CN215448886U - 谷物粒检查器 - Google Patents

Abstract

本实用新型的课题在于提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器，谷物粒检查器(1)具备：对配置于检查位置的试样盘(7)上的谷物粒进行检测的传感器(31)；以及用于传感器(31)的校正且在进行传感器(31)的校正的校正位置与从校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件(9)，在试样盘(7)配置于检查位置时，基准部件(9)从试样盘(7)受到按压力而从校正位置向退避位置运动。

Description

谷物粒检查器

技术领域

本实用新型涉及一种用于检查谷物粒的品质的谷物粒检查器。

背景技术

现今，已知有以下谷物粒检查器：由传感器接收照射到谷物粒的光的透射光或反射光，并基于由传感器接收到的光的光量来检查谷物粒有无破裂等。为了在谷物粒检查器中高精度地保持传感器的检测精度，需要进行传感器的校正。例如，在日本特开2016-125867号公报中记载有使用由颜色的浓度互不相同的多个板构成的基准板进行传感器的校正的谷物粒检查器。该谷物粒检查器利用马达的驱动力使传感器在谷物粒的检测位置与基准板的检测位置之间移动。也就是说，传感器在谷物粒的检测位置检测谷物粒，在基准板的检测位置进行校正。

但是，在使用马达使传感器移动的情况下，需要用于将马达的动力传递至传感器的动力传递机构等，谷物粒检查器的构造变得复杂。

本实用新型的目的在于，提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器。

实用新型内容

方案1是一种谷物粒检查器，其特征在于，具备：

对配置于检查位置的试样盘上的谷物粒进行检测的传感器；以及

用于上述传感器的校正且在进行上述传感器的校正的校正位置与从上述校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件，

在上述试样盘配置于上述检查位置时，上述基准部件从上述试样盘受到按压力而从上述校正位置向上述退避位置运动。

方案2根据方案1所述的谷物粒检查器，其特征在于，

还具备朝向上述校正位置对上述基准部件进行施力的施力部件。

方案3根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述试样盘具有载置上述谷物粒的载置部，

在载置于上述载置部的上述谷物粒由上述传感器检测时的上述传感器与载置于上述载置部的上述谷物粒之间的上下方向的距离、和在上述基准部件配置于上述校正位置时的上述传感器与上述基准部件之间的距离相同。

方案4根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在直线上运动。

方案5根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在圆弧上运动。

方案6根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件具有颜色相互不同的多个区域。

方案7根据方案6所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述多个区域的边界处分割成多个部件。

根据本实用新型的谷物粒检查器，能够利用简单的构造来进行传感器的校正。

附图说明

参照附图并根据以下的实施例的说明，本实用新型的上述及其它目的、特征会变得明确。这些附图如下。

图1是示出谷物粒检查器的简要结构的纵剖视图。

图2是试样盘的立体图。

图3是示出基准部件处于校正位置的状态下的试样盘收纳部的图。

图4是示出基准部件处于退避位置的状态下的试样盘收纳部的图。

图5是说明第一实施方式的基准部件的动作的图。

图6是说明第一实施方式的基准部件的动作的图。

图7是说明第一实施方式的基准部件的动作的图。

图8是说明第一实施方式的基准部件的动作的图。

图9是说明第一实施方式的基准部件的动作的图。

图10是说明第一实施方式的基准部件的动作的图。

图11是说明第二实施方式的基准部件的动作的图。

图12是说明第二实施方式的基准部件的动作的图。

图13是说明第二实施方式的基准部件的动作的图。

图14(a)、图14(b)是示出第三实施方式的试样盘的图。

图15是示出第四实施方式的试样盘的图。

具体实施方式

[第一实施方式]

以下，使用附图对第一实施方式的谷物粒检查器进行说明。此外，在本说明书中，为了便于说明，将各附图的箭头所示的方向分别作为表示上、下、左、右、前、后的方向进行说明。

图1是示出谷物粒检查器的简要结构的纵剖视图。谷物粒检查器1是用于向谷物粒照射光来检查米、麦、豆、玉米等谷物粒的品质的设备。

例如，在向产生了主体破裂的米照射光的情况下，光在主体破裂部分反射。因此，透射过主体破裂部分的光的强度变弱。此时，在从与向米照射光的方向相反的方向观察米的情况下，能够看到主体破裂部分较暗。因此，根据透射过米的透射光的明暗，能够判别主体破裂的有无以及主体破裂的大小等。

谷物粒检查器1具备箱体2，在箱体2的内部具备用于检查谷物粒的各种装置。箱体2例如由遮光性的合成树脂形成。

谷物粒检查器1具有第一传感器设置部3、试样盘收纳部4、光源设置部5以及第二传感器设置部6。

第一传感器设置部3是设置第一传感器31的部分。第一传感器设置部3例如形成为长方体的箱状。也就是说，第一传感器设置部3在俯视时形成为长方形。

第一传感器设置部3具有构成上部分的上板部32和构成四个侧部的侧板部33。第一传感器设置部3的下侧为开口。

在上板部32的内侧面设置第一传感器31。

第一传感器31是对试样盘收纳部4所收纳的试样盘上的谷物粒进行检测的传感器。由第一传感器31检测到的检测数据例如被发送到图像显示装置(未图示)。图像显示装置基于检测数据来显示谷物粒的图像，作业人员基于所显示的图像进行谷物粒的检查。

第一传感器31例如是光检测传感器。光检测传感器例如是图像传感器。图像传感器例如是CCD图像传感器、CMOS图像传感器。第一传感器31也可以是智能手机等的摄像头。在第一传感器31是智能手机等的摄像头的情况下，由第一传感器31拍摄到的图像显示于智能手机的显示器等。

试样盘收纳部4是在检查谷物粒时收纳试样盘7的部分，配置于第一传感器设置部3的下部。

试样盘收纳部4例如形成为长方体的箱状，具有上板部41、底板部42以及四个侧板部43。

在上板部41的中央部分形成有开口44，试样盘收纳部4的内部与第一传感器设置部3的内部连通。并且，在底板部42的中央部分也形成有开口45。在四个侧板部43中的一个侧板部43形成有能够从前侧接纳试样盘7的接纳口(未图示)。

在试样盘收纳部4配置有用于第一传感器31及下述的第二传感器的校正的基准部件9。

基准部件9在进行第一传感器31及第二传感器的校正的校正位置与从校正位置退避的退避位置之间运动。退避位置是在对载置于试样盘7的谷物粒进行检查时配置基准部件9的位置。在下文中详细地说明基准部件9的动作以及用于使基准部件9动作的构造。

在试样盘收纳部4设置有直接或间接地对载置于试样盘7的谷物粒进行照射的第一光源46。第一光源46例如沿试样盘收纳部4的四个侧板部43分别配置多个。第一光源46例如是LED。

光源设置部5是设置光源装置51的部分，配置于试样盘收纳部4的下部。光源设置部5形成为长方体的箱状，具有上板部52、底板部53以及四个侧板部54。

在上板部52形成有开口55。因此，光源设置部5的内部经由形成于试样盘收纳部4的底板部53的开口45而与试样盘收纳部4的内部连通。并且，在光源设置部5的底板部53的中央部分也形成有开口56。

光源装置51是从下方朝向试样盘收纳部4照射光的装置。在试样盘收纳部4收纳有试样盘7的状态下，光源装置51朝向试样盘7的底面照射光。光源装置51例如沿光源设置部5的四个侧板部54配置。

光源装置51具有光源容纳部件511、第二光源512以及透镜513。

光源容纳部件511是容纳第二光源512和透镜513的部件。光源容纳部件511例如形成为长方体的箱状。

第二光源512配置于光源容纳部件511的内部，是朝向试样盘收纳部4的内部发出光的光源。第二光源512例如是LED。

透镜513是对第二光源512发出的光进行聚光的透镜513。透镜513例如是柱面透镜。透镜513将第二光源512发出的光会聚于离第二光源512更远的位置。

例如，当在光源容纳部件511未配置透镜513的情况下，第二光源512强烈地照射试样盘7的离第二光源512较近的部分，微弱地照射试样盘7的离第二光源512较远的部分。也就是说，试样盘7的底面中的离第二光源512较近的部分的照度变大，离第二光源512较远的部分的照度变小。

另一方面，当在光源容纳部件511配置有透镜513的情况下，透镜513将第二光源512发出的光例如会聚于试样盘7的底面的中心附近。由此，能够使照射到试样盘7的光的照度变大的区域从离第二光源512较近的区域移动至离第二光源512较远的区域。其结果，照射到试样盘7的底面的光的照度遍及底面的整个区域变得更加均匀。

第二传感器设置部6是设置第二传感器61的部分。第二传感器设置部6例如形成为长方体的箱状。

第二传感器设置部6具有上板部62、底板部63以及四个侧板部64。在第二传感器设置部6的上板部62的中央部分形成有开口65。在第二传感器设置部6的底板部63设置第二传感器61。

第二传感器61是对试样盘收纳部4所收纳的试样盘7上的谷物粒进行检测的传感器。由第二传感器61检测到的检测数据例如被发送到图像显示装置。

第二传感器61例如是光检测传感器。光检测传感器例如是图像传感器。图像传感器例如是CCD图像传感器、CMOS图像传感器。第二传感器61也可以是智能手机等的摄像头。在第二传感器61是智能手机等的摄像头的情况下，由第二传感器61拍摄到的图像显示于智能手机的显示器等。

接下来，对试样盘收纳部4所收纳的试样盘7进行说明。

图2是试样盘7的立体图。试样盘7是载置由谷物粒检查器1检查的谷物粒的部件。试样盘7由透光部件形成。透光部件例如是透明的合成树脂、玻璃。

试样盘7具备盘部71和排出部72。盘部71与排出部72相互连结。

盘部71是对由谷物粒检查器1检查的谷物粒进行保持的部分。盘部71例如在俯视时形成为圆形。

盘部71具有载置部711、侧部712以及凸缘713。

载置部711是载置谷物粒的部分。载置部711的上表面是载置谷物粒的载置面。

侧部712是从载置部711的外周朝向外侧上方延伸的部分。侧部712起到防止载置于载置部711的谷物粒从试样盘7落下的作用。

凸缘713是从侧部712的上端朝向外侧延伸的部分。在试样盘7收纳于试样盘收纳部4时，凸缘713由下述的试样盘导向件支撑。

排出部72是一端与盘部71连结且从盘部71突出的部分。排出部72作为将载置于盘部71的谷物粒排出到外部的通路发挥功能。排出部72的另一端被切除，成为将谷物粒排出到外部时的出口。

在试样盘7收纳于试样盘收纳部4时，排出部72由作业人员把持。换言之，作业人员把持排出部72将试样盘7收纳于试样盘收纳部4。

接下来，使用图3及图4对试样盘收纳部4进行说明。

图3是示出基准部件9处于校正位置的状态下的试样盘收纳部4的立体图。图4是示出基准部件9处于从校正位置退避的退避位置的状态下的试样盘收纳部4的立体图。此外，图3及图4中，省略了第一光源46等的图示。

在试样盘收纳部4的前表面形成有接纳试样盘7的接纳口47。并且，在试样盘收纳部4的底板部42形成使来自第二光源512的光透射的开口45。

在试样盘收纳部4的后端部且在左右两端附近形成有连杆连结部48。连杆连结部48是与下述的连杆部件的一端部连结的部分。连杆连结部48例如是从试样盘收纳部4的底板部42朝向上方延伸的突起。

在试样盘收纳部4的后端部的靠中心的位置形成施力部件卡定部49。施力部件卡定部49是卡定下述的施力部件的部分。施力部件卡定部49例如是从试样盘收纳部4的底板部42朝向上方延伸的突起。

试样盘收纳部4具备试样盘导向件8、基准部件9、基准板导向件10、连杆部件11以及施力部件12。

试样盘导向件8是在试样盘收纳部4从接纳口47接纳试样盘7并将其收纳在内部时朝向内部引导试样盘7的部件。试样盘导向件8具有从形成于箱体2的前表面的接纳口47朝向后侧延伸的一对直线部、以及将一对直线部的后端连结的曲线部。曲线部形成为朝向后侧弯曲的曲线形状。也就是说，试样盘导向件8在俯视时形成为U字形状。

试样盘导向件8具有第一导向部件81和第二导向部件82。

第一导向部件81是从下支撑试样盘7的凸缘713并将试样盘7引导至试样盘收纳部4的内部的部件。

第二导向部件82是从上覆盖试样盘7的凸缘713并将试样盘7引导至试样盘收纳部4的内部的部件。

第二导向部件82具有配置于与第一导向部件81对置的位置的水平部821、以及从水平部821的外侧端部朝向下方延伸的垂直部822。垂直部822的长度形成为第一导向部件81的上表面与第二导向部件82的下表面之间的距离比试样盘7的凸缘713的厚度长。

位于前侧的第二导向部件82的两端部形成为向前侧上方倾斜。也就是说，为了使试样盘导向件8容易接纳试样盘7，在试样盘导向件8的前端部，第一导向部件81的上表面与第二导向部件82的水平部821之间的间隔变宽。

基准部件9是用于传感器的校正的部件。基准部件9例如由合成树脂形成。基准部件9具有颜色互不相同的多个区域。颜色互不相同的多个区域例如由透光性的合成树脂形成。或者，也可以通过将具有颜色相互不同的区域的密封件粘贴于基准部件的上表面及下表面来形成该区域。

基准部件9例如具有第一基准板91和第二基准板92。基准部件9在颜色不同的多个区域的边界处分割成第一基准板91和第二基准板92。并且，基准部件9具有多个突起93。

第一基准板91及第二基准板92分别是长方形的板部件。第一基准板91及第二基准板92的各长边的长度例如是各短边的约2倍的长度。

在第一基准板91的前后方向中心部且在左侧端部形成连杆连结部911。并且，在第二基准板92的前后方向中心部且在右侧端部形成连杆连结部(未图示)。第一基准板91的连杆连结部911和第二基准板92的连杆连结部分别是例如与第一基准板91及第二基准板92一体成形的凸台。

如将在下文中详细说明，突起93是与试样盘7的侧部712的外侧面抵接而受到来自试样盘7的力的部分。突起93例如是中心轴沿上下方向延伸的圆柱部件，上端部分例如形成为朝向上侧前端变细的锥状。

突起93包括在第一基准板91的前端部且在第一基准板91的靠左位置设置的第一前侧突起931。并且，突起93包括在第一基准板91的前后方向的中心部且在第一基准板91的右侧端部设置的第一中心突起932。再者，突起93包括在第二基准板92的前端部且在第二基准板92的靠右位置设置的第二前侧突起933。另外，突起93包括在第二基准板92的前后方向的中心部且在第二基准板92的左侧端部设置的第二中心突起934。

基准板导向件10是在基准部件9沿左右方向移动时引导基准部件9的部件。基准板导向件10例如是截面形成为U字形状的细长的部件。基准板导向件10配置于试样盘收纳部4的前侧部分及后侧部分，从前后夹住基准部件9来保持基准部件9。

连杆部件11是将基准部件9和试样盘收纳部4的底板部42连结的长板状的部件。连杆部件11具有第一连杆部件111和第二连杆部件112。

在第一连杆部件111的一端形成有长孔113。例如，螺纹件114与长孔113嵌合，螺纹件114与第一基准板91的连杆连结部911螺纹结合，由此第一连杆部件111的一端与第一基准板91连结。

在第一连杆部件111的另一端形成有圆形孔(未图示)。螺纹件114与圆形孔嵌合，螺纹件114与试样盘收纳部4的连杆连结部48螺纹结合，由此第一连杆部件111的另一端与试样盘收纳部4的底板部42连结。

在第一连杆部件111的中心附近形成有用于卡定施力部件12的卡定孔(未图示)。

在第二连杆部件112的一端形成有长孔(未图示)。例如，螺纹件114与该长孔嵌合，螺纹件114与第二基准板92的连杆连结部连结，由此第二连杆部件112的一端与第二基准板92连结。

在第二连杆部件112的另一端形成有圆形孔(未图示)。螺纹件114与该圆形孔嵌合，螺纹件114与试样盘收纳部4的连杆连结部48螺纹结合，由此第二连杆部件112的另一端与试样盘收纳部4的底板部42连结。

在第二连杆部件112的中心附近形成有用于卡定施力部件12的卡定孔(未图示)。

施力部件12是对各连杆部件11施加作用力的部件。施力部件12包括第一施力部件121和第二施力部件122。施力部件12是弹性部件。施力部件12例如是螺旋弹簧。

第一施力部件121的一端与形成于第一连杆部件111的中心附近的卡定孔卡定。第一施力部件121的另一端与形成于试样盘收纳部4的施力部件卡定部49卡定。由此，第一施力部件121经由第一连杆部件111向右侧对第一基准板91进行施力。

第二施力部件122的一端与形成于第二连杆部件112的中心附近的卡定孔卡定。第二施力部件122的另一端与形成于试样盘收纳部4的施力部件卡定部49卡定。由此，第二施力部件122经由第二连杆部件112向左侧对第二基准板92进行施力。

接下来，对第一传感器31及第二传感器61的校正进行说明。第一传感器31及第二传感器61检测的检测数据有时分别产生机械误差。也就是说，有时在由第一传感器31实际检测到的检测数据示出的值与由第一传感器31检测到的检测数据本来应示出的值之间产生差异。并且，有时在由第二传感器61实际检测到的检测数据示出的值与由第二传感器61检测到的检测数据本来应示出的值之间产生差异。其原因例如是由第一传感器31及第二传感器61的制造误差引起的。为了修正该机械误差，使用基准部件9来校正第一传感器31及第二传感器61。

在校正第一传感器31和/或第二传感器61的情况下，从第一光源46或第二光源512朝向基准部件9照射光。照射到基准部件9的光的反射光和/或透射光由第一传感器31和/或第二传感器61检测。例如，将由第一传感器31和/或第二传感器61检测到的光的照度与预先决定的基准的照度进行比较，基于比较结果，计算对传感器所接收的光的照度进行修正的修正系数。基于计算出的修正系数，进行第一传感器31和/或第二传感器61的校正。

接下来，说明对载置于试样盘7的谷物粒进行检查时的基准部件9的动作。

图5～图10是说明对载置于试样盘7的谷物粒进行检查时的基准部件9的动作的图。

图5示出试样盘7从试样盘收纳部4的接纳口47向试样盘收纳部4的内部插入前的状态。此时，第一施力部件121(参照图3、图4)以及第二施力部件122(参照图3、图4)分别对第一基准板91和第二基准板92向相互接近的方向进行施力。在该状态下，第一光源46(参照图1)或第二光源512(参照图1)发出光，第一传感器31(参照图1)以及/或者第二传感器61(参照图1)接收由第一基准板91或第二基准板92反射出的反射光、以及/或者透射过第一基准板91或第二基准板92的透射光。基于接收到的光的光量对第一传感器31以及/或者第二传感器61进行校正。将进行第一传感器31以及/或者第二传感器61的校正时的基准部件9的位置称为校正位置。

图6示出试样盘7从试样盘收纳部4的接纳口47插入且试样盘7的侧部712的外侧面与基准部件9的突起93抵接的状态。若侧部712的上侧部分与第一前侧突起931的上部及第二前侧突起933的上部抵接，则第一前侧突起931和第二前侧突起933分别受到向左后方和右后方的按压力。因此，第一基准板91受到朝向左后方的按压力，第二基准板92受到朝向右后方的按压力。

第一基准板91及第二基准板92的移动方向由基准板导向件10(参照图3、图4)限制为左右方向。因此，第一基准板91和第二基准板92分别因向左后方的按压力和向右后方的按压力的左右方向分量的力，分别开始向左方向和右方向移动。

图7示出试样盘7进一步被插入到试样盘收纳部4的深处的状态。若试样盘7进一步被插入到深处，则试样盘7的侧部712与第一前侧突起931及第二前侧突起933的抵接位置逐渐向试样盘7的前侧移动。并且，第一基准板91和第二基准板92分别因从试样盘7受到的按压力而逐渐向左右打开。

图8示出试样盘7进一步被插入到试样盘收纳部4的深处的状态。此时，试样盘7的侧部712与第一前侧突起931、第一中心突起932、第二前侧突起933以及第二中心突起934抵接。

图9示出试样盘7进一步被插入到试样盘收纳部4的内侧的状态。若试样盘7进一步被插入到试样盘收纳部4的深处，则第一中心突起932及第二中心突起934从试样盘7的侧部712受到按压力。由此，第一基准板91和第二基准板92进一步分别向左方向和右方向移动。此时，试样盘7的侧部712与第一前侧突起931及第二前侧突起933相互分离。

图10示出试样盘7进一步被插入到试样盘收纳部4的深处且试样盘7设置于检查位置的状态。在该状态下，试样盘7与试样盘导向件8的弯曲部分抵接。也就是说，试样盘导向件8的弯曲部分作为试样盘7的定位部发挥功能。

在试样盘7被插入至检查位置的情况下，第一基准板91和第二基准板92到达未由第一传感器31或第二传感器61检测到的位置。将该第一基准板91与第二基准板92的位置称为退避位置。处于退避位置的第一基准板91及第二基准板92分别利用第一施力部件121及第二施力部件122的作用力对设置于检查位置的试样盘7进行按压。但是，该作用力是小到不会从试样盘收纳部4向前侧推出试样盘7的程度的力。或者，为了不使试样盘7因作用力从试样盘收纳部4被推出，也可以在试样盘收纳部4设置限制处于检查位置的试样盘7向前侧移动的限位器(未图示)。

在试样盘7处于检查位置的状态下，对载置于试样盘7的谷物粒进行检查。

若谷物粒的检查完成，则根据与插入试样盘7时的顺序相反的顺序从试样盘收纳部4拔出试样盘7。如上所述，第一基准板91及第二基准板92由施力部件12向相互接近的方向施力。因此，随着从试样盘收纳部4拔出试样盘7，第一基准板91和第二基准板92朝向校正位置移动。

此外，处于校正位置的基准部件9的上表面与第一传感器31之间的距离和处于检查位置的试样盘7所载置的谷物粒的中心(厚度方向)与第一传感器31之间的上下方向的距离优选相同。换言之，将基准部件9的上表面的高度设置在比试样盘7的上表面的高度稍高的位置。这样一来，第一传感器31能够高精度地对载置于试样盘7的谷物粒进行检测。但是，距离相同并非指严格地相同的距离，而是指能够与高精度地校正第一传感器31的程度相同程度的距离。例如，谷物粒的任一部分与第一传感器31之间的距离和基准部件9的上表面与第一传感器31之间的距离也可以相同。在载置于试样盘7的谷物粒例如为米粒的情况下，谷物粒的中心处于离试样盘的载置面大约1[mm]的高度，将基准部件9的上表面的高度设定为该高度。

为了使处于校正位置的基准部件9的上表面的高度与处于检查位置的试样盘7所载置的谷物粒的中心的高度相同，例如，将第一前侧突起931的位置与第二前侧突起933的位置配置为比图5～图10所示的位置更加相互接近即可。即，将第一前侧突起931设置于第一基准板91的右侧端部附近，将第二前侧突起933设置于第二基准板92的左侧端部附近。在该结构中，若向试样盘收纳部4插入试样盘7，则试样盘7的载置部711不与第一基准板91及第二基准板92抵接，而使试样盘7的侧部712的上部与第一前侧突起931的上部及第二前侧突起933的上部抵接，能够使第一基准板91和第二基准板92沿左右方向移动。

此外，处于校正位置的基准部件9的下表面与第二传感器61之间的距离和处于检查位置的试样盘7的载置部的上表面与第二传感器61之间的距离也可以相同。

如以上所说明的那样，在第一实施方式的谷物粒检查器1中，基准部件9受到来自试样盘7的按压力而从校正位置向退避位置移动。因此，不需要在谷物粒检查器1设置用于使基准部件9移动的动力源以及动力传递机构。其结果，能够使谷物粒检查器1的构造成为简单的构造。

并且，第一实施方式的谷物粒检查器1具备朝向校正位置对基准部件9进行施力的施力部件12。因此，随着试样盘7从试样盘收纳部4的内部向外部移动，基准部件9自动地向校正位置移动。其结果，不需要设置用于手动地使基准部件9返回到校正位置的杠杆等，能够使谷物粒检查器1的构造成为简单的构造。

并且，在第一实施方式的谷物粒检查器1中，基准部件9在直线上移动。因此，能够将基准板导向件10等构件设为简单的结构。

并且，在第一实施方式的谷物粒检查器1中，基准部件9具有颜色互不相同的多个区域。因此，能够高精度地校正第一传感器31及第二传感器61。

并且，在第一实施方式的谷物粒检查器1中，基准部件9在多个区域的边界处分割成多个部件。因此，能够在不受边界部分的影响的情况下高精度地校正第一传感器31及第二传感器61。

[第二实施方式]

接下来，对第二实施方式的谷物粒检查器1进行说明。在第二实施方式的谷物粒检查器1中，基准部件以及基准部件的周边的结构与第一实施方式的谷物粒检查器1的结构不同。因此，以下，对基准部件及其周边的结构进行说明，省略与第一实施方式相同的结构的说明。

图11是对第二实施方式的基准部件及其周边的结构进行说明的图。

基准部件21具有第一基准杆211、第一基准板212、第一被按压部213、第二基准杆214、第二基准板215以及第二被按压部216。

第一基准杆211是支撑第一基准板212和第一被按压部213的棒状的部件。第一基准杆211在试样盘导向件8的左侧由形成于试样盘收纳部4的底板部42的被枢支部218枢轴支撑。即，第一基准杆211能够以被枢支部218为中心转动。

第一基准板212是用于传感器的校正的部件。第一基准板212具有颜色不同的多个区域。第一基准板212例如安装为多个不同的区域沿第一基准杆211的长轴方向排列。第一基准板212例如由透光性的合成树脂形成。

第一被按压部213是在向试样盘收纳部4插入试样盘7时从试样盘7的侧部712受到按压力的部分。第一被按压部213例如由半球状的部件构成。

在从试样盘收纳部4的接纳口47观察时，第一基准杆211在顺时针方向上从设于被枢支部218的后侧的第一施力部件217受到作用力。

第二基准杆214是支撑第二基准板215和第二被按压部216的棒状的部件。第二基准杆214在试样盘导向件8的右侧由形成于试样盘收纳部4的底板部42的被枢支部218枢轴支撑。即，第二基准杆214能够以被枢支部218为中心转动。

第二基准板215是用于传感器的校正的部件。第二基准板215具有颜色不同的多个区域。第二基准板215例如安装为多个不同的区域沿第二基准杆214的长轴方向排列。第二基准板215例如由透光性的合成树脂形成。

第二被按压部216是在向试样盘收纳部4插入试样盘7时从试样盘7的侧部712受到按压力的部分。第二被按压部216例如由半球状的部件构成。

在从试样盘收纳部4的接纳口47观察时，第二基准杆214在逆时针方向上从设于被枢支部218的后侧的第二施力部件219受到作用力。

第一基准杆211和第二基准杆214的转动范围由限位器(未图示)限制，以便它们停止在相互在直线上排列的位置。

接下来，说明对载置于试样盘7的谷物粒进行检查时的基准部件21的动作。

图11～图13是说明对载置于试样盘7的谷物粒进行检查时的基准部件21的动作的图。

图11示出试样盘7从试样盘收纳部4的接纳口47向试样盘收纳部4的内部插入前的状态。此时，第一施力部件217在顺时针方向上对第一基准杆211进行施力，第二施力部件219在逆时针方向上对第二基准杆214进行施力。在该状态下，第一光源46或第二光源512发出光，由第一传感器31以及/或者第二传感器61接收由第一基准板212或第二基准板215反射出的反射光以及/或者透射过第一基准板212或第二基准板215的透射光。基于接收到的光的光量对第一传感器31以及/或者第二传感器61进行校正。进行第一传感器31以及/或者第二传感器61的校正的基准部件21的该位置是校正位置。

图12示出试样盘7从试样盘收纳部4的接纳口47插入且试样盘7的侧部712按压第一被按压部213及第二被按压部216的状态。若第一被按压部213从试样盘7受到按压力，则第一基准杆211以被枢支部218为中心逆时针转动。并且，若第二被按压部216从试样盘7受到按压力，则第二基准杆214以被枢支部218为中心顺时针转动。

图13示出试样盘7进一步被插入到试样盘收纳部4的深处且试样盘7设置于检查位置的状态。在该状态下，试样盘7与试样盘导向件8的弯曲部分抵接。

在试样盘7被插入至检查位置的情况下，第一基准板212和第二基准板215到达未由第一传感器31(参照图1)或第二传感器61(参照图1)检测到的位置。该位置是退避位置。处于退避位置的第一基准板212及第二基准板215分别利用第一施力部件217及第二施力部件219的作用力向前侧对设置于检查位置的试样盘7进行按压。但是，该作用力是小到不会从试样盘收纳部4向前侧推出试样盘7的程度的力。或者，为了不使试样盘7因作用力从试样盘收纳部4被推出，也可以在试样盘收纳部4设置限制处于检查位置的试样盘7向前侧移动的限位器。

在试样盘7处于检查位置的状态下，对载置于试样盘7的谷物粒进行检查。

若谷物粒的检查完成，则根据与插入到试样盘收纳部4时的顺序相反的顺序从试样盘收纳部4拔出试样盘7。如上所述，第一基准杆211及第二基准杆214分别由第一施力部件217及第二施力部件219向相互接近的方向施力。因此，随着从试样盘收纳部4拔出试样盘7，第一基准板212和第二基准板215朝向校正位置移动。

此外，在本实施方式中，处于校正位置的基准部件21的上表面与第一传感器31之间的距离和处于检查位置的试样盘7所载置的谷物粒的中心(厚度方向)与第一传感器31之间的上下方向的距离相同。这样一来，第一传感器31能够高精度地对载置于试样盘7的谷物粒进行检测。或者，处于校正位置的基准部件21的下表面与第二传感器61之间的距离和处于检查位置的试样盘7所载置的谷物粒的中心与第二传感器61之间的上下方向的距离也可以相同。

如以上所说明的那样，在第二实施方式的谷物粒检查器1中，基准部件21受到来自试样盘7的按压力而从校正位置向退避位置移动。因此，不需要在谷物粒检查器1设置用于使基准部件21移动的动力源以及动力传递机构。因此，能够使谷物粒检查器1的构造成为简单的构造。

并且，在第二实施方式的谷物粒检查器1中，第一基准杆211和第二基准杆214以被枢支部218为中心转动。也就是说，基准部件21在校正位置与退避位置之间在圆弧上运动。因此，能够将基准部件21及其周边设为简单的结构。

此外，在上述的第一实施方式及第二实施方式中，也可以在试样盘收纳部4设置调整试样盘导向件8的高度方向的位置的调整机构。由此，能够对照检查对象的谷物粒的大小，以使处于校正位置的基准部件9的上表面与第一传感器31之间的距离和处于检查位置的试样盘7所载置的谷物粒的中心与第一传感器31之间的上下方向的距离相同的方式进行调整。

[第三实施方式]

接下来，对第三实施方式进行说明。在本实施方式中，为了防止在谷物粒的检查时第一光源46(参照图1)或第二光源512(参照图1)发出的光在试样盘7的侧部反射或透射过试样盘7的侧部，试样盘7具备试样盘框。

图14(a)是设置于试样盘7的盘部71的试样盘框23的立体图，图14(b)是试样盘框23的侧视图。

试样盘框23形成为与试样盘7的侧部712大致相同的形状，是具有沿上下方向贯通的孔的框部件。在试样盘7的侧部712形成为朝向下侧而前端变细的锥状的情况下，试样盘框23形成为朝向下侧而前端变细的锥状。

试样盘框23具有外侧面231、下表面232、上表面233以及内侧面234。外侧面231是与试样盘7的侧部712的内侧面接触的面。下表面232是与试样盘7的载置面接触的面。下表面232形成为在试样盘框23载置于试样盘7的载置部711的状态下与试样盘7的载置面平行。上表面233是与下表面232平行的面，在外周部分与外侧面231连接，且在内周部分与内侧面234连接。内侧面234与外侧面231平行地形成。内侧面234在上端与上表面233连接，且在下端与下表面232连接。

试样盘框23由不使光透射的材料形成。试样盘框23例如由无光泽且黑色的合成树脂形成。

在利用谷物粒检查器1对载置于试样盘7的谷物粒进行检查的情况下，例如，使第一光源46点亮，利用第一传感器31检测由谷物粒反射出的反射光，利用第二传感器61检测透射过谷物粒的透射光。此时，存在如下情况：来自第一光源46的光被试样盘7的侧部712反射或者透射过侧部712，第一传感器31以及/或者第二传感器61接收上述反射光以及/或者透射光。这样，有拍摄图像成为整体发白的图像的担忧。为了防止引起这样的现象，试样盘框23防止光在试样盘7的侧部712反射或透射。

并且，在试样盘框23载置于试样盘7的状态下，试样盘框23防止谷物粒从试样盘7的排出部72溢出掉落。

此外，也可以在试样盘7或试样盘框23设置在试样盘框23载置于试样盘7的状态下将试样盘框23固定于试样盘7的固定部。

[第四实施方式]

接下来，对第四实施方式进行说明。本实施方式的试样盘7被称为双面箱。本实施方式的试样盘7在检查时防止载置在试样盘7上的谷物粒移动。

图15是示出试样盘7的图。试样盘7具有第一试样盘73和第二试样盘74。

第一试样盘73是与在第一实施方式中说明的试样盘7相同的试样盘。因此，此处省略第一试样盘73的说明。

第二试样盘74是在与第一试样盘73的盘部71之间对载置于第一试样盘73的谷物粒进行夹持的部件。第二试样盘74在俯视时形成为圆形的盘状。第二试样盘74由透光性的材料形成。透光性的材料例如是透明的合成树脂。第二试样盘74具有盘部741和片材742。

盘部741具有底部743和侧部744。底部743形成为圆形板状。侧部744是形成为朝向下方前端变细的锥状的部件。侧部744的下端与底部743的外周连接。

片材742是粘贴于盘部741的底面且在与第一试样盘73之间夹持谷物粒的部件。片材742例如通过粘接剂而粘贴于盘部741的底面。片材742对照盘部741的底部743的形状而形成为圆形。片材742例如由透光性的弹性部件形成。透光性的弹性部件例如是透明的凝胶片。

接下来，对试样盘7的使用方法进行说明。在使用该试样盘7的谷物粒检查器1中，例如仅在试样盘7的下方配置有检测谷物粒的传感器。

首先，在第一试样盘73载置检查对象的谷物粒。接着，在第一试样盘73之上重叠第二试样盘74。在该状态下，试样盘7被收纳于谷物粒检查器1的试样盘收纳部4，进行谷物粒的检查。由此，谷物粒检查器1能够基于由谷物粒反射出的反射光的光量来进行谷物粒的检查。

若在第一试样盘73之上重叠有第二试样盘74，并且该状态下的检查完成，则试样盘7的上下颠倒而试样盘7被收纳于试样盘收纳部4。也就是说，成为在粘贴于第二试样盘74的片材742之上载置谷物粒、第一试样盘73的载置面覆盖在谷物粒之上的状态。

在该状态下进行谷物粒的检查。也就是说，通过使试样盘7颠倒，能够利用由谷物粒的一方的面反射出的反射光和由另一方的面反射出的反射光进行谷物粒的检查。因此，能够高精度地进行谷物粒的检查。并且，在谷物粒被夹在第一试样盘73的载置部711与片材742之间的状态下，片材742受到来自谷物粒的作用力而沿谷物粒的形状弹性变形。因此，在使用本实施方式的试样盘7的情况下，在检查时能够防止谷物粒在试样盘7上移动。并且，在使试样盘7的上下颠倒时，能够防止谷物粒在第一试样盘73与片材742之间移动。

Claims (7)

1.一种谷物粒检查器，其特征在于，具备：

对配置于检查位置的试样盘上的谷物粒进行检测的传感器；以及

用于上述传感器的校正且在进行上述传感器的校正的校正位置与从上述校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件，

在上述试样盘配置于上述检查位置时，上述基准部件从上述试样盘受到按压力而从上述校正位置向上述退避位置运动。

2.根据权利要求1所述的谷物粒检查器，其特征在于，

还具备朝向上述校正位置对上述基准部件进行施力的施力部件。

3.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述试样盘具有载置上述谷物粒的载置部，

在载置于上述载置部的上述谷物粒由上述传感器检测时的上述传感器与载置于上述载置部的上述谷物粒之间的上下方向的距离、和在上述基准部件配置于上述校正位置时的上述传感器与上述基准部件之间的距离相同。

4.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在直线上运动。

5.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在圆弧上运动。

6.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件具有颜色相互不同的多个区域。

7.根据权利要求6所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述多个区域的边界处分割成多个部件。

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