1的接通和断开，K2连接指示灯供电源U2的负极，控制U2的接通和断开。图3中的LED接在K2和U2的两端，当K2接通U2时，LED点亮。

U1连接可调电容C1的一端，C1的另一端连接第一电流表A1的输入端，A1的输出端连接待测试FET的栅极g，第二电流表A2的输入端连接该待测试FET的漏极d，A2的输出端连接π型滤波器的第一电阻R1和第一电容C2，第一电阻R1的另一端连接第二电容C3。

该测试电路的工作原理：待测试的FET插入该插台后，第一电流表A检测该FET的栅极电流，若在电容电压源U1没有接通时，第一电流表A1检测到了电流，则表明漏极g存在电流，该FET已经被击穿，性能异常。若第一电流表A1未检测到电流，则表明该FET未被击穿。联动开关被按下后，K1和K2分别同时接通U1和U2，LED亮起，该可调电容C1的电容值被调节发生改变，第二电流表A2检测该FET的漏极电流，若可调电容C1的值改变，而第二电流表A2的电流值没有变化，则表明FET开路，性能异常。

本实施例中，该管芯性能的测试电路包括待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块，待测试管插接模块用于插接待测试管，该可调电容的一端连接该电容电压源，该可调电容的另一端连接该第一电流检测模块，该电容电压源用于为该可调电容供电，该第一电流检测模块连接该待测试管的第一极，用于测试该电容电压源未接通时，流经该第一极的电流，该第二电流检测模块连接该待测试管的第二极，用于测试该电容电压源接通，且调节该可调电容时流经该第二极的电流，通过两个电流检测模块检测该待测试管的两个极的电流，来判断该待测试管的性能是否发生异常，结构简单，成本低，且检测迅速、精度高，应用范围广。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一特征和第二特征直接接触，或第一特征和第二特征通过中间媒介间接接触。

而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述，意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任意一个或者多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

以上为对本申请所提供的管芯性能的测试装置和测试电路的描述，对于本领域的技术人员，依据本申请实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种管芯性能的测试装置，其特征在于，包括：

待测试管插接模块、可调电容、电容电压源、第一电流检测模块和第二电流检测模块；

所述待测试管插接模块用于插接待测试管；

所述可调电容的一端连接所述电容电压源，所述可调电容的另一端连接所述第一电流检测模块，所述电容电压源用于为所述可调电容供电；

所述第一电流检测模块连接所述待测试管的第一极，用于测试所述电容电压源未接通时，流经所述第一极的电流；

所述第二电流检测模块连接所述待测试管的第二极，用于测试所述电容电压源接通且调节所述可调电容时，流经所述第二极的电流。

2.如权利要求1所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述待测试管为场效应管，所述第一电流检测模块包括第一电流表，所述第一电流表连接所述待测试管的栅极，用于测试所述电容电压源未接通时，流经所述栅极的电流，所述第二电流检测模块包括第二电流表，所述第二电流表连接所述测试管的漏极，用于测试所述电容电压源接通，且调节所述可调电容时流经所述漏极的电流。

3.如权利要求2所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括电源指示灯和指示灯供电源，所述电源指示灯与所述指示灯供电源连接。

4.如权利要求3所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：联动开关；

所述联动开关连接所述电容电压源和所述指示灯供电源，当所述联动开关开启时，所述电容电压源和所述指示灯供电源同时供电。

5.如权利要求4所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括调节旋钮；

所述调节旋钮连接在所述电容电压源的负极和所述第一电流表的第一端，用于被操控时调节所述可调电容的电容值大小。

6.如权利要求5所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括外壳；

所述可调电容、所述电容电压源、所述第一电流表和所述第二电流表设置在所述外壳的内部。

7.如权利要求6所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述待测试管插接模块包括插台，所述插台上具有三极接口，所述场效应管的三极接入后，所述场效应管的栅极连接所述第一电流表，漏极连接所述第二电流表。

8.如权利要求7所述的管芯性能的测试装置，其特征在于，所述电源指示灯、所述联动开关和所述调节旋钮均设置在所述外壳的外表面，所述第一电流表和所述第二电流表的显示窗口均露在所述外壳的外表面。

9.一种管芯性能的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括权利要求1-8任一项所述的测试装置中的所述待测试管插接模块、所述可调电容、所述电容电压源、所述第一电流检测模块和所述第二电流检测模块。

10.如权利要求9所述的管芯性能的测试电路，其特征在于，当所述待测试管为场效应管，所述第一电流检测模块包括第一电流表，所述第二电流检测模块包括第二电流表时，所述测试电路还包括：π型滤波器，所述π型滤波器连接在所述第二电流表的输出端。

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