CN216067128U - 一种ai芯片测试用定位装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种AI芯片测试用定位装置，属于芯片测试领域。一种AI芯片测试用定位装置，包括底座，所述底座顶部呈左右对称结构固设有两个支撑板，所述底座上方设有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆外表面呈左右对称结构螺纹连接有两个连接块，所述连接块靠内一侧顶部固设有铰座，所述铰座前端和后端分别转动连接有连接臂，所述底座上方呈前后对称结构设有两个夹板，所述夹板靠内一侧固设有橡胶块，所述底座上方设有托板，所述托板左侧壁和右侧壁分别固设有连接板，能够对芯片进行快速夹持，并通过铰座、连接臂和夹板，在使用时，能够对不同尺寸的芯片进行夹持，提高了装置的适用性，为用户节省了耗材开支。

Description

一种AI芯片测试用定位装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，更具体地说，涉及一种AI芯片测试用定位装置。

背景技术

在现有的申请文件中，如申请号为CN202022293404.8的申请文件，具体公开了“一种AI芯片测试用定位装置，包括基座，所述基座的顶部四周均安装有液压缸，所述液压缸的顶部设置有液压伸缩杆，所述液压伸缩杆的顶部分别安装在安装板的下表面四周，所述安装板的上表面开设有第一滑槽……本实用新型能够清理芯片或设备上的灰尘，避免了因灰尘而造成测试误差，加强了精准性，同时能够固定不同尺寸的芯片，减少了成本，并且能够调节高度，加强了实用性。”

该申请文件虽然有益效果突出，但是在实际使用的过程中，在装置中的夹板需要手动将其拨开，才能够对芯片进行夹持，此过程操作不便，较为耗时，为此，我们提出一种AI芯片测试用定位装置，主要用于解决上述所提到的问题。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种AI芯片测试用定位装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

2.技术方案

一种AI芯片测试用定位装置，包括底座，所述底座顶部呈左右对称结构固设有两个支撑板，所述底座上方设有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆外表面呈左右对称结构螺纹连接有两个连接块，所述连接块靠内一侧顶部固设有铰座，所述铰座前端和后端分别转动连接有连接臂，所述底座上方呈前后对称结构设有两个夹板，所述夹板靠内一侧固设有橡胶块，所述底座上方设有托板，所述托板左侧壁和右侧壁分别固设有连接板，所述托板内壁呈前后对称结构滑动连接有两个滑板，所述托板内壁中部固设有固定板，所述固定板正面和背面分别呈线性等间距固设有多个滑杆，所述滑杆外表面套设有弹簧。

优选地，所述双向螺纹杆分别与两个支撑板转动连接。

优选地，所述夹板两端分别与两个连接臂转动连接，所述连接板与铰座连接固定。

优选地，所述滑杆与滑板滑动连接，所述弹簧靠外一端与滑板连接固定，所述弹簧靠内一端与固定板连接固定。

3.有益效果

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

1、本实用新型在结构上有所改进，在使用时，能够对芯片进行快速夹持，并通过铰座、连接臂和夹板，能够对不同尺寸的芯片进行夹持，提高了装置的适用性，为用户节省了耗材开支。

2、本实用新型在结构上有所改进，通过设置托板，并在托板上设置滑杆、弹簧和滑板，能够便于检测人员放置芯片，提高检测速度，同时在检测结束后，能够将芯片托住，避免芯片在拿取过程中掉落，从而完成损坏。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的局部结构示意图；

图3为本实用新型托板的结构示意图；

图中标号说明：1、底座；2、支撑板；3、双向螺纹杆；4、连接块；5、铰座；6、连接臂；7、夹板；8、橡胶块；9、托板；10、连接板；11、滑板；12、固定板；13、滑杆；14、弹簧。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：

一种AI芯片测试用定位装置，包括底座1，底座1顶部呈左右对称结构固设有两个支撑板2，底座1上方设有双向螺纹杆3，双向螺纹杆3外表面呈左右对称结构螺纹连接有两个连接块4，连接块4靠内一侧顶部固设有铰座5，铰座5前端和后端分别转动连接有连接臂6，底座1上方呈前后对称结构设有两个夹板7，夹板7靠内一侧固设有橡胶块8，底座1上方设有托板9，托板9左侧壁和右侧壁分别固设有连接板10，托板9内壁呈前后对称结构滑动连接有两个滑板11，托板9内壁中部固设有固定板12，固定板12正面和背面分别呈线性等间距固设有多个滑杆13，滑杆13外表面套设有弹簧14；在使用的过程中，首先，将芯片放置在两个滑板11顶部，通过转动双向螺纹杆3，使得两个连接块4沿着双向螺纹杆3同步反向移动，连接块4在移动过程中，会带动铰座5移动，铰座5移动时，会带动连接臂6旋转并向内部收缩，从而两个夹板7会相互靠近，并对两个滑板11产生挤压，使得滑板11沿着滑杆13缩进托板9内部，并对弹簧14产生挤压，从而夹板7能够对芯片进行加紧，在测试结束后，通过转动双向螺纹杆3，使得两个夹板7松开对芯片的夹持，此时滑板11在弹簧14的作用下，沿着滑杆13向外延伸，从而将芯片托住；能够对芯片进行快速夹持，并通过铰座5、连接臂6和夹板7，能够对不同尺寸的芯片进行夹持，提高了装置的适用性，为用户节省了耗材开支；通过设置托板9，并在托板9上设置滑杆13、弹簧14和滑板11，能够便于检测人员放置芯片，提高检测速度，同时在检测结束后，能够将芯片托住，避免芯片在拿取过程中掉落，从而完成损坏。

具体的，双向螺纹杆3分别与两个支撑板2转动连接。

进一步的，夹板7两端分别与两个连接臂6转动连接，连接板10与铰座5连接固定。

再进一步的，滑杆13与滑板11滑动连接，弹簧14靠外一端与滑板11连接固定，弹簧14靠内一端与固定板12连接固定。

工作原理：在使用的过程中，首先，将芯片放置在两个滑板11顶部，通过转动双向螺纹杆3，使得两个连接块4沿着双向螺纹杆3同步反向移动，连接块4在移动过程中，会带动铰座5移动，铰座5移动时，会带动连接臂6旋转并向内部收缩，从而两个夹板7会相互靠近，并对两个滑板11产生挤压，使得滑板11沿着滑杆13缩进托板9内部，并对弹簧14产生挤压，从而夹板7能够对芯片进行加紧，在测试结束后，通过转动双向螺纹杆3，使得两个夹板7松开对芯片的夹持，此时滑板11在弹簧14的作用下，沿着滑杆13向外延伸，从而将芯片托住。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (4)

1.一种AI芯片测试用定位装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)顶部呈左右对称结构固设有两个支撑板(2)，所述底座(1)上方设有双向螺纹杆(3)，所述双向螺纹杆(3)外表面呈左右对称结构螺纹连接有两个连接块(4)，所述连接块(4)靠内一侧顶部固设有铰座(5)，所述铰座(5)前端和后端分别转动连接有连接臂(6)，所述底座(1)上方呈前后对称结构设有两个夹板(7)，所述夹板(7)靠内一侧固设有橡胶块(8)，所述底座(1)上方设有托板(9)，所述托板(9)左侧壁和右侧壁分别固设有连接板(10)，所述托板(9)内壁呈前后对称结构滑动连接有两个滑板(11)，所述托板(9)内壁中部固设有固定板(12)，所述固定板(12)正面和背面分别呈线性等间距固设有多个滑杆(13)，所述滑杆(13)外表面套设有弹簧(14)。

2.根据权利要求1所述的一种AI芯片测试用定位装置，其特征在于：所述双向螺纹杆(3)分别与两个支撑板(2)转动连接。

3.根据权利要求1所述的一种AI芯片测试用定位装置，其特征在于：所述夹板(7)两端分别与两个连接臂(6)转动连接，所述连接板(10)与铰座(5)连接固定。

4.根据权利要求1所述的一种AI芯片测试用定位装置，其特征在于：所述滑杆(13)与滑板(11)滑动连接，所述弹簧(14)靠外一端与滑板(11)连接固定，所述弹簧(14)靠内一端与固定板(12)连接固定。

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