CN215493135U - 一种用于纺织品光谱分析的辅助装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种用于纺织品光谱分析的辅助装置,包括:底座,所述底座包括设于所述底座的上表面且朝下凹陷的定位腔和设于所述底座的上表面且朝下凹陷的可供手指通过的取放槽,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通;样品杯,其放置于所述定位腔内,且所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度,所述样品杯的上表面朝下凹陷形成有样品容置腔。本实用新型可用于纺织品的光谱分析。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种纺织品光谱分析领域,更确切地说是一种用于纺织品光谱分析的辅助装置。
背景技术
在鉴定服装等纺织品的成分的时候,通常都是对纺织品进行光谱分析,根据光谱来确定纺织品的成分,如纺织品是棉还是纤维组成等。在做光谱分析的时候,需要将纺织品样品打碎,再用光谱分析仪的检测头对打碎的样品进行检测分析,以获取样品的光谱曲线。现有技术在做检测分析时,通常将打碎的纺织品样品直接倒在桌上或纸张上,再用光谱分析仪的检测头对样品进行检测,不仅会因打碎的样品弄脏场地,也不方便光谱分析仪的检测头的放置。
实用新型内容
本实用新型为了解决现有技术纺织品在做光谱分析时,通常将打碎的纺织品样品直接倒在桌上或纸张上,再用光谱分析仪的检测头对样品进行检测,不仅会因打碎的样品弄脏场地,也不方便光谱分析仪的检测头的放置的技术问题,提供了一种用于纺织品光谱分析的辅助装置。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为设计一种用于纺织品光谱分析的辅助装置,包括:
底座,所述底座包括设于所述底座的上表面且朝下凹陷的定位腔和设于所述底座的上表面且朝下凹陷的可供手指通过的取放槽,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通;
样品杯,其放置于所述定位腔内,且所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度,所述样品杯的上表面朝下凹陷形成有样品容置腔。
所述样品杯的高度与所述定位腔的高度相同。
所述取放槽穿透所述底座的侧面。
所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括设于所述底座上的用于定位光谱分析仪检测头的定位装置。
所述定位装置包括:
定位槽,其包括至少三个,所述定位槽设于所述底座侧面,其环绕所述定位腔设置且所述定位槽的上端贯穿所述底座的上表面;
定位部,其下端定位于所述定位槽内且可相对所述定位槽移动,所述定位部的上端伸出所述定位槽。
所述定位槽呈“凸”字型;所述定位部呈“T”型,其包括位于底端的定位块和设于所述定位块上方的定位柱。
所述定位柱呈圆柱形。
所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括设于所述底座上表面且位于所述定位槽一侧的刻度尺,所述刻度尺以所述定位腔的中心为基准。
所述底座的上表面还设有与所述定位槽平行设置且朝下穿透至所述定位槽底部的固定槽。
所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括套于光谱分析仪检测头底部外侧的配重块,所述配重块的中央设置有通孔。
本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置通过设置底座和样品杯,并在底座上表面设置定位腔和可供手指通过的取放槽,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通,所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度。从而在使用时,可将打碎的纺织品样品放置于样品杯中,然后用手将样本杯放置于底座的定位腔中,再将光谱分析仪的检测头放置于底座上对准定位腔,即可进行检测。检测完后,拿开检测头,手指放入取放槽,捏住取放杯,即可方便的将样品杯取出。相比现有技术,不仅不会弄脏工作场地,也非常方便光谱分析仪检测头的放置。
附图说明
下面结合实施例和附图对本实用新型进行详细说明,其中:
图1是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例一的结构图;
图2是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例一的分解图;
图3是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例一的应用图;
图4是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例二的结构图;
图5是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例二的分解图;
图6是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例二的应用图;
图7是本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置实施例三的应用图;
图8是本实用新型检测头与配重块的结构图;
图9是本实用新型检测头与配重块的分解图。
具体实施方式
下面结合附图进一步阐述本实用新型的具体实施方式:
实施例一
请参见图1至图3。本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置包括底座1和样品杯2。其中:
底座1包括设于所述底座的上表面且朝下凹陷的定位腔11和设于所述底座的上表面且朝下凹陷的可供手指通过的取放槽12,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通。取放槽的宽度应大于手指的宽度,以便于手指通过。
样品杯2放置于所述定位腔内,且所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度。所述样品杯2的上表面朝下凹陷形成有样品容置腔21。样品容置腔21 用于放置打碎的纺织品样品。
在本具体实施例中,所述样品杯的高度与所述定位腔的高度相同,从而使样品杯放置于定位腔内时,样品杯的上表面与底座的上表面持平,方便光谱分析仪的检测头9的放置。
为了方便手指拿放样品杯,所述取放槽12穿透所述底座的侧面。
本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置通过设置底座和样品杯,并在底座上表面设置定位腔和可供手指通过的取放槽,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通,所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度。从而在使用时,可将打碎的纺织品样品放置于样品杯中,然后用手将样本杯放置于底座的定位腔中,再将光谱分析仪的检测头放置于底座上对准定位腔,即可进行检测。检测完后,拿开检测头,手指放入取放槽,捏住取放杯,即可方便的将样品杯取出。相比现有技术,不仅不会弄脏工作场地,也非常方便光谱分析仪检测头的放置。
实施例二
请参见图4至图6。本实施例与实施例一的区别在于:本实施例还包括定位装置3。
本实用新型用于纺织品光谱分析的辅助装置包括底座1、样品杯2和定位装置3。其中:
底座1包括设于所述底座的上表面且朝下凹陷的定位腔11和设于所述底座的上表面且朝下凹陷的可供手指通过的取放槽12,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通。取放槽的宽度应大于手指的宽度,以便于手指通过。
样品杯2放置于所述定位腔内,且所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度。所述样品杯2的上表面朝下凹陷形成有样品容置腔21。样品容置腔21 用于放置打碎的纺织品样品。
在本具体实施例中,所述样品杯的高度与所述定位腔的高度相同,从而使样品杯放置于定位腔内时,样品杯的上表面与底座的上表面持平,方便光谱分析仪的检测头9的放置。
为了方便手指拿放样品杯,所述取放槽12穿透所述底座的侧面。
定位装置3设于所述底座上,用于定位光谱分析仪检测头。定位装置主要便于使用时,将光谱分析仪的检测头定位于底座上,使光谱分析仪的检测头能方便的防御底座的正确位置,使检测头的光学窗口正对定位腔。
在本具体实施例中,所述定位装置3包括定位槽31和定位部32。其中:
定位槽31包括至少三个。在本具体实施例中,定位槽包括四个,对称设置于定位腔的四周。所述定位槽设于所述底座侧面,其环绕所述定位腔设置且所述定位槽的上端贯穿所述底座的上表面。在本具体实施例中,所述定位槽呈“凸”字型。
定位部32的下端定位于所述定位槽内且可相对所述定位槽移动,所述定位部的上端伸出所述定位槽。在本具体实施例中,所述定位部32呈“T”型,其包括位于底端的定位块321 和设于所述定位块上方的定位柱322。定位块插于定位槽中,定位柱伸出所述定位槽,用于定位检测头。
由于检测头可能是方形或者圆形,为了提高通用性,定位各种形状的检测头,所述定位柱呈圆柱形,从而是的检测头在被定位时,与定位柱之间均为线接触而不是面接触。
为了使检测头在定位时,使检测头的光学窗口正对定位腔,所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括设于所述底座上表面且位于所述定位槽一侧的刻度尺33,所述刻度尺以所述定位腔的中心为基准。从而可精确调整各定位部的位置,使各定位柱相对定位腔的中心的距离相同。
定位部可通过螺钉固定在定位槽处,在本具体实施例中,所述底座的上表面还设有与所述定位槽平行设置且朝下穿透至所述定位槽底部的固定槽34,从而可将螺钉插于固定槽内,使螺钉可沿固定槽调整固定位置。需要特别说明的是,定位部伸出底座上表面的高度不宜过高,以免影响检测头的放置与拿开。优选定位部的定位呈半圆球形,半圆球形的底部刚露出底座的上表面即可。
使用时,可先根据检测头9的尺寸将定位部固定到定位槽的适当位置,再将打碎的纺织品样品放置于样品杯中,然后用手将样本杯放置于底座的定位腔中,再将光谱分析仪的检测头放置于底座上由所述定位柱限定的空间内,即可对准定位腔,进行检测。检测完后,拿开检测头,手指放入取放槽,捏住取放杯,即可方便的将样品杯取出。相比现有技术,不仅不会弄脏工作场地,也非常方便光谱分析仪检测头的放置。
实施例三
请一并参见图7至图9。该实施例与实施例一和实施例二的区别在于:在光谱分析仪的检测头9上加了一个配重块8。
由于检测头本身无法正立,因此,检测时,需要用手扶持才能正立进行检测。设置配重块的目的在于,可使检测头在无外力作用下可正立在桌面和底座上。
配重块8套于所述光谱分析仪检测头9底部外侧,所述配重块的中央设置有通孔81。通孔主要用于与检测头9的光学窗口正对,以避免阻挡检测头的光线。
检测时,可直接将检测头放置在底座1上,检测头即可直立在底座上,无需握持,避免人握持时带来的抖动及角度不正等问题。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于包括:
底座,所述底座包括设于所述底座的上表面且朝下凹陷的定位腔和设于所述底座的上表面且朝下凹陷的可供手指通过的取放槽,所述取放槽位于定位腔的侧面且与所述定位腔相通;
样品杯,其放置于所述定位腔内,且所述样品杯置于所述定位腔时,其上端的高度高于所述取放槽底部的高度,所述样品杯的上表面朝下凹陷形成有样品容置腔。
2.根据权利要求1所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述样品杯的高度与所述定位腔的高度相同。
3.根据权利要求1所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述取放槽穿透所述底座的侧面。
4.根据权利要求1所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括设于所述底座上的用于定位光谱分析仪检测头的定位装置。
5.根据权利要求4所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述定位装置包括:
定位槽,其包括至少三个,所述定位槽设于所述底座侧面,其环绕所述定位腔设置且所述定位槽的上端贯穿所述底座的上表面;
定位部,其下端定位于所述定位槽内且可相对所述定位槽移动,所述定位部的上端伸出所述定位槽。
6.根据权利要求5所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述定位槽呈“凸”字型;所述定位部呈“T”型,其包括位于底端的定位块和设于所述定位块上方的定位柱。
7.根据权利要求6所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述定位柱呈圆柱形。
8.根据权利要求5所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括设于所述底座上表面且位于所述定位槽一侧的刻度尺,所述刻度尺以所述定位腔的中心为基准。
9.根据权利要求6所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述底座的上表面还设有与所述定位槽平行设置且朝下穿透至所述定位槽底部的固定槽。
10.根据权利要求1所述的用于纺织品光谱分析的辅助装置,其特征在于:所述用于纺织品光谱分析的辅助装置还包括套于光谱分析仪检测头底部外侧的配重块,所述配重块的中央设置有通孔。
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