CN216351153U - 一种用于检测芯片漏电流的检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片技术领域的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架，所述装置主架的中间安装有输送带，所述输送带的前表面中间设置有检测架，所述输送带的前表面底端安装有芯片放置板，所述芯片放置板的前表面开设有三个放置槽，三个所述放置槽的内部均安装有承载块，所述承载块的后表面固定连接有推杆，所述推杆的前表面和后表面均安装有固定导轨。通过设计的安装在放置槽内部的承载块、推杆、锁止件、固定导轨和转动座便于对芯片放置在放置槽中进行检测，同时方便拿取，在拿取时只需按压芯片，则承载块可在限位弹簧的作用下向上移动，带动芯片从放置槽中移出，大大的节省了工作人员对芯片的拿取时间，带来了很好的发展前景。

Description

一种用于检测芯片漏电流的检测设备

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，特别是涉及一种用于检测芯片漏电流的检测设备。

背景技术

集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片，在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，在芯片生产后会出现漏电的不合格产品，从而需要对其进行检测。

现有的芯片漏电流的检测设备在使用过程中，其上的放置槽在存放芯片后，由于放置槽和芯片相互匹配，从而工作人员不方便取出，需要使用一些工具取出，且需要耗费大量的时间的问题，为此我们提出一种用于检测芯片漏电流的检测设备。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种用于检测芯片漏电流的检测设备，提出了现有的芯片漏电流的检测设备在使用过程中，其上的放置槽在存放芯片后，由于放置槽和芯片相互匹配，从而工作人员不方便取出，需要使用一些工具取出，且需要耗费大量的时间的问题。

本实用新型的技术方案是：

一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架，所述装置主架的中间安装有输送带，所述输送带的前表面中间设置有检测架，所述检测架的后表面设置有检测头，所述输送带的前表面底端安装有芯片放置板，所述芯片放置板的前表面开设有三个放置槽，三个所述放置槽的内部均安装有承载块，所述承载块的后表面固定连接有推杆，所述推杆的前表面和后表面均安装有固定导轨，两个所述固定导轨均固定安装在芯片放置板上，所述推杆上安装有两个第一倾斜件和两个第二倾斜件，两个所述第一倾斜件和第二倾斜件的中间位置处均开设有倾斜槽，所述推杆的后端安装有锁止件，所述锁止件的后端活动安装有转动座，所述转动座的后端固定安装有复位弹簧，所述锁止件的顶端设置有两个第一倾斜部和两个第二倾斜部，两个所述第一倾斜部和第而倾斜部的中间位置均开设有斜向槽，所述推杆的外表面设置有限位弹簧。

上述技术方案的工作原理如下：

如图所示时，芯片放置在承载块上处于拿取状态，同时限位弹簧处于拉伸状态，固定导轨的底端嵌入斜向槽中，第一倾斜部和第一倾斜件接触，另一个第一倾斜件和另一个斜向槽接触但未嵌入其中，先将芯片放置在承载块上，然后按压芯片，芯片带动承载块向下移动，承载块带动推杆向下移动，推杆上的第一倾斜件推动第一倾斜部向下移动，则推动锁止件向下移动，同时由于设置的倾斜件和倾斜部，从而在力的作用下，锁止件在向下移动时会同时进行转动，则固定导轨的底端和第一倾斜部接触，固定导轨的顶端嵌入倾斜槽中，同时在限位弹簧的拉力作用下将推杆向下移动后的状态进行固定，从而承载块可向下移动进行固定，则放置槽存在一定的空间可很好的放置芯片，在芯片要取出时，按压芯片，推杆和锁止件向下移动，同时锁止件进行转动，使另一个固定导轨嵌入斜向槽中，即可完成对芯片的取出。

在进一步的技术方案中，所述限位弹簧的前端固定连接于承载块，所述限位弹簧的后端固定连接于两个固定导轨。

此种设计可在限位弹簧的作用下推动承载块下降。

在进一步的技术方案中，所述第一倾斜件的宽度大于斜向槽的宽度，所述第一倾斜部的宽度是第二倾斜部宽度的两倍。

此种设计可防止第一倾斜将嵌入斜向槽中。

在进一步的技术方案中，所述检测架的后表面两端均安装有支撑块，两个所述支撑块的后端固定安装在装置主架上，所述检测架的两侧均固定连接有连接块，两个所述连接块的后端分别与两个支撑块可拆卸连接，所述连接块的一侧设置有拨动块，所述拨动块的内侧固定安装有连接柱，所述连接柱的另一端固定连接有六角卡柱，所述连接柱的外表面安装有固定弹簧。

当需要对检测架进行拆卸时，可拨动拨动块，拨动块通过连接柱带动六角卡柱进行移动，同时使固定弹簧进行压缩，从而使得六角卡柱从六角凹槽中抽出，此时的六角卡柱和六角凹槽未卡合，则可向上拿动检测架进行拆卸。

在进一步的技术方案中，所述支撑块的一侧开设有六角凹槽，所述六角卡柱可延伸至六角凹槽内进行卡合。

设计的六角凹槽可便于六角卡柱的卡合，从而将检测架安装在两个支撑块上。

本实用新型的有益效果是：

1、通过设计的安装在放置槽内部的承载块、推杆、锁止件、固定导轨和转动座便于对芯片放置在放置槽中进行检测，同时方便拿取，在拿取时只需按压芯片，则承载块可在限位弹簧的作用下向上移动，带动芯片从放置槽中移出，大大的节省了工作人员对芯片的拿取时间，带来了很好的发展前景；

2、通过设计的安装在检测架两侧的连接块、拨动块、连接柱、固定弹簧和支撑块便于对检测架进行拆卸，改变了原有的一体式结构，方便该装置进行收纳，同时方便工作人员对检测头进行维修，且连接牢固，设计的六角卡柱为六角形可很好的防止连接块发生晃动，提高连接的稳定性。

附图说明

图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2是本实用新型实施例承载块的侧视剖面结构示意图；

图3是本实用新型实施例检测架的俯视剖面结构示意图；

图4是本实用新型实施例图3中的A处放大结构示意图。

附图标记说明：

1、装置主架；2、输送带；3、检测架；4、芯片放置板；5、放置槽；6、承载块；7、连接块；8、推杆；9、锁止件；10、固定导轨；11、转动座；12、复位弹簧；13、限位弹簧；14、检测头；15、拨动块；16、连接柱；17、固定弹簧；18、六角卡柱；19、支撑块。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步说明。

实施例：

如图1-图4所示，一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架1，装置主架1的中间安装有输送带2，输送带2的前表面中间设置有检测架3，检测架3的后表面设置有检测头14，输送带2的前表面底端安装有芯片放置板4，芯片放置板4的前表面开设有三个放置槽5，三个放置槽5的内部均安装有承载块6，承载块6的后表面固定连接有推杆8，推杆8的前表面和后表面均安装有固定导轨10，两个固定导轨10均固定安装在芯片放置板4上，推杆8上安装有两个第一倾斜件和两个第二倾斜件，两个第一倾斜件和第二倾斜件的中间位置处均开设有倾斜槽，推杆8的后端安装有锁止件9，锁止件9的后端活动安装有转动座11，转动座11的后端固定安装有复位弹簧12，锁止件9的顶端设置有两个第一倾斜部和两个第二倾斜部，两个第一倾斜部和第而倾斜部的中间位置均开设有斜向槽，推杆8的外表面设置有限位弹簧13。

上述技术方案的工作原理如下：

如图2所示时，芯片放置在承载块6上处于拿取状态，同时限位弹簧13处于拉伸状态，固定导轨10的底端嵌入斜向槽中，第一倾斜部和第一倾斜件接触，另一个第一倾斜件和另一个斜向槽接触但未嵌入其中，先将芯片放置在承载块6上，然后按压芯片，芯片带动承载块6向下移动，承载块6带动推杆8向下移动，推杆8上的第一倾斜件推动第一倾斜部向下移动，则推动锁止件9向下移动，同时由于设置的倾斜件和倾斜部，从而在力的作用下，锁止件9在向下移动时会同时进行转动，则固定导轨10的底端和第一倾斜部接触，固定导轨10的顶端嵌入倾斜槽中，同时在限位弹簧13的拉力作用下将推杆8向下移动后的状态进行固定，从而承载块6可向下移动进行固定，则放置槽5存在一定的空间可很好的放置芯片，在芯片要取出时，按压芯片，推杆8和锁止件9向下移动，同时锁止件9进行转动，使另一个固定导轨10嵌入斜向槽中，即可完成对芯片的取出。

在另外一个实施例中，如图2所示，限位弹簧13的前端固定连接于承载块6，限位弹簧13的后端固定连接于两个固定导轨10。

此种设计可在限位弹簧13的作用下推动承载块6下降。

在另外一个实施例中，如图2所示，第一倾斜件的宽度大于斜向槽的宽度，第一倾斜部的宽度是第二倾斜部宽度的两倍。

此种设计可防止第一倾斜将嵌入斜向槽中。

在另外一个实施例中，如图3和图4所示，检测架3的后表面两端均安装有支撑块19，两个支撑块19的后端固定安装在装置主架1上，检测架3的两侧均固定连接有连接块7，两个连接块7的后端分别与两个支撑块19可拆卸连接，连接块7的一侧设置有拨动块15，拨动块15的内侧固定安装有连接柱16，连接柱16的另一端固定连接有六角卡柱18，连接柱16的外表面安装有固定弹簧17。

当需要对检测架3进行拆卸时，可拨动拨动块15，拨动块15通过连接柱16带动六角卡柱18进行移动，同时使固定弹簧17进行压缩，从而使得六角卡柱18从六角凹槽中抽出，此时的六角卡柱18和六角凹槽未卡合，则可向上拿动检测架3进行拆卸。

在另外一个实施例中，如图4所示，支撑块19的一侧开设有六角凹槽，六角卡柱18可延伸至六角凹槽内进行卡合。

设计的六角凹槽可便于六角卡柱18的卡合，从而将检测架3安装在两个支撑块19上。

以上实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (6)

1.一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架（1），所述装置主架（1）的中间安装有输送带（2），所述输送带（2）的前表面中间设置有检测架（3），所述输送带（2）的前表面底端安装有芯片放置板（4），所述检测架（3）的后表面设置有检测头（14），其特征在于：所述芯片放置板（4）的前表面开设有三个放置槽（5），三个所述放置槽（5）的内部均安装有承载块（6），所述承载块（6）的后表面固定连接有推杆（8），所述推杆（8）的前表面和后表面均安装有固定导轨（10），两个所述固定导轨（10）均固定安装在芯片放置板（4）上，所述推杆（8）上安装有两个第一倾斜件和两个第二倾斜件，两个所述第一倾斜件和第二倾斜件的中间位置处均开设有倾斜槽，所述推杆（8）的后端安装有锁止件（9），所述锁止件（9）的后端活动安装有转动座（11），所述转动座（11）的后端固定安装有复位弹簧（12），所述锁止件（9）的顶端设置有两个第一倾斜部和两个第二倾斜部，两个所述第一倾斜部和第而倾斜部的中间位置均开设有斜向槽，所述推杆（8）的外表面设置有限位弹簧（13）。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述限位弹簧（13）的前端固定连接于承载块（6），所述限位弹簧（13）的后端固定连接于两个固定导轨（10）。

3.根据权利要求1所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述第一倾斜件的宽度大于斜向槽的宽度，所述第一倾斜部的宽度是第二倾斜部宽度的两倍。

4.根据权利要求1所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述检测架（3）的后表面两端均安装有支撑块（19），两个所述支撑块（19）的后端固定安装在装置主架（1）上，所述检测架（3）的两侧均固定连接有连接块（7），两个所述连接块（7）的后端分别与两个支撑块（19）可拆卸连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述连接块（7）的一侧设置有拨动块（15），所述拨动块（15）的内侧固定安装有连接柱（16），所述连接柱（16）的另一端固定连接有六角卡柱（18），所述连接柱（16）的外表面安装有固定弹簧（17）。

6.根据权利要求5所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述支撑块（19）的一侧开设有六角凹槽，所述六角卡柱（18）可延伸至六角凹槽内进行卡合。

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