CN216283416U - 轧辊平面度调平用测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及轧辊平面度调平用测量装置，包括导轨机构和测量机构，所述导轨机构包括两组滑轨组件，两组滑轨组件分别位于待测轧辊组的相对两侧；所述测量机构包括两组测量组件，两组所述测量组件均滑动设置在滑轨组件上，可相沿轧辊的长度方向滑动；测量组件跨设在轧辊组的上侧，对轧辊组内的每个轧辊进行测量。利用该测量装置，可通过测量组件一次测量可完成并排多节轧辊的测量，测量效率高；利用标准绳形成校准平面，通过轧辊与校准平面之间的位置关系对轧辊进行调整，精确度高，轧辊调平效果好。

Description

轧辊平面度调平用测量装置

技术领域

本发明涉及钢铁生产设备技术领域，尤其涉及轧辊平面度调平用测量装置。

背景技术

如图1所示，钢铁厂轧辊工作时，板材自轧辊之间的轧制空间通过，轧制成所需的钢胚。轧辊平面度直接影响钢胚的质量，如果使用中钢胚的厚度超出范围后，就需要检修和调整。

检修时，一般是通过横担和塞尺进行测量，其中，横担两端滑动设置在经过严格校准的光滑轨道上。通过塞尺测量轧辊与横担之间的距离，再根据塞尺的数值调整一节轧辊的两端轴承座的高度，最终使整个辊面达到一定的平面度。但是，由于横担自重较大，其挠度值变化较大；同时，受塞尺精度影响，轴承座的调整数值存在较大误差，工人需要反复测量和调整。另外，通常一组轧辊组包含多节轧辊，调平时就需要对多个点进行测量，人工测量工作量大；钢铁厂检修，时间紧，任务重，急切需要一种能够自动进行测量，并提供每节轧辊两端调整数据的测量装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种轧辊平面度调平用测量装置，提高轧辊调平时的测量工作量，提高调平效率。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：轧辊平面度调平用测量装置，包括

导轨机构，所述导轨机构包括两组滑轨组件，两组滑轨组件分别位于待测轧辊组的相对两侧；

和测量机构，所述测量机构包括两组测量组件，两组所述测量组件均滑动设置在滑轨组件上，可相沿轧辊的长度方向滑动；测量组件跨设在轧辊组的上侧，对轧辊组内的每个轧辊进行测量。

作为优选的技术方案，所述滑轨组件包括滑轨底座，所述滑轨底座上固定有滑轨，滑轨水平设置且滑轨的延伸方向与轧辊的轴向平行。

作为优选的技术方案，所述滑轨底座上设有位置传感器或位置开关，用于检测测量组件是否到达设定位置。

作为优选的技术方案，所述测量组件包括

两个竖支架，两个竖支架分别滑动设置在两组滑轨组件上；

至少一个连接杆，通过所述连接杆将两个竖支架连接为一体；

丝杆，所述丝杆的两端分别转动安装在两个竖支架上；

标准绳，所述标准绳的两端分别固定在两个竖支架上；

和测试支架，所述测试支架与丝杆螺纹连接；测试支架上固定设有上测量探头和下测量探头；

位于两组测量组件内的两条标准绳处于同一水平面内；当丝杆转动时，测试支架沿丝杆移动，连接杆为测试支架导向，上测量探头测量标准绳与上测量探头之间的垂直距离，下测量探头测量轧辊与下测量探头之间的垂直距离。

作为优选的技术方案，所述竖支架的下端设有C形的滑动座，用于与滑轨组件滑动连接。

作为优选的技术方案，所述测试支架设有与连接杆相匹配的导向孔，测试支架通过导向孔滑动套装在连接杆的外侧。

由于采用了上述技术方案，应用轧辊平面度调平用测量装置对轧辊进行调平，可通过测量组件一次测量可完成并排多节轧辊的测量，测量效率高；利用标准绳形成校准平面，通过轧辊与校准平面之间的位置关系对轧辊进行调整，精确度高，轧辊调平效果好。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是轧辊工作的结构示意图；

图2是测量装置的结构示意图；

图3是测量装置测量的示意图；

图4是测量装置得测量原理图。

具体实施方式

轧辊平面度调平用测量装置，如图2所示，包括导轨机构和测量机构，其中，导轨机构包括两组滑轨组件1，测量机构包括两组测量组件3。使用时，两组滑轨组件1分别位于轧辊组的相对两侧，两组测量组件3均滑动设置在滑轨组件1上。测量组件3跨设在轧辊组的上侧，可对该轧辊组内的每个轧辊2进行测量。

每组滑轨组件1均包括滑轨底座11，滑轨底座11上固定有滑轨12，滑轨12水平设置且严格校平，其下部与滑轨底座11固定连接；滑轨12的延伸方向与轧辊2的轴向平行。

每组测量组件3均包括两个竖支架31；两个竖支架31分别滑动设置在两个滑轨12上，即一个滑轨12对应一个竖支架31，两个竖支架31的并列且间隔设置在轧辊组的相对两侧。竖支架31的下端设有C形的滑动座，用于与滑轨12滑动连接，便于竖支架31安装在滑轨12上或自滑轨12上拆下。两个竖支架31之间还设有至少一个连接杆33，通过连接杆33将两个竖支架31连接为一体。

两个竖支架31之间设置丝杆34，丝杆34跨设在轧辊组的上侧；丝杆34的两端分别转动安装在两个竖支架31上。丝杆34的一端与伺服电机等驱动设备传动连接，在驱动设备的驱动下转动。丝杆34上螺纹连接有测试支架35，测试支架35设有一个与丝杆34相配合的螺纹孔，通过该螺纹孔与丝杆34螺纹连接。丝杆34转动，带动测试支架35沿丝杆34移动。连接杆33还为测试支架35导向，避免测试支架35翻转。具体的，测试支架35还设有与连接杆33相匹配的导向孔，测试支架35通过导向孔滑动套装在连接杆33的外侧。

两个竖支架31的上端还设有标准绳32，标准绳32的两端分别固定在两个竖支架31的上端。标准绳32优选钢丝，使用直径0.4毫米细钢丝，钢丝两端施加一定的张紧力，例如施加钢丝三分之二的破断拉力。

由于标准绳32具有一定的拉力，在两个竖支架31的上端施加内拉的作用力，为了保证竖支架31的竖直，两个竖支架31之间设置两个连接杆33，可进一步提高测量组件3的稳定性，防止竖支架31内缩影响测试精度，确保测试结果的准确度。

测试支架35的上端部固定设有上测量探头36，测试支架35的下端部固定有下测量探头37。其中，上测量探头36用于检测其与标准绳32的距离，即测量其与两条标准绳32所确定平面之间的垂直距离；下测量探头37则用于测量其与轧辊2上某个点之间的距离。

两条严格校平的滑轨12通过其上的竖支架31传递到两条标准绳32上，两条标准绳32组成一个校准平面。两组测量组件3均可以在滑轨12上移动，测量组件3的移动可以是手动，当然也可以通过伺服电机、丝杆组件等机械驱动。测试支架35在丝杆34的驱动下移动位置，对不同的轧辊2进行测量。

进一步的，为了实现高效、精确测量，滑轨底座11上设置位置传感器或位置开关，用于检测竖支架31在滑轨12上的位置；当检测到竖支架31到达设定位置后，控制丝杆34转动，进行测量。

测量时，两组测量组件3同时使用，测出每节轧辊2上两个测量点相对校准平面的垂直距离。具体的，该垂直距离由三部分组成，一是上测量探头36测量的与校准平面之间的距离；二是上测量探头36与下测量探头37之间的尺寸，该尺寸是定值，可精确到0.1微米；第三部分是下测量探头37测量的与轧辊2上测量点的距离。

应用上述测量装置实现的轧辊调平方法，包括

在待测轧辊组的上侧设置校准平面，校准平面为水平面；

在每节轧辊2上选取、设定两个测量位置，测量两个测量位置相对校准平面的距离；

依据待测轧辊组内所有轧辊2的测量数据，计算获得该待测轧辊组内轧辊2相对校准平面的平均垂直距离H；

然后分别判断每节轧辊2的两端相对校准平面的距离与平均垂直距离H的关系并调整。

具体的，位于两组测量组件3内的两条标准绳32处于同一水平面内，形成校准平面。由于滑轨12严格校平，因此，校准平面的可参考性高。

每个轧辊组由多个同轴设置、并列设置的多节轧辊2组成。多节并列设置的轧辊2设置两个测量位置，两组测量组件3对应两个测量位置，测量组件3在滑轨12上一次移动，完成该测量位置处的所有轧辊2的测量。对应到每节轧辊2上，每节轧辊2上具有两个测量点，如图3和图4所示，即第一测量点41和第二测量点42；为了提高测量效率，与其中一个测量位置对应的多节轧辊2上的第一测量点41处于同一直线上，与另一个测量位置对应的多节轧辊2上的第二测量点42处于同一直线上。实际使用中，两个测量位置设定时，以第一测量点41和第二测量点42之间的距离尽量大为原则。

两组测量组件3分别对第一测量点41和第二测量点42进行测量，得出第一测量点41相对校准平面的距离d1以及第二测量点42相对校准平面的距离d2。

测量时，检测到下测量探头37向轧辊2靠近时，判断下测量探头37检测值是否低于设定值，若是，则控制丝杆34以设定低转速运行并提高下测量探头37的采样频率；检测到下测量探头37远离轧辊2时，判断下测量探头37检测值是否高于设定值，若是，则控制丝杆34以设定高转速运行并降低下测量探头37采样频率。

具体的，当测量组件3到达测量位置后，控制丝杆34转动。启动时，由于下测量探头37距离轧辊2最高处测量位置较远，允许下测量探头37高速向轧辊2靠近，故控制丝杆34以设定高转速运行，测试支架35高速移动，此时下测量探头37检测数值由大变小，即下测量探头37向轧辊2靠近，当检测到数值处于设定值，例如8000~10000微米时，控制丝杆34以设定低转速运行并提高下测量探头37的采样频率；当下测量探头37检测到的数值由小变大，即下测量探头37远离轧辊2，当检测到的数值大于设定值，例如大于7000微米以上后，控制丝杆34以设定高转速运行并降低下测量探头37采样频率。

完成测量后，对下测量探头37采样数据进行分析、筛选。每次高频采样对应一节轧辊2，故选取该高频采样数据中最小数值设定为第一测量点41与校准平面的垂直距离

或第二测量点42与校准平面的垂直距离

。

完成一组并排轧辊组的测量后，控制测量组件3在滑轨12上移动，通过微动位置开关检测到位后，测量组件3进行下一组并排轧辊组的测量。

如此重复执行多次，完成所有轧辊2的测量。

完成所有轧辊2的测量后，依据待测轧辊组内所有轧辊2的测量数据，计算获得该待测轧辊组内轧辊2相对校准平面的平均垂直距离H。

由于并排轧辊组内的每节轧辊2的端部不平齐，故第一测量点41和第二测量点42无法设定为轧辊2的端部，故需根据测量值计算轧辊2端部相对校准平面的距离。

例如：

测量获取第一测量点41和第二测量点42之间的轧辊长度

、第一测量点41和与其临近的该节轧辊端部之间的轧辊长度或第二测量点42和与其临近的该节轧辊端部之间的轧辊长度

以及该节轧辊2的长度L；计算每节轧辊2两个端部相对校准平面的垂直距离。

如图3和图4所示，以一节轧辊2为例：

已知：

第一测量点41和第二测量点42之间轧辊的长度L1；

第二测量点42与轧辊2端部的距离L2；

轧辊2的长度L；

第一测量点41相对校准平面的距离d1；

第二测量点42相对校准平面的距离d2；

根据每节轧辊2的测量数据，计算出该轧辊2两端相对校准平面的距离

和

；

其中，由

得

；

由

得

计算获得该轧辊2的两个端部相对校准平面的垂直距离后，判断轧辊2端部相对校准平面的垂直距离与平均值H的关系；

若该垂直距离距离大于平均垂直距离H，则增加相应端部垫片的厚度，增加的厚度为该端垂直距离值与平均垂直距离H的差值；

若该垂直距离距离小于H，则减少相应端部垫片的厚度，减少的厚度为平均垂直距离H与该端垂直距离的差值。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.轧辊平面度调平用测量装置，其特征在于：包括

导轨机构，所述导轨机构包括两组滑轨组件（1），两组滑轨组件（1）分别位于待测轧辊组的相对两侧；

和测量机构，所述测量机构包括两组测量组件（3），两组所述测量组件（3）均滑动设置在滑轨组件（1）上，可相沿轧辊（2）的长度方向滑动；测量组件（3）跨设在轧辊组的上侧，对轧辊组内的每个轧辊（2）进行测量。

2.如权利要求1所述的轧辊平面度调平用测量装置，其特征在于：所述滑轨组件（1）包括滑轨底座（11），所述滑轨底座（11）上固定有滑轨（12），滑轨（12）水平设置且滑轨（12）的延伸方向与轧辊（2）的轴向平行。

3.如权利要求2所述的轧辊平面度调平用测量装置，其特征在于：所述滑轨底座（11）上设有位置传感器或位置开关，用于检测测量组件（3）是否到达设定位置。

4.如权利要求1所述的轧辊平面度调平用测量装置，其特征在于：所述测量组件（3）包括

两个竖支架（31），两个竖支架（31）分别滑动设置在两组滑轨组件（1）上；

至少一个连接杆（33），通过所述连接杆（33）将两个竖支架（31）连接为一体；

丝杆（34），所述丝杆（34）的两端分别转动安装在两个竖支架（31）上；

标准绳（32），所述标准绳（32）的两端分别固定在两个竖支架（31）上；

和测试支架（35），所述测试支架（35）与丝杆（34）螺纹连接；测试支架（35）上固定设有上测量探头（36）和下测量探头（37）；

位于两组测量组件（3）内的两条标准绳（32）处于同一水平面内；当丝杆（34）转动时，测试支架（35）沿丝杆（34）移动，连接杆（33）为测试支架（35）导向，上测量探头（36）测量标准绳（32）与上测量探头（36）之间的垂直距离，下测量探头（37）测量轧辊（2）与下测量探头（37）之间的垂直距离。

5.如权利要求4所述的轧辊平面度调平用测量装置，其特征在于：所述竖支架（31）的下端设有C形的滑动座，用于与滑轨组件（1）滑动连接。

6.如权利要求4所述的轧辊平面度调平用测量装置，其特征在于：所述测试支架（35）设有与连接杆（33）相匹配的导向孔，测试支架（35）通过导向孔滑动套装在连接杆（33）的外侧。

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