CN215599306U - 用于检测芯片闩锁效应的测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了用于检测芯片闩锁效应的测试系统，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；当进行检测待测芯片闩锁效应测试时，使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应，使得该测试系统具有快速、易实现，测试过程简化且低成本的特点。

Description

用于检测芯片闩锁效应的测试系统

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片可靠性测试领域技术领域，尤其涉及用于检测芯片闩锁效应的测试系统。

背景技术

随着电子技术的发展，电子电路的集成度越来越高，相关的电压瞬变会引起半导体器件失效，即闩锁效应(latch-up)。闩锁效应可使得器件在电源与地之间形成短路，造成大电流、EOS和器件损坏，是影响器件可靠性的一个潜在的严重问题。所以，通过闩锁测试评价芯片的抗闩锁能力，对于保证芯片的质量具有很重要的意义。本专利针对现有测试过程中存在的问题，提出了一种自主摸底测试的方案。

现有的测试闩锁效应的方法主要是委外第三方检测机构利用MK2机台进行测试。具体过程为：准备好足够数量的样品，进行闩锁测试前的电性能测试及IV测试，这个过程需要1天时间；然后准备针对此产品的闩锁测试方案发给第三方检测机构，之后将样品寄出到第三方检测机构，第三方检测机构收到样品需要1天时间；第三方检测机构收到样品后需要准备测试环境及测试脚本，然后利用MK2机台进行闩锁测试并测试前后的IV曲线，这个过程需要1天时间；之后第三方检测机构需要1天时间将样品寄回给委托方；委托方收到样品后进行电性能测试及IV曲线需要1天时间，最后汇总结果。

从现有的测试闩锁效应解决方案流程图中可看到，整个测试需要5天时间，如果第三方检测机构委托任务较多时测试时间还要延长，可能10天也无法完成测试。而且除时间较长之外，每次测试之前需要编写脚本，并且测试越细脚本越复杂时间越长，而由此产生的费用极其昂贵。因此，现有的闩锁测试方案时间长、繁琐且费用昂贵。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的不足，本实用新型的目的是提供用于检测芯片闩锁效应的测试系统，该测试系统包括稳压电源、PCB板、万用表和待测芯片，使用万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片的电流值，使得待测芯片的闩锁效应测试具有快速、便捷且易实现的特点。

为了达到上述技术目的，本实用新型所采用的技术方案是：

一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；

稳定电源通过其电源接口和地接口连接PCB板上的稳压电源电压装置，稳压电源电压装置分别向待测设备插座、电信号脉冲产生装置和触发开关提供电源；

触发开关控制稳压电源提供电源，并选择待测芯片待测PIN；

待测设备插座连接待测芯片，万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片电源管脚的电流值。

优选地，所述稳压电源电压装置包括稳压电源输入接口和脉冲电压输入接口，稳压电源输入接口与脉冲电压输入接口相互隔离开。

优选地，所述稳压电源输入接口连接稳定电源，输出电源。

优选地，所述脉冲电压输入接口连接稳定电源，输出脉冲电压信号。

优选地，所述脉冲电压输入接口连接万用表，并使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值。

优选地，所述触发开关包括第一触发开关和第二触发开关。

优选地，所述第一触发开关连接电信号脉冲产生装置，调节脉冲电压信号。

优选地，所述第二触发开关作为选择开关，连接待测设备插座，用于选择待测芯片待测PIN。

本实用新型由于采用了上述用于检测芯片闩锁效应的测试系统，所获得的有益效果是，该用于检测芯片闩锁效应的测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应，使得待测芯片的闩锁效应测试具有快速、易实现，测试过程简化且低成本的特点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1是本实用新型具体实施的用于检测芯片闩锁效应的测试系统框图。

图2是本实用新型具体实施的稳压电源电压装置结构连接图。

图3是本实用新型具体实施的用于检测芯片闩锁效应的测试系统电路结构图。

图4是本实用新型具体实施的用于检测芯片闩锁效应的测试方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

参看图1，为本实用新型具体实施的用于检测芯片闩锁效应的测试系统框图。本具体实施例中，该用于检测芯片闩锁效应的测试系统包括稳压电源100、PCB板200、待测芯片300和万用表400，其中，PCB板200包括稳压电源电压装置210、电信号脉冲产生装置220、待测设备插座230和触发开关240；

稳定电源100通过其电源接口VCC和地接口GND连接PCB板200上的稳压电源电压装置210，稳压电源电压装置210分别向电信号脉冲产生装置220、待测设备插座230和触发开关240提供电源；

触发开关240控制稳压电源100提供电源，并选择待测芯片300待测PIN；

待测设备插座230连接待测芯片300，万用表400串联连接待测芯片300的电源管脚310，测试待测芯片300电源管脚310的电流值。

参看图2，为本实用新型具体实施的稳压电源电压装置结构连接图。本具体实施例中，所述稳压电源电压装置210包括稳压电源输入接口2101和脉冲电压输入接口2102，稳压电源输入接口2101与脉冲电压输入接口2102相互隔离开。所述稳压电源输入接口2101连接稳定电源100，输出电源。所述脉冲电压输入接口2102连接稳定电源100，输出脉冲电压信号。所述脉冲电压输入接口2102连接万用表400，当进行检测待测芯片闩锁效应测试时，使用所述万用表400测量脉冲电压输入接口的触发电压值，能够判断待测芯片300的抗闩锁能力。

参看图3，为本实用新型具体实施的用于检测芯片闩锁效应的测试系统电路结构图。本具体实施例中，所述触发开关240包括第一触发开关2401和第二触发开关2402。所述第一触发开关2401连接电信号脉冲产生装置220，调节脉冲电压信号。所述第二触发开关2402作为选择开关，连接待测设备插座230，用于选择待测芯片300待测PIN。

参看图4，为本实用新型具体实施的用于检测芯片闩锁效应的测试方法流程图。本具体实施例中，所述用于检测芯片闩锁效应的测试方法具体步骤如下：

步骤一S401、搭建测试环境，将稳压电源100、PCB板200和万用表400连接起来。

步骤二S402、使用万用表400串联连接待测芯片300的电源管脚310。

步骤三S403、将待测芯片300插入PCB板200上的待测设备插座230，选择待测PIN。

步骤四S404、将稳定电源100接通稳压电源输入接口2101和脉冲电压输入接口2102，调整待测芯片300工作电压和脉冲电压信号，拨动第一触发开关2401进行脉冲电压信号触发。

步骤五S405、使用万用表400测量待测芯片300电源管脚310的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应。

步骤六S406、如果触发的脉冲电压信号发生闩锁效应，使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值，并判断待测芯片300的抗闩锁能力；触发电压值是指拨动第一触发开关2401时，触发脉冲电压信号，使用万用表400连接脉冲电压输入接口2102，并测量脉冲电压输入接口2102的电压值，并在万用表上显示出来。

步骤七S407、如果触发的脉冲电压信号未发生闩锁效应，则逐步提高脉冲电压信号的触发电压值，直到发生闩锁效应。

步骤八S408、重复步骤四～步骤七，直至完成待测芯片300的电性能测试。

以上对本实用新型所提供的一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统及其方法，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素，或者是还包括为这些过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (8)

1.一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；

稳定电源通过其电源接口和地接口连接PCB板上的稳压电源电压装置，稳压电源电压装置分别向待测设备插座、电信号脉冲产生装置和触发开关提供电源；

触发开关控制稳压电源提供电源，并选择待测芯片待测PIN；

待测设备插座连接待测芯片，万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片电源管脚的电流值。

2.如权利要求1所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述稳压电源电压装置包括稳压电源输入接口和脉冲电压输入接口，稳压电源输入接口与脉冲电压输入接口相互隔离开。

3.如权利要求2所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述稳压电源输入接口连接稳定电源，输出电源。

4.如权利要求2所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压输入接口连接稳定电源，输出脉冲电压信号。

5.如权利要求4所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压输入接口连接万用表，并使用万用表测量脉冲电压输入接口的触发电压值。

6.如权利要求1所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述触发开关包括第一触发开关和第二触发开关。

7.如权利要求6所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述第一触发开关连接电信号脉冲产生装置，调节脉冲电压信号。

8.如权利要求6所述的用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述第二触发开关作为选择开关，连接待测设备插座，用于选择待测芯片待测PIN。

Images