CN215678746U - 一种雷达子阵件测试架装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框，设置在底梁架框下部的滚轮；设置在底梁架框侧面的螺旋吸盘柱；设置在底梁架框上的直线滑轨，直线滑轨上设置有能进行前后和左右调节的测试台架，测试台架上设置有能安装子阵件的框台组件，框台组件上设置有划区测试框组件。本实用新型能对雷达的子阵件件进行尺度及位移变换测试，能在较短的时间内对大型有源相控阵雷达的子阵件组件，进行单个或多组子阵件的功率、相频等性能的检测，并且能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，适合作为雷达子阵件测试装置推广使用。

Description

一种雷达子阵件测试架装置

技术领域

本实用新型涉及雷达的子阵件测试架装置领域，具体属于一种雷达子阵件测试架装置。

背景技术

雷达作为发现远距离空中目标的千里眼，是目前世界各国重要的军事技术设备。其中相控阵雷达作为雷达设备的重要族类，是近年来国家雷达技术发展的重要组成部分。众所周知，相控阵雷达利用STAP(空时二维自适应处理技术)处理非均匀杂波，其难点不在于所处理的杂波谱结构是线性的还是非线性的，而主要在于如何合理地选择杂波噪声协方差矩阵。而在雷达的实际制造过程中，真正实现选择杂波噪声协方差矩阵需要对雷达的重要组件子阵件进行综合性能测试。

在对雷达的子阵件进行性能测试时需要测试架装置，而普通的测试装置不能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置移动的调节，无法进行尺度及位移变换测试，并同时准确读出子阵件位移的具体数据。为此，本实用新型提供了一种雷达子阵件测试架装置。

实用新型内容

本实用新型提供一种雷达子阵件测试架装置，能够解决上述背景技术中提到的问题。本实用新型能对雷达的子阵件件进行尺度及位移变换测试，并且能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置移动的调节，适合作为雷达子阵件测试装置推广使用。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框，设置在底梁架框下部的滚轮，滚轮能使底梁架框推移移动方便；

设置在底梁架框侧面的螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框的高度，使底梁架框固定后上水平面平整一致性好；

设置在底梁架框上的直线滑轨；

还包括：设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架；

设置在测试台架上的框台组件，框台组件能安装待测试子阵件；

框台组件上还设置有划区测试框组件，划区测试框组件能对待测试子阵件进行上下和前后调节，并确保对待测试子阵件限位准确；

能进行前后和左右调节的测试台架、设置在测试台架上的框台组件以及框台组件上设置的划区测试框组件，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位。

为了实现能对测试台架整体进行前后及左右位置的移动调节，进一步地，所述底梁架框有底梁架框一、底梁架框二和底梁架框三，底梁架框一上左右两侧水平纵行设置有直线滑轨，底梁架框二通过滑块设置在底梁架框一的直线滑轨上，底梁架框二能在底梁架框一上前后移动，底梁架框二上前后两侧水平横行设置有直线滑轨，底梁架框三通过滑块设置在底梁架框二的直线滑轨上，底梁架框三能在底梁架框二上左右移动；

所述底梁架框一下部设置有滚轮，滚轮上设置有定位卡，定位卡能锁紧或松开滚轮，滚轮能使底梁架框一推移移动方便；

所述底梁架框一的侧面设置有螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框一与接触地面之间的高度，使底梁架框一固定后上水平面平整一致性好；

所述底梁架框一的右端外侧设置有手轮装置一，通过手轮装置一的转动能使底梁架框二在底梁架框一上进行前后移动；

为了实现准确读取测试台架前后移动调节位置的数据，进行前后尺度及位移变换测试，优选地，所述底梁架框一的外侧设置有刻度尺一，刻度尺一能准确测量底梁架框二通过手轮装置一转动在底梁架框一上前后移动的具体尺度。

为了准确读取测试台架左右移动调节位置的数据，进行左右尺度及位移变换测试，进一步地，所述底梁架框二上设置有手轮装置二，通过手轮装置二的转动能使底梁架框三在底梁架框二上进行左右移动；

所述底梁架框二的外侧设置有刻度尺二，刻度尺二能准确测量底梁架框三通过手轮装置二转动在底梁架框二上左右移动的具体尺度；

所述底梁架框三上设置有测试台架，测试台架能与底梁架框三一起移动。

为了实现能对测试台架整体进行上下位置的移动调节，进行上下尺度及位移变换测试，进一步地，所述测试台架的正侧面设置有纵立框架，纵立框架上纵立设置有刻度尺三，纵立框架上纵立设置有直线滑轨，框台组件设置在纵立框架的直线滑轨上，纵立框架的上部外侧设置有手轮装置三，通过手轮装置三的转动能使框台组件在纵立框架上进行上下移动，框台组件的上下移动能使设置在框台组件上的待测试子阵件一起进行上下移动。

为了使子阵件能装在测试台架的框台组件上稳定固定，优选地，所述框台组件有滑块、安装板和子阵定位板，滑块与安装板连接，滑块装在纵立框架上的直线滑轨上，通过手轮装置三转动，滑块和安装板一起在直线滑轨上进行上下移动，子阵定位板设在安装板上，子阵定位板上能固定安装待测试的子阵件。

与已有技术相比，本实用新型提供的一种雷达子阵件测试架装置，其有益效果如下：

1，该雷达子阵件测试架装置，通过设置在底梁架框一上的底梁架框二、设置在底梁架框二上的底梁架框三、匹配对应的直线滑轨和滑块，以及能转动调节位移的手轮装置一和手轮装置二，使设置在底梁架框三上的测试台架，能通过转动手轮装置一使底梁架框二在底梁架框一上进行前后移动，测试台架、底梁架框三和底梁架框二三者一起在底梁架框一上进行前后移动调节，进而实现待测试子阵件的前后移动调节；通过手轮装置二的转动使底梁架框三在底梁架框二上进行左右移动，测试台架和底梁架框三一起能在底梁架框二上进行左右移动调节，进而实现待测试子阵件的左右移动调节。

2，该雷达子阵件测试架装置，通过设置在测试台架正侧面的纵立框架，匹配对应的直线滑轨和滑块，以及能转动调节位移的手轮装置三，通过手轮装置三的转动能使框台组件在纵立框架上进行上下移动，实现设置在框台组件上的待测试子阵件一起进行上下移动目的；

3，该雷达子阵件测试架装置，通过设置在底梁架框一外侧的刻度尺一，能准确测量底梁架框二通过手轮装置一转动在底梁架框一上前后移动的具体尺度，进而测量底梁架框二上一起移动的底梁架框三、测试台架和测试台架上的待测试子阵件的前后移动尺度；通过设置在底梁架框二外侧的刻度尺二，能准确测量底梁架框三通过手轮装置二转动在底梁架框二上左右移动的具体尺度，进而测量底梁架框三上一起移动的测试台架和测试台架上的待测试子阵件的左右移动尺度；通过纵立设置在纵立框架上的刻度尺三，能准确测量手轮装置三的转动使框台组件在纵立框架上进行上下移动的具体尺度，进而测量设置在框台组件上一起移动的待测试子阵件的上下移动尺度，并同时准确读出子阵件位移的具体数据。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构立体示意图；

图2为本实用新型提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构右侧示意图；

图3为本实用新型提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构正面示意图；

图4为本实用新型提出的一种雷达子阵件测试架装置整体结构后侧示意图。

备注说明

1.底梁架框；101.底梁架框一；102.底梁架框二；103.底梁架框三；2.螺旋吸盘柱；3.滚轮；4.测试台架；5.手轮装置一；501.手轮装置二；502.手轮装置三；6.刻度尺一；601.刻度尺三；602.刻度尺二；7.框台组件；701.安装板；702.子阵定位板；8.划区测试框组件；9.纵立框架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

下面结合实施例和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

参见附图，一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框1，设置在底梁架框1下部的滚轮3，滚轮3能使底梁架框1推移移动方便；

设置在底梁架框1侧面的螺旋吸盘柱2，螺旋吸盘柱2能上下调节底梁架框1的高度，使底梁架框1固定后上水平面平整一致性好；

设置在底梁架框1上的直线滑轨；

还包括：设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架4；

设置在测试台架4上的框台组件7，框台组件7能安装待测试子阵件；

框台组件7上还设置有划区测试框组件8，划区测试框组件8能对待测试子阵件进行上下和前后调节，并确保对待测试子阵件限位准确；

能进行前后和左右调节的测试台架4、设置在测试台架4上的框台组件7以及框台组件7上设置的划区测试框组件8，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位。

为了实现能对测试台架4整体进行前后及左右位置的移动调节，进一步地，所述底梁架框1有底梁架框一101、底梁架框二102和底梁架框三103，底梁架框一101上左右两侧水平纵行设置有直线滑轨，底梁架框二102通过滑块设置在底梁架框一101的直线滑轨上，底梁架框二102能在底梁架框一101上前后移动，底梁架框二102上前后两侧水平横行设置有直线滑轨，底梁架框三103通过滑块设置在底梁架框二102的直线滑轨上，底梁架框三103能在底梁架框二102上左右移动；

所述底梁架框一101下部设置有滚轮3，滚轮3上设置有定位卡，定位卡能锁紧或松开滚轮3，滚轮3能使底梁架框一101推移移动方便；

所述底梁架框一101的侧面设置有螺旋吸盘柱2，螺旋吸盘柱2能上下调节底梁架框一101与接触地面之间的高度，使底梁架框一101固定后上水平面平整一致性好；

所述底梁架框一101的右端外侧设置有手轮装置一5，通过手轮装置一5的转动能使底梁架框二102在底梁架框一101上进行前后移动；

为了实现准确读取测试台架4前后移动调节位置的数据，进行前后尺度及位移变换测试，优选地，所述底梁架框一101的外侧设置有刻度尺一6，刻度尺一6能准确测量底梁架框二102通过手轮装置一5转动在底梁架框一101上前后移动的具体尺度。

为了准确读取测试台架4左右移动调节位置的数据，进行左右尺度及位移变换测试，进一步地，所述底梁架框二102上设置有手轮装置二501，通过手轮装置二501的转动能使底梁架框三103在底梁架框二102上进行左右移动；

所述底梁架框二102的外侧设置有刻度尺二602，刻度尺二602能准确测量底梁架框三103通过手轮装置二501转动在底梁架框二102上左右移动的具体尺度；

所述底梁架框三103上设置有测试台架4，测试台架4能与底梁架框三103一起移动。

为了实现能对测试台架4整体进行上下位置的移动调节，进行上下尺度及位移变换测试，进一步地，所述测试台架4的正侧面设置有纵立框架9，纵立框架9上纵立设置有刻度尺三601，纵立框架9上纵立设置有直线滑轨，框台组件7设置在纵立框架9的直线滑轨上，纵立框架9的上部外侧设置有手轮装置三502，通过手轮装置三502的转动能使框台组件7在纵立框架9上进行上下移动，框台组件7的上下移动能使设置在框台组件7上的待测试子阵件一起进行上下移动。

为了使子阵件能装在测试台架7的框台组件7上稳定固定，优选地，所述框台组件7有滑块、安装板701和子阵定位板702，滑块与安装板701连接，滑块装在纵立框架9上的直线滑轨上，通过手轮装置三502的转动，滑块和安装板701一起在直线滑轨上进行上下移动，子阵定位板702设在安装板701上，子阵定位板702上能固定安装待测试的子阵件。

实施例1：

参照图1，一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框1，设置在底梁架框1下部的滚轮3，滚轮3能使底梁架框1推移移动方便；设置在底梁架框1侧面的螺旋吸盘柱2，螺旋吸盘柱2能上下调节底梁架框1的高度，使底梁架框1固定后上水平面平整一致性好；设置在底梁架框1上的直线滑轨；还包括：

设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架4；

设置在测试台架4上的框台组件7，框台组件7能安装待测试子阵件；

框台组件7上还设置有划区测试框组件8，划区测试框组件8能对待测试子阵件进行上下和前后调节，并确保对待测试子阵件限位准确；

能进行前后和左右调节的测试台架4、设置在测试台架4上的框台组件7以及框台组件7上设置的划区测试框组件8，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位。

实施例2：

参照图1、图2、图3和图4，一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框1，设置在底梁架框1下部的滚轮3，滚轮3能使底梁架框1推移移动方便；设置在底梁架框1侧面的螺旋吸盘柱2，螺旋吸盘柱2能上下调节底梁架框1的高度，使底梁架框1固定后上水平面平整一致性好；设置在底梁架框1上的直线滑轨；

还包括：设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架4；

设置在测试台架4上的框台组件7，框台组件7能安装待测试子阵件；

框台组件7上还设置有划区测试框组件8，划区测试框组件8能对待测试子阵件进行上下和前后调节，并确保对待测试子阵件限位准确；

能进行前后和左右调节的测试台架4、设置在测试台架4上的框台组件7以及框台组件7上设置的划区测试框组件8，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位；

底梁架框1有底梁架框一101、底梁架框二102和底梁架框三103，底梁架框一101上左右两侧水平纵行设置有直线滑轨，底梁架框二102通过滑块设置在底梁架框一101的直线滑轨上，底梁架框二102能在底梁架框一101上前后移动，底梁架框二102上前后两侧水平横行设置有直线滑轨，底梁架框三103通过滑块设置在底梁架框二102的直线滑轨上，底梁架框三103能在底梁架框二102上左右移动；底梁架框一101下部设置有滚轮3，滚轮3上设置有定位卡，定位卡能锁紧或松开滚轮3，滚轮3能使底梁架框一101推移移动方便；底梁架框一101的侧面设置有螺旋吸盘柱2，螺旋吸盘柱2能上下调节底梁架框一101与接触地面之间的高度，使底梁架框一101固定后上水平面平整一致性好；底梁架框一101的右端外侧设置有手轮装置一5，通过手轮装置一5的转动能使底梁架框二102在底梁架框一101上进行前后移动；底梁架框一101的外侧设置有刻度尺一6，刻度尺一6能准确测量底梁架框二102通过手轮装置一5转动在底梁架框一101上前后移动的具体尺度。

底梁架框二102上设置有手轮装置二501，通过手轮装置二501的转动能使底梁架框三103在底梁架框二102上进行左右移动；底梁架框二102的外侧设置有刻度尺二602，刻度尺二602能准确测量底梁架框三103通过手轮装置二501转动在底梁架框二102上左右移动的具体尺度；底梁架框三103上设置有测试台架4，测试台架4能与底梁架框三103一起移动；

测试台架4的正侧面设置有纵立框架9，纵立框架9上纵立设置有刻度尺三601，纵立框架9上纵立设置有直线滑轨，框台组件7设置在纵立框架9的直线滑轨上，纵立框架9的上部外侧设置有手轮装置三502，通过手轮装置三502的转动能使框台组件7在纵立框架9上进行上下移动，框台组件7的上下移动能使设置在框台组件7上的待测试子阵件一起进行上下移动。

实施例3：

参照图1和图2，一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框1，设置在底梁架框1下部的滚轮3，滚轮3能使底梁架框1推移移动方便；设置在底梁架框1侧面的螺旋吸盘柱2，螺旋吸盘柱2能上下调节底梁架框1的高度，使底梁架框1固定后上水平面平整一致性好；设置在底梁架框1上的直线滑轨；还包括：

设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架4；

设置在测试台架4上的框台组件7，框台组件7能安装待测试子阵件；

框台组件7上还设置有划区测试框组件8，划区测试框组件8能对待测试子阵件进行上下和前后调节，并确保对待测试子阵件限位准确；

能进行前后和左右调节的测试台架4、设置在测试台架4上的框台组件7以及框台组件7上设置的划区测试框组件8，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位；框台组件7有滑块、安装板701和子阵定位板702，滑块与安装板701连接，滑块装在纵立框架9上的直线滑轨上，通过手轮装置三502的转动，滑块和安装板701一起在直线滑轨上进行上下移动，子阵定位板702设在安装板701上，子阵定位板702上能固定安装待测试的子阵件。

本实用新型能对雷达的子阵件件进行尺度及位移变换测试，并且能对测试装置上的子阵件进行前后、左右及上下位置移动的调节，适合作为雷达子阵件测试装置推广使用。

以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种雷达子阵件测试架装置，包括底梁架框，设置在底梁架框下部的滚轮，滚轮能使底梁架框推移移动方便；

设置在底梁架框侧面的螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框的高度，使底梁架框固定后上水平面平整一致性好；

设置在底梁架框上的直线滑轨；

其特征在于，还包括：设置在直线滑轨上能进行前后和左右调节的测试台架；

设置在测试台架上的框台组件，框台组件能在测试台架上进行上下移动，所述框台组件上能装待测试子阵件；

框台组件上还设置有划区测试框组件；

能进行前后和左右调节的测试台架、设置在测试台架上的框台组件以及框台组件上设置的划区测试框组件，能对待测试的子阵件进行前后、左右及上下位置的调节，并确保对待测试子阵件的稳定限位。

2.根据权利要求1所述的一种雷达子阵件测试架装置，其特征在于所述底梁架框有底梁架框一、底梁架框二和底梁架框三，底梁架框一上左右两侧水平纵行设置有直线滑轨，底梁架框二通过滑块设置在底梁架框一的直线滑轨上，底梁架框二能在底梁架框一上前后移动，底梁架框二上前后两侧水平横行设置有直线滑轨，底梁架框三通过滑块设置在底梁架框二的直线滑轨上，底梁架框三能在底梁架框二上左右移动；

所述底梁架框一下部设置有滚轮，滚轮上设置有定位卡，定位卡能锁紧或松开滚轮，滚轮能使底梁架框一推移移动方便；

所述底梁架框一的侧面设置有螺旋吸盘柱，螺旋吸盘柱能上下调节底梁架框一与接触地面之间的高度，使底梁架框一固定后上水平面平整一致性好；

所述底梁架框一的右端外侧设置有手轮装置一，通过手轮装置一的转动能使底梁架框二在底梁架框一上进行前后移动；

所述底梁架框一的外侧设置有刻度尺一，刻度尺一能准确测量底梁架框二通过手轮装置一转动在底梁架框一上前后移动的具体尺度。

3.根据权利要求2所述的一种雷达子阵件测试架装置，其特征在于所述底梁架框二上设置有手轮装置二，通过手轮装置二的转动能使底梁架框三在底梁架框二上进行左右移动；

所述底梁架框二的外侧设置有刻度尺二，刻度尺二能准确测量底梁架框三通过手轮装置二转动在底梁架框二上左右移动的具体尺度；

所述底梁架框三上设置有测试台架，测试台架能与底梁架框三一起移动。

4.根据权利要求1所述的一种雷达子阵件测试架装置，其特征在于所述测试台架的正侧面设置有纵立框架，纵立框架上纵立设置有刻度尺三，纵立框架上纵立设置有直线滑轨，框台组件设置在纵立框架的直线滑轨上，纵立框架的上部外侧设置有手轮装置三，通过手轮装置三的转动能使框台组件在纵立框架上进行上下移动。

5.根据权利要求1所述的一种雷达子阵件测试架装置，其特征在于所述框台组件有滑块、安装板和子阵定位板，滑块与安装板连接，滑块装在纵立框架上的直线滑轨上，通过手轮装置三转动，滑块和安装板一起在直线滑轨上进行上下移动，子阵定位板设在安装板上，子阵定位板上能固定安装待测试的子阵件。

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