CN215005734U - 一种半导体指纹传感器lga颗粒测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，测试装置包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，第一电流测试点与电流表的负极连接，电流表的正极、主板测试点与主控制器连接，假手指模测试点通过图像通信测试点与主控制器连接，主控制器与上位机连接。

Description

一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体指纹传感器技术领域，具体为一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置。

背景技术

指纹传感器是实现指纹自动采集的关键部件，按传感原理，可将其分为光学指纹传感器、半导体指纹传感器、半导体热敏传感器、超声波传感器和射频 RF传感器等，目前市面上常见的指纹传感器包括BS801C/2C/4C/6C/8C、 BS804C、BS808C，其中半导体指纹传感器主要包括电容式指纹传感器、电感式指纹传感器，使用该类指纹传感器获取指纹图像时，手指贴在其上与其构成电容(电感)的另一面，由于手指平面凸凹不平，凸点处和凹点处接触平板的实际距离不同，形成的电容/电感数值不同，根据这个原理将采集到的不同数值汇总，实现指纹采集。

现在市场上指纹系列的产品越来越广泛，出货量也在持续的增长，好的生产效率和品质保证是所有指纹厂商的竞争优势，也是各个厂商目前攻关的目标，因此在指纹传感器批量生产时，需要对其LGA颗粒(电容/电感)的性能进行测试，该性能主要包括触摸功能和芯片功能，触摸功能指手指触摸传感器时，手指指纹图像是否能显示在PC机上，芯片功能指传感器内的芯片开关打开后，电流是否正常。但现有技术中用于半导体指纹传感器LGA颗粒测试的装置较为缺乏，严重影响了半导体指纹传感器的成品质量和生产效率的提升。

实用新型内容

针对现有技术中存在的用于半导体指纹传感器LGA颗粒测试的装置较为缺乏，影响生产效率提升的问题，本实用新型提供了一种半导体指纹传感器 LGA颗粒测试装置，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，可提高生产效率。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，其特征在于，所述测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，所述芯片开关与所述主控制器的VCC 端连接，所述电流测试点包括第一电流测试点、第二电流测试点，所述第一电流测试点与所述电流表的负极连接，所述第二电流测试点通过磁珠与所述电流表的负极连接，所述电流表的正极、主板测试点与所述主控制器连接，所述假手指模与所述假手指模测试点连接，所述假手指模测试点通过所述图像通信测试点与所述主控制器连接，所述主控制器与上位机连接。

其进一步特征在于，

所述测试点包括32个，分别为测试点1～测试点32；

所述第一电流测试点包括三个，分别为测试点2、测试点6、测试点8，所述第二电流测试点包括五个，分别为测试点1、测试点7、测试点16、测试点 22、测试点32；所述测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32 连接所述磁珠的一端，所述磁珠另一端与所述测试点2、测试点6、测试点8 均连接所述电流表的输入端，所述电流表的输出端连接所述主控制器的1管脚；

所述假手指模测试点包括测试点4，所述假手指模连接所述测试点4；

所述图像通信测试点包括测试点10、11、31、13～26，所述测试点10、11、 31连接所述主控制器的2管脚，所述测试点13～26分别连接所述主控制器的 2～15管脚，用于实现所述半导体指纹传感器的图像信号与所述主控制器的通信；

所述测试点3、5、9、12、28、29、30为预留测试点；

其还包括电压转接板，所述电压转接板的GND端口连接所述主控制器的 GND端口，所述电压转接板的DP端口连接所述主控制器的DP端口，所述电压转接板的DN端口连接所述主控制器的DN端口，所述电压转接板通过所述芯片开关与所述主控制器连接。

一种测试方法，该方法应用所述测试装置对所述半导体指纹传感器LGA颗粒的性能进行测试，所述性能包括图像功能、芯片功能，通过所述芯片开关选择是否测试所述LGA颗粒，其特征在于，S1、所述芯片开关开启，所述主控制器通电工作；

S2、通过所述电流表采集所述第一电流测试点、第二电流测试点的电流信息；

S3、通过所述测试点4采集所述假手指模的图像信息；

S4、所述图像信息通过所述测试点13～26将所述图像信息发送给所述主控制器；

S5、所述主控制器将所述图像信息发送给所述上位机；

S6、通过所述上位机判断所述图像信息是否符合标准。

其进一步特征在于，

所述电流表为带有显示屏的显示电流表，用于显示所述第一电流测试点的所述电流信息；

所述电流表通过电流反馈电路与所述主控制器连接，所述电流反馈电路包括反馈电阻R，所述电阻R的一端连接所述电流表的负极，所述电阻R的另一端连接所述主控制器的I/O信号输入端；所述主控制器包括第一数据处理单元，所述第一数据处理单元用于将所述电流信息与预先存储的电流阈值进行对比；

所述上位机包括第二数据处理单元，所述第二处理单元用于将所述图像信息与预先存储的标准图像进行对比。

采用本实用新型上述结构可以达到如下有益效果：该测试装置包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，通过电流测试点可以测试半导体指纹传感器的电流信息，通过假手指模测试点、图像通信测试点可以采集假手指模的图像信息，并通过主控制器将图像信息发送给上位机，通过上位机可判断图像信息是否符合标准，电流信息用于判断半导体指纹传感器的芯片功能，图像信息用于判断半导体指纹传感器的芯片功能，从而实现半导体指纹传感器LGA颗粒的性能判断。

应用测试装置对半导体指纹传感器LGA颗粒的性能进行测试，测试时可以通过芯片开关选择是否测试半导体指纹传感器LGA颗粒，芯片开关开启后，电流表会显示半导体指纹传感器电流测试点的电流信息，测试人员判断电流信息是否超过电流阈值，超过电流阈值则说明电流信息异常，半导体指纹传感器的芯片功能异常；通过假手指模测试点、图像通信测试点可以采集假手指模的图像信息，并通过主控制器将图像信息发送给上位机，通过上位机将图像信息与预先存储的标准图像进行对比，若与标准图像差别较大，则说明半导体指纹传感器的图像功能异常，从而实现了半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，防止了不良产品流入市场，提高了生产效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例一半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置的结构框图；

图2为本实用新型实施例一半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置的接口电路原理图；

图3为本实用新型实施例二半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置另一实施例的结构框图；

图4为本实用新型实施例二半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置的接口电路原理图；

图5为应用测试装置对半导体指纹传感器LGA颗粒的性能进行测试的流程图。

具体实施方式

见图1、图2，实施例一，一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，包括主控制器101、电流表102、芯片开关103、测试点、假手指模104，测试点包括电流测试点105、主板测试点、假手指模测试点107、图像通信测试点108，芯片开关103与主控制器101的VCC端连接，电流测试点105包括第一电流测试点、第二电流测试点，第一电流测试点与电流表102的负极连接，第二电流测试点通过磁珠109与电流表102的负极连接，电流表102的正极、主板测试点与主控制器101连接，假手指模104与假手指模测试点107连接，假手指模测试点107通过图像通信测试点108与主控制器101连接，主控制器101与上位机120连接。电流表102为带有显示屏的显示电流表，用于显示第一电流测试点的电流信息。

测试点包括32个，分别为测试点1～测试点32；第一电流测试点包括三个，分别为测试点2、测试点6、测试点8，第二电流测试点包括五个，分别为测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32；测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32连接磁珠的一端，磁珠另一端与测试点2、测试点6、测试点8均连接电流表的输出端，电流表的输入端连接主控制器的1 管脚；假手指模测试点104包括测试点4，假手指模连接测试点4；图像通信测试点108包括测试点10、11、31、13～26，测试点10、11、31连接主控制器的 2管脚，测试点13～26分别连接主控制器的2～15管脚，用于实现半导体指纹传感器的图像信号与主控制器101的通信；测试点3、5、9、12、28、29、30为预留测试点。

其还包括电压转接板121，电压转接板121的GND端口连接主控制器101 的GND端口，电压转接板121的DP端口连接主控制器101的DP端口，电压转接板121的DN端口连接主控制器101的DN端口，电压转接板121通过芯片开关103与主控制器101连接。

见图5，一种测试方法，该方法应用上述测试装置对半导体指纹传感器LGA 颗粒的性能进行测试，性能包括图像功能、芯片功能，通过芯片开关选择是否测试LGA颗粒，S1、芯片开关103开启，主控制器101通电工作；

S2、通过电流表102采集第一电流测试点、第二电流测试点的电流信息；

S3、通过测试点4采集假手指模104的图像信息；

S4、图像信息通过测试点13～26将图像信息发送给主控制器101；

S5、主控制器101将图像信息发送给上位机120；

S6、通过上位机120判断图像信息是否符合标准，上位机120包括第二数据处理单元，第二处理单元用于将图像信息与预先存储的标准图像进行对比。

见图3、图4，实施例二，本实施例中主控制器101、电流表102、芯片开关103、测试点、假手指模104的连接结构与实施例一中的连接结构一致，并可通过图5所示步骤对半导体指纹传感器LGA颗粒的性能进行测试，主控制器 101可采用现有的单片机，型号为BFM800_Main_V 2.1。本实施例中电流表102 的负极还连接有电流反馈电路，电流表102通过电流反馈电路与主控制器101 连接，电流反馈电路包括反馈电阻R，电阻R的一端连接电流表102的负极，电阻R的另一端连接主控制器101的I/O信号输入端，主控制器101包括第一数据处理单元，第一数据处理单元用于将电流信息与预先存储的电流阈值进行对比，主控制器与报警提示单元连接，电流表负极输出的电流可通过电阻R、 I/O信号输入端反馈至主控制器101中，并通过主控制器101中的第一数据处理单元对电流信息进行处理，若电流信息超过预先存储的电流阈值，可发信号给报警提示单元中的蜂鸣器发出蜂鸣声，提示测试人员半导体指纹传感器第一电流测试点的电流信息不符合标准，从而实现了半导体指纹传感器LGA颗粒电学性能的准确测试，相比于实施例一中人工读取电流表信息进行判别的方式，该方式可降低主观能动性影响导致的误判等问题出现，进一步提高了测试便利性和准确性，提高了生产效率。

以上的仅是本申请的优选实施方式，本实用新型不限于以上实施例。可以理解，本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和构思的前提下直接导出或联想到的其他改进和变化，均应认为包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，其特征在于，所述测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，所述芯片开关与所述主控制器的VCC端连接，所述电流测试点包括第一电流测试点、第二电流测试点，所述第一电流测试点与所述电流表的负极连接，所述第二电流测试点通过磁珠与所述电流表的负极连接，所述电流表的正极、主板测试点与所述主控制器连接，所述假手指模与所述假手指模测试点连接，所述假手指模测试点通过所述图像通信测试点与所述主控制器连接，所述主控制器与上位机连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，所述测试点包括32个，分别为测试点1～测试点32，所述第一电流测试点包括三个，分别为测试点2、测试点6、测试点8，所述第二电流测试点包括五个，分别为测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32；所述测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32连接所述磁珠的一端，所述磁珠另一端与所述测试点2、测试点6、测试点8均连接所述电流表的输出端，所述电流表的输入端连接所述主控制器的1管脚。

3.根据权利要求2所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，所述假手指模测试点包括测试点4，所述假手指模连接所述测试点4，所述测试点4用于获取所述假手指模的图像信息，所述图像通信测试点包括测试点10、11、31、13～26，所述测试点10、11、31连接所述主控制器的2管脚，所述测试点13～26分别连接所述主控制器的2～15管脚，用于实现所述半导体指纹传感器的图像信号与所述主控制器的通信。

4.根据权利要求1或3所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，还包括电压转接板，所述电压转接板的GND端口连接所述主控制器的GND端口，所述电压转接板的DP端口连接所述主控制器的DP端口，所述电压转接板的DN端口连接所述主控制器的DN端口，所述电压转接板通过所述芯片开关与所述主控制器连接。

5.根据权利要求4所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，所述电流表为带有显示屏的显示电流表，用于显示所述第一电流测试点的电流信息。

6.根据权利要求5所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，所述电流表通过电流反馈电路与所述主控制器连接，所述电流反馈电路包括反馈电阻R，所述电阻R的一端连接所述电流表的负极，所述电阻R的另一端连接所述主控制器的I/O信号输入端。

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