CN216225504U - 半导体分立器件检测分选装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型是半导体分立器件检测分选装置,其结构是内部垒放有分立器件的落料道侧面设有若干个检测机构,落料道底部出口处侧面设落料气缸,落料气缸输出端与落料挡板连接,落料道下方设倾斜安装框,倾斜安装框顶面较高端边缘设有滑轨,滑轨上滑动连接有内侧带有送料空隙的送料滑块,沿滑轨较低一侧长度方向的倾斜安装框顶面上均匀设有若干个送料滑道,送料滑道一端侧面倾斜安装框上设放料框,放料框包括若干放置料管的放料单元,料管开口方向位于较高一端且对应放料单元上设有进料缺口,进料缺口与对应位置送料滑道相通。本实用新型的优点:实现了对半导体分立器件的高效检测和检测后的快速分选和分类存储,可有效区分优品和次品,提高生产效率。

Description

半导体分立器件检测分选装置
技术领域
本实用新型涉及的是半导体分立器件检测分选装置,属于半导体分立器件制造技术领域。
背景技术
电子产品根据其导电性能分为导体和绝缘体,半导体介于导体和绝缘体之间,半导体元器件以封装形式又分为分立和集成。
半导体分立器件制造中,铜框架在进行过粘片、键合、塑封、固化、电镀、人工外检和切筋,得到单独的半导体分立器件,在对成品进行最终包装装入料管内前,需要进行检测分选。现有技术的检测分选装置一般结构复杂,且效率较慢,无法高效对检测后的半导体分立器件进行分类,无法有效满足生产需要。
实用新型内容
本实用新型提出的是半导体分立器件检测分选装置,其目的旨在克服现有技术存在的上述不足,在对半导体分立器件进行检测后可实现快速分选,分类储存,方便筛选优品和对次品进行后续处理。
本实用新型的技术解决方案:半导体分立器件检测分选装置,其结构包括内部垒放有半导体分立器件、垂直于水平面的落料道,落料道侧面从上至下设有若干个对准落料道内半导体分立器件的检测机构,落料道底部出口处侧面设落料气缸,落料气缸输出端穿过落料道侧壁与位于落料道底部内侧的落料挡板连接,落料道下方设倾斜向下的倾斜安装框,倾斜安装框顶面较高端边缘设有滑轨,滑轨上滑动连接有内侧带有送料空隙的送料滑块,沿滑轨较低一侧长度方向的倾斜安装框顶面上均匀设有若干个送料滑道,所有送料滑道较低一端侧面倾斜安装框顶面上设放料框,放料框包括若干个放料单元,放料单元内放置料管,料管开口方向位于较高一端且对应放料单元上设有进料缺口,进料缺口与对应位置送料滑道相通。
优选的,所述的放料框一侧设有上料框,放料框和上料框底部都贯通,上料框包括2个放料单元、分别垒放有若干个优品料管和次品料管,优品料管和次品料管颜色不同,结构相同,放料框内每个放料单元内的料管为优品料管或次品料管,相邻放料单元之间间隔有凸条,放料框每个放料单元两侧凸条靠近底端处分别相对设有限料块,限料块通过弹簧机构连接在凸条上的开孔内,上料框每个放料单元底部外侧面设下料气缸,上料框侧面设有与下料块形状匹配的槽孔,下料气缸输出端穿过槽孔并与放料单元内底部的下料块连接,放料框和上料框整体下方设有上料管机构。
优选的,所述的上料管机构包括一对平行的滑杆,滑动安装板滑动连接在滑杆上,滑动安装板上安装有托料气缸,托料气缸输出端连接托料板,托料板顶面形状与料管形状配合。
本实用新型的优点:结构设计合理,实现了对半导体分立器件的高效检测和检测后的快速分选和分类存储,可有效区分优品和次品,提高生产效率,满足生产需要。
附图说明
图1是本实用新型半导体分立器件检测分选装置的俯视结构示意图。
图2是图1中分类放料框和上料框的主剖视结构示意图。
图中的1是落料道、101是落料气缸、102是落料挡板、2是检测机构、3是送料滑块、4是滑轨、5是送料滑道、6是倾斜安装框、7是放料框、8是上料框、9是凸条、10是优品料管、11是次品料管、12是放料单元、13是限料块、14是弹簧机构、15是滑杆、16是滑动安装板、17是托料气缸、18是托料板、19是下料块、20是下料气缸。
具体实施方式
下面结合实施例和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1、2所示,半导体分立器件检测分选装置,其结构包括内部垒放有半导体分立器件、垂直于水平面的落料道1,落料道1侧面从上至下设有若干个对准落料道1内半导体分立器件的检测机构2,落料道1底部出口处侧面设落料气缸101,落料气缸101输出端穿过落料道1侧壁与位于落料道1底部内侧的落料挡板102连接,落料道1下方设倾斜向下的倾斜安装框6,倾斜安装框6顶面较高端边缘设有滑轨4,滑轨4上滑动连接有内侧带有送料空隙的送料滑块3,沿滑轨4较低一侧长度方向的倾斜安装框6顶面上均匀设有若干个送料滑道5,所有送料滑道5较低一端侧面倾斜安装框6顶面上设放料框7,放料框7包括若干个放料单元12,放料单元内放置料管,料管开口方向位于较高一端且对应放料单元12上设有进料缺口,进料缺口与对应位置送料滑道5相通。
检测机构2的种类和数量和根据需要设计,可通过现有技术实现,不作赘述。
放料框7一侧设有上料框8,放料框7和上料框8底部都贯通,上料框8包括2个放料单元、分别垒放有若干个优品料管10和次品料管11,优品料管10和次品料管11颜色不同,结构相同,放料框7内每个放料单元12内的料管为优品料管10或次品料管11,相邻放料单元12之间间隔有凸条9,放料框7每个放料单元12两侧凸条9靠近底端处分别相对设有限料块13,限料块13通过弹簧机构14连接在凸条9上的开孔内,上料框8每个放料单元12底部外侧面设下料气缸20,上料框8侧面设有与下料块19形状匹配的槽孔,下料气缸20输出端穿过槽孔并与放料单元12内底部的下料块19连接,放料框7和上料框8整体下方设有上料管机构。
上料管机构包括一对平行的滑杆15,滑动安装板16滑动连接在滑杆15上,滑动安装板16上安装有托料气缸17,托料气缸17输出端连接托料板18,托料板18顶面形状与料管形状配合。
驱动送料滑块3在滑轨4上滑动的机构和驱动滑动安装板16在滑杆15上滑动的机构未图示,都为现有技术,所属技术领域技术人员可根据需要进行设计,可实现其功能即可。
根据以上结构,工作时,待检测半导体分立器件垒放在落料道1内,由落料气缸101控制逐个在底端输出,在落料道1内逐渐下落时,通过多个检测机构2进行多项检测,具体检测项目可根据需要设置,输出的分立器件进入送料滑块3空隙内,送料滑块3迅速沿滑轨4滑动到预设对应位置送料滑道5,经过送料滑道5滑入相接放料单元12的最底层的料管内,当一个料管内放满后,由上料管机构补充料管(优品料管10或次品料管11),具体的,上料框8其中一个放料单元12外侧面的下料气缸20带动下料块19向外移动到槽孔内,下落一个料管,同时滑动安装板16滑动到对应位置,料管落到托料板18上,下落的同时下料块19回缩挡住剩余料管,然后滑动安装板16沿滑杆15滑动到需要补充料管的放料框7放料单元12下方,托料气缸17上升,通过托料板18带动料管上升,补充的料管可被限料块13卡住,完成料管补充,然后托料气缸17回缩,滑动安装板16恢复原位即可,当放料框7内某一放料单元12放满后人工移走其中料管,相应的,上料框8内优品料管10或次品料管11使用完后,也人工补充即可。
以上所述各部件均为现有技术,本领域技术人员可使用任意可实现其对应功能的型号和现有设计。
以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (3)

1.半导体分立器件检测分选装置,其特征包括内部垒放有半导体分立器件、垂直于水平面的落料道(1),落料道(1)侧面从上至下设有若干个对准落料道(1)内半导体分立器件的检测机构(2),落料道(1)底部出口处侧面设落料气缸(101),落料气缸(101)输出端穿过落料道(1)侧壁与位于落料道(1)底部内侧的落料挡板(102)连接,落料道(1)下方设倾斜向下的倾斜安装框(6),倾斜安装框(6)顶面较高端边缘设有滑轨(4),滑轨(4)上滑动连接有内侧带有送料空隙的送料滑块(3),沿滑轨(4)较低一侧长度方向的倾斜安装框(6)顶面上均匀设有若干个送料滑道(5),所有送料滑道(5)较低一端侧面倾斜安装框(6)顶面上设放料框(7),放料框(7)包括若干个放料单元(12),放料单元内放置料管,料管开口方向位于较高一端且对应放料单元(12)上设有进料缺口,进料缺口与对应位置送料滑道(5)相通。
2.如权利要求1所述的半导体分立器件检测分选装置,其特征是所述的放料框(7)一侧设有上料框(8),放料框(7)和上料框(8)底部都贯通,上料框(8)包括2个放料单元(12)、分别垒放有若干个优品料管(10)和次品料管(11),优品料管(10)和次品料管(11)颜色不同、结构相同,放料框(7)内每个放料单元(12)内的料管为优品料管(10)或次品料管(11),相邻放料单元(12)之间间隔有凸条(9),放料框(7)每个放料单元(12)两侧凸条(9)靠近底端处分别相对设有限料块(13),限料块(13)通过弹簧机构(14)连接在凸条(9)上的开孔内,上料框(8)每个放料单元(12)底部外侧面设下料气缸(20),上料框(8)侧面设有与下料块(19)形状匹配的槽孔,下料气缸(20)输出端穿过槽孔并与放料单元(12)内底部的下料块(19)连接,放料框(7)和上料框(8)整体下方设有上料管机构。
3.如权利要求2所述的半导体分立器件检测分选装置,其特征是所述的上料管机构包括一对平行的滑杆(15),滑动安装板(16)滑动连接在滑杆(15)上,滑动安装板(16)上安装有托料气缸(17),托料气缸(17)输出端连接托料板(18),托料板(18)顶面形状与料管形状配合。
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