CN215297523U - 一种电子接插件测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子接插件测试机构，包括导向块，导向块的前端中部具有供接插件对位插装适配的测试孔，测试孔内可轴向移动地同轴插装有测试探针，测试孔的孔口外沿部与其内壁间具有平滑过渡的外导向弧面；导向块上具有装配孔，导向块通过自前至后贯穿装配孔的台阶螺丝可靠固定于外部支撑体上，装配孔内壁上凸出设置有限位卡台，台阶螺丝上套设有浮动弹簧，浮动弹簧沿台阶螺丝的轴向嵌装于限位卡台与外部支撑体之间。该电子接插件测试机构能够显著提高Fakra接插件与测试探针间的对接精度，避免二者间发生撞件现象，以此避免产品结构发生损伤。

Description

一种电子接插件测试机构

技术领域

本实用新型涉及电子信号接插件测试设备配套器材技术领域，特别涉及一种电子接插件测试机构。

背景技术

在车辆工程相关的电力电子行业以及半导体行业中，针对特殊信号，例如4G信号、GPS信号等，通常使用Fakra(德文FAchKReis Automobile的缩写)接插件进行信号的传输。Fakra接插测试的结构对接包含主信号针对接及外屏蔽环对接两部分。

在进行Fakra相关电子产品的小批量生产时，通常使用手动接插，或者快速夹工装实现接插适配件间的简易对接。不过，上述这些常规操作方式虽然操作过程较为稳定，但其测试效率低。当相关电子产品实施批量生产时，自动化测试成为电子生产行业的主流。时至当前，针对Fakra接插件的自动化对接，使用的是具备导向功能的测试针头配合浮动针套，完成Fakra对接测试。

在通常的自动化生产过程中，在一般的焊接工艺无法达标的情况下，Fakra接插件与测试针对接时，会由于两配合件间存在因焊接工艺不达标导致的偏心现象而造成撞件，而由此造成的撞伤产品大都报废或者返修，极大的增加了整体生产成本。

因此，如何保证Fakra接插件与测试针间的可靠精准对接，避免发生撞件现象及由此导致的产品损伤是本领域技术人员目前需要解决的重要技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种电子接插件测试机构，该电子接插件测试机构能够显著提高Fakra接插件与测试探针间的对接精度，避免二者间发生撞件现象，以此避免产品结构发生损伤。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种电子接插件测试机构，包括导向块，所述导向块的前端中部具有供接插件对位插装适配的测试孔，所述测试孔内可轴向移动地同轴插装有测试探针，所述测试孔的孔口外沿部与其内壁间具有平滑过渡的外导向弧面；

所述导向块上具有装配孔，所述导向块通过自前至后贯穿所述装配孔的台阶螺丝可靠固定于外部支撑体上，所述装配孔内壁上凸出设置有限位卡台，所述台阶螺丝上套设有浮动弹簧，所述浮动弹簧沿所述台阶螺丝的轴向嵌装于所述限位卡台与外部支撑体之间。

优选地，所述导向块的后部设置有与所述测试孔同轴对位配合的回正套筒，所述回正套筒的内部同轴插装有回正轴套，所述回正套筒与所述回正轴套间间隙配合，且该回正轴套联动套装于所述测试探针的外周部，所述回正轴套的前端部外壁上设置有回正卡台，所述回正轴套的外周壁上套设有回正弹簧，该回正弹簧的两端分别与所述回正卡台及所述回正套筒的后端部的内壁相抵。

优选地，所述回正轴套的后端部伸出于所述回正套筒的后端部，且所述回正轴套的后端部外周面上套设有回正块，该回正块与所述回正轴套间螺纹连接，所述回正块的前端面及所述回正套筒的后端面均为垂直于所述回正套筒轴线的平面，且所述回正块的前端面与所述回正套筒的后端面贴合适配。

优选地，所述回正块的前端面上具有楔形定位孔，所述回正套筒的后端面上凸出设置有与所述楔形定位孔嵌装适配的楔形凸台。

优选地，所述回正卡台为沿所述回正轴套的周向布置的环形凸台。

优选地，所述测试探针的前端面外边沿部与其外周壁间具有平滑过渡的内导向弧面。

优选地，所述装配孔具体为两个，且两所述装配孔对称布置于所述测试孔的两侧。

优选地，所述装配孔为沉头孔。

优选地，所述限位卡台为沿所述装配孔的周向布置的环形卡台。

优选地，所述测试孔的侧壁上具有与接插件的锁扣对位适配的槽状缺口。

相对上述背景技术，本实用新型所提供的电子接插件测试机构，其操作使用过程中，当接插件对位插入测试孔时，若接插件因自身焊接问题等存在结构错位或偏心时，接插件与测试孔的孔口处相接触过程中对导向块形成自前至后的作用力，此作用力传递至浮动弹簧处后，使浮动弹簧在该作用力作用下被适度压缩，以此缓解结构冲击，避免接插件与测试孔间因无缓冲的刚性接触而导致结构损伤；同时，通过外导向弧面的适度导向作用，使接插件能够在于测试孔的接触过程中被顺滑引导至测试孔内，从而完成精准插装和后续测试，显著提高了接插件与测试孔间的对位精度，降低了二者间的对位插装操作难度，提高了测试操作效率。

在本实用新型的另一优选方案中，所述导向块的后部设置有与所述测试孔同轴对位配合的回正套筒，所述回正套筒的内部同轴插装有回正轴套，所述回正套筒与所述回正轴套间间隙配合，且该回正轴套联动套装于所述测试探针的外周部，所述回正轴套的前端部外壁上设置有回正卡台，所述回正轴套的外周壁上套设有回正弹簧，该回正弹簧的两端分别与所述回正卡台及所述回正套筒的后端部的内壁相抵。当与检测孔间对位异常的接插件对测试探针施加作用力时，回正轴套随测试探针同步受压后移，此时回正弹簧在回正卡台的挤压下被同步压缩以缓解此受压过程中的结构冲击，避免该施力过程中的反作用力反馈到接插件上而使接插件产生结构损伤甚至报废；接插件由检测孔内被取出后，结构冲击结束，此时回正弹簧逐步伸展回弹，以通过回正卡台带动回正轴套和测试探针复位，此复位过程中，通过回正套筒、回正弹簧、回正轴套以及回正卡台间的协同配合，使测试探针能够精确回到初始位置，尤其是能够保证测试探针的轴心位置保持恒定，由此可有效保证后续接插件与测试探针及检测孔间的对位插接精度，使后续的检测结果更加准确可靠。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种具体实施方式所提供的电子接插件测试机构与接插件间未对接状态下的对位结构立体示意图；

图2为图1的剖视结构正视图；

图3为图1中导向块及其相关配合件的立体结构图；

图4为图1中回正套筒及测试探针间的配合结构立体示意图；

图5为图4的结构剖视图；

图6为图1中电子接插件测试机构与接插件间正常对接状态下的立体结构示意图；

图7为图6的剖视结构正视图；

图8为图1中电子接插件测试机构与接插件间异常对接状态下的立体结构示意图；

图9为图8的剖视结构正视图。

其中：

10-接插件；

101-锁扣；

11-导向块；

111-测试孔；

112-测试探针；

113-外导向弧面；

114-内导向弧面；

115-装配孔；

116-限位卡台；

117-槽状缺口；

12-台阶螺丝；

121-螺帽；

122-光杆段；

123-螺纹段；

124-浮动弹簧；

13-回正套筒；

131-回正轴套；

132-回正卡台；

133-回正弹簧；

134-回正块；

135-楔形凸台。

具体实施方式

本实用新型的核心是提供一种电子接插件测试机构，该电子接插件测试机构能够显著提高Fakra接插件与测试探针间的对接精度，避免二者间发生撞件现象，以此避免产品结构发生损伤。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。

请参考图1至图9，图1为本实用新型一种具体实施方式所提供的电子接插件测试机构与接插件间未对接状态下的对位结构立体示意图；图2为图1的剖视结构正视图；图3为图1中导向块及其相关配合件的立体结构图；图4为图1中回正套筒及测试探针间的配合结构立体示意图；图5为图4的结构剖视图；图6为图1中电子接插件测试机构与接插件间正常对接状态下的立体结构示意图；图7为图6的剖视结构正视图；图8为图1中电子接插件测试机构与接插件间异常对接状态下的立体结构示意图；图9为图8的剖视结构正视图。

在具体实施方式中，本实用新型所提供的电子接插件测试机构，包括导向块11，导向块11的前端中部具有供接插件对位插装适配的测试孔111，测试孔111内可轴向移动地同轴插装有测试探针112，测试孔111的孔口外沿部与其内壁间具有平滑过渡的外导向弧面113；导向块11上具有装配孔115，导向块11通过自前至后贯穿装配孔115的台阶螺丝12可靠固定于外部支撑体上，装配孔115内壁上凸出设置有限位卡台116，台阶螺丝12上套设有浮动弹簧124，浮动弹簧124沿台阶螺丝12的轴向嵌装于限位卡台116与外部支撑体(图中未示出)之间。

所述电子接插件测试机构操作使用过程中，当接插件对位插入测试孔111时，请着重参考图8和图9，若接插件因自身焊接问题等存在结构错位或偏心，导致接插件与电子接插件测试机构间产生对接异常时，接插件与测试孔111的孔口处相接触过程中对导向块11形成自前至后的作用力，此作用力传递至浮动弹簧124处后，使浮动弹簧124在该作用力作用下被适度压缩，以此缓解结构冲击，避免接插件与测试孔111间因无缓冲的刚性接触而导致结构损伤；同时，通过外导向弧面113的适度导向作用，使接插件能够在于测试孔111的接触过程中被顺滑引导至测试孔111内，从而完成精准插装和后续测试，显著提高了接插件与测试孔111间的对位精度，降低了二者间的对位插装操作难度，提高了测试操作效率。

应当明确，如图2所示，图示靠右部分即为所述电子接插件测试机构的前部及前端，图示靠左部分即为所述电子接插件测试机构的后部及后端，本文中提及的各部件结构中涉及前、后之描述均以该电子接插件测试机构的前、后为参照，相应的结构描述皆可参照此处理解，本文其余附图中的部件方向也以此为参照，不再赘述。

需要指出的是，本文所提及的台阶螺丝12，是一种较为常见的螺纹紧固件，其通常具有沿轴向依次布置的螺帽121、光杆段122、螺纹段123，本方案中，该台阶螺丝12的螺帽121与浮动弹簧124沿轴向分置于限位卡台116的两侧，且该螺帽121能够与限位卡台116相抵；而光杆段122主要用以套设浮动弹簧124并为浮动弹簧124提供顺畅的伸缩导向及动作空间；螺纹段123则用以与位于装置外部的支撑体相连接，具体而言，该外部支撑体可以为机架、机壳或支撑板等具备一定结构强度和承托能力的结构件。

在此基础上，台阶螺丝12与导向块11间会存在一定的安装间隙，该间隙具体体现在台阶螺丝12与限位卡台116间的轴向间隙，此安装间隙通常为0.25mm，即，任一台阶螺丝12与其相适配的限位卡台116间具有0.25mm的轴向间隙，以使导向块11在受到接插件10施加的作用力时能够相对于外部支撑体具有一定的浮动旷量，避免所述电子接插件测试机构各配合部件间产生刚性冲击和结构损伤。当然，上述轴向间隙为0.25mm仅为举例说明之用，实际应用中工作人员可以依据具体工况需求和设备组装情况对该尺寸进行灵活调整和选择，原则上，只要是能够满足所述电子接插件测试机构的实际应用需要均可。

此外需要指出的是，为保证浮动缓冲效果和组件结构平衡，装配孔115具体为两个，并分置于测试孔111的两侧，如此，可在测试孔111两侧形成对称布置的浮动弹簧124缓冲机构，以此保证导向块11的整体结构平衡性和缓冲效果，进一步避免组件刚性冲击和结构损伤。

具体地，装配孔115以沉头孔为宜，如此可进一步优化导向块11的表层装配空间，使其整体结构更加规整紧凑，并对台阶螺丝12的主体结构提供一定的结构保护和适度的结构导向，避免台阶螺丝12发生结构损伤或松脱错位。

更具体地，限位卡台116为沿装配孔115的周向布置的环形卡台。该环形卡台能够更好地与浮动弹簧124相适配，保证浮动弹簧124与限位卡台116间的应力分布更加均匀可靠，优化浮动弹簧124的缓冲效果。

另一需要说明的是，外导向弧面113可以理解为机加工领域内通常所指的环形倒角面，相应地，为了进一步保证接插件10与检测孔及测试探针112间的对位精度，测试探针112的前端面外边沿部与其外周壁间具有平滑过渡的内导向弧面114，该内导向弧面114与外导向弧面113间协同适配，形成对插接头的内、外双重导向结构，由此不仅可以进一步避免接插件10与检测孔和测试探针112间因异常对接等情况造成的刚性接触，还可以在发生异常对接时，使接插件10顺畅快速地在内、外导向弧面113的作用下精准插入检测孔内并与测试探针112可靠对接，从而大幅提高了接插件10与所述电子接插件测试机构间的对接精度和对接可靠性，保证了后续检测效率和检测效果。

应当进一步明确的是，上文所述的外导向弧面113和内导向弧面114的单边过渡间隙可以为0.7mm，即，任一外导向弧面113和内导向弧面114在检测孔径向上的跨度为0.7mm，如此，可使外导向弧面113与内导向弧面114协同配合形成±1.4mm的导向偏移量，从而适配通常工况下的接插件10异常对接校正需求。当然，上述0.7mm的径向跨度以及±1.4mm的导向偏移量均为举例说明之用，实际应用中该尺寸可以由工作人员依据具体工况需求灵活调整，原则上，只要是能够保证对接插件10的位置导引，保证接插件10与检测孔和测试探针112间的可靠精准对接即可。

进一步地，导向块11的后部设置有与测试孔111同轴对位配合的回正套筒13，回正套筒13的内部同轴插装有回正轴套131，回正套筒13与回正轴套131间间隙配合，且该回正轴套131联动套装于测试探针112的外周部，回正轴套131的前端部外壁上设置有回正卡台132，回正轴套131的外周壁上套设有回正弹簧133，该回正弹簧133的两端分别与回正卡台132及回正套筒13的后端部的内壁相抵。当与检测孔间对位异常的接插件10对测试探针112施加作用力时，回正轴套131随测试探针112同步受压后移，此时回正弹簧133在回正卡台132的挤压下被同步压缩以缓解此受压过程中的结构冲击，避免该施力过程中的反作用力反馈到接插件上而使接插件产生结构损伤甚至报废；接插件由检测孔内被取出后，结构冲击结束，此时回正弹簧133逐步伸展回弹，以通过回正卡台132带动回正轴套131和测试探针112复位，此复位过程中，通过回正套筒13、回正弹簧133、回正轴套131以及回正卡台132间的协同配合，使测试探针112能够精确回到初始位置，尤其是能够保证测试探针112的轴心位置保持恒定，由此可有效保证后续接插件10与测试探针112及检测孔间的对位插接精度，使后续的检测结果更加准确可靠。

更具体地，回正轴套131的后端部伸出于回正套筒13的后端部，且回正轴套131的后端部外周面上套设有回正块134，该回正块134与回正轴套131间螺纹连接，回正块134的前端面及回正套筒13的后端面均为垂直于回正套筒13轴线的平面，且回正块134的前端面与回正套筒13的后端面贴合适配。通过回正块134与回正套筒13间的端面贴合适配结构，能够进一步保证测试探针112的前部及后部的轴心位置恒定，当发生异常对接时，测试探针112受到接插件10的冲击而被顶向后移动一段距离，回正块134和回正轴套131随测试探针112同步后移，此时回正块134与回正套筒13脱离接触，待异常对接情况结束后，回正块134和回正轴套131随测试探针112同步前移复位，直至回正块134的前端面重新与回正套筒13的后端面紧密接触并充分贴合，如此，可保证测试探针112的前部与其后部均精准复位。

需要指出的是，在正常对接情况下，测试探针112也会被插入测试孔111后的接插件10向后顶出一端距离，如此回正块134和回正轴套131也会同步小幅后移，从而在正常插接完成并拔出接插件10后，检测探针112也存在复位回正需求，此时回正块134与回正套筒13间也可通过端面适配起到回正复位作用。

需要注意的是，实际应用中，为了进一步保证回正块134与回正套筒13间的对位精度和适配稳定性，可以在回正块134的前端面上设置楔形定位孔，并在回正套筒13的后端面上凸出设置与上述楔形定位孔对位嵌装楔形凸台135，以此保证回正块134与回正套筒13重新贴合时的对位精度和适配效果，并避免二者贴合状态下发生相对移动或错位，以进一步保证测试探针112的回位效果和定位精度。应当了解的是，因结构视角等原因，图中并未标示出楔形定位孔的具体位置，但该楔形定位孔的位置可直接参考回正块134前端面上与楔形凸台135对应的位置处，结合上文所述加以理解。

此外，与上文所述限位卡台116的设计思路相类似地，回正卡台132为沿回正轴套131的周向布置的环形凸台。该种环形凸台结构有助于进一步优化回正弹簧133与回正卡台132间的应力分布，避免局部应力集中而导致部件结构损伤，使回正弹簧133与回正卡台132间的作用力传导更加均匀可靠。

另一方面，测试孔111的侧壁上具有与接插件10的锁扣101对位适配的槽状缺口117。在接插件对位插入检测孔内时，槽状缺口117能够为接插件上的锁扣提供充足的容置空间，避免锁扣与检测孔的主体结构产生干涉和碰撞，以保证检测孔和接插件的结构稳定。

综上可知，本实用新型中提供的电子接插件测试机构，其操作使用过程中，当接插件对位插入测试孔时，若接插件因自身焊接问题等存在结构错位或偏心时，接插件与测试孔的孔口处相接触过程中对导向块形成自前至后的作用力，此作用力传递至浮动弹簧处后，使浮动弹簧在该作用力作用下被适度压缩，以此缓解结构冲击，避免接插件与测试孔间因无缓冲的刚性接触而导致结构损伤；同时，通过外导向弧面的适度导向作用，使接插件能够在于测试孔的接触过程中被顺滑引导至测试孔内，从而完成精准插装和后续测试，显著提高了接插件与测试孔间的对位精度，降低了二者间的对位插装操作难度，提高了测试操作效率。

以上对本实用新型所提供的电子接插件测试机构进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子接插件测试机构，其特征在于：包括导向块，所述导向块的前端中部具有供接插件对位插装适配的测试孔，所述测试孔内可轴向移动地同轴插装有测试探针，所述测试孔的孔口外沿部与其内壁间具有平滑过渡的外导向弧面；

所述导向块上具有装配孔，所述导向块通过自前至后贯穿所述装配孔的台阶螺丝可靠固定于外部支撑体上，所述装配孔内壁上凸出设置有限位卡台，所述台阶螺丝上套设有浮动弹簧，所述浮动弹簧沿所述台阶螺丝的轴向嵌装于所述限位卡台与外部支撑体之间。

2.如权利要求1所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述导向块的后部设置有与所述测试孔同轴对位配合的回正套筒，所述回正套筒的内部同轴插装有回正轴套，所述回正套筒与所述回正轴套间间隙配合，且该回正轴套联动套装于所述测试探针的外周部，所述回正轴套的前端部外壁上设置有回正卡台，所述回正轴套的外周壁上套设有回正弹簧，该回正弹簧的两端分别与所述回正卡台及所述回正套筒的后端部的内壁相抵。

3.如权利要求2所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述回正轴套的后端部伸出于所述回正套筒的后端部，且所述回正轴套的后端部外周面上套设有回正块，该回正块与所述回正轴套间螺纹连接，所述回正块的前端面及所述回正套筒的后端面均为垂直于所述回正套筒轴线的平面，且所述回正块的前端面与所述回正套筒的后端面贴合适配。

4.如权利要求3所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述回正块的前端面上具有楔形定位孔，所述回正套筒的后端面上凸出设置有与所述楔形定位孔嵌装适配的楔形凸台。

5.如权利要求2所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述回正卡台为沿所述回正轴套的周向布置的环形凸台。

6.如权利要求1所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述测试探针的前端面外边沿部与其外周壁间具有平滑过渡的内导向弧面。

7.如权利要求1所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述装配孔具体为两个，且两所述装配孔对称布置于所述测试孔的两侧。

8.如权利要求7所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述装配孔为沉头孔。

9.如权利要求1所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述限位卡台为沿所述装配孔的周向布置的环形卡台。

10.如权利要求1所述的电子接插件测试机构，其特征在于：所述测试孔的侧壁上具有与接插件的锁扣对位适配的槽状缺口。

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