CN215263734U - 一种毫米波阵列天线测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种毫米波阵列天线测试装置，包括同轴探针模组、高频测试板、多通道同轴连接器、防静电夹治具盒体、单通道校准板、扫描模组，防静电夹治具盒体的内部为空腔结构，单通道校准板设置于防静电夹治具盒体的空腔内，同时位于防静电夹治具盒体的空腔内侧边设置扫描模组，同轴探针模组设置于防静电夹治具盒体的外顶部位置；在同轴探针模组内设置有高频测试板，高频测试板的下方通过多通道同轴连接器与多通道线缆组件连通。通过搭建测试夹治具组件→高精密同轴线缆→Switch System→矢量网络分析仪这个完整信号链路，完成对毫米波天线产品的性能测试。还可以用于手工小批量测试产品，并完成自动大批量产品测试，运用灵活。

Description

一种毫米波阵列天线测试装置

技术领域

本实用新型属于通信测试设备技术领域，具体涉及一种毫米波阵列天线测试装置。

背景技术

随着近些年来随着信息技术的不断更新换代，特别是5G的应用，较上一代的4G传输速度得到极大提升，其中传输速度能实现成百倍级的提升主要是运用一个关键技术：毫米波。毫米波天线具体优势有：1)频带极宽，适用于各种宽带信号处理；2)可以在小的天线孔径下得到窄波束，方向性好，有极高的空间分辨力，跟踪精度较高；3)有较宽的多普勒宽带，多普勒效应明显，具有良好的多普勒分辨力，测速精度较高；4)地面杂波和多径效应影响小，低空跟踪性能好；5)毫米波散射特性对目标形状的细节敏感，因而可提高多目标分辨对目标识别的能力与成像质量；6)毫米波具有穿透烟、灰尘和雾的能力，可全天候工作。毫米波天线进入了各种通信行业的新阶段，并且已经实现了量产化。

目前毫米波天线测试手段目前主要有同轴探针、波导探针测试、高频探针模组测试等测试方法。首先，同轴探针或者波导探针测试主要用于电子测试设备，对硅片、管芯及开放式微芯片中的电子电路射频(RF)信号进行测量，此外，射频同轴探针还用于连接器组件中窄间距或高密度射频互连应用；测试频率可从DC～110GHz，这种测试方法的优点在于测试频率高，可实现微间距产品的测试，缺点是：1)测试效率低，测试产品通道数有限，无法满足对大批量量产产品的测试速率；2)加工精度极高，价格昂贵，目前主要以进口为主，价格居高不下；3)寿命有限，测试成本较高。

另外一种测试方法就是芯片行业使用的高频探针模组，这种测试方法主要用于芯片行业的ICT、RF测试，优点在于测试效率高，一次可以实现多通道测试，测试方式多变，设备自动测试，手工治具测试皆可，缺点是：1)测试频率无法满足目前毫米波天线测试频率的要求，只能实现20GHz以下的产品测试；2)测试过程存在信号泄露、信号干扰和信号屏蔽等情况。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种毫米波阵列天线测试装置，解决了现有技术中的测试方法存在局限性和不足的技术问题。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

一种毫米波阵列天线测试装置，包括同轴探针模组、高频测试板、多通道同轴连接器、防静电夹治具盒体、单通道校准板、扫描模组，所述防静电夹治具盒体的内部为空腔结构，并在防静电夹治具盒体所在的前端面设置有开口，同时位于所述防静电夹治具盒体的空腔内设置扫描模组，所述同轴探针模组设置于防静电夹治具盒体的外顶部位置；

在所述同轴探针模组内设置有高频测试板，所述高频测试板的下方通过多通道同轴连接器与多通道线缆组件连通。

进一步的，所述单通道校准板所在的上部设置有旋钮压头。

进一步的，所述旋钮压头为贝壳式旋钮压头。

进一步的，所述旋钮压头采用手动关闭或自动关闭。

进一步的，所述多通道同轴连接器与高频测试板之间采用固定焊接方式连接。

进一步的，所述同轴探针模组与高频测试板之间采用弹性方式连接。

本实用新型的有益效果：

1、本装置通过搭建测试夹治具组件→高精密同轴线缆→Switch System→矢量网络分析仪这个完整信号链路，完成对毫米波天线产品的性能测试。同时根据需要可以用于手工小批量测试产品，也可以通过添加自动化控制设备，完成自动大批量产品测试，运用灵活，并且其使用场合不限。

2、本装置的测试模组采用专用的单通道校准板进行通道校准，校准位置可以校准到与产品接触的探针端，校准数据更为准确，校准更为方便快捷。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2是本实用新型实施例的防静电夹治具盒体侧边剖面结构示意图；

图3是本实用新型实施例的旋钮压头侧边结构示意图；

图4是本实用新型实施例的单通道校准板结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1、图2所示，本实用新型实施例提供一种毫米波阵列天线测试装置，包括旋钮压头1、同轴探针模组2、高频测试板3、多通道同轴连接器4、多通道线缆组件5、防静电夹治具盒体6、单通道校准板7、扫描模组8。

防静电夹治具盒体6的内部为空腔结构，用于放置元器件以及产品测试元件。并在防静电夹治具盒体6所在的前端面设置有开口，单位于防静电夹治具盒体6的空腔内设置扫描模组8，同轴探针模组2设置于防静电夹治具盒体6的外顶部位置。同轴探针模组2采用同轴设计，测试频率可测DC-43.5GHz，保证了整套测试链路都是同轴环境进行信号传递。

在同轴探针模组2内采用弹性方式连接有高频测试板3，单通道校准板7所在的上部设置有旋钮压头1，旋钮压头1可以采用手动关闭或自动关闭。高频测试板3的下方通过多通道同轴连接器4与多通道线缆组件5连通。多通道同轴连接器4与高频测试板3之间采用固定焊接方式连接，其整体设计结构紧凑，排布合理，空间占用小，安装更换方便。

使用时，将待检测的产品通过外接的自动化夹手放置于防静电夹治具盒体6内空腔的扫描模组8内，然后手动或自动关闭设置在单通道校准板7上方的旋钮压头1，随后通过Switch System进行多通道切换，使用矢量网络分析仪对产品进行多通道RF测试。整体信号链路的路径为矢量网络分析仪→Switch System→高精密同轴线缆→多通道线缆组件5→多通道同轴连接器4→高频测试板3→同轴探针模组2→测试产品→信号原路返回→SwitchSystem切换通道，依次进行多通道测试。

通过搭建测试夹治具组件→高精密同轴线缆→Switch System→矢量网络分析仪这个完整信号链路，完成对毫米波天线产品的性能测试。同时根据需要可以用于手工小批量测试产品，也可以通过添加自动化控制设备，完成自动大批量产品测试，运用灵活，并且其使用场合不限。

同时测试模组采用专用的单通道校准板7进行通道校准，校准位置可以校准到与产品接触的探针端，校准数据更为准确，校准更为方便快捷。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (6)

1.一种毫米波阵列天线测试装置，包括同轴探针模组(2)、高频测试板(3)、多通道同轴连接器(4)、防静电夹治具盒体(6)、单通道校准板(7)、扫描模组(8)，其特征在于，所述防静电夹治具盒体(6)的内部为空腔结构，并在防静电夹治具盒体(6)所在的前端面设置有开口，位于所述防静电夹治具盒体(6)的空腔内设置扫描模组(8)，所述同轴探针模组(2)设置于防静电夹治具盒体(6)的外顶部位置；所述单通道校准板(7)位于同轴探针模组(2)的上方；

在所述同轴探针模组(2)内设置有高频测试板(3)，所述高频测试板(3)的下方通过多通道同轴连接器(4)与多通道线缆组件(5)连通。

2.根据权利要求1所述的毫米波阵列天线测试装置，其特征在于，所述单通道校准板(7)所在的上部设置有旋钮压头(1)。

3.根据权利要求2所述的毫米波阵列天线测试装置，其特征在于，所述旋钮压头(1)为贝壳式旋钮压头。

4.根据权利要求2或3所述的毫米波阵列天线测试装置，其特征在于，所述旋钮压头(1)采用手动关闭或自动关闭。

5.根据权利要求1所述的毫米波阵列天线测试装置，其特征在于，所述多通道同轴连接器(4)与高频测试板(3)之间采用固定焊接方式连接。

6.根据权利要求1所述的毫米波阵列天线测试装置，其特征在于，所述同轴探针模组(2)与高频测试板(3)之间采用弹性方式连接。

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