CN218158215U - 一种便于锁定的集成电路芯片测试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，包括台板，所述台板的底端固定连接有底座，所述台板的顶端固定连接有框体，所述框体顶端的中间位置处插接有气缸。该便于锁定的集成电路芯片测试工装通过在限位竖板的底端固定连接有移动横板，在使用时通过移动移动横板嵌接在调节导槽内部的位置可对限位竖板的间距进行调整，并通过将插接在移动横板顶端一侧的锁紧螺栓分别插接进设置于调节导槽内部底端的固定孔内部并紧固可将移动横板固定在调节导槽内部移动调节后的位置，从而实现了可对限位竖板进行调节以适用不同规格芯片的效果，解决了不便对芯片进行限位锁定且适用性不高的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种便于锁定的集成电路芯片测试工装。
背景技术
芯片属于半导体元件产品的统称，是集成电路的载体，由晶圆分割而成，现今社会集成电路变得无处不在，计算机、手机和其他数字电器成为社会结构不可缺少的一部分，芯片在生产出来后需要使用测试工装对其进行检测，但现有的集成电路芯片测试工装在实际使用的过程中仍存在着不便对芯片进行限位锁定且适用性不高；稳定性不足以及不便对测试模块进行拆装的问题。为此我们提出了一种便于锁定的集成电路芯片测试工装来解决这些问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，以解决上述背景技术中提出不便对芯片进行限位锁定且适用性不高的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，包括台板，所述台板的底端固定连接有底座，所述台板的顶端固定连接有框体，所述框体顶端的中间位置处插接有气缸，所述气缸的底端插接有气动推杆，所述气动推杆的底端设置有芯片测试模块，所述芯片测试模块顶端两侧的中间位置处固定连接有连接横板，所述芯片测试模块顶端的中间位置处固定连接有连接块，所述台板顶端的两侧分别设置有限位竖板，所述限位竖板的底端固定连接有移动横板。
优选的，所述台板顶端的中间位置处设置有调节导槽，所述移动横板嵌接在调节导槽的内部，所述调节导槽顶端的一侧分别插接有锁紧螺栓。
优选的，所述调节导槽底端的两侧分别均匀设置有固定孔，所述锁紧螺栓的底端分别插接进固定孔的内部。
优选的，所述连接横板顶端的中间位置处分别固定连接有限位导杆，所述框体内部顶端两侧的中间位置处分别插接有稳定套。
优选的，所述限位导杆的顶端分别贯穿稳定套的内部，所述限位导杆的顶端分别固定连接有限定块。
优选的，所述气动推杆的底端固定连接有限位板，所述气动推杆外部的底端套接有安装套，所述安装套套接在连接块的外部，所述安装套的内部侧壁设置有内螺纹，所述连接块的外部设置有和内螺纹相配合的外螺纹。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该便于锁定的集成电路芯片测试工装不仅实现了对于芯片进行限位锁定且适用性高，实现了稳定性高，而且实现了方便对测试模块进行拆装；
(1)通过在限位竖板的底端固定连接有移动横板，在使用时通过移动移动横板嵌接在调节导槽内部的位置可对限位竖板的间距进行调整，并通过将插接在移动横板顶端一侧的锁紧螺栓分别插接进设置于调节导槽内部底端的固定孔内部并紧固可将移动横板固定在调节导槽内部移动调节后的位置，从而实现了可对限位竖板进行调节以适用不同规格芯片的效果；
(2)通过在芯片测试模块顶端两侧的中间位置处固定连接有连接横板，在使用时通过连接横板将限位导杆与芯片测试模块连接，在通过气动推杆推动芯片测试模块下行进行芯片检测作业时限位导杆随之在稳定套的内部升降对芯片测试模块进行稳定，使得芯片测试模块能稳定精确的对芯片进行检测，并通过固定连接在限位导杆顶端的限定块将限位导杆限定在稳定套的内部，以此可确保芯片测试模块的检测精准度，可操作性强；
(3)通过在芯片测试模块顶端的中间位置处固定连接有连接块，在对芯片测试模块进行安装时将套接在气动推杆外部安装套套接在芯片测试模块顶端中间位置处固定连接的连接块外部，并通过螺纹连接将两者进行连接紧固，并且通过固定连接在气动推杆底端的限位板对安装套进行限定，以此可将芯片测试模块安装固定在气动推杆的底端，并且还可便于对芯片测试模块进行拆卸检修更换，可实施性高。
附图说明
图1为本实用新型的正视剖面结构示意图；
图2为本实用新型的图1中A处局部剖面放大结构示意图；
图3为本实用新型的局部剖面放大结构示意图；
图4为本实用新型的安装套正视局部剖面放大结构示意图。
图中：1、底座；2、台板；3、框体；4、限位竖板；5、连接横板；6、芯片测试模块；7、气缸；8、气动推杆；9、安装套；10、限位导杆；11、移动横板；12、调节导槽；13、固定孔；14、锁紧螺栓；15、稳定套；16、限定块；17、限位板；18、连接块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例1：请参阅图1-4，一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，包括台板2，台板2的底端固定连接有底座1，台板2的顶端固定连接有框体3，框体3顶端的中间位置处插接有气缸7，气缸7的底端插接有气动推杆8，气动推杆8的底端设置有芯片测试模块6，芯片测试模块6顶端两侧的中间位置处固定连接有连接横板5，芯片测试模块6顶端的中间位置处固定连接有连接块18，台板2顶端的两侧分别设置有限位竖板4，限位竖板4的底端固定连接有移动横板11；
台板2顶端的中间位置处设置有调节导槽12，移动横板11嵌接在调节导槽12的内部，调节导槽12顶端的一侧分别插接有锁紧螺栓14，调节导槽12底端的两侧分别均匀设置有固定孔13，锁紧螺栓14的底端分别插接进固定孔13的内部；
具体地，如图1和图2所示，在使用时通过移动移动横板11嵌接在调节导槽12内部的位置可对限位竖板4的间距进行调整，并通过将插接在移动横板11顶端一侧的锁紧螺栓14分别插接进设置于调节导槽12内部底端的固定孔13内部并紧固可将移动横板11固定在调节导槽12内部移动调节后的位置，从而实现了可对限位竖板4进行调节以适用不同规格芯片的效果。
实施例2：连接横板5顶端的中间位置处分别固定连接有限位导杆10，框体3内部顶端两侧的中间位置处分别插接有稳定套15，限位导杆10的顶端分别贯穿稳定套15的内部，限位导杆10的顶端分别固定连接有限定块16；
具体地，如图1和图3所示，在使用时通过连接横板5将限位导杆10与芯片测试模块6连接，在通过气动推杆8推动芯片测试模块6下行进行芯片检测作业时限位导杆10随之在稳定套15的内部升降对芯片测试模块6进行稳定，使得芯片测试模块6能稳定精确的对芯片进行检测，并通过固定连接在限位导杆10顶端的限定块16将限位导杆10限定在稳定套15的内部，以此可确保芯片测试模块6的检测精准度，可操作性强。
实施例3：气动推杆8的底端固定连接有限位板17，气动推杆8外部的底端套接有安装套9，安装套9套接在连接块18的外部，安装套9的内部侧壁设置有内螺纹，连接块18的外部设置有和内螺纹相配合的外螺纹；
具体地，如图1和图4所示，在对芯片测试模块6进行安装时将套接在气动推杆8外部安装套9套接在芯片测试模块6顶端中间位置处固定连接的连接块18外部，并通过螺纹连接将两者进行连接紧固，并且通过固定连接在气动推杆8底端的限位板17对安装套9进行限定，以此可将芯片测试模块6安装固定在气动推杆8的底端，并且还可便于对芯片测试模块6进行拆卸检修更换，可实施性高。
工作原理：本实用新型在使用时，首先，通过移动移动横板11嵌接在调节导槽12内部的位置可对限位竖板4的间距进行调整，随后将需要检测的芯片放置在限位竖板4之间，并通过将插接在移动横板11顶端一侧的锁紧螺栓14分别插接进设置于调节导槽12内部底端的固定孔13内部并紧固可将移动横板11固定在调节导槽12内部移动调节后的位置，以此可对芯片进行锁定，随后启动气缸7驱动气动推杆8推动芯片测试模块6对芯片进行测试，并且在通过气动推杆8推动芯片测试模块6下行进行芯片检测作业时限位导杆10随之在稳定套15的内部升降对芯片测试模块6进行稳定，使得芯片测试模块6能稳定精确的对芯片进行检测，并通过固定连接在限位导杆10顶端的限定块16将限位导杆10限定在稳定套15的内部，以此可确保芯片测试模块6的检测精准度，并且在对芯片测试模块6进行安装时将套接在气动推杆8外部安装套9套接在芯片测试模块6顶端中间位置处固定连接的连接块18外部，并通过螺纹连接将两者进行连接紧固，并且通过固定连接在气动推杆8底端的限位板17对安装套9进行限定，以此可将芯片测试模块6安装固定在气动推杆8的底端。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (6)
1.一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，包括台板(2)，其特征在于：所述台板(2)的底端固定连接有底座(1)，所述台板(2)的顶端固定连接有框体(3)，所述框体(3)顶端的中间位置处插接有气缸(7)，所述气缸(7)的底端插接有气动推杆(8)，所述气动推杆(8)的底端设置有芯片测试模块(6)，所述芯片测试模块(6)顶端两侧的中间位置处固定连接有连接横板(5)，所述芯片测试模块(6)顶端的中间位置处固定连接有连接块(18)，所述台板(2)顶端的两侧分别设置有限位竖板(4)，所述限位竖板(4)的底端固定连接有移动横板(11)。
2.根据权利要求1所述的一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，其特征在于：所述台板(2)顶端的中间位置处设置有调节导槽(12)，所述移动横板(11)嵌接在调节导槽(12)的内部，所述调节导槽(12)顶端的一侧分别插接有锁紧螺栓(14)。
3.根据权利要求2所述的一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，其特征在于：所述调节导槽(12)底端的两侧分别均匀设置有固定孔(13)，所述锁紧螺栓(14)的底端分别插接进固定孔(13)的内部。
4.根据权利要求1所述的一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，其特征在于：所述连接横板(5)顶端的中间位置处分别固定连接有限位导杆(10)，所述框体(3)内部顶端两侧的中间位置处分别插接有稳定套(15)。
5.根据权利要求4所述的一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，其特征在于：所述限位导杆(10)的顶端分别贯穿稳定套(15)的内部，所述限位导杆(10)的顶端分别固定连接有限定块(16)。
6.根据权利要求1所述的一种便于锁定的集成电路芯片测试工装，其特征在于：所述气动推杆(8)的底端固定连接有限位板(17)，所述气动推杆(8)外部的底端套接有安装套(9)，所述安装套(9)套接在连接块(18)的外部，所述安装套(9)的内部侧壁设置有内螺纹，所述连接块(18)的外部设置有和内螺纹相配合的外螺纹。
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| CN202221431531.2U CN218158215U (zh) | 2022-06-09 | 2022-06-09 | 一种便于锁定的集成电路芯片测试工装 |
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN117148120A (zh) * | 2023-10-31 | 2023-12-01 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种带有自动矫正功能的芯片测试装置 |
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| CN117148120A (zh) * | 2023-10-31 | 2023-12-01 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种带有自动矫正功能的芯片测试装置 |
| CN117148120B (zh) * | 2023-10-31 | 2024-01-26 | 镇江矽佳测试技术有限公司 | 一种带有自动矫正功能的芯片测试装置 |
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