CN215116377U - 一种芯片寿命老化烘烤测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其技术方案要点是：包括安装座，所述安装座上固定安装有高温合成石载体，所述高温合成石载体的顶部固定安装有高温电木压板，所述高温电木压板的四周分别安装有高温电木压条，所述高温电木压板的下方安装有高温硅胶压片，所述高温电木压条两侧内分别固定有滑杆，所述高温电木压条内分别开设有供所述滑块滑动的第一滑槽，其中一个所述定位槽内设置有销杆，所述销杆的端部延伸至所述卡槽内，所述滑块上固定安装有压紧机构；利用本装置可以方便对芯片进行接触检修和测试，能够有效防止对芯片造成刮伤和破损，保证芯片位置的精准度，从而可以避免浪费，节约成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片寿命老化烘烤测试治具。
背景技术
芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。
目前芯片现在被广泛应用在各行各业，但是芯片容易因为温度问题出现寿命老化，如果出现问题需要进行检修或测试。由于芯片精度要求很高，很多材料不能直接接触，同时直接按压受力不能很大，否则容易刮伤或压伤导致芯片报废。
实用新型内容
针对背景技术中提到的问题，本实用新型的目的是提供一种芯片寿命老化烘烤测试治具，以解决背景技术中提到的问题。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
一种芯片寿命老化烘烤测试治具，包括安装座，所述安装座上固定安装有高温合成石载体，所述高温合成石载体的顶部固定安装有高温电木压板，所述高温电木压板的四周分别安装有高温电木压条，所述高温电木压板的下方安装有高温硅胶压片，所述高温电木压条两侧内分别固定有滑杆，所述滑杆上滑动连接有滑块，所述高温电木压条内分别开设有供所述滑块滑动的第一滑槽，所述高温电木压条的一侧开设有若干个定位槽，所述滑块上开设有卡槽，其中一个所述定位槽内设置有销杆，所述销杆的端部延伸至所述卡槽内，所述滑块上固定安装有压紧机构。
通过采用上述技术方案，利用本装置可以方便对芯片进行接触检修和测试，能够有效防止对芯片造成刮伤和破损，保证芯片位置的精准度，从而可以避免浪费，节约成本；利用本装置通过将高温合成石载体放在最下面作为垫块使用，可以防止反光和污染芯片，高温硅胶压片作为压块可以直接接触芯片表面，防止芯片被刮伤，另外周边用高温电木压条，加工时候既保证了芯片放置位置的精度，也不会刮伤芯片周边，高温电木压板作为上盖板，这样整体就达到既满足保温性能，也不会破坏芯片整体性能，同时可以很方便的开启高温电木压板进行安装测试；另一方面，利用本装置通过滑杆、滑块和第一滑槽，可以方便带动压紧机构移动，当压紧机构移动到合适位置时，将销杆通过高温电木压条上的定位槽卡合在滑块上的卡槽内，方便对高温硅胶压片进行压紧固定，从而可以方便调节高温弹片的位置，方便进行检修测试。
较佳的，所述压紧机构包括底座、固定杆、第一锁紧螺母、高温弹片和第二锁紧螺母，所述底座上固定连接有所述固定杆，所述固定杆上螺纹连接有所述第一锁紧螺母和第二锁紧螺母，所述第一锁紧螺母和所述第二锁紧螺母的之间设置有所述高温弹片。
通过采用上述技术方案，压紧机构由底座板、固定杆、第一锁紧螺母、高温弹片和第二锁紧螺母组成，可以方便对高温硅胶压片进行固定，避免滑动，通过拧动第一锁紧螺母沿固定杆螺纹移动，使得高温弹片压紧接触高温硅胶压片，从而可以方便对芯片进行精准固定。
较佳的，所述安装座内开设有供所述底座滑动的第二滑槽。
通过采用上述技术方案，通过在安装座内开设第二滑槽，能够增加底座水平滑动调节时的稳定性。
较佳的，所述底座为梯形块，所述第二滑槽为梯形槽。
通过采用上述技术方案，其中底座为梯形块，第二滑槽为梯形槽时，其具有配合稳定的优点。
较佳的，所述高温电木压板和所述高温硅胶压片之间设置有塔扣。
通过采用上述技术方案，通过设置塔扣，可以方便高温电木压板和高温硅胶压片之间的安装拆卸，提高便利性。
较佳的，所述压紧机构内分别设置有第一弹簧和第二弹簧。
通过采用上述技术方案，通过在压紧机构内设置第一弹簧和第二弹簧，可以起到缓冲作用，避免对芯片造成损坏。
较佳的，所述高温电木压板的尺寸大于所述高温硅胶压片的尺寸。
通过采用上述技术方案，高温电木压板的尺寸大于高温硅胶压片的尺寸，可以满足保温性能的要求，避免破坏芯片整体性能。
较佳的，所述高温电木压条和所述高温电木压板的厚度一致。
通过采用上述技术方案，高温电木条和高温电木压板的厚度一致，可以增加本装置防反光性能，避免影响芯片的检修与测试。
综上所述，本实用新型主要具有以下有益效果：
第一、利用本装置可以方便对芯片进行接触检修和测试，能够有效防止对芯片造成刮伤和破损，保证芯片位置的精准度，从而可以避免浪费，节约成本；利用本装置通过将高温合成石载体放在最下面作为垫块使用，可以防止反光和污染芯片，高温硅胶压片作为压块可以直接接触芯片表面，防止芯片被刮伤，另外周边用高温电木压条，加工时候既保证了芯片放置位置的精度，也不会刮伤芯片周边，高温电木压板作为上盖板，这样整体就达到既满足保温性能，也不会破坏芯片整体性能，同时可以很方便的开启高温电木压板进行安装测试；
第二、利用本装置通过滑杆、滑块和第一滑槽，可以方便带动压紧机构移动，当压紧机构移动到合适位置时，将销杆通过高温电木压条上的定位槽卡合在滑块上的卡槽内，方便对高温硅胶压片进行压紧固定，从而可以方便调节高温弹片的位置，方便进行检修测试。
附图说明
图1是本实用新型的结构俯视图；
图2是本实用新型的结构主视图；
图3是本实用新型的结构右视图；
图4是图2中的A处剖视图；
图5是图3中的B处剖视图。
附图标记：1、安装座；2、高温合成石载体；3、高温电木压板；4、高温电木压条；5、高温硅胶压片；6、滑杆；7、滑块；8、第一滑槽；9、定位槽；10、卡槽；11、销杆；12、压紧机构；1201、底座；1202、固定杆；1203、第一锁紧螺母；1204、高温弹片；1205、第二锁紧螺母；13、第二滑槽；14、塔扣；15、第一弹簧；16、第二弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例
参考图1-图5，一种芯片寿命老化烘烤测试治具，包括安装座1，安装座1上固定安装有高温合成石载体2，高温合成石载体2的顶部固定安装有高温电木压板3，高温电木压板3的四周分别安装有高温电木压条4，高温电木压板3的下方安装有高温硅胶压片5，高温电木压条4两侧内分别固定有滑杆6，滑杆6上滑动连接有滑块7，高温电木压条4内分别开设有供滑块7滑动的第一滑槽8，高温电木压条4的一侧开设有若干个定位槽9，滑块7上开设有卡槽10，其中一个定位槽9内设置有销杆11，销杆11的端部延伸至卡槽10内，滑块7上固定安装有压紧机构12。
参考图2，为了能够方便对高温硅胶压片5进行固定，避免滑动，通过拧动第一锁紧螺母1203沿固定杆1202螺纹移动，使得高温弹片1204压紧接触高温硅胶压片5，从而可以方便对芯片进行精准固定的目的；压紧机构12包括底座1201、固定杆1202、第一锁紧螺母1203、高温弹片1204和第二锁紧螺母1205，底座1201上固定连接有固定杆1202，固定杆1202上螺纹连接有第一锁紧螺母1203和第二锁紧螺母1205，第一锁紧螺母1203和第二锁紧螺母1205的之间设置有高温弹片1204。
参考图5，为了能够增加底座1201水平滑动调节时的稳定性的目的；安装座1内开设有供底座1201滑动的第二滑槽13。
参考图5，为了使其具有配合稳定的优点目的；底座1201为梯形块，第二滑槽13为梯形槽。
参考图2，为了可以方便高温电木压板3和高温硅胶压片5之间的安装拆卸，提高便利性的目的；高温电木压板3和高温硅胶压片5之间设置有塔扣14。
参考图2，为了可以起到缓冲作用，避免对芯片造成损坏的目的；压紧机构12内分别设置有第一弹簧15和第二弹簧16。
参考图1，为了可以满足保温性能的要求，避免破坏芯片整体性能的目的；高温电木压板3的尺寸大于高温硅胶压片5的尺寸。
参考图2，为了可以增加本装置防反光性能，避免影响芯片的检修与测试的目的；高温电木压条4和高温电木压板3的厚度一致。
使用原理及优点：
利用本装置可以方便对芯片进行接触检修和测试，能够有效防止对芯片造成刮伤和破损，保证芯片位置的精准度，从而可以避免浪费，节约成本；利用本装置通过将高温合成石载体2放在最下面作为垫块使用，可以防止反光和污染芯片，高温硅胶压片5作为压块可以直接接触芯片表面，防止芯片被刮伤，另外周边用高温电木压条4，加工时候既保证了芯片放置位置的精度，也不会刮伤芯片周边，高温电木压板3作为上盖板，这样整体就达到既满足保温性能，也不会破坏芯片整体性能，同时可以很方便的开启高温电木压板3进行安装测试；另一方面，利用本装置通过滑杆6、滑块7和第一滑槽8，可以方便带动压紧机构12移动，当压紧机构12移动到合适位置时，将销杆11通过高温电木压条4上的定位槽9卡合在滑块7上的卡槽10内，方便对高温硅胶压片5进行压紧固定，从而可以方便调节高温弹片1204的位置，方便进行检修测试。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种芯片寿命老化烘烤测试治具，包括安装座(1)，其特征在于：所述安装座(1)上固定安装有高温合成石载体(2)，所述高温合成石载体(2)的顶部固定安装有高温电木压板(3)，所述高温电木压板(3)的四周分别安装有高温电木压条(4)，所述高温电木压板(3)的下方安装有高温硅胶压片(5)，所述高温电木压条(4)两侧内分别固定有滑杆(6)，所述滑杆(6)上滑动连接有滑块(7)，所述高温电木压条(4)内分别开设有供所述滑块(7)滑动的第一滑槽(8)，所述高温电木压条(4)的一侧开设有若干个定位槽(9)，所述滑块(7)上开设有卡槽(10)，其中一个所述定位槽(9)内设置有销杆(11)，所述销杆(11)的端部延伸至所述卡槽(10)内，所述滑块(7)上固定安装有压紧机构(12)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述压紧机构(12)包括底座(1201)、固定杆(1202)、第一锁紧螺母(1203)、高温弹片(1204)和第二锁紧螺母(1205)，所述底座(1201)上固定连接有所述固定杆(1202)，所述固定杆(1202)上螺纹连接有所述第一锁紧螺母(1203)和第二锁紧螺母(1205)，所述第一锁紧螺母(1203)和所述第二锁紧螺母(1205)的之间设置有所述高温弹片(1204)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述安装座(1)内开设有供所述底座(1201)滑动的第二滑槽(13)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述底座(1201)为梯形块，所述第二滑槽(13)为梯形槽。
5.根据权利要求1所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述高温电木压板(3)和所述高温硅胶压片(5)之间设置有塔扣(14)。
6.根据权利要求1所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述压紧机构(12)内分别设置有第一弹簧(15)和第二弹簧(16)。
7.根据权利要求1所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述高温电木压板(3)的尺寸大于所述高温硅胶压片(5)的尺寸。
8.根据权利要求1所述的一种芯片寿命老化烘烤测试治具，其特征在于：所述高温电木压条(4)和所述高温电木压板(3)的厚度一致。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN117849593A (zh) * | 2024-03-05 | 2024-04-09 | 武汉普赛斯电子股份有限公司 | 一种高导热效率芯片测试载台装置 |
-
2021
- 2021-04-23 CN CN202120845629.1U patent/CN215116377U/zh not_active Expired - Fee Related
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