CN216265478U - 一种元器件分析试验用工装夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种元器件分析试验用工装夹具，该元器件分析试验用工装夹具包括工装台和滑盖，工装台的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，X射线金属圆壳检测单元和小尺寸表贴开封固定夹具单元，多角度放置工装单元包括一个长方体型凹槽和至少1个的长条形滑块及2个长条形支架，长条形滑块与长方体型凹槽通过底部设置的滑块锯齿和凹槽锯齿实现可拆卸式固定连接，长条形滑块可在接近或远离凹槽斜面的方向上，在凹槽内往复运动；滑盖在闭合套设在工装台外部的状态下，在多角度放置工装单元的凹槽对应位置的滑盖上设置有DIP、金属轴向封装X射线检测单元。本实用新型的元器件分析试验用工装夹具可以有效缩短因调整元器件角度、位置的耗时。

Description

一种元器件分析试验用工装夹具

技术领域

本实用新型属于工装夹具制造领域，尤其涉及一种元器件分析试验用工装夹具。

背景技术

目前在元器件分析试验中，破坏性物理分析是一种用于判定元器件的制造质量以及设计结构符合性的判断手段，并作为一项重要的实验项目被广泛地应用于元器件的质量保证中。大部分元器件依据相关检测标准可以直接完成检测工作，但是随着元器件型号的不断发展，大量新型结构的元器件、特别是许多微组装级的元器件被选用，而微组装元器件各结构单元布局较紧凑，集成了多种电子装联方式，所以在检测中要求试验检测的稳定性，对元器件的保护也越来越重要。但目前针对元器件破坏性物理分析的试验中，外部目检是用硬板或者泡沫等人为支撑起一个角度对样品进行外观检查；X射线检测为了防止晃动采用插装或者粘双面胶固定样品；开封利用台钳直接固定样品；内部目检部分采用泡沫插装对金属圆壳等封装进行检查，以达到平整效果。试验过程在调整角度、位置、样品保护等方面存在耗时较长，样品损坏等问题，满足不了试验稳定性要求。

实用新型内容

鉴于上述现有元器件分析试验过程存在的缺陷，本实用新型的主要目的在于提供一种元器件分析试验用工装夹具，所提供的工装夹具可以有效解决在试验过程中因调整角度、位置耗时较长的问题。

本实用新型的目的通过如下技术方案得以实现：

本实用新型提供一种元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

该元器件分析试验用工装夹具包括工装台，所述工装台的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，所述多角度放置工装单元包括第一凹槽和至少1个的长条形滑块；

所述第一凹槽为长方体型，其一个侧面为第一斜面，其底部设有凹槽锯齿；

所述长条形滑块为长条形立方体，在接近或远离所述第一斜面的方向上、在所述第一凹槽内往复运动，所述长条形滑块的底部与所述第一凹槽的底部相贴合，所述长条形滑块的底部设置有与所述凹槽锯齿相匹配的滑块锯齿，所述长条形滑块与所述第一凹槽通过所述凹槽锯齿和所述滑块锯齿实现可拆卸式固定连接；

所述长条形滑块的一个侧面为第二斜面。

上述的元器件分析试验用工装夹具中，可拆卸式固定连接的锯齿结构既能够在固定状态下，锯齿相互咬合，将长条形滑块固定在第一凹槽的底部，同时又能通过提起长条形滑块，然后移动，实现长条形滑块在第一凹槽内作往复运动；长条形滑块能够起到支撑的作用，配合第一凹槽的侧面、底部锯齿等固定被检元器件，使被检元器件固定更加稳定，保证被检元器件角度、位置调整更方便。

上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述第一凹槽深度为5mm-15mm，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为15°-80°。

所述长条形滑块的高度为5mm-15mm，第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的为15°-80°。第二斜面的角度调整能够有效配合所述凹槽锯齿调整被检元器件的角度、位置。

上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述第一凹槽宽度为10mm-15mm。所述长条形滑块的长度与所述第一凹槽的宽度一致，使其不易脱离所述第一凹槽，提升元器件试验分析稳定性。

上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述多角度放置工装单元包括2个长条形滑块，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为60°；所述第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的夹角分别为45°和30°，便于被检元器件放置于第一凹槽内，同时保证被检元器件角度调整有更多更合适的选择，使得检测结果更精确。

上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述多角度放置工装单元包括2个长条形滑块，所述2个长条形滑块的顶部各自设置有至少2个的第一凹陷，2个长条形滑块至少有两对第一凹陷的连线与所述长条形滑块的运动方向平行；2个所述长条形滑块上还横跨架设有至少2个的长条形支架，在分析试验工作状态时，所述长条形支架通过所述凹陷与所述长条形滑块相卡合连接。上述的第一凹陷有多个，可以架设多个的长条形支架。一般情况下架设2个即可。由2个可移动的长条形滑块，2个可以移动的长条形支架交叉，共同构成一个立体框架，以稳固金属圆壳封装，便于对元器件的金属圆壳封装内部目检。

上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述第一凹陷的深度为2mm-4mm，宽度为2mm-5mm；所述长条形支架的高度为5mm-10mm，宽度为2mm-5mm。便于根据被检元器件尺寸调整所述2个长条形支架间距离、支架的升起的高低、支架卡合的牢固程度，使被检元器件固定更稳定，提高元器件试验分析的准确性。

上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述元器件分析试验用工装夹具的工装台的一侧表面上还设置有X射线金属圆壳检测单元，所述X射线金属圆壳检测单元为至少1个的第二凹陷；所述第二凹陷的上口为圆形，深度为5mm-15mm，直径为5mm-12mm；第二凹陷可以是圆柱形、可以是半球形、球面形等，只需要保证第二凹陷的上口为圆形即可，使被检金属圆壳元器件固定放置时长缩短的同时，使其固定更加稳定。

上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述元器件分析试验用工装夹具的工装台的一侧表面上还设置有小尺寸表贴开封固定夹具单元，所述小尺寸表贴开封固定夹具单元包含至少1个的第二凹槽，所述第二凹槽为长方体型，深度为1mm-5mm，宽度为5mm-10mm，长度为5mm-25mm，使被检元器件根据其尺寸能够迅速稳定放置在夹具内进行试验分析，有效缩短因固定被检元器件的耗时。

上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述元器件分析试验用工装夹具还包括滑盖，所述滑盖套设在所述工装台的工作面，并通过导轨与所述工装台滑动连接，所述导轨与所述长条形滑块相平行；

所述滑盖上设置有DIP和金属轴向封装X射线检测单元，在滑盖在闭合套设在所述工装台外部的状态下，恰好滑入所述多角度放置工装单元的第一凹槽的空隙内，这种DIP、金属轴向封装X射线检测单元的设置，可以在节省空间的同时便于工装台整体收纳整理；

所述DIP和金属轴向封装X射线检测单元包括至少2组的凸块组合，每组的凸块组合包括对称设置的2个凸块；所述凸块为长条形，其长轴方向与所述长条形滑块相平行；所述凸块延长轴方向设置有第三凹槽，所述第三凹槽为长方体型，深度为1mm-3mm，宽度为1mm-5mm，长度为3mm-15mm，使被检元器件检测过程中固定更加稳定。

上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述工装台为长方体型结构；所述滑盖为与所述工装台相匹配的长方体型结构，其包括三面环合的3条侧边和与所述侧边相连接的顶面，所述导轨设置在所述滑盖的一组平行的所述侧边上，所述滑盖相对于所述工装台滑动。滑盖的设置可以使工装台取用方便，便于收纳可拆卸工装夹具，同时对工装台有防尘保护作用。

本实用新型的突出效果为：

本实用新型的元器件分析试验用工装夹具在试验过程中便于调整被检元器件角度、位置，缩短试验分析时长，提高效率；

本实用新型的元器件分析试验用工装夹具结构简单，拆装方便，能重复使用。

附图说明

图1为本实用新型的元器件分析试验用工装夹具的结构示意图。

图2为本实用新型的元器件分析试验用工装夹具的下视图。

图3为本实用新型的元器件分析实验用工装夹具中工装台的侧视图。

图4为本实用新型的元器件分析实验用工装夹具中滑盖的侧视图。

附图标号说明：

1-工装台；2-第一凹陷；3-第一凹槽；4-长条形支架；5-长条形滑块；6-第二凹陷；7-第二凹槽；8-滑盖；9-凸块；10-第三凹槽；11-凹槽锯齿。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1至图4所示，本实用新型的一个具体实施方式提供一种元器件分析试验用工装夹具，元器件分析试验用工装夹具包括工装台1，工装台1的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，多角度放置工装单元包括第一凹槽3和至少1个的长条形滑块5；

第一凹槽3为长方体型，其一个侧面为第一斜面，其底部设有凹槽锯齿11；

长条形滑块5为长条形立方体，在接近或远离所述第一斜面的方向上、在第一凹槽3内往复运动，长条形滑块5的底部与第一凹槽3的底部相贴合，长条形滑块5的底部设置有与凹槽锯齿11相匹配的滑块锯齿(滑块锯齿与凹槽锯齿11紧密勾合，故在图中未标出)，长条形滑块5与第一凹槽3通过所述凹槽锯齿11和滑块锯齿实现可拆卸式固定连接；长条形滑块5的一个侧面为第二斜面。

多角度放置工装单元包括2个长条形滑块5，第一凹槽3的深度可以为5mm-15mm，本具体实施方式中第一凹槽3的深度为10mm。第一斜面与第一凹槽3的底部所在的平面的夹角可以为15°-80°，本具体实施方式中，第一斜面与第一凹槽3的底部所在的平面的夹角为60°；长条形滑块5的高度可以为5mm-15mm，本具体实施方式中长条形滑块5的高度为10mm，与第一凹槽3的深度一致；第二斜面与长条形滑块5的底部所在的平面的可以为15°-80°，本具体实施方式中第二斜面与长条形滑块5的底部所在的平面的夹角分别为45°和30°；第一凹槽3宽度可以为10mm-15mm，本具体实施方式中第一凹槽3的宽度为10mm，长条形滑块5的长度与第一凹槽3的宽度一致。在其他的具体实施方式中，加工第一凹槽3和长条形滑块5的具体尺寸，可以根据工装台1的强度和实际需要设定。

多角度放置工装单元的2个长条形滑块5的顶部还各自设置有2个的第一凹陷2，形成两对第一凹陷2，两对的第一凹陷2的连线与长条形滑块5的运动方向平行；2个长条形滑块5上横跨架设有2个的长条形支架4，在分析试验工作状态时，长条形支架4通过第一凹陷2与长条形滑块5相卡合连接。

上述的第一凹陷2的深度可以为2mm-4mm，宽度可以为2mm-5mm；长条形支架4的高度可以为5mm-10mm，宽度可以为2mm-5mm；本具体实施方式中，第一凹陷2的深度为2mm，宽度为4mm；长条形支架4的高度为8mm，宽度为2mm。

在本具体实施方式中，将被检元器件放置在第一凹槽3内，一端与凹槽锯齿11相接触，滑动长条形滑块5，通过凹槽锯齿11和第一凹槽3侧面、第二斜面的倾斜程度来调节被检元器件的检测角度和位置，调节到合适角度和位置后，被检元器件通过凹槽锯齿11和第二斜面固定，完成元器件实验分析外部检测分析试验程序。

在一个进一步的具体实施方式中，将长条形支架4卡合于长条形滑块5顶部的第一凹陷2内，根据元器件规格调整长条形支架4之间、长条形滑块5之间的距离到合适大小，将被检元器件放置于长条形支架4上微调后固定位置，完成金属圆壳类内目检测分析试验程序。

本具体实施方式中，元器件分析试验用工装夹具的工装台1的一侧表面上还设置有X射线金属圆壳检测单元，X射线金属圆壳检测单元为至少1个的第二凹陷6，第二凹陷6的上口为圆形，深度可以为5mm-15mm，直径可以为5mm-12mm。根据被检元器件的直径选择X射线金属圆壳检测单元内第二凹陷6的直径，可以选择例如直径为6mm，深度为10mm的圆形第二凹陷6，将被检元器件垂直放入第二凹陷6内进行X射线金属圆壳检测分析试验程序。

本具体实施方式中，元器件分析试验用工装夹具的工装台1的一侧表面上还设置有小尺寸表贴开封固定夹具单元，小尺寸表贴开封固定夹具单元包含至少1个的第二凹槽7，第二凹槽7为长方体型，深度为1mm-5mm，宽度为5mm-10mm，长度为5mm-25mm。根据被检元器件的尺寸选择小尺寸表贴开封固定夹具单元内第二凹槽7的尺寸，可以选择例如深度为2mm，宽度为6mm,长度为7.5mm的第二凹槽7，将被检元器件放入选定第二凹槽7内进行固定，进行小尺寸表贴开封检测分析试验程序。

本具体实施方式中，元器件分析试验用工装夹具还包括滑盖8，滑盖8套设在工装台1的工作面，并通过导轨与工装台8滑动连接，导轨与长条形滑块5相平行；

滑盖8上设置有DIP和金属轴向封装X射线检测单元，在滑盖8在闭合套设在工装台1外部的状态下，恰好滑入多角度放置工装单元的第一凹槽3的空隙内，这种DIP、金属轴向封装X射线检测单元的设置，可以在节省空间的同时便于工装台1整体收纳整理；

DIP、金属轴向封装X射线检测单元包括至少2组的凸块组合，每组的凸块组合包括对称设置的2个凸块9；凸块9为长条形，其长轴方向与长条形滑块5相平行；凸块9延长轴方向设置有第三凹槽10，第三凹槽10为长方体型，深度可以为1mm-3mm，宽度可以为1mm-5mm，长度可以为3mm-15mm。根据被检元器件的尺寸选择DIP、金属轴向封装X射线检测单元内第三凹槽10的尺寸，可以选择例如深度为1mm，宽度为1mm，长度为3mm的第三凹槽10，将被检元器件放置在第三凹槽10内固定，进行封装检测分析试验程序。

工装台1为长方体型结构；滑盖8为与工装台1相匹配的长方体型结构，其包括三面环合的3条侧边和与侧边相连接的顶面，导轨设置在滑盖8的一组平行的侧边上，滑盖8相对于工装台1滑动。在需要使用工装台1时，直接将工装台1通过导轨拉出滑盖8即可；工装台1使用完毕后，通过导轨，使滑盖8闭合套设在工装台1外部，既能收纳整理工装台1内各夹具单元，又能对工装台1进行防尘保护。

由本具体实施例可见，本元器件分析试验用工装夹具便于调整被检元器件角度、位置，缩短试验分析时长，提高效率，而且结构简单，拆装方便，能重复使用。

Claims (10)

1.一种元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

所述元器件分析试验用工装夹具包括工装台，所述工装台的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，所述多角度放置工装单元包括第一凹槽和至少1个的长条形滑块；

所述第一凹槽为长方体型，其一个侧面为第一斜面，其底部设有凹槽锯齿；

所述长条形滑块为长条形立方体，在接近或远离所述第一斜面的方向上、在所述第一凹槽内往复运动，所述长条形滑块的底部与所述第一凹槽的底部相贴合，所述长条形滑块的底部设置有与所述凹槽锯齿相匹配的滑块锯齿，所述长条形滑块与所述第一凹槽通过所述凹槽锯齿和所述滑块锯齿实现可拆卸式固定连接；

所述长条形滑块的一个侧面为第二斜面。

2.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

所述第一凹槽深度为5mm-15mm，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为15°-80°；

所述长条形滑块的高度为5mm-15mm，所述第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的为15°-80°。

3.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于:

所述第一凹槽宽度为10mm-15mm，所述长条形滑块的长度与所述第一凹槽的宽度一致。

4.根据权利要求2所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

所述多角度放置工装单元包括2个所述长条形滑块，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为60°；所述第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的夹角分别为45°和30°。

5.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

所述多角度放置工装单元包括2个所述长条形滑块，2个所述长条形滑块的顶部各自设置有至少2个的第一凹陷，2个所述长条形滑块上至少有2对第一凹陷的连线与滑块的运动方向平行；2个所述长条形滑块上还横跨架设有至少2个的长条形支架，在分析试验工作状态时，所述长条形支架通过所述第一凹陷与所述长条形滑块相卡合连接。

6.根据权利要求5所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

所述第一凹陷的深度为2mm-4mm，宽度为2mm-5mm；所述长条形支架的高度为5mm-10mm，宽度为2mm-5mm。

7.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：

所述元器件分析试验用工装夹具的工装台的一侧表面上还设置有X射线金属圆壳检测单元，所述X射线金属圆壳检测单元为至少1个的第二凹陷，所述第二凹陷的上口为圆形，深度为5mm-15mm，直径为5mm-12mm。

8.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于:

所述元器件分析试验用工装夹具的工装台的一侧表面上还设置有小尺寸表贴开封固定夹具单元，所述小尺寸表贴开封固定夹具单元包含至少1个的第二凹槽，所述第二凹槽为长方体型，深度为1mm-5mm，宽度为5mm-10mm，长度为5mm-25mm。

9.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于:

所述元器件分析试验用工装夹具还包括滑盖，所述滑盖套设在所述工装台的工作面，并通过导轨与所述工装台滑动连接，所述导轨与所述长条形滑块相平行；

所述滑盖上设置有DIP和金属轴向封装X射线检测单元，在滑盖闭合套设在所述工装台外部的状态下，恰好滑入所述多角度放置工装单元的第一凹槽的空隙内；

所述DIP和金属轴向封装X射线检测单元包括至少2组的凸块组合，每组的凸块组合包括对称设置的2个凸块；所述凸块为长条形，其长轴方向与所述长条形滑块相平行；所述凸块延长轴方向设置有第三凹槽，所述第三凹槽为长方体型，深度为1mm-3mm，宽度为1mm-5mm，长度为3mm-15mm。

10.根据权利要求9所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：所述工装台为长方体型结构；所述滑盖为与所述工装台相匹配的长方体型结构，其包括三面环合的3条侧边和与所述侧边相连接的顶面，所述导轨设置在所述滑盖的一组平行的所述侧边上。

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