CN215704114U - 光源控制装置及三维打印机 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种光源控制装置及三维打印机，所述光源控制装置包括：多个光源组，检测单元，及控制单元。多个光源组，每个光源组包括至少一个发光器件，所述每个发光器件形成一第一光照区域。检测单元，用于检测多个所述第一光照区域的光强度。控制单元，所述控制单元电连接所述检测单元，所述控制单元用于根据所述检测单元检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内。本申请可以提高光源控制装置整体光源的均匀性。

Description

光源控制装置及三维打印机

技术领域

本申请涉及打印机技术领域，尤其涉及一种光源控制装置及三维打印机。

背景技术

光固化型打印机使用光敏树脂作为原料，光敏树脂的固化程度取决于能量和照射时间，所以光源的均匀度是打印模型的精度影响因素之一。目前光固化型打印机的紫外线光源一般都使用多路并联的矩阵灯珠，并且通过一个电流源与每路灯珠串联为所有的灯珠供电。由于每个灯珠中半导体掺杂的量不能完全一致，不同灯珠的电气特性存在差异，并且多路灯珠之间并联，导致每路电流不同，整体光源的均匀性较差。

实用新型内容

本申请提供一种光源控制装置及三维打印机，以解决整体光源的均匀性较差的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种光源控制装置，包括：多个光源组，检测单元，及控制单元。

多个光源组，每个光源组包括至少一个发光器件，所述每个发光器件形成一第一光照区域。

检测单元，用于检测多个所述第一光照区域的光强度。

控制单元，所述控制单元电连接所述检测单元，所述控制单元用于根据所述检测单元检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内。

第二方面，本申请实施例还提供一种三维打印机，包括如本申请实施例第一方面公开的所述光源控制装置。

本申请实施例中，光源控制装置中多个光源组中的每个发光器件形成一第一光照区域，通过所述检测单元检测多个所述第一光照区域的光强度，所述控制单元根据所述检测单元检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内，从而提高光源控制装置中多个所述第一光照区域形成的整体光照区域的光强度的均匀性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种光源控制装置的结构示意图之一。

图2是本申请实施例提供的一种光源控制装置的结构示意图之二。

图3是本申请实施例提供的一种光源控制装置的结构示意图之三。

图4是本申请实施例提供的光源组的结构示意图之一。

图5是本申请实施例提供的主控芯片的结构示意图。

图6是本申请实施例提供的光源组的结构示意图之二。

图7是本申请实施例提供的光源控制装置的结构示意图之四。

图8是本申请实施例提供的隔离支架和透镜的结构示意图。

图9是本申请实施例提供的第一光照区域的示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外，本申请中使用“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，例如A和/或B和/或C，表示包含单独A，单独B，单独C，以及A和B都存在，B和C都存在，A和C都存在，以及A、B和C都存在的7种情况。

请参阅图1至图3，图1至图3是本申请实施例提供的一种光源控制装置的结构示意图，如图1至图3所示，包括：

多个光源组10，每个光源组10包括至少一个发光器件11，所述每个发光器件11形成一第一光照区域。

检测单元20，用于检测多个所述第一光照区域的光强度。及

控制单元30，所述控制单元30电连接所述检测单元20，所述控制单元30用于根据所述检测单元20检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组10的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内。

可以理解，上述第一光照区域与上述发光器件11一一对应，每个发光器件11形成一第一光照区域，通过上述多个光源组10的发光器件11可以形成由多个上述第一光照区域组成的整体光照区域，且形成的整体光照区域中各个第一光照区域相互独立。

在一个实施例中，上述光源控制装置中，由一个发光器件11形成的第一光照区域的光强度可以与该发光器件11输入的电流成正比，因而通过上述检测单元20检测上述多个第一光照区域的光强度，即可对应调整每个光源组10的输入电流的大小，即调整每个光源组10内发光器件11的输入电流大小，从而可以调整上述对应需要调整的第一光照区域的光强度。

其中，上述预设范围可以是预先设置的上述多个第一光照区域的光强度应处于的范围，也可以是根据上述检测单元20检测上述多个第一光照区域的光强度进行确定的范围，例如：经过上述检测单元20对上述多个第一光照区域的光强度进行检测，若上述多个第一光照区域中90％的光强度相差较小，则可以将上述多个第一光照区域中该90％的第一光照区域的光强度设置为上述预设范围，从而调整多个第一光照区域中另外10％的第一光照区域的光强度处于上述预设范围即可。

可选的，如图1所示，所述控制单元30包括多个信号输出端，所述控制单元30的每一信号输出端分别电连接一个所述光源组10的输入端，每个所述光源组10的输出端电连接参考地(GND)，所述控制单元30的接地端电连接所述参考地(GND)，所述控制单元30的信号输入端电连接所述检测单元20的信号输出端，所述控制单元30的第一输入端用于电连接供电端(VCC)。

具体的，可以通过上述控制单元30的每一信号输出端分别电连接一个光源组10的输入端，实现对每一光源组10的单独控制，例如：若存在一个发光器件11形成的一第一光照区域的光强度较低，可以通过上述控制单元30将输入到对应光源组10的电流增加，以提高上述光强度较低的一第一光照区域的光强度，从而提高上述光源控制装置中整体光照区域的光强度均匀性。并且，每个光源组10的输入电流不会受其他光源组10的输入电流影响，即使不同光源组10之间的电气特性存在差异，也可以单独控制存在差异的光源组10的电流或电压，以调节该光源组10内的发光器件11形成的一第一光照区域的光强度。

另外，上述控制单元30对上述光源组10的电流大小调整可以是PID(ProportionIntegral Differential，PID控制算法)式的，例如：以上述预设范围为第一预设值至第二预设值为例，若某一第一光照区域的光强度低于第一预设值或高于第二预设值，在调整过程中，上述控制单元30可以按偏差的比例(Proportion)、积分(Integral)和微分(Differential)进行动态控制调整，直到该第一光照区域的光强度符合上述预设范围。

本申请实施例中，光源控制装置中多个光源组10中的每个发光器件11形成一第一光照区域，通过所述检测单元20检测多个所述第一光照区域的光强度，所述控制单元30根据所述检测单元20检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组10的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内，从而提高光源控制装置中多个所述第一光照区域形成的整体光照区域的光强度的均匀性。

可选的，如图2所示，所述控制单元30包括：

主控芯片31，所述主控芯片31的信号输入端电连接所述检测单元20的信号输出端，所述主控芯片31的第一输入端用于电连接所述供电端(VCC)。及

多个恒流驱动电路32，所述多个恒流驱动电路32的数量与所述多个光源组10的数量一一对应，每个恒流驱动电路32的第一输入端用于电连接所述供电端(VCC)，所述每个恒流驱动电路32的受控端分别电连接所述主控芯片31的一个控制端，所述每个恒流驱动电路32的输出端对应电连接所述多个光源组10中的一个光源组10的输入端。

所述主控芯片31用于通过控制所述每个恒流驱动电路32，调整所述恒流驱动电路32对应的一个光源组10的输入电流的大小。

具体的，上述主控芯片31的控制端可以是PWM(Pulse Width Modulation，脉冲宽度调制)信号输出端，上述主控芯片31可以向每个恒流驱动电路32输出不同的PWM信号，以控制上述恒流驱动电路32向对应的一个光源组10输出的电流大小，这样，可以控制与每个恒流驱动电路32连接的对应的光源组10的电流，从而控制每个发光器件11形成一第一光照区域的光强度。

上述控制单元可以根据上述每一第一光照区域的光强度，调整对应的光源组10的电流。可选的，上述发光器件11为发光二极管，如图4和图5所示，以每个光源组10仅存在一个发光器件11，且一个发光器件11仅存在一个发光二极管为例，即每个发光二极管作为一个光源组10。图5中，选取型号GW1N-LV1QN32的FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)作为上述主控芯片31，上述主控芯片31可以通过上述恒流驱动电路32分别控制每个发光二极管的输入电流，补偿发光二极管之间因半导体掺杂的量不一致导致的亮度差异，经测试上述发光二极管光源的均匀度可以达到95％以上，较现有光源组光源的均匀度提高。上述主控芯片31还可以使用STM32F103芯片或STC89S52芯片等，本申请对此不做限制。

该实施方式中，每个恒流驱动电路32的第一输入端用于电连接所述供电端(VCC)，所述每个恒流驱动电路32的受控端分别电连接所述主控芯片31的一个控制端，所述每个恒流驱动电路32的输出端对应电连接所述多个光源组10中的一个光源组10的输入端，这样，所述主控芯片31可以通过控制多个所述恒流驱动电路32的输出电流实现对每个光源组10的单独控制，提高了所述控制单元30对每个第一光照区域的光强度调节的有效性。

可选的，如图3所示，所述每个光源组10中的发光器件11串联连接在一起。

所述每个光源组10的发光器件11包括发光二极管，在本实施例中，每个发光器件11中发光二极管的数据不进行限制，可以是一个，也可以是多个集合在一起的发光二极管。所述每个发光器件11分别设置于一独立空间内，且多个所述独立空间为相互隔离的空间，以降低所述多个发光器件11之间的相互干扰。

所述检测单元20用于检测多个所述第一光照区域的光强度，所述控制单元30用于根据所述检测单元20检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组10的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于所述预设范围内。

在每个光源组10中仅包括一个发光器件11时，如图4所示，以光源控制装置包括15个光源组10，发光器件11为发光二极管为例，即包括15个发光二极管，每个发光二极管的正极分别电连接上述控制单元30的一个信号输出端，也即上述控制单元30可以通过信号输出端分别控制每个发光二极管的输入电流。

在每个光源组10中包括两个以上的发光器件11时，同一光源组10内的发光器件11串联连接，如图6所示，以每一光源组10中包括三个发光器件11，且发光器件11是一个发光二极管为例，流过发光二极管D1、发光二极管D2和发光二极管D3的电流大小相等，流过发光二极管D4、发光二极管D5和发光二极管D6的电流大小相等，流过发光二极管D7、发光二极管D8和发光二极管D9的电流大小相等，流过发光二极管D10、发光二极管D11和发光二极管D12的电流大小相等，流过发光二极管D13、发光二极管D14和发光二极管D15的电流大小相等，与图3所示的电路相比，都是15个发光二极管，图4中每个光源组10仅一个发光器件且一个发光器件是一个发光二极管，每个发光二极管分别连接一个恒流芯片。而图6中每三个发光二极管串联组成一个光源组10，只需五个恒流芯片分别连接对应的上述光源组10，即可控制每个光源组10内发光二极管的亮度，从而提高多个第一光照区域之间的均匀性。另外，即使同一光源组10内发光二极管的电气特性存在差别，但在同一电流的情况下，也可以减少同一光源组10内发光二极管的亮度差异，从而减少同一光源组10内发光二极管对应形成的第一光照区域的光强度差异。

可选的，如图7和图8所示，所述光源控制装置还包括：

隔离支架40，所述隔离支架40设置于多个所述发光器件11之间，所述隔离支架40包括多个隔离板，所述多个隔离板相互交叉形成多个所述独立空间。及

透镜50，所述透镜50设置于所述隔离支架40一侧，用于对所述发光器件11发出的光的方向进行调整。

如图8所示的隔离支架40，包括4×6个独立空间，以光源控制装置的多个光源组10包括24个发光器件11为例，24个发光器件11可以分别放置在4×6个独立空间内，并分别形成24个第一光照区域，可以理解，24个第一光照区域相互独立，且互不重叠或者也可以是基本不重叠，具体光路原理参见附图，在此不再详述。并且，通过上述透镜50可以将多个上述发光器件11发出的光汇聚，并调整发光器件11发出的光的方向。

该实施方式中，所述多个隔离板相互交叉形成多个所述独立空间，通过所述多个独立空间将多个所述发光器件11分隔开，并将所述透镜50设置于所述隔离支架40一侧，对所述发光器件11发出的光的方向进行调整，每一发光器件11形成的一第一光照区域可以相互独立，且基本朝同一方向提供光照。

可选的，如图7至图9所示，所述光源控制装置还包括液晶显示板60，所述液晶显示板60设置于所述透镜50远离所述隔离支架40的一侧。

每一个所述发光器件11发出的光依次穿过所述隔离支架40、所述透镜50及所述液晶显示板60后，在所述液晶显示板60远离所述透镜50的一侧，形成所述第一光照区域。依照上述描述以及附图的隔离支架结构、透镜结构，一个发光器件11发出的光往图示方向照射，首先穿过隔离支架40中一个方形的独立空间，再到达透镜50，由透镜对光路方向进行调整，根据光学原理，光在穿出透镜50后，以基本统一的光路方向向液晶显示板60照射。在到达液晶显示板60后，液晶显示板60可以控制其中的液晶呈现透明状态，以供光照通过，在通过液晶显示板60后，在液晶显示板60远离所述透镜50的一侧对应形成一个基本是方形的第一光照区域。

可选的，如图9所示，所述每个发光器件形成的一第一光照区域为方形区域。

如图7至图9所示，多个发光器件11可以按矩阵式排列在灯板上，通过图8所示的隔离支架40将多个发光器件11相互分隔，每个发光器件11发出的光依次穿过上述隔离支架40、上述透镜50及上述液晶显示板60后，在上述液晶显示板60远离上述透镜50的一侧，形成如上所述的矩阵式排列的多个方形的第一光照区域61。

在对上述发光器件11形成的第一光照区域61的光强度进行检测时，可以控制上述多个发光器件11均处于发光状态，上述每个发光器件11发出的光依次穿过上述隔离支架40、上述透镜50及上述液晶显示板60后，在上述液晶显示板60远离上述透镜50的一侧，形成上述第一光照区域61。在对上述第一光照区域61检测时，可以使用上述检测单元20放置在上述第一光照区域上方，对上述第一光照区域61的光强度进行检测。并且，每一发光器件11发出的光穿过对应的上述独立空间、上述透镜50及上述液晶显示板60后，如图8所示，在上述液晶显示板60远离上述透镜50的一侧，形成上述第一光照区域61。多个隔离板相互交叉形成多个上述独立空间，每一发光器件11发出的光在上述液晶显示板60上形成的上述第一光照区域61之间，每一发光器件11发出的光穿过上述隔离支架40时，多个隔离板相互交叉每一发光器件11发出的光进行隔离，因而在上述液晶显示板60上形成的上述第一光照区域61之间基本互不重叠。

该实施方式中，通过调整对应所述每个光源组的输入电流的大小实现对每一第一光照区域61光强度的调节，且所述发光器件11发出的光依次穿过所述隔离支架40、所述透镜50及所述液晶显示板60后，在所述液晶显示板60远离所述透镜50的一侧，形成所述第一光照区域61，可以提高所述液晶显示板60上形成光源的亮度均匀性。

另外，上述光源控制装置应用于三维打印机上时，可以通过控制上述多个发光器件11在上述液晶显示板60远离上述透镜50的一侧，形成一层与该层打印形状对应的光照区域，实现该层打印材料的固化。并且，通过使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内，提高多个所述第一光照区域的光强度之间的均匀性，可以提高打印模型成型效果。

可选的，如图2所示，所述检测单元20包括：

多个光传感器21，设置于所述液晶显示板60远离所述透镜50的一侧，且所述光传感器21的数量与所述发光器件11的数量一一对应，每个所述光传感器21用于检测一所述第一光照区域的光强度。及

传感器数据处理芯片22，所述传感器数据处理芯片22的信号输入端电连接所述传感器的信号输出端，所述传感器数据处理芯片22的信号输出端电连接所述控制单元30的信号输入端，所述传感器数据处理芯片22用于获取所述多个光传感器21的信息，并反馈至所述控制单元30。

传感器数据处理芯片22通过信号输入端可以接收每个光传感器21发送的检测一上述第一光照区域的光强度信息，并将接收到的第一光照区域的光强度信息反馈至上述控制单元30，例如：以上述传感器数据处理芯片22的信号输入端为并行串口为例，上述传感器数据处理芯片22可以同时获取上述多个光传感器21传输的多个上述第一光照区域的光强度信息，具体的，也可以使用GW1N-LV1QN32芯片、STM32F103芯片或STC89S52芯片等作为上述传感器数据处理芯片22。

该实施方式中，多个光传感器21设置于所述液晶显示板60远离所述透镜50的一侧，且所述光传感器21的数量与所述发光器件11的数量一一对应，每个所述光传感器21用于检测一所述第一光照区域的光强度，所述传感器数据处理芯片22的信号输入端电连接所述传感器的信号输出端，所述传感器数据处理芯片22的信号输出端电连接所述控制单元30的信号输入端，所述传感器数据处理芯片22用于获取所述多个光传感器21的信息，并反馈至所述控制单元30，通过所述多个光传感器21对多个所述第一光照区域的光强度进行检测，并通过所述传感器数据处理芯片22将所述多个光传感器21获取的多个所述第一光照区域的光强度信息反馈至所述控制单元30，实现对每一所述第一光照区域的光强度的检测，提高所述光强度的检测精度。

可选的，如图2所示，所述传感器数据处理芯片22的信号输出端包括第一数据传输引脚和第一时钟引脚，所述控制单元30的信号输入端包括第二数据传输引脚和第二时钟引脚，所述传感器数据处理芯片22的第一数据传输引脚电连接所述控制单元30的第二数据传输引脚，所述传感器数据处理芯片22的第一时钟引脚电连接所述控制单元30的第二时钟引脚。

该实施方式中，所述传感器数据处理芯片22的第一数据传输引脚电连接所述控制单元30的第二数据传输引脚，所述传感器数据处理芯片22的第一时钟引脚电连接所述控制单元30的第二时钟引脚，所述传感器数据处理芯片22通过获取所述多个传感器检测的第一光照区域的光强度信息，并对信息进行相应处理后，反馈至所述控制单元。

如图1至图9所示，本申请实施例提供一种光源控制装置，包括：

多个光源组10，每个光源组10包括至少一个发光器件11，所述每个发光器件11形成一第一光照区域。

检测单元20，用于检测多个所述第一光照区域的光强度。及

控制单元30，所述控制单元30电连接所述检测单元20，所述控制单元30用于根据所述检测单元20检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组10的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内。

进一步的，所述控制单元30包括多个信号输出端，所述控制单元30的每一信号输出端分别电连接一个光源组10的输入端，所述每个光源组10的输出端电连接参考地，所述控制单元30的接地端电连接所述参考地，所述控制单元30的信号输入端电连接所述检测单元20的信号输出端，所述控制单元30的第一输入端用于电连接供电端(VCC)。

进一步的，所述控制单元30包括：

主控芯片31，所述主控芯片31的信号输入端电连接所述检测单元20的信号输出端，所述主控芯片31的第一输入端用于电连接所述供电端(VCC)。

及

多个恒流驱动电路32，所述多个恒流驱动电路32的数量与所述多个光源组10的数量一一对应，每个恒流驱动电路32的第一输入端用于电连接所述供电端(VCC)，所述每个恒流驱动电路32的受控端分别电连接所述主控芯片31的一个控制端，所述每个恒流驱动电路32的输出端对应电连接所述多个光源组10中的一个光源组10的输入端。

所述主控芯片31用于通过控制所述每个恒流驱动电路32，调整所述恒流驱动电路32对应的一个光源组10的输入电流的大小。

进一步的，所述每个光源组10中的发光器件11串联连接在一起。

所述每个光源组10的发光器件11包括发光二极管，所述每个发光器件11分别设置于一独立空间内，且多个所述独立空间为相互隔离的空间，以降低所述多个发光器件11之间的相互干扰。

所述检测单元20用于检测多个所述第一光照区域的光强度，所述控制单元30用于根据所述检测单元20检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组10的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于所述预设范围内。

进一步的，所述光源控制装置还包括：

隔离支架40，所述隔离支架40设置于多个所述发光器件11之间，所述隔离支架40包括多个隔离板，所述多个隔离板相互交叉形成多个所述独立空间。及

透镜50，所述透镜50设置于所述隔离支架40一侧，用于对所述发光器件11发出的光的方向进行调整。

进一步的，所述光源控制装置还包括液晶显示板60，所述液晶显示板60设置于所述透镜50远离所述隔离支架40的一侧。

所述发光器件11发出的光依次穿过所述隔离支架40、所述透镜50及所述液晶显示板60后，在所述液晶显示板60远离所述透镜50的一侧，形成所述第一光照区域。

进一步的，所述检测单元20包括：

多个光传感器21，设置于所述液晶显示板60远离所述透镜50的一侧，且所述光传感器21的数量与所述发光器件11的数量一一对应，每个所述光传感器21用于检测一所述第一光照区域的光强度。及

传感器数据处理芯片22，所述传感器数据处理芯片22的信号输入端电连接所述传感器的信号输出端，所述传感器数据处理芯片22的信号输出端电连接所述控制单元30的信号输入端，所述传感器数据处理芯片22用于获取所述多个光传感器21的信息，并反馈至所述控制单元30。

进一步的，所述传感器数据处理芯片22的信号输出端包括第一数据传输引脚和第一时钟引脚，所述控制单元30的信号输入端包括第二数据传输引脚和第二时钟引脚，所述传感器数据处理芯片22的第一数据传输引脚电连接所述控制单元30的第二数据传输引脚，所述传感器数据处理芯片22的第一时钟引脚电连接所述控制单元30的第二时钟引脚。

进一步的，所述每个发光器件形成的一第一光照区域为方形区域。

进一步的，本申请实施例还提供一种三维打印机，所述三维打印机包括上述光源控制装置。需要说明的是，本申请实施例所提供的三维打印机包括上述光源控制装置实施例中的全部技术特征，并能达到相同的技术效果，为避免重复，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。

上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。

Claims (10)

1.一种光源控制装置，其特征在于，包括：

多个光源组，每个光源组包括至少一个发光器件，所述每个发光器件形成一第一光照区域；

检测单元，用于检测多个所述第一光照区域的光强度；及

控制单元，所述控制单元电连接所述检测单元，所述控制单元用于根据所述检测单元检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于预设范围内。

2.如权利要求1所述的光源控制装置，其特征在于，所述控制单元包括多个信号输出端，所述控制单元的每一信号输出端分别电连接一个所述光源组的输入端，每个所述光源组的输出端电连接参考地，所述控制单元的接地端电连接所述参考地，所述控制单元的信号输入端电连接所述检测单元的信号输出端，所述控制单元的第一输入端用于电连接供电端。

3.如权利要求2所述的光源控制装置，其特征在于，所述控制单元包括：

主控芯片，所述主控芯片的信号输入端电连接所述检测单元的信号输出端，所述主控芯片的第一输入端用于电连接所述供电端；及

多个恒流驱动电路，所述多个恒流驱动电路的数量与所述多个光源组的数量一一对应，每个恒流驱动电路的第一输入端用于电连接所述供电端，所述每个恒流驱动电路的受控端分别电连接所述主控芯片的一个控制端，所述每个恒流驱动电路的输出端对应电连接所述多个光源组中的一个光源组的输入端；

所述主控芯片用于通过控制所述每个恒流驱动电路，调整所述恒流驱动电路对应的一个光源组的输入电流的大小。

4.如权利要求2所述的光源控制装置，其特征在于，所述每个光源组中的发光器件串联连接在一起；

所述每个光源组的发光器件包括发光二极管，所述每个发光器件分别设置于一独立空间内，且多个所述独立空间为相互隔离的空间，以降低所述多个发光器件之间的相互干扰；

所述检测单元用于检测多个所述第一光照区域的光强度，所述控制单元用于根据所述检测单元检测的所述第一光照区域的光强度，分别调整对应所述每个光源组的输入电流的大小，以使多个所述第一光照区域的光强度均处于所述预设范围内。

5.如权利要求4所述的光源控制装置，其特征在于，所述光源控制装置还包括：

隔离支架，所述隔离支架设置于多个所述发光器件之间，所述隔离支架包括多个隔离板，所述多个隔离板相互交叉形成多个所述独立空间；及

透镜，所述透镜设置于所述隔离支架一侧，用于对所述发光器件发出的光的方向进行调整。

6.如权利要求5所述的光源控制装置，其特征在于，所述光源控制装置还包括液晶显示板，所述液晶显示板设置于所述透镜远离所述隔离支架的一侧；

所述发光器件发出的光依次穿过所述隔离支架、所述透镜及所述液晶显示板后，在所述液晶显示板远离所述透镜的一侧，形成所述第一光照区域。

7.如权利要求6所述的光源控制装置，其特征在于，所述检测单元包括：

多个光传感器，设置于所述液晶显示板远离所述透镜的一侧，且所述光传感器的数量与所述发光器件的数量一一对应，每个所述光传感器用于检测一所述第一光照区域的光强度；及

传感器数据处理芯片，所述传感器数据处理芯片的信号输入端电连接所述传感器的信号输出端，所述传感器数据处理芯片的信号输出端电连接所述控制单元的信号输入端，所述传感器数据处理芯片用于获取所述多个光传感器的信息，并反馈至所述控制单元。

8.如权利要求7所述的光源控制装置，其特征在于，所述传感器数据处理芯片的信号输出端包括第一数据传输引脚和第一时钟引脚，所述控制单元的信号输入端包括第二数据传输引脚和第二时钟引脚，所述传感器数据处理芯片的第一数据传输引脚电连接所述控制单元的第二数据传输引脚，所述传感器数据处理芯片的第一时钟引脚电连接所述控制单元的第二时钟引脚。

9.如权利要求1所述的光源控制装置，其特征在于，所述每个发光器件形成的一第一光照区域为方形区域。

10.一种三维打印机，其特征在于，包括如权利要求1至9中任一项所述的光源控制装置。

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